专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种对有机小分子添加剂在聚合物内部迁移过程的时空分析方法-CN202310142474.9在审
  • 田锐;郑敏柔;吕超 - 北京化工大学
  • 2023-02-09 - 2023-06-06 - G01N21/64
  • 一种对有机小分子添加剂在聚合物内部迁移过程的时空分析方法,属于复合材料中有机小分子添加剂迁移过程可视化及定量分析技术领域。本发明采用荧光示踪三维成像分析方法,对有机小分子添加剂在复合材料内部的分布情况及迁移行为进行荧光定位及原位、三维成像。通过对复合材料整体荧光强度、不同深度处荧光强度变化、不同深度处粒子数变化等进行定量分析,探究复合材料内部小分子添加剂的分布变化及迁移方向、迁移量。本方法通过三维荧光可视化成像,实现了对复合材料内部有机小分子在不同条件下迁移过程的原位分析。适用于对添加了有机小分子添加剂的聚合物复合材料在不同外界条件下的内部结构追踪分析,具有广泛的适用性和实用价值。
  • 一种有机分子添加剂聚合物内部迁移过程时空分析方法
  • [发明专利]一种三维纳米分辨定位方法及装置-CN201310323887.3有效
  • 陈丹妮;于斌;牛憨笨;李恒;霍英东;曹博 - 深圳大学
  • 2013-07-29 - 2013-11-27 - G01N21/64
  • 本发明适用于分子定位技术领域,提供了一种三维纳米分辨定位方法,包括:对物品中的目标分子进行荧光激发;采用两个并行的探测通道进行荧光探测,在每个探测通道中,使荧光依次通过一物镜及一弯曲光栅采用两个并行的探测通道进行荧光探测,在每个探测通道中,使荧光依次通过一物镜及一弯曲光栅,成像于同一个探测器上的不同区域或分别成像于不同的探测器上;两个探测通道对应的成像面对应于物品中的共轭面错位分布,间距为1~3μm;采用双焦面法对图像进行分析,确定目标分子的三维定位信息。本发明将弯曲光栅多焦面并行成像与双焦面定位法有机结合,在突破现有显微系统景深的同时,实现对细胞厚度范围内运动分子的三维纳米定位和追踪。
  • 一种三维纳米分辨定位方法装置
  • [发明专利]一种多模态自发荧光断层分子影像仪器及重建方法-CN200710099044.4有效
  • 田捷;秦承虎;吕玉杰;杨鑫 - 中国科学院自动化研究所
  • 2007-05-10 - 2008-11-12 - A61B5/00
  • 本发明公开多模态自发荧光断层分子影像仪器包括:信号采集模块,信号预处理模块,系统控制模块,信号后处理模块。方法,用X射线成像和多级自适应有限元的自发荧光断层成像,结合数字鼠、重建目标区域光学特性参数和模态融合,确定光源可行区域,根据后验误差估计,对局部网格进行自适应优化分解,以得到重建目标区域内部的荧光光源自发荧光断层成像的多模态融合成像方式有效的解决自发荧光断层分子影像的病态问题,对复杂重建目标区域内部的自发荧光光源进行精确重建。用液氮制冷CCD探测器、多角度荧光探测技术和多模态融合技术,用重建目标区域非匀质特性的基于多级自适应有限元的自发荧光断层分子影像算法完成自发荧光光源的精确重建。
  • 一种多模态自发荧光断层分子影像仪器重建方法

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