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[实用新型]基于浮空器的临近空间背景光谱辐射测量装置-CN201920698113.1有效
发明人：吴武明;王晓峰;李金侠;路晓伟;周波 -专利权人：湖南谱峰光电有限公司
申请日： 2019-05-15 - 公布日： 2019-11-29 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：一种基于浮空器的临近空间背景光谱辐射测量装置，包括：浮空囊体，用于提供升力；吊舱，与浮空囊体连接，为临近空间背景光谱辐射测量单元提供搭载平台；临近空间背景光谱辐射测量单元设置在吊舱上，实现临近空间背景光谱辐射测量临近空间背景光谱辐射测量单元与地面控制单元建立通讯连接，地面控制单元接收临近空间背景光谱辐射测量单元的测量数据，并对临近空间背景光谱辐射测量单元进行控制。本实用新型利用面阵CCD探测器实时拍摄光谱仪采集的背景光谱辐射区域的可见光图像，以及同时采集得到190nm～2500nm范围内的背景光谱辐射，可以更全面科学分析采集得到的临近空间背景光谱辐射数据。
背景光谱临近空间辐射测量单元地面控制单元采集吊舱浮空囊体面阵CCD探测器辐射测量装置本实用新型可见光图像光谱仪测量数据搭载平台辐射测量辐射区域辐射数据科学分析实时拍摄通讯连接浮空器升力辐射

[发明专利]一种用于拉曼光谱的快速荧光背景抑制方法-CN201810907494.X在审
发明人：陈硕;孔令敏;路交;朱姗姗 -专利权人：东北大学
申请日： 2018-08-10 - 公布日： 2019-01-25 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：一种用于拉曼光谱的快速荧光背景抑制方法，通过建立标准数据库对荧光背景抑制算法模型进行训练。在训练阶段，通过维纳估算的方法计算荧光背景光谱与窄带测量间关系的数学模型，即维纳矩阵1；然后通过维纳估算的方法计算去除荧光背景后的拉曼光谱与扣除荧光背景的窄带测量间关系的数学模型，即维纳矩阵2。对于待处理样本数据，即未去除荧光背景的拉曼光谱，首先通过与特定滤光片的光谱透过率相乘后得到窄带测量。随后，基于维纳矩阵1，通过窄带测量重建其对应的荧光背景光谱，并从窄带测量中扣除该荧光背景进而获得扣除荧光背景的窄带测量。最后，利用维纳矩阵2与扣除荧光背景的窄带测量重建去除背景后的拉曼光谱。
荧光背景窄带拉曼光谱矩阵测量扣除去除背景抑制快速荧光数学模型测量间光谱估算标准数据库相乘光谱透过算法模型训练阶段样本数据滤光片重建

[发明专利]一种省电精确移动端网络测量方法-CN202011206455.0有效
发明人：彭翔;李伟超;黄玉嵩;欧康 -专利权人：鹏城实验室;南方科技大学
申请日： 2020-11-02 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： H04W52/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种省电精确移动端网络测量方法，包括步骤：获取终端对应的配置信息；其中，所述配置信息包括背景流量时间；根据所述配置信息，对所述终端进行测量，得到测量值；根据所述测量值更新所述背景流量时间，得到更新的背景流量时间通过获取终端对应的配置信息；其中，所述配置信息包括背景流量时间；并根据所述配置信息，对所述终端进行测量，得到测量值；再根据所述测量值更新所述背景流量时间，得到更新的背景流量时间，由于不同终端测量时，得到的测量值不相同，从而得到不同的更新的背景流量时间，那么在根据更新的背景流量时间进行测量时，终端在顺利进行测量的基础上，可以节省电量。
一种精确移动网络测量方法

