专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于掺硼过渡层的CVD同质外延金刚大单晶的分离方法-CN202010427973.9有效
  • 王兵;熊鹰 - 西南科技大学
  • 2020-05-20 - 2022-08-23 - C30B29/04
  • 本发明提供一种基于掺硼过渡层的CVD同质外延金刚大单晶的分离方法,属于大尺寸单晶金刚制备技术领域。包括含掺硼过渡层的CVD同质外延金刚大单晶的制备及线切割分离:在金刚单晶衬底表面先通过化学气相沉积外延生长一层掺硼金刚单晶膜作为中间过渡层,再在其上外延生长大尺寸金刚单晶,然后通过电火花线切割除去含掺硼过渡层,实现CVD同质外延金刚大单晶与衬底的分离。本发明在金刚单晶衬底表面先沉积一层掺硼金刚膜,再在其上外延生长大尺寸金刚单晶,使产品局部具有导电性,在外延大尺寸金刚单晶与衬底的电火花线切割加工中,掺硼过渡层既是放电区,也是分离消耗区,实现线切割技术对CVD同质外延金刚大单晶的加工分离。
  • 基于过渡cvd同质外延金刚石大单晶分离方法
  • [发明专利]一种异质外延单晶金刚复制生长方法-CN202111228647.6在审
  • 魏强;林芳;张晓凡;陈根强;王宏兴 - 西安交通大学
  • 2021-10-21 - 2022-02-08 - C30B25/18
  • 本发明公开了一种异质外延单晶金刚复制生长方法,在第一异质外延衬底上制备晶向为(001)的第一Ir膜层;在第一Ir膜层的第一表面制备出(001)方向的第一外延金刚核;使第一外延金刚外延生长,在第一Ir膜层的第一表面上形成(001)方向的第一单晶金刚,得到第二外延衬底;清洗第二外延衬底,得到Ir/Dianomd衬底;在第一Ir膜层的第二表面上制备第二外延金刚核;使第二外延金刚核在MP‑CVD中生长,得到第二单晶金刚;本发明中衬底以及生长层均为单晶金刚,具有相同的热膨胀系数,利用异质外延单晶金刚作为衬底,可以提高二次生长的单晶金刚的晶体质量。
  • 一种外延金刚石复制生长方法
  • [发明专利]一种抑制金刚衬底裂纹向外延层扩散的方法-CN202210976926.9在审
  • 任泽阳;丁森川;张金风;苏凯;马源辰;王晗雪;张进成;郝跃 - 西安电子科技大学
  • 2022-08-15 - 2022-12-20 - C30B29/04
  • 本发明涉及一种抑制金刚衬底裂纹向外延层扩散的方法,包括:选择含裂纹单晶金刚衬底,其表面有裂纹且晶面角度相近;对所述含裂纹单晶金刚衬底的表面进行清洗;对清洗后的含裂纹单晶金刚衬底进行刻蚀,以去除表面的非金刚相;对刻蚀后的含裂纹单晶金刚衬底进行退火处理,以消除其表面的部分残余应力;在退火后的含裂纹单晶金刚衬底的表面周期性生长多层金刚缓冲层组,每层金刚缓冲层组均包括不同生长条件下生长的四层单晶金刚;在所述金刚缓冲层上进行无裂纹单晶金刚同质外延生长,形成无裂纹的单晶金刚材料。本发明的方法为同质外延单晶金刚降低了成本,同时提高了外延金刚的质量和成品率。
  • 一种抑制金刚石衬底裂纹外延扩散方法
  • [发明专利]金刚氮-空位色心阵列传感器-CN202111373155.6在审
  • 汤琨;赵耕右;朱顺明;叶建东;顾书林 - 南京大学
  • 2021-11-19 - 2022-03-11 - G01N21/63
  • 本发明公开了金刚氮‑空位色心阵列传感器,涉及一种金刚半导体传感器,包括传感器、金刚衬底、金刚外延层、NV色心层、纳米柱阵列结构和纳米柱阵列天线,所述传感器底端具有金刚衬底,在所述金刚衬底正面上有一层金刚外延层,所述金刚外延层是n型半导体,所述金刚外延层表面存在采用原位MPCVD生长方式得到NV色心层,所述传感器NV色心层中NV色心的取向得到了择优取向,其中NV色心层具有10nm和50nm之间的厚度,所述金刚外延层即传感接触层结构为纳米柱阵列结构,述传感接触层纳米柱包括金刚纳米柱、介质层和金属层,所述介质层淀积在金刚纳米柱表面,所述金属层淀积在介质层表面。
  • 金刚石空位色心阵列传感器
  • [发明专利]一种基于异质外延生长单晶金刚的方法-CN201710633557.2在审
  • 张景文;陈旭东;王进军;李洁琼;卜忍安;王宏兴;侯洵 - 西安交通大学
  • 2017-07-28 - 2017-10-20 - C30B25/18
  • 本发明公开了一种基于异质外延生长单晶金刚的方法,在异质外延衬底上生长第一铱金属层,以第一铱金属层为依托在第一铱金属层上生长第一金刚层;保证生长的第一金刚层与第一铱金属层不受晶格失配影响,在第一金刚层上生长图形化的第二铱金属层,在图形化的第二铱金属层上生长第二金刚层,第二金刚层与第二铱金属层和第一金刚层接触生长,此时第二金刚层处于自由生长状态,没有晶格失配的影响,得到生长有两层金刚层和两层铱金属层的异质外延衬底,将第二金刚层与第一金刚层和第二铱金属层分离即可得到单晶金刚,以异质外延衬底为依托,进行单晶金刚的生长,可以降低金刚器件制作成本,有利于发挥出金刚优异特性。
  • 一种基于外延生长金刚石方法
  • [发明专利]金刚同质外延横向生长方法-CN201510023907.4在审
  • 王宏兴;李硕业;王玮;张景文;卜忍安;侯洵 - 王宏兴
  • 2015-01-17 - 2015-05-27 - C30B25/20
  • 本发明公开了一种金刚同质外延横向生长方法,包括步骤一、在单晶金刚衬底表面沉积掩膜层;步骤二、在衬底沉积有掩膜层的表面进行图形化处理,形成图形化表面的衬底,该图形化衬底表面被分为同质外延生长区域和横向生长区域;步骤三、在同质外延生长区域进行金刚同质外延生长,并在横向生长区域进行的金刚横向生长。结合横向生长方法,对于现有的单晶金刚同质外延生长技术进行改进,能够有效的生长出位错密度低、质量高、表面光滑的单晶金刚薄膜,降低了外延生长电子器件级单晶金刚薄膜的难度,提高了薄膜质量;同时该技术可以用于单晶金刚薄膜生长结构的控制,以方便地获得MEMS等所需的单晶金刚微结构。
  • 金刚石同质外延横向生长方法

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