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[发明专利]打印头数据错误检测和响应-CN201480083130.4有效
发明人： E·T·马丁;C·H·巴克 -专利权人：惠普发展公司;有限责任合伙企业
申请日： 2014-10-29 - 公布日： 2021-07-02 - 主分类号： G06F3/12 文献下载
摘要：打印头组件包括具有喷嘴的喷墨设备，和与该喷墨设备通信的处理电子器件。处理电子器件实施逻辑以接收用于控制该喷墨设备的喷嘴数据、接收与该喷嘴数据相关联的错误检测数据、使用该错误检测数据检测与该喷嘴数据相关联的错误并且生成针对检测到的错误的故障数据。
打印头数据错误检测响应

[发明专利]一种MCE错误处理方法、装置及电子设备和存储介质-CN201911328687.0有效
发明人：来炜国 -专利权人：浪潮电子信息产业股份有限公司
申请日： 2019-12-20 - 公布日： 2022-04-22 - 主分类号： G06F11/14 文献下载
摘要：本申请公开了一种MCE错误处理方法、装置及设备和介质，包括：接收DCPMM器件的内存控制器发送的MCE错误；若MCE错误对应的操作不存在对应的应用程序，则将MCE错误发送至用户交互进程；若MCE错误对应的操作存在对应的应用程序，则将MCE错误发送至DCPMM恢复进程进行修复处理；若恢复进程对MCE错误修复失败，则将MCE错误发送至用户交互进程；利用用户交互进程确定错误处理方式，根据错误处理方式对MCE错误进行处理。本申请根据MCE错误对应的操作是否存在对应的应用程序确定将MCE错误发送至DCPMM恢复进程将发送至用户交互进程进行错误处理，实现了针对DCPMM器件产生的MCE错误的处理。
一种 mce 错误处理方法装置电子设备存储介质

[发明专利]FPGA器件的配置数据的刷新方法、电路和存储介质-CN202011181814.1有效
发明人：朱志新;王佳承;何允灵;朱亚军;李铁明;刘鑫;李昊;朱一骄;丁雪玲 -专利权人：国核自仪系统工程有限公司
申请日： 2020-10-29 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G06F11/14 文献下载
摘要：本发明公开了一种FPGA器件的配置数据的刷新方法，包括以下步骤：S11、存储一FPGA器件的配置数据备份；S12、检测所述FPGA器件的配置数据是否发生错误，若是，则执行步骤S13；S13、使用所述配置数据备份刷新所述FPGA器件的配置数据。本发明通过检测FPGA器件的配置数据，在FPGA器件的配置数据发生错误时，从配置数据存储芯片获取FPGA器件的配置数据备份并刷新FPGA器件的配置数据，从而能够在短时间内发现并纠正FPGA器件的配置数据错误，提高了检测配置数据及纠错的效率，提高了FPGA器件的工作可靠性，提高了安全性。
fpga 器件配置数据刷新方法电路存储介质

[发明专利]将数据恢复到闪存器件中-CN200980160945.7有效
发明人： Y.伊莱;M.阿斯弗;S.巴-奥 -专利权人：桑迪士克以色列有限公司
申请日： 2009-08-25 - 公布日： 2016-10-12 - 主分类号： G11C16/34 文献下载
摘要：通过使用MBC存储方案，将编程器的数据初始地存储在存储器件(100)的存储器器件(120)中。在存储器件被嵌入在主机设备(170)中之后，通过使用传统的读基准电压从存储器器件内部地读取编程器的数据，并且计算编程器的数据中的错误数据位的数量。如果编程器的数据包括不可校正的数量的错误数据位，则通过使用具有降低的电平的非传统读基准电压重复地重新读取编程器的数据。当编程器的数据中的错误数据位的数量小于或等于错误数据位的预定数量时，包括降低读基准电压的电平和重新计算错误数据位的数量的该重复处理终止，在这之后，存储器件恢复编程器的数据并且将其传统地重新写到存储器器件中
数据恢复闪存器件

[发明专利]地址解码错误的检测方法和检测系统及存储器系统-CN201810579766.8有效
发明人：藤原英弘;吴经纬;张君豪 -专利权人：台湾积体电路制造股份有限公司
申请日： 2018-06-07 - 公布日： 2021-05-11 - 主分类号： G11C29/18 文献下载
摘要：一种检测半导体器件的地址解码错误的方法包括：利用半导体器件的地址解码器对原始地址进行解码以形成相应的解码地址；利用半导体器件的编码器对解码地址进行重新编码以形成重新编码地址；利用半导体器件的比较器对重新编码地址和原始地址进行比较；并且基于该比较来检测地址解码错误。本发明还提供了地址解码错误的检测系统及存储器系统。
地址解码错误检测方法系统存储器

