专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种具有同侧电极芯片的LED封装结构-CN201410438711.7有效
  • 李媛 - 李媛
  • 2014-08-29 - 2017-11-14 - H01L33/62
  • 本发明提供一种具有同侧电极芯片的LED封装结构,包括芯片芯片上的N半导体层电接触的N电极和P半导体层电接触的P电极、与芯片电极电接触的基板,芯片的N半导体层和P半导体层两侧的面为芯片的出光面,位于出光面侧边的其余面为芯片的侧面;N电极和P电极设置在所述芯片的同一侧面上。由于本发明芯片的电极位于芯片的侧面,无需在芯片出光面上焊线,减少光线遮挡,提高了LED的出光效率。
  • 一种具有电极芯片led封装结构
  • [实用新型]一种具有同侧电极芯片的LED封装结构-CN201420496088.6有效
  • 李媛 - 李媛
  • 2014-08-29 - 2014-12-17 - H01L33/38
  • 本实用新型提供一种具有同侧电极芯片的LED封装结构,包括芯片芯片上的N半导体层电接触的N电极和P半导体层电接触的P电极,与芯片电极电接触的基板,容置所述芯片和基板的杯碗,芯片的N半导体层和P半导体层两侧的面为芯片的出光面,位于出光面侧边的其余面为芯片的侧面;N电极和P电极设置在所述芯片的同一侧面上。由于本实用新型芯片的电极位于芯片的侧面,无需在芯片出光面上焊线,减少光线遮挡,提高了LED的出光效率。
  • 一种具有电极芯片led封装结构
  • [实用新型]一种异侧电极芯片的LED封装结构-CN201420497693.5有效
  • 李媛 - 李媛
  • 2014-08-29 - 2014-12-17 - H01L33/48
  • 本实用新型提供一种异侧电极芯片的LED封装结构,包括芯片芯片上与N半导体层电接触的N电极和与P半导体层电接触的P电极、与所述芯片的N电极和P电极电接触的基板,容置所述芯片和基板的杯碗,芯片的N半导体层和P半导体层两侧的面为芯片的出光面,位于出光面侧边的其余面为芯片的侧面;所述N电极和P电极分别设置在芯片的不同侧面上。由于本实用新型芯片的电极位于芯片的侧面,无需在芯片出光面上焊线,减少光线遮挡,提高了LED的出光效率。
  • 一种电极芯片led封装结构
  • [发明专利]灯串的制作方法以及灯串-CN202011060149.0有效
  • 赵海洪 - 江西橙子光电科技有限公司
  • 2020-09-30 - 2023-05-02 - H01L21/98
  • 本发明提供一种灯串的制作方法,包括提供A发光芯片和B发光芯片;将A发光芯片和B发光芯片依次交替布置并且布置四条间隔并基本沿着芯片布置方向延伸的引线;切断连接相邻的上游A发光芯片的第一信号输入焊盘和下游B发光芯片的第二信号输出焊盘的引线、以及切断连接相邻的上游B发光芯片的第二信号输入焊盘和下游A发光芯片的第一信号输出焊盘的引线。
  • 制作方法以及
  • [发明专利]芯片封装结构-CN201710205828.4在审
  • 陈威宇;黄立贤;苏安治;陈宪伟 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2017-03-31 - 2018-03-27 - H01L25/065
  • 提供芯片封装结构。芯片封装结构包含再布线基板。芯片封装结构包含第一芯片结构,其位于再布线基板上。芯片封装结构包含第一焊料凸块,其配置于再布线基板与第一芯片结构之间,并电性连接再布线基板与第一芯片结构。芯片封装结构包含第一成层,其围绕第一芯片结构。第一成层与第一芯片结构以及再布线基板之间隔有第一焊料凸块,以定义间隙于第一成层与第一芯片结构以及再布线基板之间。芯片封装结构包含第二芯片结构,其位于第一芯片结构上。芯片封装结构包含第二成层,其围绕第二芯片结构。芯片封装结构包含第三成层,其围绕第一成层、第二成层、与第一焊料凸块,并填入间隙中。
  • 芯片封装结构
  • [发明专利]芯片封装结构-CN202211025463.4在审
  • 陈威宇;黄立贤;苏安治;陈宪伟 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2017-03-31 - 2022-10-21 - H01L25/065
  • 提供芯片封装结构。芯片封装结构包含再布线基板。芯片封装结构包含第一芯片结构,其位于再布线基板上。芯片封装结构包含第一焊料凸块,其配置于再布线基板与第一芯片结构之间,并电性连接再布线基板与第一芯片结构。芯片封装结构包含第一成层,其围绕第一芯片结构。第一成层与第一芯片结构以及再布线基板之间隔有第一焊料凸块,以定义间隙于第一成层与第一芯片结构以及再布线基板之间。芯片封装结构包含第二芯片结构,其位于第一芯片结构上。芯片封装结构包含第二成层,其围绕第二芯片结构。芯片封装结构包含第三成层,其围绕第一成层、第二成层、与第一焊料凸块,并填入间隙中。
  • 芯片封装结构
