“透射电子显微镜”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网_专利查询网

首页在售求购查询申请展会资讯专利榜企服商城升级VIP

立即登录免费注册

在售专利
求购专利
查询专利
新闻资讯
技术展会
招商加盟
专利榜

本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247

本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247

专利名称

专利名称
专利号码
专利分类
申请人
公布日期

农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

专利下载VIP

公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

钻瓜专利网为您找到相关结果1604301个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种用于毛囊提取的机械结构-CN202010833624.7在审
发明人：李奇敏;朱骏野;邓鈃中;王哲 -专利权人：重庆大学
申请日： 2020-08-18 - 公布日： 2020-11-27 - 主分类号： A61B17/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于毛囊提取的机械结构，包括粗调螺旋、滑槽、滑块、微调螺旋、微调升降部件、电子显微镜升降部件、刀具和电子显微镜。粗调螺旋的下端连接滑槽，滑槽内安装滑块，滑块下端连接微调螺旋，微调螺旋下端连接微调升降部件和电子显微镜升降部件，电子显微镜升降部件下端连接3个电子显微镜，微调升降部件下端连接毛囊采集机构的肩关节和肘关节
一种用于毛囊提取机械结构

[发明专利]使用电子显微法的半导体计量及缺陷分类-CN201880085014.4有效
发明人： S·潘戴夫;A·库兹涅佐夫 -专利权人：科磊股份有限公司
申请日： 2018-12-31 - 公布日： 2021-12-03 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：在一些实施例中，从第一源获得半导体结构的相应实例的第一多个电子显微镜图像。所述第一多个电子显微镜图像展示一或多个半导体制造参数的不同值。训练模型，所述模型指定所述第一多个电子显微镜图像与所述一或多个半导体制造参数的所述值之间的关系。收集一或多个半导体晶片上的所述半导体结构的相应实例的第二多个电子显微镜图像。使用所述模型预测所述第二多个电子显微镜图像的所述一或多个半导体制造参数的值。
使用电子显微半导体计量缺陷分类

[发明专利]一种检测外源GhCAD6基因对棉花纤维细胞壁影响的方法-CN202110321935.X在审
发明人：李波;杨洋;李晓荣;胡文冉;范玲;郑峰;陈方圆 -专利权人：新疆农业科学院核技术生物技术研究所
申请日： 2021-03-25 - 公布日： 2021-07-02 - 主分类号： G01N1/30 文献下载
摘要：该检测外源GhCAD6基因对棉花纤维细胞壁影响的方法，通过一种透射电镜检测外源GhCAD6基因对棉花纤维细胞壁影响的方法，将收获到的转GhCAD6基因的后代材料得不同发育时期的棉花纤维，通过透射电镜检测纤维细胞壁厚度的变化，从而得到纤维品质较好的棉花转基因后代材料，所述的综合鉴定方法是通过透射电子显微镜和扫描电子显微镜观察成熟转基因后代纤维细胞壁厚度变薄，但紧实度增加，纤维表明变得光滑。
一种检测 ghcad6 基因棉花纤维细胞壁影响方法

[发明专利]原位测定样品温度的透射电子显微镜样品杆-CN201610824455.4有效
发明人：刘小青;何峰;谢峻林;方德;李凤祥 -专利权人：武汉理工大学
申请日： 2016-09-14 - 公布日： 2017-12-05 - 主分类号： H01J37/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种原位测定样品温度的透射电子显微镜样品杆，包括依次连接的样品杆头、杆身、手握柄，样品杆头包括上层盖板和置于上层盖板下的载物台；上层盖板上设有第一透射孔；载物台上设有第一凹槽和第二凹槽，第一凹槽和第二凹槽通过碳化硅薄片隔开；第一凹槽的底部设有与第一透射孔相对应的第二透射孔；第一凹槽内设有放置样品的样品架；在第一凹槽的底面、与碳化硅薄片接触的第一凹槽的两侧均涂有绝缘层；第二凹槽内从下往上依次设有热电偶、绝缘盖板，热电偶的测温端与碳化硅薄片接触本发明能方便透射电子显微镜实时检测样品材料的温度。
原位测定样品温度透射电子显微镜

[发明专利]适用于FIB技术制样的透射电子显微镜磁电原位样品杆-CN202011471198.3有效
发明人：彭勇;郑少川;张宏;张军伟;邓霞;朱柳;蒙萱;关超帅 -专利权人：兰州大学
申请日： 2020-12-14 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种适用于FIB技术制样的透射电子显微镜磁电原位样品杆，属于微纳米材料测量研究领域。本发明可以直接装载FIB专用微栅，应用于透射电子显微镜中在洛伦兹模式下直接原位观察磁性结构在水平磁场的作用下的磁结构磁相互作用机制和动态磁性调控机理。亦可以在透射电镜中其他模式下直接原位观察样品在水平磁场和通电状态下的微观结构变化。
适用于 fib 技术透射电子显微镜磁电原位样品