[发明专利]用于执行数据掩蔽操作的电子器件-CN202110641534.2在审
发明人：金大石;郑会柱;金东均;李桢埈 -专利权人：爱思开海力士有限公司
申请日： 2021-06-09 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G11C29/42 文献下载
摘要：本申请公开了用于执行数据掩蔽操作的电子器件。该电子器件包括：核心电路，其被配置为：在数据掩蔽操作中在输出读取数据和读取奇偶校验之后储存写入数据和写入奇偶校验。该电子器件还包括错误校正电路，其被配置为：基于读取奇偶校验来校正读取数据中包括的错误；根据经错误校正的读取数据、输入数据和掩蔽数据来产生写入奇偶校验；以及根据未经错误校正的读取数据、输入数据和掩蔽数据来产生写入数据
用于执行数据掩蔽操作电子器件

[发明专利]错误处理系统和方法-CN201310371915.9无效
发明人：郭利文 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2013-08-23 - 公布日： 2015-03-18 - 主分类号： G06F11/07 文献下载
摘要：一种错误处理系统，应用在一服务器系统中，所述错误处理系统包括有可编程逻辑器件、基板管理控制器及基本输入输出系统；所述可编程逻辑器件通过所述基板管理控制器连接所述基本输入输出系统，所述可编程逻辑器件用以在侦测到所述服务器系统的中央处理器产生错误时发出的错误信号后发送一中断给所述基板管理控制器；所述基板管理控制器用以在接收到所述中断后发送一错误通知信号至所述基本输入输出系统；所述基本输入输出系统用以在接收到所述错误通知信号后查询并处理该错误。本发明进一步揭示一种错误处理方法。
错误处理系统方法

[发明专利]电路结构最优化装置以及机器学习装置-CN201810326636.3有效
发明人：和泉均;栗原健一郎 -专利权人：发那科株式会社
申请日： 2018-04-12 - 公布日： 2020-04-17 - 主分类号： H03K19/17764 文献下载
摘要：该电路结构最优化装置具备学习FPGA器件的电路结构的机器学习装置，该机器学习装置将FPGA器件的电路结构数据以及表示FPGA器件的错误产生状态的FPGA错误产生状态数据作为表示环境的当前状态的状态变量进行观测，另外，取得表示FPGA器件工作状态的适当与否判定结果的判定数据。于是，使用这些状态变量和判定数据，将FPGA器件的电路结构与FPGA错误产生状态数据关联起来进行学习。
电路结构优化装置以及机器学习

[发明专利]非易失性存储器器件及其读取和拷回方法-CN201710266270.0有效
发明人：平野诚;鲜于桢 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2017-04-21 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G11C29/42 文献下载
摘要：提供了一种非易失性存储器件的读取方法。所述方法包括将从非易失性存储器件的所选择的存储器单元感测到的数据存储到页缓冲器中，通过对感测到的数据执行错误检测以检测错误，如果检测到错误则纠正检测到的错误，使用经纠正的数据重写页缓冲器，并在完成错误解码操作之后通过使用种子来对存储在页缓冲器中的数据进行解随机化
非易失性存储器器件及其读取方法

[发明专利]半导体器件-CN201710833271.9有效
发明人：金昌铉 -专利权人：爱思开海力士有限公司
申请日： 2017-09-15 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： G11C7/10 文献下载
摘要：可以提供一种半导体器件。半导体器件可以包括错误擦洗控制电路和/或激活时段信号发生电路。错误擦洗控制电路可以被配置成基于存储体激活信号和行地址信号来产生用于执行存储体中所包括的存储单元的错误擦洗操作的错误擦洗预充电信号和错误擦洗存储体信号，所述存储体激活信号和所述行地址信号基于刷新信号来产生激活时段信号发生电路可以被配置成基于错误擦洗存储体信号来从存储体激活信号和错误擦洗预充电信号产生激活时段信号。
半导体器件

