专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种基于软基焊材料的高密度焊结构-CN202120771607.5有效
  • 庄浩;姜亚帅;孙观;黄国平;李菁楠 - 中节能太阳能科技(镇江)有限公司
  • 2021-04-15 - 2022-03-15 - H01M10/04
  • 一种基于软基焊材料的高密度焊结构,包括若干片互相交叠在一起的电池片,所述的电池片上设有若干条焊带,所述的焊带穿过相邻两块电池片的交叠处,位于交叠处焊带的形状为扁平状,相邻两块扁平状焊带之间设有软基材料所述的软基材料的主要材质为具有低玻璃化转变温度、低模量和低透水率的热固性弹性体,本实用新型将软基焊材料的丝网印刷和固化技术应用于高密度焊组件的电池重叠区,改变了现有的高密度组件片为硬接触的现状,使组件在受到外界压力时,片完全通过软基材料发生软接触,软基材料可通过形变吸收外界传导的压力,并且软基材料的低透水率实现了对外界水汽渗透通道的有效阻隔,保证了高密度焊结构的水密性。
  • 一种基于软基叠焊材料高密度结构
  • [发明专利]声界面波装置的制造方法-CN201310070546.X在审
  • 门田道雄;神藤始 - 株式会社村田制作所
  • 2005-03-24 - 2013-07-03 - H03H9/02
  • 该声界面波装置,按顺序第1~第3媒质(1~3)、并且第1媒质(1)与第2媒质(2)的界面上设有电极(5)。该制造方法中,准备第1媒质(1)与第2媒质(2),并在第1、第2媒质(1、2)的界面中设有电极(5)的体,在该体阶段,通过调整第2媒质(2)的膜厚来调整频率或声表面波、伪声界面波或声界面波的声速,实施该调整,形成声界面波的声速及/或材料与第2媒质不同的第3媒质(3)。
  • 界面装置制造方法
  • [发明专利]声界面波装置的制造方法-CN200910222851.X有效
  • 门田道雄;神藤始 - 株式会社村田制作所
  • 2005-03-24 - 2010-05-26 - H03H9/64
  • 该声界面波装置,按顺序第1~第3媒质(1~3)、并且第1媒质(1)与第2媒质(2)的界面上设有电极(5)。该制造方法中,准备第1媒质(1)与第2媒质(2),并在第1、第2媒质(1、2)的界面中设有电极(5)的体,在该体阶段,通过调整第2媒质(2)的膜厚来调整频率或声表面波、伪声界面波或声界面波的声速,实施该调整,形成声界面波的声速及/或材料与第2媒质不同的第3媒质(3)。
  • 界面装置制造方法
  • [发明专利]声界面波装置-CN200910222850.5无效
  • 门田道雄;神藤始 - 株式会社村田制作所
  • 2005-03-24 - 2010-06-16 - H03H9/145
  • 该声界面波装置,按顺序第1~第3媒质(1~3)、并且第1媒质(1)与第2媒质(2)的界面上设有电极(5)。该制造方法中,准备第1媒质(1)与第2媒质(2),并在第1、第2媒质(1、2)的界面中设有电极(5)的体,在该体阶段,通过调整第2媒质(2)的膜厚来调整频率或声表面波、伪声界面波或声界面波的声速,实施该调整,形成声界面波的声速及/或材料与第2媒质不同的第3媒质(3)。
  • 界面装置
  • [发明专利]闸极结构的制造方法-CN202310582355.5在审
  • 郑凯仁;杨建国;孙磊;李全波;黄君;邱岩栈 - 上海华力集成电路制造有限公司
  • 2023-05-23 - 2023-08-15 - H01L21/8234
  • 本发明提供一种闸极结构的制造方法,提供衬底,衬底上形成有STI以定义出NMOS和PMOS的有源区,有源区上形成有目标高度的栅极结构,栅极结构由以及位于侧壁上的侧墙组成,由自下而上依次堆叠的栅氧化、伪栅多晶硅、硬掩膜组成;在衬底上形成覆盖栅极结构的第一刻蚀停止;在刻蚀停止上形成填充栅极结构之间间隙的第一介质,之后研磨第一介质至第一刻蚀停止的上方;回刻蚀第一介质至所需厚度,之后利用离子注入在第一介质上形成第二刻蚀停止;形成填充栅极结构之间剩余间隙的第二介质,之后研磨第二介质至第一刻蚀停止的上方。
  • 结构制造方法
  • [发明专利]一种大尺寸金属铝化物曲面薄壁构件制备方法-CN202110396560.3有效
  • 林鹏;鲁羽鹏;孟令健 - 太原理工大学
  • 2021-04-13 - 2022-04-22 - C22C1/00
  • 本发明是一种大尺寸金属铝化物曲面薄壁构件制备方法,涉及金属化合物构件制备成形技术领域;具体步骤为:确定A、B原始板材的厚度比、厚度与层数;原始板材表面处理;热压预复合获得A/B复合板;轧制复合减薄获得A/B微复合板;A/B微复合板气压成形;原位一级反应扩散;原位二级反应合成;本发明把脆性金属铝化物板材的制备与成形转化为塑性良好的纯金属微复合板制备成形,解决了金属铝化物板材直接制备及二次成形难的问题,运用先成形,成材的反向思路,使纯金属微复合板成形在先,金属铝化物生成在后,金属铝化物生成不再二次成形,避免了金属铝化物薄壁构件直接高温成形导致的组织性能恶化。
  • 一种尺寸金属铝化物曲面薄壁构件制备方法