[发明专利]一种低可探测目标RCS测量中的背景提取与抵消处理方法-CN201510097993.3有效
发明人：许小剑 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2015-03-05 - 公布日： 2017-03-01 - 主分类号： G01S7/41 文献下载
摘要：本发明公开了一种低可探测目标RCS测量中的背景提取与抵消处理方法，该方法可涵盖但不限于现有的通过辅助测量载体直线平移、偏心圆柱做方位旋转、或二面角反射器绕雷达视线旋转测量，本发明可利用各种不同的辅助测量体的测量数据完成固定背景的提取处理，大大拓展了低可探测目标RCS测量中的背景辅助测量、背景提取和抵消技术的应用范围。特别是，当采用双重定标体作为辅助测量体时，定标测量和背景提取辅助测量可一次同时完成；当采用目标自身作为辅助测量体时，目标测量和背景提取辅助测量是一次同时完成的。本发明不但使得测量过程和工作量大为简化，同时还解决了因测量系统漂移等因素带来的背景抵消处理效果不理想的问题。
一种探测目标 rcs 测量中的背景提取抵消处理方法

[发明专利]一种基于背景辐射校正的偏振遥感器短波红外波段偏振定标方法-CN202310087321.9在审
发明人：康晴;袁银麟;李健军;翟文超;翁建文;郑小兵 -专利权人：中国科学院合肥物质科学研究院
申请日： 2023-02-09 - 公布日： 2023-05-12 - 主分类号： G01J5/90 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于背景辐射校正的偏振遥感器短波红外波段偏振定标方法，所述方法包括：构建偏振响应测量模型和背景辐亮度模型，测量目标辐射的Stokes矢量；采用分波段方法，确定遥感器内部系统引起的背景辐射偏振响应数学模型；利用光源和偏振起偏系统获取背景辐射测量矩阵；通过外部背景辐射与内部背景辐射之间相关系数确定，建立内部背景辐射引起的背景辐射偏振响应数学模型；根据偏振遥感器实际运行状态，建立基于背景辐射校正后的偏振度的反演改进模型；采用比对测量归一化偏差法，验证背景辐射偏振响应的校正效果。本发明能够有效解决背景辐射导致的偏振遥感器短波红外波段本底噪声增大和动态范围的漂移的问题，提高偏振测量精度。
一种基于背景辐射校正偏振遥感短波红外波段定标方法

[发明专利]一种心脏磁场测量系统、方法、电子设备及存储介质-CN202211394439.8在审
发明人：赖凌峰;赵凯;李紫晗;高琦 -专利权人：成都原力辰教育科技有限公司
申请日： 2022-11-08 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： A61B5/243 文献下载
摘要：本发明提供一种心脏磁场测量系统，包括信号磁场测量模块、背景磁场测量模块和控制线圈模块，信号磁场测量模块用于测量位于信号源处的空间磁场；背景磁场测量模块用于测量位于信号源处的动态背景磁场；控制线圈模块位于所述信号磁场测量模块与所述背景磁场测量模块之间，且包围住所述信号磁场测量模块，用于提供屏蔽所述动态背景磁场的多个自由度的磁场。本发明的目的是解决现有技术中在对患者进行心磁测量时，需要通过屏蔽筒或者屏蔽室环境中进行测量，以便于实现对心脏磁场进行测量时操作更加简便。
一种心脏磁场测量系统方法电子设备存储介质

[发明专利]一种RCS测量背景电平对消处理方法及装置-CN202110339070.X有效
发明人：沈小玲;冯孝斌;李熙民;刘胤凯;张达凯;冯雨;王晓;张云;邵景星;苗苗;李万珅 -专利权人：北京环境特性研究所
申请日： 2021-03-30 - 公布日： 2023-05-12 - 主分类号： G01S7/41 文献下载
摘要：本发明涉及一种RCS测量背景电平对消处理方法及装置，该方法包括：基于RCS测量系统测量目标区域对应的背景杂波信号；将定标体置于定标支架并进行定标测量，获取第一定标体回波信号；对背景杂波信号进行定标处理，得到定标后背景杂波信号；将待测目标置于目标支架并进行测量，获取目标回波信号；将定标体置于定标支架并进行定标测量，获取第二定标体回波信号；对目标回波信号进行定标处理，得到定标后待测目标回波信号；进行矢量相减，得到背景电平对消后的待测目标RCS结果。本发明消除了RCS测量系统发射功率和接收增益漂移等因素对背景电平对消效果的影响，背景电平抑制效果好，有利于提高RCS测量精度。
一种 rcs 测量背景电平对消处理方法装置

