专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]控制颜色特性的氧化粒子的制造方法-CN201780025496.X有效
  • 榎村真一;本田大介 - M技术株式会社
  • 2017-06-02 - 2022-08-30 - C01G9/02
  • 本发明的目的是提供控制颜色特性的氧化粒子的制造方法,以及控制颜色特性的氧化粒子。具体地,提供氧化粒子的制造方法,其特征在于,通过控制选自金属氧化粒子和半金属氧化粒子氧化粒子中含有的氧或氢以外的单个或不同的多个元素(M)与羟基(OH)的键即M‑OH键的比率、或M‑OH键/M‑O键的比率,来控制所述氧化粒子的颜色特性。根据本发明,能够提供通过控制金属氧化粒子或半金属氧化粒子中含有的M‑OH键的比率或M‑OH键/M‑O键的比率,来控制反射率、透射率、摩尔吸光系数、色相或彩度中的任一项颜色特性的氧化粒子
  • 控制颜色特性氧化物粒子制造方法
  • [发明专利]控制颜色特性的氧化粒子的制造方法-CN202210992410.3有效
  • 榎村真一;本田大介 - M技术株式会社
  • 2017-06-02 - 2023-08-29 - C01G9/02
  • 本发明涉及控制颜色特性的氧化粒子的制造方法。本发明的目的是提供控制颜色特性的氧化粒子的制造方法,以及控制颜色特性的氧化粒子。具体地,提供氧化粒子的制造方法,其特征在于,通过控制选自金属氧化粒子和半金属氧化粒子氧化粒子中含有的氧或氢以外的单个或不同的多个元素(M)与羟基(OH)的键即M‑OH键的比率、或M‑OH键/M‑O键的比率,来控制所述氧化粒子的颜色特性。根据本发明,能够提供通过控制金属氧化粒子或半金属氧化粒子中含有的M‑OH键的比率或M‑OH键/M‑O键的比率,来控制反射率、透射率、摩尔吸光系数、色相或彩度中的任一项颜色特性的氧化粒子
  • 控制颜色特性氧化物粒子制造方法
  • [发明专利]等离子显示面板-CN201180013775.7无效
  • 辻田卓司;三浦正范;后藤真志 - 松下电器产业株式会社
  • 2011-03-14 - 2012-11-21 - H01J11/40
  • 在等离子显示面板中,在保护层(9)的基底层(91)上,遍布整个面地分散配置有凝集了多个氧化镁的结晶粒子(92a)而成的凝集粒子(92)以及金属氧化粒子(93)。金属氧化粒子(93)包含从由氧化镁、氧化钙、氧化锶以及氧化钡构成的群之中选出的至少2种金属氧化金属氧化粒子(93)的特定方位面的X射线衍射分析的衍射角峰值,处于金属氧化粒子(93)所包含的2种金属氧化之中的一种金属氧化的特定方位面的X射线衍射分析的衍射角峰值、和另一金属氧化的特定方位面的
  • 等离子显示面板
  • [发明专利]等离子显示面板-CN201180013962.5无效
  • 三浦正范;辻田卓司;后藤真志 - 松下电器产业株式会社
  • 2011-03-10 - 2012-11-28 - H01J11/40
  • 在等离子显示面板中,在保护层(9)的基底层(91)上,遍布整个面地分散配置有凝集了多个氧化镁的结晶粒子(92a)而成的凝集粒子(92)以及金属氧化粒子(93)。金属氧化粒子(93)包含从由氧化镁、氧化钙、氧化锶以及氧化钡构成的群之中选出的至少2种金属氧化金属氧化粒子(93)的特定方位面的X射线衍射分析的衍射角峰值,处于金属氧化粒子(93)所包含的2种金属氧化之中的一种金属氧化的特定方位面的X射线衍射分析的衍射角峰值、和另一种金属氧化的特定方位面的
  • 等离子显示面板

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