专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种开关电容电压转换器-CN202211485619.7在审
  • 赵炜 - 上海南芯半导体科技股份有限公司
  • 2022-11-24 - 2023-03-21 - H02M3/07
  • 本申请公开一种开关电容电压转换器,涉及电子电路技术领域,该开关电容电压转换器包括:开关电容电压转换电路、监控模块、晶体以及电路;监控模块用于监测输入端VBUS和输出端VOUT的电参数,并根据电参数向晶体的栅端输出电压,以使输出端VOUT的电压值稳定在目标值;电路,用于使晶体漏端与源端的电压差小于晶体的耐压。本申请通过在晶体上引入一个模块,使得晶体漏端与源端的电压差小于晶体的耐压,从而使晶体的耐压降低,减小晶体的面积,降低成本。
  • 一种开关电容电压转换器
  • [发明专利]一种电源静电放电保护电路-CN201410645021.9在审
  • 王源;郭海兵;陆光易;曹健;贾嵩;张兴 - 北京大学
  • 2014-11-06 - 2015-02-25 - H02H9/04
  • 本发明公开了一种电源静电放电保护电路,其包括瞬态触发模块、晶体开启模块、晶体关断模块和晶体。所述瞬态触发模块用于根据所述电源管脚VDD受到的电压脉冲上升时间,判断是否为静电放电冲击;并下发响应信号;所述晶体开启模块用于根据响应信号开启所述晶体Mbig;所述晶体关断模块用于根据响应信号关断所述晶体Mbig;所述晶体Mbig开启时,用于泄放静电放电冲击带来的静电电荷。本发明通过引入电流镜,以及PMOS晶体做等效电阻,大大减小了静电放电保护电路面积,同时晶体开启时间更长,泄放静电电荷速度更快、更充分。
  • 一种电源静电放电保护电路
  • [发明专利]一种用于保护内部电路的电压电路及其操作方法-CN202110436711.3在审
  • 黄弘进 - 马来西亚瑞天芯私人有限公司
  • 2021-04-22 - 2022-07-01 - G05F1/56
  • 本发明涉及一种用于保护内部电路的电压电路,该电压电路包括:输入装置,用于接收输入电压Vin;p沟道晶体,用于防止输入电压下降至低于p沟道偏置电压VbiasP;n沟道晶体,用于防止输入电压上升至高于该电压电路包括p沟道偏置电路,用于提供动态生成的p沟道偏置电压,以导通p沟道晶体;和n沟道偏置电路,用于提供动态生成的n沟道偏置电压,以导通n沟道晶体。该电压电路还包括p沟道保持晶体和n沟道保持晶体,用于在p沟道晶体和n沟道晶体开始关断时保持输出电压。此外,本发明涉及一种电压电路的操作方法。
  • 一种用于保护内部电路电压及其操作方法
  • [发明专利]高可靠性电源ESD保护电路-CN201110129544.4有效
  • 陆光易;王源;贾嵩;张钢刚;张兴 - 北京大学
  • 2011-05-18 - 2011-09-14 - H02H9/04
  • 本发明涉及集成电路芯片静电放电保护技术领域,特别涉及一种高可靠性电源ESD保护电路,该ESD保护电路包括:依次连接的电容-电阻模块(1)、晶体开启模块(2)、以及晶体(4),还包括:晶体关断模块(3),分别与所述电容-电阻模块(1)和晶体(4)连接。本发明通过将控制晶体开启和关断的电路结构分开,使得在ESD保护电路中电容-电阻模块的时间常数很小的情况下,使晶体有足够长的开启时间。
  • 可靠性电源esd保护电路
  • [发明专利]利用电流镜的电源ESD保护电路-CN201110166467.X有效
  • 陆光易;王源;贾嵩;张钢刚;张兴 - 北京大学
  • 2011-06-20 - 2011-10-19 - H02H9/00
  • 本发明公开了一种利用电流镜的电源ESD保护电路,涉及集成电路芯片静电放电保护技术领域,包括:依次连接的电容-电阻模块(1)、晶体开启模块(2)和晶体(4),还包括:晶体关断模块(3),分别与所述电容-电阻模块(1)和晶体(4)连接。本发明通过在电源ESD保护电路中引入电流镜结构,使得电容-电阻模块中的电容等效增大数倍,并延长了晶体的开启时间,提高了ESD保护的可靠性,另外,电路结构运用新型反相器替代传统反相器也延长了晶体的开启时间,以满足集成电路泄放静电电荷时的需求,确保了晶体在ESD保护期间泄放能力稳定在一个很高的水平。
  • 利用电流电源esd保护电路
  • [发明专利]一种高速CMOS图像传感器-CN201510217404.0在审
