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[发明专利]光学试验用装置和光学测定器具的试验方法-CN202010789533.8在审
发明人：菅原聪洋;樱井孝夫 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2020-08-07 - 公布日： 2021-04-16 - 主分类号： G01S7/497 文献下载
摘要：本发明提供光学试验用装置和光学测定器具的试验方法。不再现设想实际进行测定的实际环境就能够进行光学测定器具的试验。光学试验用装置在对光学测定器具进行试验时使用，该光学测定器具向入射对象提供来自光源的入射光脉冲，取得入射光脉冲被该入射对象反射的反射光脉冲。光学试验用装置具备：输出试验用光脉冲的2个以上的试验用光源；2个以上的液晶屏，其具有光透射区域，从2个以上的试验用光源分别接受试验用光脉冲，并使其透过光透射区域；半反射镜，其对透过了2个以上的液晶屏的试验用光脉冲进行合波，提供给光学测定器具。光透射区域分别与在入射对象中相对于光学测定器具的距离是固定的距离固定面对应。
光学试验装置测定器具方法

[发明专利]带抖动修正功能的光学设备的抖动修正特性评价装置-CN201810573115.8有效
发明人：唐泽敏行;小松亮二 -专利权人：日本电产三协株式会社
申请日： 2018-06-06 - 公布日： 2021-01-12 - 主分类号： G03B5/00 文献下载
摘要：本发明提供一种带抖动修正功能的光学设备的抖动修正特性评价装置。由于使用了激光自动准直仪而不必在产品上设置镜面，且由于使用了旋转台使测定方向的变更不需要耗费时间，能够廉价地评价其旋转抖动修正特性。该抖动修正特性评价装置通过控制IC的控制，以摄像头的光轴L为旋转轴使收纳体作为矫正体旋转，利用摄像头拍摄多个映现发光点的图像。因此，能够基于多个图像中的直线的各倾斜度，了解修正绕摄像头的光轴L的被拍摄体像的图像抖动时的旋转致动器的驱动特性，根据该驱动特性，可以利用上位系统评价光学设备的旋转抖动修正特性。
抖动修正功能光学设备特性评价装置

[发明专利]光纤特性测定装置、光纤特性测定程序以及光纤特性测定方法-CN202180047743.2在审
发明人：松浦聪;手冢信一郎;本间雅美;熊谷芳宏 -专利权人：横河电机株式会社
申请日： 2021-06-29 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：光纤特性测定装置(1)具有：光检测部(16)，其对使光向被测定光纤(FUT)射入而获得的布里渊散射光(LS)进行检测；信号处理部(18b)，其基于从所述光检测部输出的检测信号(S1)而获得第1布里渊增益频谱(B1)以及第2布里渊增益频谱(B2)，该第1布里渊增益频谱(B1)是在向所述被测定光纤射入的光的频谱宽度为第1宽度的情况下获得的所述布里渊散射光的频谱，该第2布里渊增益频谱(B2)是在向所述被测定光纤射入的光的频谱宽度为大于所述第1宽度的第2宽度的情况下获得的所述布里渊散射光的频谱；以及测定部(18c)，其基于所述第1布里渊增益频谱及所述第2布里渊增益频谱，对所述被测定光纤的特性进行测定。
光纤特性测定装置程序以及方法

[发明专利]取向特性测定方法、取向特性测定程序及取向特性测定装置-CN202210809067.4在审
发明人：细川清正;江浦茂 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2017-11-22 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：取向特性测定系统(1)具备：照射光学系统(5)，其朝向配置于透明性基板(S1)上的试样照射激发光；检测光学系统(11)，其引导自试样发出的荧光；光检测器(13)，其检测荧光；旋转机构(9)，其变更试样的荧光出射侧的面的垂线与检测光学系统
取向特性测定方法程序装置

[发明专利]取向特性测定方法、取向特性测定程序及取向特性测定装置-CN201780091062.X有效
发明人：细川清正;江浦茂 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2017-11-22 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：取向特性测定系统(1)具备：照射光学系统(5)，其朝向配置于透明性基板(S1)上的试样照射激发光；检测光学系统(11)，其引导自试样发出的荧光；光检测器(13)，其检测荧光；旋转机构(9)，其变更试样的荧光出射侧的面的垂线与检测光学系统
取向特性测定方法程序装置