[发明专利]发射光谱中的背景校正-CN201410428721.2有效
发明人： S·哈特韦尔;N·C·贝利 -专利权人：赛默电子制造有限公司
申请日： 2014-08-27 - 公布日： 2017-04-12 - 主分类号： G01N21/71 文献下载
摘要：一种用于获得测量的光学发射光谱的一个背景校正部分的方法，该方法包括从该测量的发射光谱的部分中鉴别出两个或多个背景校正点；获得与这些已鉴别的背景校正点拟合的一个背景校正函数，并且将该背景校正函数应用于该测量的发射光谱的部分上以便产生该发射光谱的一个背景校正部分，其中这些背景校正点通过考虑在这些测量数据点之间的梯度而从这些测量数据点中被鉴别出。
发射光谱中的背景校正

[发明专利]一种基于磁感应强度测量物体磁化率的装置及其测量方法-CN202211447737.9在审
发明人：俞远阳;张卜天;霍彦聪;尹航;潘东华;王顺;周泽兵 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2022-11-18 - 公布日： 2023-02-28 - 主分类号： G01R33/16 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于磁感应强度测量物体磁化率的装置及其测量方法，该装置包括：磁场机构，包括磁场调制线圈、背景磁场补偿线圈和梯度磁场补偿线圈，其中，磁场调制线圈用于给待测物体施加磁场，使其产生感应磁矩；背景磁场补偿线圈用于降低测量点的背景磁场和背景噪声，使磁场测量机构工作在量程以内并提高测量信噪比；梯度磁场补偿线圈用于补偿磁力计测量点处的梯度磁场，使磁场测量点的背景磁场梯度降低。位移机构，用于改变线圈的间距，并用于调节磁力计的空间位置，将其移动到背景磁场为“零”的区域，从而实现感应磁场的测量，进而实现待测物体磁化率的测量。本发明具有测量简单方便、测量过程快、对物体的磁化影响小的特点。
一种基于感应强度测量物体磁化率装置及其测量方法

[发明专利]一种基于投影仪的定量背景纹影法测温装置及方法-CN202110652873.0在审
发明人：杨立军;李敬轩;张玥 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2021-06-11 - 公布日： 2021-10-29 - 主分类号： G01N9/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于投影仪的定量背景纹影法测温装置及方法，用于测量流场的密度及温度。基于背景纹影法测量介质物性参数的原理，利用投影仪产生随机背景点并作为光源代替了原有的打印背景点及背景光源。实验装置由背景点生成装置、投影系统、成像系统和图像处理装置组成。传统的背景纹影法在不同的实验条件下需要打印不同的背景点来保证测量精度，而且需要额外的背景光源照明，实验流程繁琐且实验装置复杂；本发明用投影图案代替打印背景点，可以根据测量需求直接生成背景图案以保证背景点分辨率和相机分辨率相匹配，克服了针对不同实验装置需要打印不同背景点的缺陷。同时投影仪在提供背景点的同时提供了充足的背景光强，满足了成像质量需求的同时节约了成本。
一种基于投影仪定量背景纹影法测温装置方法

[发明专利]一种RCS测量背景电平抑制方法及装置-CN202210353544.0在审
发明人：李万珅;冯孝斌;沈小玲;张达凯;张云;李熙民;刘胤凯;冯雨;邵景星;王晓;苗苗 -专利权人：北京环境特性研究所
申请日： 2022-04-06 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： G01S7/41 文献下载
摘要：本发明提供了一种RCS测量背景电平抑制方法及装置，应用于包括一维阵列天线的RCS测量系统中，该方法包括：获取未设置待测目标时场地背景的背景电平数据；其中，场地背景与待测目标所处的待架设区域位于同一距离波门；根据背景电平数据，确定待抑制背景电平区域；基于待抑制背景电平区域所包含的方位角、预设目标低副瓣方向图和RCS测量系统，建立待抑制背景电平区域的加权系数求解模型；利用加权系数求解模型，计算得到优化加权系数；根据优化加权系数，得到待抑制背景电平区域的低副瓣方向图。本方案能够从指定角度上抑制与目标处于同一距离波门的地物背景杂波，进而提高低RCS目标的测量精度。
一种 rcs 测量背景电平抑制方法装置

