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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

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B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]冲压装置-CN202011416805.6有效
发明人：山本洋介 -专利权人：蛇目缝纫机工业株式会社
申请日： 2020-12-07 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： B30B1/18 文献下载
摘要：本发明提供一种冲压装置，能够确认对于成为冲压装置的加压对象的制品是否按照基准值而正确进行了加压。冲压装置包括：存储部，存储多个实测数据与多个基准数据，所述多个实测数据是包含表示压头的位置或压头的动作时间的第一信息和与第一信息对应的表示压头的负载的第二信息的、经实测的负载数据，所述多个基准数据成为负载数据的基准；调整部，使实测数据图案、基准数据图案中的至少一者的第一信息伸缩而进行调整，以使基于存储在存储部中的多个所述实测数据的实测数据图案与基于多个基准数据的基准数据图案对应；以及判断部，基于经调整部调整的实测数据图案与基准数据图案的类似性
冲压装置

[发明专利]随机纹理防伪标识图案判定方法-CN201810598306.X在审
发明人：孙显林 -专利权人：北京柯斯元科技有限公司
申请日： 2018-06-12 - 公布日： 2018-12-28 - 主分类号： G06K9/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种随机纹理防伪标识图案判定方法，包括：存储基准图案数据于数据库中；获取识别者图案数据；通过多种对比方式比较所述识别者图案数据与基准图案数据，得出多个相似度，取其中的最大相似度，本发明的技术方案通过多种对比方式比较识别者图案数据与基准图案数据
图案数据随机纹理防伪标识基准图案数据最大相似度对比方式判定图案比较识别存储基准相似度辨识防伪数据库

[发明专利]图案评价方法、图案对位方法及计算机可读的媒介-CN200610066966.0无效
发明人：三井正 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2006-03-30 - 公布日： 2006-10-04 - 主分类号： G01B21/20 文献下载
摘要：一种图案评价方法，包括：根据作为包括评价对象图案的轮廓点的形状数据的轮廓数据，生成第1阵列数据；根据包括成为所述评价对象图案的检查基准的基准图案的轮廓点的所述基准图案的轮廓数据，生成第2阵列数据；通过对所述第2阵列数据的各个构成要素，执行把所述第2阵列数据的构成要素的值变换为从该构成要素到最近轮廓点的距离的值的函数值的处理即阵列变换处理，生成第3阵列数据；在所述第1阵列数据和所述第3阵列数据之间执行计算处理，生成第4阵列数据；使用所述第4阵列数据的构成要素，计算表示所述评价对象图案和所述基准图案的一致程度的数值。
图案评价方法对位计算机可读媒介

[发明专利]片材的裁剪方法及自动裁剪机-CN201110441216.8有效
发明人：滨一成 -专利权人：株式会社岛精机制作所
申请日： 2011-12-26 - 公布日： 2012-07-04 - 主分类号： D06H7/00 文献下载
摘要：本发明提供一种片材的裁剪方法及自动裁剪机，该方法将在工作台上载置的带花纹的片材沿衣片的图案裁剪的方法，其中根据片材的变形修正裁剪用的数据。在与片材(2)对应的假想平面(11)上形成的片材的理论上的花纹图案(12)上配置衣片的图案(22)，并且按每个衣片设定花纹配合点(14)。接着，在假想平面(11)上形成包括花纹配合点(14)的基准图案(15)。接着，使用投影仪向片材(2)以实际尺寸投射配合点(14)和基准图案(15)，并且使基准图案(15)的形状与片材(2)的花纹的形状配合而变形，由此修正基准图案(15)的坐标数据。对应于修正后的基准图案(15)的坐标数据而修正衣片的图案(22)的坐标数据，基于该坐标数据裁剪片材(2)。
裁剪方法自动

[发明专利]图像数据补偿扫描仪、介质和方法-CN200410057551.8无效
发明人：金养文 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2004-08-16 - 公布日： 2005-02-16 - 主分类号： H04N1/40 文献下载
摘要：一种图像数据补偿方法和设备，该方法包括计算邻近一个图案的第一基准线和该图案之间的距离，计算邻近该图案且与第一基准线正交的第二基准线和该图案之间的距离，以及计算预定的坐标值与基于第一基准线和第二基准线计算出的距离之间的差值这种图像数据补偿方法可以在扫描仪扫描文件时以低成本补偿由于每个扫描仪的机械容差引起的图像数据误差。
图像数据补偿扫描仪介质方法