  • 金湘亮;刘维辉 - 湘潭大学
  • 2015-04-30 - 2015-08-12 - H01L27/146
  • 本发明公开了一种高速CMOS图像传感器,它包括光电二极、浮空扩散节点、电荷传输晶体、复位晶体、源跟随晶体和行选择晶体;复位晶体和源跟随晶体的漏极都与电源电压相连,所述源跟随晶体的源极与行选择晶体的漏极相连,所述行选择晶体的源极接输出列总线,所述复位晶体的源极和源跟随晶体的栅极分别经浮空扩散节点、电荷传输晶体光电二极相连,所述光电二极包括P型杂质衬底、P型重掺杂层和N型埋层,所述P型杂质衬底内从上至下依次设有P型重掺杂层和N型埋层,所述N型埋层的宽度从靠近电荷传输晶体一侧向另一侧逐渐变窄,所述P型重掺杂层覆盖住N型埋层并直接与P型杂质衬底相连。
  • 一种高速cmos图像传感器
  • [发明专利]非易失性半导体存储装置-CN201010280638.7有效
  • 本多泰彦 - 株式会社东芝
  • 2010-09-10 - 2011-06-29 - G11C16/06
  • 一种非易失性半导体存储装置,包括:存储单元晶体;字线;行译码器;位线;读出放大器;第一线晶体,其串联连接在所述位线与所述读出放大器之间;第二线晶体,其与所述第一线晶体并联连接,电流驱动能力比所述第一线晶体高;以及位线控制电路,其在从所述位线的充电开始起预定的期间,以共同的栅电压使所述第一及第二线晶体导通,在经过了所述预定的期间后,仅使所述第二线晶体截止
  • 非易失性半导体存储装置
  • [发明专利]动态静电放电电路-CN201410184890.6有效
  • 陈光;程惠娟;李宏伟 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2014-05-04 - 2018-09-18 - H02H9/02
  • 本发明公开了一种动态ESD电路,包括:一个VCC电压电源8;一个VSS接地电源9;一个用于ESD检测的栅极耦合晶体3;连接在VCC电压电源8和栅极耦合晶体3的栅极之间的耦合电容器1;连接在栅极耦合晶体3和VSS接地电源9的栅极之间的一系列电阻2;晶体7,为多叉指结构,连接在VCC电压电源8和VSS接地电源9之间;反相器4,连接在栅极耦合晶体3的漏极和晶体7的栅极之间,在ESD事件发生时,触发晶体7的栅极与漏极端子耦合;反馈晶体5,连接在晶体7的栅极与栅极耦合晶体3的漏极之间;连接在晶体7的栅极和VSS接地电源9的栅极之间的电阻6。
  • 动态静电放电电路
  • [发明专利]带有过压保护的放大器-CN202211076467.5在审
  • J·H·温斯克 - 德克萨斯仪器股份有限公司
  • 2022-09-05 - 2023-03-28 - H03F1/52
  • 在所描述的示例中,电路(100)包括参考电压(102)、具有驱动输入和驱动输出的驱动电路(148)、输出晶体(136)以及具有输入和输出的电路(162)。输出晶体(136)包括源极、漏极和栅极;源极被耦合以接收参考电压(102)。输入耦合到驱动输出和栅极。输出耦合到驱动输入或者耦合到驱动输出、栅极和输入。电路(162)被配置为检测输出晶体(136)的操作区域,并在输出晶体(136)进入三极管区域后生成电流。电流被选择成防止输出晶体(136)的源栅电压的绝对值等于或超过输出晶体(136)的栅极氧化物隧穿电压。
  • 带有保护放大器
  • [实用新型]保护电路-CN202220088745.8有效
  • 李勃;钱永学;蔡光杰;孟浩;王鑫;黄鑫 - 北京昂瑞微电子技术股份有限公司
  • 2022-01-13 - 2022-06-24 - H02M1/32
  • 本公开的实施例提供了一种保护电路,包括:主体电路,其中,所述主体电路包括第一晶体;第一电路,与所述第一晶体的栅极相连,并且被配置为在所述第一晶体导通的情况下,对所述第一晶体的栅极电压进行,以使得所述第一晶体的源极和栅极之间的电压低于第一过压电压;以及第二电路,与所述第一晶体的漏极相连,并且被配置为在所述第一晶体截止的情况下,对所述第一晶体的漏极电压进行,以使得所述第一晶体的源极和漏极之间的电压低于第二过压电压本公开的保护电路可以保证晶体工作在较高的电压下时,在导通或者截止状态下均不会超过晶体的最大可承受电压,确保了晶体的工作寿命和产品的可靠性。
  • 保护电路

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