  • [发明专利]IC芯片和与其连接的卡以及移动终端装置-CN03813512.4无效
  • 坂村健;越塚登;森谦作;石井一彦;青野博;本乡节之 - 坂村健;越塚登;株式会社NTT都科摩
  • 2003-06-09 - 2005-08-24 - G06K19/077
  • 本发明提供一种具有由一个芯片实现非接触和接触的两种功能的双接口的IC芯片,并且提供一种使该芯片作为非接触或接触的IC卡都能够发挥良好的功能的卡以及移动终端装置。IC芯片包括CPU;与CPU连接的接触接口,用于在CPU与外部之间能够进行数据通信;和与CPU连接的非接触接口,用于在CPU与外部之间能够进行无线数据通信。而且,能够与IC芯片的非接触接口电连接的卡具有天线,通过使天线与IC芯片的非接触接口电连接,能够实现与IC芯片外部的无线数据通信。并且,能够与IC芯片的接触接口电连接的移动终端装置具有CPU,通过使该CPU与IC芯片的接触接口连接进行数据通信,能够使IC芯片发挥作为接触IC芯片的功能。
  • ic芯片与其连接以及移动终端装置
  • [实用新型]一种用于制备纳米粒的混合芯片-CN202222988645.3有效
  • 梁梅桂;张龙贵 - 深圳厚存纳米药业有限公司
  • 2022-11-09 - 2023-05-02 - B01F33/30
  • 本实用新型提供一种用于制备纳米粒的混合芯片,所述的混合芯片包括芯片基底和芯片盖板,芯片基底上部设有三组“S”曲线混合通道,分别为第一“S”混合通道、第二“S”混合通道和第三“S”混合通道,且内部设有三棱锥本实用新型芯片结构简单,制造材料可选范围广,大大降低制造成本;芯片混合通道借助“S”弯曲形态及内部的“三角锥”障碍物的分流作用实现高效充分、方便、快速、稳定地制备出均匀的纳米颗粒;芯片基底和芯片盖板可以独立分开,使用完芯片后或芯片堵塞后,清洗方便;若使用硅基玻璃、金属等高硬度材料制造的芯片,可重复使用。
  • 一种用于制备纳米混合芯片
  • [实用新型]一种LED显示面板及LED显示器-CN202020400023.2有效
  • 江仁杰;徐瑞林;钟光韦;张嘉修;苏财钰 - 重庆康佳光电技术研究院有限公司
  • 2020-03-25 - 2020-07-28 - H01L27/15
  • 本实用新型提供了一种LED显示面板及LED显示器,包括设置有LED阵列的显示背板,LED阵列包括多个LED芯片;LED芯片包括垂直出射发光芯片和倾斜出射发光芯片;LED阵列的内部设置有垂直出射发光芯片,垂直出射发光芯片所发出的主光线的朝向垂直于显示背板的方向;LED阵列的边缘设置有倾斜出射发光芯片,倾斜出射发光芯片所发出的主光线的朝向远离显示背板的几何中心的方向。在LED阵列的内部设置有垂直出射发光芯片,而在LED阵列的边缘设置有倾斜出射发光芯片,通过倾斜出射发光芯片所发出朝向远离显示背板几何中心方向的主光线,在相邻的LED显示面板之间形成聚光效应,从而避免相邻的
  • 一种led显示面板显示器
  • [发明专利]一种Micro-LED芯片的坏点检测方法-CN202310906431.3在审
  • 张星星;汪恒青;林潇雄;胡加辉;金从龙 - 江西兆驰半导体有限公司
  • 2023-07-24 - 2023-08-22 - H01L21/66
  • 本发明公开了一种Micro‑LED芯片的坏点检测方法,该方法包括:将目标晶圆划分成若干个测试单元,使每个测试单元内均包括若干个Micro‑LED芯片,在每个芯片上制作连接至N半导体层的N第一电极与N第二电极,制作连接至P半导体层的P第一电极与P第二电极,制作连接至每个芯片P第二电极的P桥接电极,在对测试单元内的任意芯片进行电流测试时,点测机的正负极与N第二电极与P第二电极接触,输出低于芯片开启电压的测试电流,判断芯片有无发光,若发光,说明该芯片存在漏电等异常情况,从而快速检测巨量Micro‑LED芯片的坏点情况,检测效率高,省时省力,能够有效避免异常芯片进入下一制程。
  • 一种microled芯片检测方法
  • [实用新型]一种芯片微反应通道机构-CN201921969988.7有效
  • 王华;方建鑫 - 博勒流体科技(杭州)有限公司
  • 2019-11-14 - 2020-07-28 - B01J19/00
  • 本实用新型公开了一种芯片微反应通道机构,包括芯片微反应通道主体和流风片,所述芯片微反应通道主体内部的左右两侧均安装有通孔,所述流风片的上下两侧均安装有导流道,且流风片位于芯片微反应通道主体的前端,所述芯片微反应通道主体的上下两侧均安装有连接杆,且连接杆靠近芯片微反应通道主体的一侧内部贯穿有定位销,所述连接杆远离芯片微反应通道主体的一侧内部贯穿有连接销。该芯片微反应通道机构设置有橡胶垫,通过橡胶垫能够有效的增大外部物体与芯片微反应通道机构之间的摩擦力,以及能够有效的限制外部物体与芯片微反应通道机构之间的位置。
  • 一种芯片反应通道机构

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