[发明专利]描绘装置、曝光描绘装置及描绘方法-CN201380042958.0有效
发明人：菊池浩明 -专利权人：株式会社阿迪泰克工程
申请日： 2013-04-25 - 公布日： 2017-09-22 - 主分类号： G03F9/00 文献下载
摘要：取得分别表示设于基板的多个基准标记的设计上的第一位置、以第一位置为基准而确定的向基板描绘的描绘图案及多个基准标记各自的实际的第二位置的坐标数据，对多个基准标记中的毎一个，将用于校正第一位置与第二位置的偏离的偏离校正量设为对该基准标记的偏离校正量和最靠近该基准标记的基准标记的偏离校正量进行平均化而得的值，在以表示第二位置的坐标数据为基准而基于表示描绘图案的坐标数据将描绘图案向被曝光基板描绘的情况下，基于平均化后的偏离校正量来校正表示描绘图案的坐标数据。
描绘装置曝光方法存储程序记录介质

[发明专利]用于在记录介质上记录/从记录介质再现的方法和装置-CN200980117573.X有效
发明人：李在成 -专利权人： LG电子株式会社
申请日： 2009-04-30 - 公布日： 2011-05-11 - 主分类号： G11B7/0065 文献下载
摘要：本发明提供了一种记录介质重放方法，所述方法包括步骤：将光照射到记录介质上，所述记录介质包括数据图像和基准图案，所述基准图案在所述记录介质的各个分割区域中处于反转、旋转和对称关系；通过使用已经读取的基准图案来确定与数据图像失真相关联的信息；以及，借助于与数据图像失真有关的信息来校正所述数据图像的位置。
用于记录介质再现方法装置

[发明专利]激光图案化偏斜校正-CN201510303469.7有效
发明人： V·P·埃里科;R·C·希普曼 -专利权人：恩耐公司
申请日： 2015-06-05 - 公布日： 2020-04-14 - 主分类号： B23K26/03 文献下载
摘要：一种激光图案化对准方法提供一种用于执行以下步骤的方式：在激光图案化系统中将目标定位于工作距离处，使得所述目标上的基准标记定位于至少三个激光图案化系统相机的视图中；使用每一个激光图案化系统相机来查找所述目标上的基准标记的位置并将已查到位置的基准标记的位置数据发送到控制器；确定使预期基准标记位置与已发送的基准标记位置数据对准所必需的校正；以及使用已确定的校正来调节所述激光图案化系统。
激光图案偏斜校正

[发明专利]描绘装置、曝光描绘装置、描绘方法及存储有程序的记录介质-CN201380042910.X有效
发明人：菊池浩明 -专利权人：株式会社阿迪泰克工程
申请日： 2013-04-25 - 公布日： 2017-05-10 - 主分类号： G03F9/00 文献下载
摘要：取得表示设于被曝光基板的多个基准标记的设计上的第一位置的坐标数据、表示以第一位置为基准而确定的向被曝光基板描绘的描绘图案的坐标数据及表示多个基准标记各自的实际的第二位置的坐标数据，对多个基准标记中的每一个，导出用于校正第一位置与第二位置的偏离的偏离校正量，使导出的偏离校正量分别以预先确定的比例减少，在以表示第二位置的坐标数据为基准并基于表示描绘图案的坐标数据而向被曝光基板描绘描绘图案的情况下，基于减少了的偏离校正量来校正表示描绘图案的坐标数据
描绘装置曝光方法存储程序记录介质

[发明专利]布线数据的生成装置、生成方法及描画装置-CN201310120294.7有效
发明人：北村清志;中井一博 -专利权人：大日本网屏制造株式会社
申请日： 2013-04-09 - 公布日： 2014-01-15 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：提供抑制布线遗漏产生和处理时间来生成布线数据的生成装置、生成方法及描画装置。该装置具有：误差获取部，获取在基板上的半导体芯片相对于基准位置及基准姿势的配置误差；区域信息获取部，获取表示在基板上的包围半导体芯片且比该半导体芯片大的包围区域的包围区域信息；布线数据生成部，基于针对无配置误差的基准芯片设定的无不良布线的基准布线图案中的基准扇出布线，生成表示连接布线图案中的与包围区域对应的部分的包围区域布线图案的包围区域布线数据。布线数据生成部以使与基准芯片对应的基准扇出布线的位置及姿势和与基板上的半导体芯片对应的该半导体芯片的扇出布线的位置及姿势相同，而不受配置误差影响的方式，生成包围区域布线数据。
布线数据生成装置方法描画