[发明专利]球形纳米粉体分散性的量化表征方法-CN202111368863.0有效
发明人：胡彦杰;段先健;江浩;李春忠;彭秋梅;鞠杰 -专利权人：华东理工大学;广州汇富研究院有限公司
申请日： 2021-11-18 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：该方法包括下述步骤：S1、制备球形纳米粉体样品；S2、利用电子显微镜采集球形纳米粉体的电子显微镜图像，处理得电子显微镜图片；S3、采用盒子算法计算所述电子显微镜图片的分形维数。
球形纳米分散性量化表征方法

[发明专利]原子尺度下动态观测III-V族场效应晶体管栅介质失效的方法-CN201610376424.7在审
发明人：吴幸;骆晨 -专利权人：华东师范大学
申请日： 2016-05-31 - 公布日： 2016-10-12 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：所述方法包括：制备适用于透射电子显微镜的样品和纳米钨探针；将所制得的样品搭载在专用铜网上，将原位样品杆放入透射电子显微镜中；将纳米钨探针与样品栅极接触；然后在纳米钨探针和铜网之间加恒定电场；操作透射电镜实时动态地观测样品形貌和电流变化过程原位透射电镜的方法无损，实时，有高分辨率，比其他光谱检测先进。
原子尺度动态观测 iii 场效应晶体管介质失效方法

[实用新型]显示屏装置直接插入的电子显微镜-CN200820130374.5无效
发明人：鲍鹏飞 -专利权人：鲍鹏飞
申请日： 2008-12-15 - 公布日： 2009-09-30 - 主分类号： H01J37/26 文献下载
摘要：一种显示屏装置直接插入的电子显微镜，属电子显微镜技术领域，包括电子显微镜主体和显示屏装置，电子显微镜主体包括机架、载物平台、集光镜、升降手轮、棱镜头、转换器、物镜组和镜管插孔。镜管插孔的正下方设置有定位插孔，显示屏装置背后，向后下斜向设置有镜管和定位插杆。显示屏装置与电子显微镜主体为插入连接，显示屏装置的镜管插在机架头部上端的镜管插孔上，显示屏装置的定位插杆插在镜管插孔正下方的定位插孔上。镜管插孔正下方的定位插孔内设置有一根电源导线管。其有益效果是：安装方便，要使用时，就把它插上去即可；观察效果好，是最适合观察者在电子显微镜前的座姿下双目观察的距离；使用灵活：与目镜两者可随意交替使用。
显示屏装置直接插入电子显微镜

[外观设计]笔式电子显微镜手持套筒-CN201930376916.0有效
发明人：李拥军 -专利权人：李拥军
申请日： 2019-07-16 - 公布日： 2020-05-12 - 主分类号： 16-06 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：笔式电子显微镜手持套筒。2.本外观设计产品的用途：用于装配笔式电子显微镜，使笔式电子显微镜变为可手持式。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。
电子显微镜手持套筒

[发明专利]一种氧化石墨烯层数测定方法-CN201811575038.6在审
发明人：李星;刘长虹;蔡雨婷;漆长席 -专利权人：四川聚创石墨烯科技有限公司;大英聚能科技发展有限公司
申请日： 2018-12-21 - 公布日： 2019-03-12 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：本发明提供了一种氧化石墨烯层数测定方法，所述测定方法包括：先用拉曼光谱初步确定氧化石墨烯的层数，若层数在1～2层，则进一步采用原子力显微镜确定其层数；若层数在3～4层，则通过拉曼光谱2D峰拟合出的洛伦兹力峰数确定；若层数在5层及以上则使用高分辨率透射电镜直观得出其层数，能够精确的测定氧化石墨烯的层数。本发明将高分辨率透射电子显微镜，拉曼光谱，原子力显微镜三种测定技术进行有机结合，能够系统完善的测定氧化石墨烯的层数。
氧化石墨烯拉曼光谱氧化石墨烯层原子力显微镜高分辨率透射电子显微镜洛伦兹力透射电镜系统完善有机结合峰拟合峰数直观

[发明专利]一种用于透射电镜切片样品和切片转移装置的制备方法-CN201910975698.1有效
发明人：张斌;赵晓伟;孙家豪;董天汭;王卓;陈曦;周小元 -专利权人：重庆大学
申请日： 2019-10-15 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： G01N23/2202 文献下载
摘要：本发明属于透射电子显微镜技术领域，公开了一种用于透射电镜切片样品和切片转移装置的制备方法，包括以下步骤：(1)样品头粗修；(2)精修；(3)切片前准备；(4)超薄切片(厚度通常小于50nm)；(5)样品转移至加热芯片加热区本发明主要用于透射电镜超薄切片样品的制备，解决了透射电镜原位加热过程中样品定点转移至芯片加热区域困难的问题。
一种用于透射切片样品转移装置制备方法