[发明专利]无源核子料位计的背景辐射修正测量方法及其系统-CN201410650282.X有效
发明人：胡桂标 -专利权人：胡桂标
申请日： 2014-11-08 - 公布日： 2018-03-13 - 主分类号： G01F23/288 文献下载
摘要：本发明涉及物料料位测量领域，公开了一种无源核子料位计的背景辐射修正测量方法及其系统，在预设时间段T1内，先测得物料的进入与输出过程具备循环周期特性的容器内部的物料辐射与容器内部及外部的背景辐射之和；再提取所述物料辐射和背景辐射之和中的最小值或与该最小值相关的值作为背景辐射特征值；然后根据设定好的数据模型对所述背景辐射特征值进行分析和运算获得背景辐射修正数据；最后根据背景辐射修正数据对无源核子料位计的测量进行修正。与现有技术相比，本发明提升了料位测量的准确性，降低了背景测量的成本。
无源核子料位计背景辐射修正测量方法及其系统

[发明专利]一种基于背景纹影测量液体自由表面高度的方法及系统-CN202310452049.X在审
发明人：李慧鑫;徐多;何国威 -专利权人：中国科学院力学研究所
申请日： 2023-04-25 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G01M10/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于背景纹影测量液体自由表面高度的方法及系统，方法包括：在待测透明液体的底部设置随机分布有标记点的背景图像，通过相机记录所述待测透明液体流经所述背景图像时所述背景图像的测量图像和无所述待测透明液体时所述背景图像的参考图像；结合上述测量图像和参考图像，使用PIV‑PTV算法获得所述背景图像的测量图像虚拟位移，经过液体自由表面高度和虚拟位移关系确定所述待测透明液体的液体自由表面高度。本发明还提供了基于上述方法的系统，解决了现有测量方法限制测量分辨率的问题。
一种基于背景测量液体自由表面高度方法系统

[发明专利]交变电流测量方法、装置、系统与计算机可读存储介质-CN202310294295.7在审
发明人：王国强;张铁龙 -专利权人：哈尔滨工业大学（深圳）
申请日： 2023-03-15 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种交变电流测量方法、装置、系统和计算机可读存储介质，该方法包括：将待测电路与测量导体连接，并根据所述测量导体的位置确定测量位置；确定所述测量位置对应的背景磁场磁通量，并通过螺线管和辅助电路测量所述测量位置中的总磁场磁通量；基于所述背景磁场磁通量和所述总磁场磁通量，确定所述待测电路对应的交变电流强度。本发明通过确定测量位置中的总磁场磁通量和背景磁场磁通量，利用总磁场磁通量和背景磁场磁通量计算出待测电路对应的交变电流强度，通过将背景磁场磁通量考虑在计算过程中，在计算过程中将背景磁场磁通量消除，进而提高基于磁场的交变电流测量的精度
电流测量方法装置系统计算机可读存储介质

[发明专利]一种金属试件表面激光反射率测量装置及方法-CN201611004766.2有效
发明人：吴涛涛;陈绍武;周孟莲;韦成华;朱永祥;王家伟;吴丽雄;王立君 -专利权人：西北核技术研究所
申请日： 2016-11-15 - 公布日： 2019-06-07 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：本发明属于激光效应测试技术领域，涉及一种金属试件表面反射率测量装置及方法。本发明提供的装置包括测量积分球和背景积分球，测量积分球和背景积分球的连接处设置有贯通的试件安装孔；测量积分球上安装有测量光电探测器，背景积分球上安装有背景光电探测器；测量积分球上还设置有激光入孔，激光入孔位于与试件安装孔相对的另一侧球壁上本发明通过设置串形的积分球组，采用测量积分球和背景积分球分别获取测量信号和背景热辐射信号，经过数据处理得到真实的反射率系数，克服了金属试件表面在高温下热辐射信号对反射率测量的影响。
积分球背景积分球测量金属试件热辐射信号试件安装孔激光入孔测量光电探测器反射率测量装置测试技术领域表面反射率反射率测量光电探测器表面激光测量信号测量装置激光效应数据处理反射率串形球壁贯通

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