专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]电磁感应轻接触及无接触磁传动结构-CN200910062234.8在审
  • 黄德固 - 黄德固
  • 2009-05-27 - 2010-12-01 - H02K49/00
  • 本发明推出一种电磁感应轻接触及无接触磁传动结构,在传统机械传动结构的结合面上,亦即联轴器的螺纹连接处、离合器的嵌合或摩擦离合处、齿轮传动的轮齿啮合处、链传动的链与轮啮合处以及万向节传动的十字节与传动轴结合处,用磁极对应的永磁体或者用磁性可调节变化的电磁体等电磁感应设施予以取代,构成系列轻接触及无接触磁传动联动器、离合器、齿轮传动、链传动、磁万向节传动等等。本发明的有益效果是:磁传动结构在降低原结构磨损提高传动效率上有优势,特别是无接触电磁联动器及离合器,能使被拖动方逐渐加速同步,降低了对启动力矩的高要求,给新设备的引进提供了空间,在机器人之类创新行业内有较好的应用前景
  • 电磁感应接触传动结构
  • [发明专利]一种接触孔测试结构接触孔测试方法-CN202310345608.7在审
  • 曾繁中;宋永梁;刘倩倩 - 上海积塔半导体有限公司
  • 2023-03-31 - 2023-06-23 - H01L23/544
  • 本发明的一种接触孔测试结构接触孔测试方法,接触孔测试结构包括设置于半导体衬底上的有源区接触孔测试结构、多晶硅接触孔测试结构、第一漏电测试结构以及第二漏电测试结构。其中,有源区接触孔测试结构包括若干串联的第一链条,多晶硅接触孔测试结构包括若干串联的第二链条,有源区接触孔测试结构和多晶硅接触孔测试结构的延伸方向相同;第一漏电测试结构包括若干第三链条,每一第三链条对应插入两相邻的第一链条之间;第二漏电测试结构通过二极管结构与有源区接触孔测试结构连接,第二漏电测试结构包括若干第四链条,每一第四链条对应插入两相邻的第二链条之间。
  • 一种接触测试结构方法
  • [实用新型]一种接触器的接触板的限位结构-CN201620400356.9有效
  • 刘长源;曹永;晏恒明 - 厦门宏发开关设备有限公司
  • 2016-05-05 - 2016-10-12 - H01H50/02
  • 本实用新型公开了一种接触器的接触板的限位结构,包括躯壳、静触头的接触板和铆钉;所述躯壳设有用来放置所述静触头的接触板的支撑部;所述接触板适配在躯壳的支撑部上;所述接触板设有通孔,所述支撑部设有限位孔;所述铆钉具有相对于周面向外凸伸的过盈部,所述铆钉穿接在接触板的通孔和支撑部的限位孔中,且铆钉的过盈部与接触板的通孔呈过盈相配合。本实用新型通过结构改进,能够在躯壳结构不进行复杂变化的前提下,降低零件成本及提高装配效率,从而实现接触板的简化快速装配。
  • 一种接触器接触限位结构

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