[发明专利]挠性光学测定用夹具-CN201280062338.9有效
发明人：高木晃 -专利权人：住友化学株式会社;大日本印刷株式会社
申请日： 2012-12-06 - 公布日： 2016-11-23 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种挠性光学测定用夹具，其在具有任意曲率的挠性光学显示面板的任何测定中，均可始终从法线方向对测定位置进行测定。挠性光学测定用夹具(1)由保持部件(10)与底座部件(20)构成，该保持部件(10)具有规定的曲率，可保持具有任意的曲率的挠性光学显示面板(2)，该底座部件(20)具有用于移动保持部件(10)的与保持部件(10)相同的曲率，并且用于移动保持部件(10)，通过底座部件(20)，保持部件(10)能够移动，在移动挠性光学显示面板(2)来进行测定的任何测定中，均可从法线方向对测定位置进行测定。
光学测定夹具

[发明专利]成分分析方法以及成分分析装置-CN201910772919.5在审
发明人：吉田迅 -专利权人：爱科来株式会社
申请日： 2019-08-21 - 公布日： 2020-03-03 - 主分类号： G01N27/447 文献下载
摘要：包括：测定工序，在流路内分离被连续导入到流路的试样溶液，并随时间对位于流路测定部的试样溶液进行光学测定而得到光学测定值；分析工序，基于光学测定值，分析试样中所含的多个成分，分析工序包括：原始波形获取工序，在二维平面上沿时间轴绘制光学测定值而获取原始波形；测定值微分工序，获取作为沿与时间轴正交的光学测定值的轴将对原始波形进行微分而得到的波形的测定值微分波形；测定值边界决定工序，将与该测定值微分波形的峰顶对应的光学测定值作为多个成分彼此之间的分离边界
成分分析方法以及装置

[发明专利]波面计测装置和波面计测方法-CN201580077921.0有效
发明人：佐藤阳辅 -专利权人：奥林巴斯株式会社
申请日： 2015-03-27 - 公布日： 2019-08-30 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：波面计测装置(1)具有光源部(2)、保持部(3)、受光光学系统(4)、波面测定部(5)、波面数据生成部(6)，光源部(2)配置在计测轴(7)的一侧，波面测定部(5)配置在计测轴(7)的另一侧，保持部(3)配置在光源部(2)与波面测定部(5)之间，受光光学系统(4)配置在保持部(3)与波面测定部(5)之间，保持部(3)具有保持被检光学系统(10)的开口部(9)，从光源部(2)朝向被检光学系统(10)照射光束(L1)，利用波面测定部(5)测定透射过被检光学系统(10)的光束(L3)，利用波面数据生成部(6)，根据由波面测定部(5)测定出的结果生成波面像差数据，其中，通过受光光学系统(4)，开口部(9)附近和波面测定部(5)附近在光学上共轭，光束的测定至少包含使开口部(9)的中心从计测轴(7)离开规定距离的状态下的测定。
波面计测装置方法

[发明专利]一种模拟遮阴程度的方法和装置-CN201510288026.5有效
发明人：李刚;陈莉莉;罗卫红;顾蕴倩 -专利权人：南京农业大学
申请日： 2015-05-29 - 公布日： 2017-08-29 - 主分类号： A01G7/00 文献下载
摘要：根据不同程度遮阴条件下太阳辐射或透光率变化情况，测定不同黑色遮阳网的光学特性(透光率)，选择光学特性满足模拟不同程度遮阴条件下的黑色遮阳网作为覆盖材料。
一种模拟遮阴程度方法装置

[发明专利]用于测定墨滴的光学系统-CN202011007776.8在审
发明人：韩政洹 -专利权人：三星显示有限公司
申请日： 2020-09-23 - 公布日： 2021-11-12 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：公开一种用于测定墨滴的光学系统。本公开的用于测定墨滴的光学系统包括：腔室；光学测定部，设置在腔室外部，并朝向基板照射光而测定墨滴的状态；光学部，设置在腔室内部，并位于光路径上；以及保护模组，具备移动部和辊部，移动部配置于光学部周围并进行升降运动，辊部向光学部和基板之间供应膜。
用于测定光学系统