  • [实用新型]用于母排插接端子的焊接结构-CN201420008971.6有效
  • 盛建华;王聪;李祥 - 苏州西典机电有限公司
  • 2014-01-07 - 2014-08-27 - H01R25/00
  • 本实用新型公开了一种用于母排插接端子的焊接结构,在母排的每个组成铜排的焊接引脚的两侧分别设有直条形引脚,直条形引脚与铜排相连,焊接引脚的其余部分与铜排存有空隙。该焊接结构相当于将焊接引脚独立出来,使得焊接引脚四周与铜排存在一定间隙,防止焊接点处热量的快速散失,只通过直条形引脚将该焊接引脚与铜排连接起来,同时通过对所述直条形引脚的长宽进行调整使焊接引脚满足母排的载流能力,保证本实用新型的焊接结构不会对母排性能造成不良影响。如此,可以保证焊接引脚的温度不会迅速散失,使得快速达到焊接熔点要求,并且母排可热压合再实施焊接、不损坏绝缘膜,不影响插接端子的载流能力。
  • 用于叠层母排插接端子焊接结构
  • [发明专利]半导体器件及制造该半导体器件的方法-CN200910203111.1有效
  • 千叶原宏幸;石井敦司;和泉直生;松本雅弘 - 株式会社瑞萨科技
  • 2009-05-27 - 2009-12-02 - H01L23/31
  • 提供一种半导体器件以及制造该半导体器件的方法,在该半导体器件中难以出现由电介质膜的裂缝造成的对密封环的破坏。第一包括具有第一机械强度的第一电介质膜。第二包括具有比第一机械强度高的机械强度的第二电介质膜。第一区域包括设置在第一内的过孔和第一金属。第二区域包括设置在第二内的过孔和第二金属。当从平面上看时,第二区域至少与第一区域的一部分重叠,第二区域不通过过孔与第一区域耦合,且在第二区域与第一区域之间夹持第二电介质膜。
  • 半导体器件制造方法
  • [发明专利]半导体器件及制造该半导体器件的方法-CN201310364531.4有效
  • 千叶原宏幸;石井敦司;和泉直生;松本雅弘 - 瑞萨电子株式会社
  • 2009-05-27 - 2013-11-27 - H01L23/02
  • 提供一种半导体器件以及制造该半导体器件的方法,在该半导体器件中难以出现由电介质膜的裂缝造成的对密封环的破坏。第一包括具有第一机械强度的第一电介质膜。第二包括具有比第一机械强度高的机械强度的第二电介质膜。第一区域包括设置在第一内的过孔和第一金属。第二区域包括设置在第二内的过孔和第二金属。当从平面上看时,第二区域至少与第一区域的一部分重叠,第二区域不通过过孔与第一区域耦合,且在第二区域与第一区域之间夹持第二电介质膜。
  • 半导体器件制造方法
  • [实用新型]一种带挂帘的组合衣柜-CN201220409512.X有效
  • 楼珍瑶 - 义乌市嘉豪日用品厂
  • 2012-08-17 - 2013-03-20 - A47B61/00
  • 本实用新型公开了一种带挂帘的组合衣柜,包括内框架和外布套,所述外布套套在内框架的外部,所述内框架包括支撑架和架,所述架将内框架的内空间分割成挂衣,所述挂衣设置有挂衣杆,其特征在于:所述挂衣间位于的上方,所述挂衣通过外布套上的挂帘和外界封闭,所述外布套上设置有闭合窗,该闭合窗通过弧形拉链封闭。本实用新型结构简单合理,挂衣采用挂帘开闭,方便存取衣物,采用圆弧形拉链闭合,拉合方便。
  • 一种带挂帘组合衣柜
  • [发明专利]3D NAND闪存及制备方法-CN201910248585.1有效
  • 肖莉红 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2019-03-29 - 2020-05-19 - H01L27/11551
  • 本发明提供一种3D NAND闪存及制备方法,包括:半导体衬底;结构,位于半导体衬底上,结构包括交替叠置的栅介质及栅极;栅介质包括交替叠置的第一漏电抑制及第二漏电抑制;沟道通孔,位于结构内;功能侧壁,位于沟道通孔的侧壁表面,功能侧壁包括多个分离且沿沟道通孔的深度方向间隔排布的存储单元,存储单元与栅极一一对应设置;沟道,位于沟道通孔内,且位于功能侧壁的表面及沟道通孔的底部。本发明可以有效减小相邻栅极之间的漏电,提高相邻栅极之间的栅介质的抗击穿能力,降低相邻栅极之间的耦合效应。
  • nand闪存制备方法
  • [发明专利]金属化及包括其的半导体器件和电子设备-CN201610153583.0有效
  • 朱慧珑 - 中国科学院微电子研究所
  • 2016-03-17 - 2019-02-15 - H01L23/522
  • 公开了一种金属化及包括该金属化的半导体器件和电子设备。根据实施例,金属化可以包括:电介质,包括电介质材料和负电容材料,其中,该电介质中形成的至少一对彼此之间至少部分相对的第一导电互连部件在它们的相对部分之间包括电介质材料和负电容材料二者,和/或该电介质的上层中形成的至少一个第二导电互连部件与该电介质的下层中形成的与该第二导电互连部件至少部分相对的至少一个第三导电互连部件在它们的相对部分之间包括电介质材料和负电容材料二者。
  • 金属化包括半导体器件电子设备

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