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- [发明专利]一种查找表工艺映射方法-CN201610805256.9有效
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耿嘉;樊平
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京微齐力(北京)科技有限公司
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2016-09-06
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2019-03-05
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H03K19/177
- 本发明公开了一种查找表工艺映射方法,所述方法包括:当确定逻辑电路存在组合逻辑环时,断开逻辑电路中构成组合逻辑环的第一逻辑门和第二逻辑门之间的一端电路连接;在第一逻辑门被断开连接的第一输入端插入外部输入,在第二逻辑门被断开连接的第二输出端插入外部输出;对断开组合逻辑环后的逻辑电路进行查找表映射;恢复逻辑电路中的组合逻辑环,并删除外部输入和外部输出。在确定逻辑电路中存在组合逻辑环时,首先要断开构成组合逻辑环中第一逻辑门和第二逻辑门之间的一端电路连接,并在断开连接处,分别插入外部输入和外部输出。然后对断开组合逻辑环后的逻辑电路进行查找映射。通过该方法,实现了对包含组合逻辑环的逻辑电路进行查找表映射。
- 一种查找工艺映射方法
- [发明专利]标准单元库的测试方法-CN201911334496.5有效
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尤美琳;高唯欢;胡晓明
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上海华力微电子有限公司
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2019-12-23
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2021-12-17
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G01R31/28
- 本发明提供一种标准单元库的测试方法,在所述的标准单元库的测试方法中,通过对所述组合逻辑单元和所述时序逻辑单元输入测试信号,以得到组合逻辑单元输出信号和时序逻辑单元输出信号;分别选取所述组合逻辑单元输出信号和所述时序逻辑单元输出信号中的数据;以及将选取的所述组合逻辑单元输出信号中的数据与一组合逻辑测试数据比较,以及将选取的所述时序逻辑单元输出信号中的数据与一时序逻辑测试数据比较,以测试所述组合逻辑单元和所述时序逻辑单元的功能是否正常。由此,通过设置所述测试信号测试所述组合逻辑单元和所述时序逻辑单元的功能,从而减少测试向量,提高工作的效率。
- 标准单元测试方法
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