[实用新型]光学膜贴合位置测定装置及光学显示装置生产线-CN201420442537.9有效
发明人：由良友和;小盐智 -专利权人：日东电工株式会社
申请日： 2014-08-07 - 公布日： 2015-01-28 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型提供一种光学膜贴合位置测定装置及光学显示装置生产线，该光学膜贴合位置测定装置对在光学元件上贴合有光学膜而形成的光学显示装置进行光学膜的贴合位置的测定，其具备：框架；红外线光源，其设置在框架的一端侧，并射出红外线；拍摄机构，其设置在框架的另一端侧，并设置为红外线射入该拍摄机构；环状光源，其设置在红外线光源与拍摄机构之间；红外线光源与环状光源的光轴大致为同轴，光的射出方向彼此相对，在该两者之间空出光学显示装置能够通过的空间根据该光学膜贴合位置测定装置，能够同时使用红外线光源和环状光源测定光学膜的贴合位置，并能够通过简单的结构实现高精度的测定。
光学贴合位置测定装置显示装置生产线

[发明专利]光学玻璃、预成型坯及光学元件-CN202211199050.8在审
发明人：桃野净行 -专利权人：株式会社小原
申请日： 2018-07-13 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： C03C3/068 文献下载
摘要：提供光学玻璃、预成型坯及光学元件。本发明提供一种光学玻璃和使用该光学玻璃的预成型坯及光学元件。该光学玻璃具有中等折射率低色散的光学特性及良好的化学耐久性，且比重较小。该光学玻璃，以质量％计，含有B2O3成分超过0～45.0％、La2O3成分15.0～55.0％、Al2O3成分超过0～30.0％，粉末法所测定的化学耐久性
光学玻璃成型光学元件

[发明专利]一种大面积获取组织光学参数及微观结构的光反射成像技术-CN201510666945.1有效
发明人：徐敏 -专利权人：温州医科大学
申请日： 2015-10-15 - 公布日： 2018-08-24 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：本发明提供一种大面积获取组织光学参数及微观结构的光反射成像技术，包括在任意空间距离和在整个空间频率域中均适用的浑浊介质反射率计算方法，以及一种通过测量高和低空间频率浑浊介质反射，并以得到的光反射率反演得出介质光学参数的方法浑浊介质sub‑扩散和漫射光反射率的测量可用于大面积测定混浊介质的光学特性及包括相位函数等的微观结构。
一种大面积获取组织光学参数微观结构反射成像技术

[发明专利]激光加工前进行光学系统的污染检测的激光加工装置-CN201810956956.7有效
发明人：和泉贵士 -专利权人：发那科株式会社
申请日： 2018-08-21 - 公布日： 2020-07-17 - 主分类号： B23K26/046 文献下载
摘要：本发明提供一种激光加工前进行光学系统的污染检测的激光加工装置，该激光加工装置具备在激光加工前判定外部光学系统的污染的污染判定部，污染判定部根据在外部光学系统没有被加热的状态下通过能量测定部测定到的第一测定值与在外部光学系统已被加热的状态下通过能量测定部测定到的第二测定值之间的比较来判定外部光学系统中的透镜的污染
激光加工进行光学系统污染检测装置

[发明专利]眼科装置及其控制方法-CN201910628307.9有效
发明人：多多良阳子 -专利权人：株式会社拓普康
申请日： 2019-07-12 - 公布日： 2022-03-22 - 主分类号： A61B3/103 文献下载
摘要：提供一种眼科装置及其控制方法，在能够进行屈光力测定和OCT测量的眼科装置中能够缩短测定等所需时间。眼科装置包括屈光力测定光学系统、OCT光学系统、固视投影系统和控制部。屈光力测定光学系统向被检眼投射光，检测来自被检眼的返回光。OCT光学系统将来自OCT光源的光分割为参照光和测定光，将测定光向被检眼投射，检测来自被检眼的测定光的返回光和参照光之间的干涉光。控制部同时执行使用屈光力测定光学系统的屈光力测定和使用OCT光学系统的OCT测量。
眼科装置及其控制方法

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