专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]垂直非易失性存储器设备-CN202211211466.7在审
  • 黄斗熙;金泰勋;裵敏敬;尹那瑛 - 三星电子株式会社
  • 2022-09-30 - 2023-04-04 - H10B43/35
  • 一种垂直非易失性存储器设备,包括:存储器堆叠结构,包括栅极线和绝缘,以及在堆叠方向上延伸的沟道孔;沟道,在沟道孔中并且在堆叠方向上延伸;以及信息存储结构,包括从栅极线到沟道在水平方向上顺序地布置的复合阻挡绝缘、电荷存储和隧穿绝缘,其中,复合阻挡绝缘包括介电常数高于氧化硅的金属氧化物,并且复合阻挡绝缘包括在栅极线的侧面上的第一阻挡绝缘以及在第一阻挡绝缘和电荷存储之间并且氧化密度低于第一阻挡绝缘的第二阻挡绝缘
  • 垂直非易失性存储器设备
  • [发明专利]半导体结构及其形成方法-CN202011201365.2在审
  • 孙金萍;赵亮;王文峰 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2020-11-02 - 2022-05-06 - H01L21/8242
  • 该形成方法包括:提供衬底,衬底包括第一区域和第二区域;在衬底上形成绝缘;蚀刻部分位于第二区域的绝缘,第一区域上的绝缘构成第一绝缘,第二区域上剩余的绝缘构成第二绝缘,第二绝缘背离衬底一侧的表面低于第一绝缘背离衬底一侧的表面;形成覆盖第一绝缘第一阻挡和覆盖第二绝缘的第二阻挡,第二阻挡的厚度大于第一阻挡的厚度;蚀刻第一阻挡、部分第二阻挡和第一绝缘,以在第一绝缘内形成通孔,并在第二阻挡中形成孔段;去除第一阻挡和第二阻挡
  • 半导体结构及其形成方法
  • [实用新型]一种防绝缘脱落的封口机-CN202221347514.0有效
  • 朱泽春;赵宏远 - 杭州九阳小家电有限公司
  • 2022-05-27 - 2022-10-04 - B65B51/14
  • 本实用新型公开了一种防绝缘脱落的封口机,属于包装技术领域,目的在于克服现有封口机存在较大安全隐患的缺陷。一种防绝缘脱落的封口机,包括机座和盖设在所述机座上的盖体,所述机座上设有发热丝,所述发热丝上粘接绝缘,所述机座上设有阻挡筋,所述阻挡阻挡在所述绝缘的侧边。阻挡筋能够阻挡用户的手指或其他物件接触到绝缘的侧边,避免手指或物件从绝缘的侧边嵌入到绝缘下方使得绝缘起翘,有效防止绝缘脱落,避免绝缘外露而产生安全隐患。
  • 一种绝缘脱落封口机
  • [发明专利]具有可变电阻结构的三维半导体器件-CN202210311980.1在审
  • 韩在贤 - 爱思开海力士有限公司
  • 2022-03-28 - 2023-01-24 - H10B63/00
  • 在一个实施方式中,一种半导体器件包括:衬底、第一位线、第一隧道绝缘、可变电阻结构、第二隧道绝缘、第二位线、阻挡绝缘和字线,其中所述第一位线设置在衬底上,所述第一隧道绝缘设置在第一位线上,所述可变电阻结构设置在第一隧道绝缘上并且具有柱状结构,所述第二隧道绝缘设置在可变电阻结构的上表面上,所述第二位线设置在第二隧道绝缘上,所述阻挡绝缘设置在可变电阻结构的侧壁表面上,所述字线设置在阻挡绝缘上。所述阻挡绝缘的介电常数大于第一隧道绝缘和第二隧道绝缘中的每一个的介电常数。
  • 具有可变电阻结构三维半导体器件
  • [发明专利]存储器装置、存储器装置的制造方法及操作方法-CN202210167966.9在审
  • 徐文植 - 爱思开海力士有限公司
  • 2022-02-23 - 2023-02-24 - H10B43/30
  • 该存储器装置包括:交替层叠的绝缘和导电;垂直孔,其被配置为穿过交替层叠的导电绝缘;第一阻挡,其沿通过垂直孔暴露出的绝缘形成;以及第二阻挡,其沿通过垂直孔暴露出的导电形成,并且每个第二阻挡的厚度大于每个第一阻挡的厚度存储器装置还包括:电荷俘获,其形成在与绝缘相同的上,并且由第一阻挡和第二阻挡围绕;隧道绝缘,其沿第二阻挡和电荷俘获的内壁形成;以及沟道,其沿隧道绝缘的内壁形成。
  • 存储器装置制造方法操作方法
  • [发明专利]互连结构及其形成方法-CN200910196934.6有效
  • 王琪 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2009-10-09 - 2011-05-04 - H01L21/768
  • 一种互连结构及其形成方法,其中互连结构包括:衬底;形成在衬底表面的金属布线;形成在金属布线表面的第一阻挡;形成在第一阻挡表面的第一绝缘;形成在第一绝缘表面的第二阻挡;形成在第二阻挡表面的第二绝缘;形成在第二绝缘表面的保护;形成在第一阻挡和第一绝缘内的并暴露出部分金属布线的接触孔;形成在第二阻挡、第二绝缘和保护内并暴露出部分第一绝缘和部分金属布线的沟槽。
  • 互连结构及其形成方法
  • [发明专利]互连结构及其形成方法-CN200910057970.4无效
  • 王琪 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2009-09-28 - 2011-04-27 - H01L21/768
  • 一种互连结构及其形成方法,其中互连结构包括:衬底;形成在衬底表面的金属布线;形成在金属布线表面的第一阻挡;形成在第一阻挡表面的第一绝缘;形成在第一绝缘表面的第二阻挡;形成在第二阻挡表面的第二绝缘;形成在第二绝缘表面的保护;形成在第一阻挡和第一绝缘内的并暴露出部分金属布线的接触孔;形成在第二阻挡、第二绝缘和保护内并暴露出部分第一绝缘和部分金属布线的沟槽。
  • 互连结构及其形成方法

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