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- [发明专利]晶片外观检查装置和方法-CN202080057347.3在审
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仲田朋宏
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东丽工程株式会社
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2020-06-09
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2022-03-22
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G01N21/01
- 提供检查装置和方法,能够基于为了微观检查而取得的小区划的放大图像,来自动检查作为宏观检查的范畴的比较大的尺寸的损伤或污垢、异物的附着等。具体而言,在拍摄形成有重复图案的晶片的外观图像并将该拍摄到的图像与预先登记的基准图像进行比较而进行检查的晶片外观检查装置和方法中,逐次变更拍摄场所并对形成于检查对象晶片的重复图案进行分割拍摄,将分割拍摄到的图像结合而生成大尺寸的宏观检查用检查图像,然后,对该大尺寸的宏观检查用检查图像进行压缩而生成小尺寸的宏观检查用检查图像,将该小尺寸的宏观检查用检查图像与预先生成/登记的小尺寸的宏观检查用基准图像进行比较,对检查对象晶片进行宏观检查。
- 晶片外观检查装置方法
- [发明专利]基板检查系统-CN201210003880.9无效
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冈平裕幸
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奥林巴斯株式会社
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2012-01-04
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2012-07-25
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G01N21/88
- 本发明提供一种基板检查系统。在大型基板用的基板检查系统中,不降低生产效率及检查性能就能谋求节省空间。在用多种检查方法对被检查对象基板(G)进行检查的基板检查系统(31)中,包括:自动检查装置(50),其用于利用摄像部拍摄被检查对象基板(G)而进行检查;架台,其具有横跨该自动检查装置(50)的门型形状的腿部;人工宏观检查装置(40),其配置在该架台上,用于直视被检查对象基板(G)而进行目视检查;基板输送机器人,其用于对于自动检查装置(50)和人工宏观检查装置(40)输入、输出被检查对象基板(G),人工宏观检查装置(40)借助上述架台独立于自动检查装置(50)地配置在自动检查装置(50)的上方。
- 检查系统
- [实用新型]基板检查系统-CN201220005773.5有效
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冈平裕幸
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奥林巴斯株式会社
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2012-01-04
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2012-09-05
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G01N21/89
- 本实用新型提供基板检查系统。在大型基板用的基板检查系统中,不降低生产效率及检查性能就能谋求节省空间。在用多种检查方法对被检查对象基板(G)进行检查的基板检查系统(31)中,包括:自动检查装置(50),其用于利用摄像部拍摄被检查对象基板(G)而进行检查;架台,其具有横跨该自动检查装置(50)的门型形状的腿部;人工宏观检查装置(40),其配置在该架台上,用于直视被检查对象基板(G)而进行目视检查;基板输送机器人,其用于对于自动检查装置(50)和人工宏观检查装置(40)输入、输出被检查对象基板(G),人工宏观检查装置(40)借助上述架台独立于自动检查装置(50)地配置在自动检查装置(50)的上方。
- 检查系统
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