专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]改善金属栅接触孔刻蚀工艺窗口的方法-CN202210187231.2在审
  • 杨作东;彭翔;邹海华 - 上海华力集成电路制造有限公司
  • 2022-02-28 - 2022-07-01 - H01L21/768
  • 本发明提供一种改善金属栅接触孔刻蚀工艺窗口的方法,提供衬底,衬底上形成有多个器件区,每个器件区均形成有金属栅,衬底上形成有间介质,之后研磨间介质使得金属栅裸露;在间介质和金属栅上形成扩散阻挡;在扩散阻挡上形成自下而上叠加的刻蚀阻挡和隔离层;在隔离层上形成光刻胶,光刻打开光刻胶使得至少一个器件区上金属栅以外的区域裸露;去除裸露的隔离层以及其下方的刻蚀阻挡扩散阻挡;去除光刻胶,之后在衬底上继续形成间介质;刻蚀间介质,形成分别与源区、漏区以及金属栅相连通的接触孔。本发明不改变间介质、接触孔刻蚀等配套工艺条件,提高通孔刻蚀的工艺窗口,改善产品可靠性。
  • 改善金属接触刻蚀工艺窗口方法
  • [发明专利]一种Cu互连用扩散阻挡及其制备方法和应用-CN201911229887.0有效
  • 孟瑜;宋忠孝;李雁淮 - 西安文理学院
  • 2019-12-04 - 2022-05-17 - H01L21/768
  • 本发明公开了一种Cu互连用扩散阻挡及其制备方法和应用,通过在ZrB2薄膜中掺入不同含量的Ru原子,改变了薄膜的晶体结构,消除了Cu原子的快速扩散通道,延长扩散路径,提高了扩散阻挡的高温稳定性能。此外,金属Ru具有较低的电阻率,且在扩散阻挡中以单质金属形式存在,可以提高Zr‑Ru‑B的导电性能,Ru原子相比Zr原子,不容易氧化,因此,减少了O元素的掺入,通过高温退火处理,Cu膜表面出现大量孔洞,生成铜硅高阻相,且样品表面对电子的散射作用增强,得到的Zr‑Ru‑B三元结构具有较好的高温稳定性,提高了扩散阻挡扩散阻挡性能,进而提高了Cu互连线的可靠性,从而提高了集成电路的寿命。
  • 一种cu互连扩散阻挡及其制备方法应用
  • [发明专利]一种铜互连的形成方法-CN201110355453.2无效
  • 姬峰;李磊;陈玉文;胡友存;张亮 - 上海华力微电子有限公司
  • 2011-11-10 - 2012-02-29 - H01L21/768
  • 本发明涉及一种铜互连结构的形成方法,包括在半导体基底上淀积一介电;采用光刻、刻蚀工艺,在所述介电内形成通孔和/或沟槽;在所述通孔和/或沟槽的底部和侧壁淀积金属阻挡;在金属阻挡上淀积铜籽晶并在所述通孔和/或沟槽内填充金属铜,使得金属铜的表面低于所述介电的表面,从而在通孔和/或沟槽内形成铜金属以及铜金属上的铜凹槽;在所述铜金属的表面和所述介电表面上淀积一可防铜扩散阻挡;采用化学机械研磨去除介电上的可防铜扩散介电阻挡,同时铜金属表面上保留有可防铜扩散介电阻挡
  • 一种互连形成方法
  • [发明专利]对刻蚀后的半导体结构的钝化-CN200980130163.9无效
  • 布鲁斯·富尔;帕斯卡·昆纳德 - 硅绝缘体技术有限公司
  • 2009-07-02 - 2011-07-20 - H01L21/762
  • 本发明涉及半导体结构的钝化方法,该方法包括以下步骤:提供至少一个第一材料;在第一材料上形成待图案化的至少一个第二材料;在至少一个第二材料与至少一个第一材料之间形成扩散阻挡,由此形成多层堆叠;以及对至少一个第二材料向下进行图案化特别是刻蚀,但不完全穿透扩散阻挡并且不露出至少一个第一材料中的多个部分,使得基本上防止在对多层堆叠进行后续热处理期间至少一个第一材料的材料穿过扩散阻挡进行扩散本发明还涉及一种半导体结构的钝化方法,该方法包括以下步骤:提供包括形成在第二材料下方的至少一个掩埋层的多层堆叠;对多层堆叠的表面进行图案化特别是刻蚀,穿透第二材料,由此露出至少一个掩埋层的多个部分;至少在至少一个掩埋层的露出的部分上沉积扩散阻挡,使得基本上防止在对多层堆叠进行后续热处理期间至少一个掩埋层的材料穿过扩散阻挡进行扩散
  • 刻蚀半导体结构钝化
  • [发明专利]热电器件及其制造方法-CN97191237.8有效
  • 佐藤岳彦;镰田策雄 - 松下电工株式会社
  • 1997-12-22 - 2003-10-22 - H01L35/16
  • 一种热电器件在Bi-Sb-Te或Bi-Te-Se的半导体基体与沉积其上的扩散阻挡之间具有增强的附着强度,用于阻止焊接材料扩散进半导体基体。在半导体基体与Mo、W、Nb及Ni的扩散阻挡之间形成一Sn合金用于增强附着强度。通过锡与半导体的至少一种元素的相互扩散;从而在与半导体基体的界面处形成Sn合金。可以看出当Sn扩散半导体基体时不会降低其热电性能并提供与扩散阻挡的金属元素的足够的附着强度。该热电器件是通过以下步骤制成的:a)制备具有相对面的热电半导体;b)在热电半导体的每个所述相对面上沉积一锡;c)将Sn与热电半导体的至少一种元素相互扩散,从而在每个相对面上形成Sn合金;d)在每个Sn合金上沉积一Mo、W、Nb或Ni的扩散阻挡
  • 热电器件及其制造方法
  • [发明专利]半导体元件的制造方法、半导体元件-CN201710457276.6有效
  • 土屋裕彰;山口晴央;中井荣治 - 三菱电机株式会社
  • 2017-06-16 - 2019-11-08 - H01S5/323
  • 具备下述工序:台面部形成工序,形成台面部,该台面部在衬底的上方具有p型、该p型的上方的有源及该有源的上方的n型;电流限制部形成工序,形成电流限制部,该电流限制部在该台面部的左右具有p型电流阻挡、该p型电流阻挡的上方的n型电流阻挡及该n型电流阻挡的上方的i型或p型的电流阻挡;以及p型化工序,对该i型或p型的电流阻挡、该n型电流阻挡的上侧的部分及该n型的左右的部分进行p型杂质的气相扩散或固相扩散,使该n型电流阻挡的上侧的部分和该n型的左右的部分成为p型半导体。
  • 半导体元件制造方法

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