[发明专利]随机纹理防伪标识图案判定系统及判定方法-CN201710583806.1在审
发明人：孙显林 -专利权人：北京柯斯元科技有限公司
申请日： 2017-07-18 - 公布日： 2019-01-25 - 主分类号： G06K9/62 文献下载
摘要：本发明公开了一种随机纹理防伪标识图案判定系统及判定方法，其中判定系统包括：存储装置，存储基准图案数据；识别者图案数据提取装置，接收识别者拍摄的标识图案，并提取识别者图案数据；匹配判定装置，连接识别者图案数据提取装置及存储装置，将识别者图案数据和基准图案数据进行匹配，对标识图案进行判定，本发明的随机纹理防伪标识图案判定系统及判定方法能够有效提高防伪标识辨识的可靠性，且具有高便捷性、高效率性。
图案数据判定系统随机纹理防伪标识判定标识图案存储装置提取装置图案匹配基准图案数据存储基准防伪标识连接识别判定装置便捷性辨识拍摄

[发明专利]三维形状测定装置、三维形状测定方法以及存储介质-CN201980087182.1有效
发明人：西贵行 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2019-12-27 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：三维形状测定装置根据投射有多个图案的多个图像，针对所述多个图案中的每一个图案，计算测定对象的高度数据，选择该计算出的各个高度数据中的、对所述测定对象预先设定的测定基准部位的高度的值与预先设定的高度设想值最接近的高度数据作为基准高度数据，求出该基准高度数据与其他所有的所述计算出的高度数据的高度的差异，在对所述基准高度数据以外的所有所述高度数据进行了偏移所述差异的量的校正的基础上，合成所述计算出的各高度数据，基于该合成后的高度数据来测定所述测定对象的三维形状
三维形状测定装置方法以及存储介质

[发明专利]形成基准图案的方法-CN200910009983.4无效
发明人：申浩澈;崔浩峻 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2009-02-04 - 公布日： 2009-08-12 - 主分类号： G11B5/596 文献下载
摘要：本发明涉及一种形成基准图案的方法。该方法包括：确定初始基准图案的边界点是否位于盘的内径区域，该内径区域在最外周的道的内侧；以及如果所述初始基准图案的边界点确定为位于所述盘的内径区域，则与所述初始基准图案整体地形成补偿基准图案，使得最终基准图案沿所述盘的外径方向延伸该方法通过根据初始基准图案的边界点是否处于盘的最外周的道的内侧来延伸初始基准图案，允许将缺陷基准图案补偿为有效基准图案。
形成基准图案方法

[发明专利]晶圆翘曲程度的监控方法-CN201811460067.8在审
发明人：杨帆;赵彬;王剑 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2018-11-30 - 公布日： 2019-04-02 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提出的一种晶圆翘曲程度的监控方法，包括：首先，在衬底上形成的第一膜层上形成图案化的光刻胶层并刻蚀所述第一膜层得到图案化的第一膜层；然后，对所述图案化的光刻胶层或者所述图案化的第一膜层进行量测，得到基准数据；接着，形成第二膜层并对所述第二膜层进行量测，得到检验数据；最后将所述检验数据与所述基准数据进行比较，监控晶圆的翘曲程度，利用所述图案化的光刻胶层或者图案化的第一膜层获取基准数据，提前了获取基准数据的时间进一步的，获取第二膜层的检验数据后不必再进行冗余的工艺步骤，避免了晶圆表面的二次污染，提高了产品的良率。
图案化第一膜层基准数据光刻胶层检验数据膜层晶圆翘曲晶圆量测翘曲监控二次污染工艺步骤工作效率晶圆表面冗余衬底返工刻蚀良率种晶保证发现

[发明专利]管理装置及其控制方法、打印处理系统、程序及记录介质-CN200510129740.6有效
发明人：中井嘉之;嶋泽耀一 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2005-12-06 - 公布日： 2006-06-14 - 主分类号： H04N1/407 文献下载
摘要：本发明的打印机控制处理装置是对表示用于控制打印处理的信息的记号图案的读取结果进行管理的装置，包括：记录/读出部，从信息存储部取得基准图案数据和打印用图案数据；一致度判定部，判定基于打印用图案数据打印的记号图案的读取装置的读取结果与基准图案数据的一致度；以及图案修正部，在该一致度判定部判定出一致度小于规定的阈值的情况下，对与读取的图案对应的打印用图案数据进行修正。因此，可以提供在读取装置的读取结果中能够确实地确定记号图案的打印用图案数据。
管理装置及其控制方法打印处理系统程序记录介质

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