[发明专利]一种互不固溶铜‑碳过饱和固溶体的制备方法-CN201510530182.8有效
发明人：关庆丰;张从林;吕鹏;蔡杰;张远望;刘登俊;周驰;郑欢欢 -专利权人：江苏大学
申请日： 2015-08-27 - 公布日： 2017-04-05 - 主分类号： C22C1/05 文献下载
摘要：该复合材料基体通过粉末冶金法制的，然后利用强流脉冲电子束对材料表层进行辐照处理，制备具有铜‑碳过饱和固溶体的复合材料。扫描电子显微镜和透射电子显微镜观察显示HCPEB辐照技术诱发各种晶体缺陷和超细晶结构为Cu、C原子之间扩散提供通道，X射线分析能谱显示(111)Cu峰向低角区偏移，C的衍射峰下降，可知成功地使部分C原子固溶到
一种互不固溶铜过饱和固溶体制备方法

[发明专利]基于反应离子刻蚀的GaN薄膜透射电子显微镜截面样品制备方法-CN201610036713.2有效
发明人：马晓华;宋芳;钟决坤;马佩军;雷毅敏;王湛 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2016-01-20 - 公布日： 2019-04-23 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种GaN薄膜透射电子显微镜截面样品制备方法，主要解决现有制备方法步骤繁琐、耗时较长、薄区不均匀、样品制备成功率低及可靠性低的问题。其实现步骤是：1.将GaN薄膜材料切割成矩形条样品并清洗；2.制备掩膜版，设置楔形尖端宽度为20～200nm；3.在矩形条样品表面淀积电子束光刻胶，并透过掩膜版对矩形条样品进行光刻、显影和刻蚀，使样品条上形成多个凹槽；4.去除样品条表面光刻胶，再将其沿凹槽处进一步切割成小样品条，并将小样品条截面粘到铜环上，完成GaN薄膜透射电子显微镜截面样品的制备。
基于反应离子刻蚀 gan 薄膜透射电子显微镜截面样品制备方法

[发明专利]一种全自动化的扫描电子显微镜及其探测方法-CN201710118052.2有效
发明人：李帅;何伟;齐少争;王瑞平 -专利权人：聚束科技（北京）有限公司
申请日： 2017-03-01 - 公布日： 2019-07-12 - 主分类号： H01J37/26 文献下载
摘要：本文提供了一种全自动化的扫描电子显微镜及其探测方法，所述扫描电子显微镜包括：由第一光学显微镜和平移台构成的光学导航系统，以及由电子源和电子光学镜筒构成的扫描电子显微镜装置，该光学导航系统还包括：位于所述第一光学显微镜下方且与所述平移台相连的、容纳待测样品进行光学探测的第一腔室；该扫描电子显微镜装置还包括：位于所述电子光学镜筒下方的、容纳待测样品进行扫描电子显微镜探测的第二腔室；所述第一腔室与第二腔室之间通过真空阀门水平连通或隔绝；所述第一腔室内设置有能将待测样品从第一腔室通过所述真空阀门移动到第二腔室的自动传送装置
一种自动化扫描电子显微镜及其探测方法

[实用新型]一种全自动化的扫描电子显微镜-CN201720192828.0有效
发明人：李帅;何伟;齐少争;王瑞平 -专利权人：聚束科技（北京）有限公司
申请日： 2017-03-01 - 公布日： 2017-09-08 - 主分类号： H01J37/26 文献下载
摘要：本文提供了一种全自动化的扫描电子显微镜，所述扫描电子显微镜包括由第一光学显微镜和平移台构成的光学导航系统，以及由电子源和电子光学镜筒构成的扫描电子显微镜装置，该光学导航系统还包括位于所述第一光学显微镜下方且与所述平移台相连的、容纳待测样品进行光学探测的第一腔室；该扫描电子显微镜装置还包括位于所述电子光学镜筒下方的、容纳待测样品进行扫描电子显微镜探测的第二腔室；所述第一腔室与第二腔室之间通过真空阀门水平连通或隔绝；所述第一腔室内设置有能将待测样品从第一腔室通过所述真空阀门移动到第二腔室的自动传送装置
一种自动化扫描电子显微镜

友情链接：交换友情链接需要网站权重大于4，网站收录10W以上，如符合条件，请联系QQ：76009968。

关于我们寻求报道投稿须知广告合作版权声明网站地图友情链接企业标识联系我们

在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

版权所有钻瓜科技（天津）有限公司津ICP备15000985号津公网安备 12019202000206号http://www.vipzhuanli.com/公布日期

咨询在线客服

咨询在线客服

tel code back_top