[发明专利]确定错误计数的存储控制器、操作其的方法以及操作包括其的存储设备的方法-CN202210858214.7在审
发明人：姜宇现;徐荣德;金炫我;吴玄教;李熙元;林东厚 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2022-07-20 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G11C16/26 文献下载
摘要：公开一种操作与非易失性存储器件通信的存储控制器的方法。该方法包括：向非易失性存储器件输出包括对非易失性存储器件的存储区域的片上谷搜索OVS计数数据的请求的第一命令，其中OVS计数数据包括第一读取电压的第一计数值和第二读取电压的第二计数值；从非易失性存储器件接收OVS计数数据；基于OVS计数数据来确定针对第一读取电压的第一错误计数值和针对第二读取电压的第二错误计数值；以及基于第一错误计数值和第二错误计数值来确定后续操作。
确定错误计数存储控制器操作方法以及包括设备

[发明专利]为了降低的功耗的错误分析电路的并行化-CN201180070667.3有效
发明人： I.德罗尔 -专利权人：桑迪士克以色列有限公司
申请日： 2011-03-24 - 公布日： 2014-01-29 - 主分类号： G06F11/10 文献下载
摘要：存储器器件（例如闪存器件）包括功率有效码字错误分析电路。该电路分析存储器器件的存储器中存储的码字以在码字被传送到从存储器请求这些码字的主机设备之前定位和校正码字中的错误。该电路包括具有降低的复杂性（例如降低的门计数）的高度并行配置，控制器可以致使该高度并行配置在大多数情况下进行错误分析。该电路还包括具有较低并行配置的更大复杂性的分析部分，该控制器可以致使该分析部分较不频繁地进行错误分析。因为更复杂的分析部分较不频繁地运行，该错误分析电路与对于错误分析电路的现有设计相比可以提供极大的功耗节省。
为了降低功耗错误分析电路并行

[发明专利]用于闪速存储器允许可更改位的改进的错误修正模式-CN02801354.9无效
发明人： S·加皮施;C·P·M·J·巴根;A·G·J·斯伦特;H·－J·格尔克 -专利权人：皇家菲利浦电子有限公司
申请日： 2002-04-12 - 公布日： 2004-09-15 - 主分类号： G06F11/10 文献下载
摘要：系统(70)包括微处理器(74)，一个用于往闪速存储器器件(71)中写数据的数据总线(75)和一个用于从闪速存储器器件(71)中读数据的数据总线(75)，闪速存储器器件(71)包括错误修正编码器(72)、闪速存储器(71)、错误修正解码器(73)、和闪速存储器数据总线，所述数据总线用于互连错误修正编码器(72)、闪速存储器(71)和错误修正解码器(73)。数据在由错误修正编码器(72)处理时被转换为包括状态字(51)、数据字(52)、和冗余字(53)的字。这一方法允许以单一位改变修正错误。
用于存储器允许可更改改进错误修正模式

[发明专利]存储器件修复方法及系统-CN202110295405.2在审
发明人：张良 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-03-19 - 公布日： 2022-09-27 - 主分类号： G11C29/44 文献下载
摘要：本发明涉及一种存储器件修复方法及系统。其中，存储器件修复方法，包括：对存储器件的存储单元进行错误检测；将检测到的错误单元的单元地址暂存至寄存器，直至检测到的错误单元的数量达到第一预设数量，错误单元为已损坏的存储单元，一个错误单元占用一个寄存器单元地址包括行地址；在各个寄存器中依次选择目标寄存器；判断目标寄存器中的行地址是否存在于参考存储模块中，参考存储模块中存储有已经修复过的行地址或者未被修复过的行地址；根据判断结果，对未经过行地址修复的错误单元进行修复本申请可以有效防止不同的错误单元同时出现在同一个存储区域的同一根字线上而导致的修复失败。
存储器件修复方法系统

[发明专利]易失存储器类器件抗单粒子效应能力在轨试验方法和系统-CN202211679428.4在审
发明人：魏志超;孙毅;邓峥;梅博;刘迎辉;张竞择;怀娜娜 -专利权人：中国空间技术研究院
申请日： 2022-12-26 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G11C29/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种易失存储器类器件抗单粒子效应能力在轨试验方法，包括步骤如下：易失型存储器上电写入测试图形码，前1/4地址段写入0XFF，第二个1/4地址段写入0X00，后1/2地址段写入0X5A，定时读取器件数据，根据器件数据错误类型判断器件是否发生单粒子效应，记录效应次数、错误地址、错误数据，将数据发送至在轨试验设备并进行下传。通过对在轨试验数据进行分析，判断器件发生的效应单粒子效应类型，并对其进行统计分析，最终得出器件在轨单粒子错误概率，得出器件单粒子效应敏感性。
存储器器件粒子效应能力试验方法系统