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[发明专利]具保护性涂层的处理腔室的处理配件-CN201980037849.7在审
发明人：吴菅;刘炜;王林林;特里萨·克莱默·瓜里尼;马尔科姆·贝文;劳拉·哈夫雷查克 -专利权人：应用材料公司
申请日： 2019-05-21 - 公布日： 2021-01-15 - 主分类号： H01J37/32 文献下载
摘要：在一个实施方式中，提供在等离子体处理腔室内使用的腔室部件，腔室部件包括：金属基底材料，金属基底材料包含粗糙的非平面第一表面，其中粗糙的非平面表面具有在4微英寸和80微英寸之间的Ra表面粗糙度；平面二氧化硅涂层，形成在粗糙的非平面表面之上，其中平面二氧化硅涂层具有：表面，具有Ra表面粗糙度小于粗糙的非平面表面的Ra表面粗糙度；厚度，在约0.2微米和约10微米之间；以容积计的小于1％的孔隙率，并且含有少于2E<
保护性涂层处理配件

[发明专利]一种多导体传输线参数提取中考虑地平面粗糙度的方法-CN202210998822.8在审
发明人：代文亮;凌峰;刘萍;蒋历国 -专利权人：芯和半导体科技（上海）有限公司
申请日： 2022-08-19 - 公布日： 2022-11-18 - 主分类号： G06F30/367 文献下载
摘要：本发明公开一种多导体传输线参数提取中考虑地平面粗糙度的方法，属于电磁仿真领域。针对现有多导体传输线二维参数提取难以考虑地平面粗糙度且精度低的问题，本发明提供一种多导体传输线参数提取中考虑地平面粗糙度的方法，它包括将地平面作为信号线，求出频变电阻矩阵；将频变电阻矩阵进行对角化得到特征值矩阵和特征向量矩阵，记录地平面对应的特征值，将其分别乘以对应的表面粗糙度系数，去除地平面元素得到缩减后的矩阵，将特征值矩阵中的每个元素进行粗糙度计算后得到新的特征值矩阵，进行最终电阻矩阵的求取。本发明在多导线时运用特征值法进行折算地平面的粗糙度，更准确计算出考虑地平面粗糙度的多导线电阻，提高电阻矩阵提取的准确度。
一种导体传输线参数提取考虑平面粗糙方法

[发明专利]电池用集电体及其制造方法以及非水系二次电池-CN200880011146.9无效
发明人：西村卓宽;古结康隆;野野下孝;平冈树 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2008-10-27 - 公布日： 2010-02-17 - 主分类号： H01M4/70 文献下载
摘要：在金属箔的至少一个面上形成被压缩的基底平面，并且按规定的间隔配置有伴随着该基底平面的形成而形成的非压缩的突起。基底平面的表面粗糙度与突起的表面粗糙度不同，优选基底平面的表面粗糙度以算术平均粗糙度计为0.8μm以下。
电池用集电体及其制造方法以及水系二次

[实用新型]一种大理石面板-CN201120026089.0无效
发明人：许革欧 -专利权人：许革欧
申请日： 2011-01-24 - 公布日： 2011-10-05 - 主分类号： E04F15/08 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种大理石面板，它由光滑平面、面板体、粗糙凹面组成，其特征在于面板体上的光滑平面与粗糙凹面之间为波浪条纹，安装时把面板体放在地面上，光滑平面和粗糙平面的面板体上面朝上，互相整齐并拢即可，
一种大理石面板

[发明专利]分层介质粗糙面电磁散射系数的确定方法-CN201510107665.7在审
发明人：郭立新;李科;王笑笑;李娟;王蕊;柴水荣;魏仪文 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2015-03-11 - 公布日： 2015-07-01 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种分层介质粗糙面电磁散射系数的确定方法，主要解决现有技术计算分层介质粗糙面电磁散射系数计算量大，计算速度慢的问题。其实现步骤是建立任意分层介质粗糙面模型；建立与分层粗糙面对应的分层平面模型，并计算分层平面中的零阶电场，在以上两个模型的基础上确定介质分层粗糙面与介质分层平面相对介电常数之差；确定分层介质粗糙面中的一阶扰动场；根据零阶电场、相对介电常数之差和一阶扰动场计算出分层介质粗糙面电磁散射系数。本发明降低了散射解推导过程的复杂程度，且适用于求解任意多层介质粗糙面的电磁散射系数，提高了对背景粗糙面特性的分析准确性，可用于地海背景下目标电磁特性分析。
分层介质粗糙电磁散射系数确定方法

[发明专利]一种用于光学表面粗糙度标定的参考平面生成装置-CN201210061598.6无效
发明人：王君林;王绍治;刘建;马占龙;张玲花 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2012-03-09 - 公布日： 2012-08-15 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：一种用于光学表面粗糙度标定的参考平面生成装置，属于光学检测技术领域，本发明为提供一种表面粗糙度极低，表面均匀性极好的用于光学表面粗糙度标定的参考平面生成装置，该装置包括液态水银、容器外壁、容器口、阻尼结构和密封盖；所述阻尼结构位于容器外壁内部下方；所述阻尼元件是排列的立柱或栅格板；所述容器口大小与光学粗糙度检测镜头的口径相同；所述密封盖与容器口是螺纹连接且密闭，该装置实现了参考平面表面粗糙度极低，表面均匀性极好，无瑕疵和缺陷，可以很好的应用于光学表面粗糙度标定。
一种用于光学表面粗糙标定参考平面生成装置

[实用新型]一种核燃料板元件粗糙度和平面度检测组件-CN202220150744.1有效
发明人：袁平;凌云;刘明;李铁城;杨学光;何勇;范富根 -专利权人：中国核电工程有限公司郑州分公司;成都术有云视觉科技有限公司
申请日： 2022-01-20 - 公布日： 2022-06-14 - 主分类号： G01D21/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种核燃料板元件粗糙度和平面度检测组件，包括检测装置底座、检测装置大理石台、扫描装置移动机构、粗糙度及平面度扫描装置组成，所述检测装置大理石台固定设置于所述检测装置底座上端，所述扫描装置移动机构设置于所述检测装置大理石台上端的中部，所述检测装置大理石台上端的一侧放置板型核燃料元件，所述粗糙度及平面度扫描装置与所述扫描装置移动机构的驱动端连接，且所述粗糙度及平面度扫描装置位于所述板型核燃料元件的上方。与现有技术相比，本实用新型通过传输轨道装置驱动粗糙度及平面度扫描装置匀速移动，保证稳定得检测扫描元件表面粗糙度，此外，还设置抓取机构、翻面机构而自动完成核燃料元件的检测，使用方便，具有推广应用的价值。
一种核燃料元件粗糙平面检测组件

[发明专利]一种非接触平面粗糙度测量系统及方法-CN202011426749.4在审
发明人：吴桂林;王宏伟;黄钞;谢小辉;赵丹 -专利权人：四川航天计量测试研究所
申请日： 2020-12-09 - 公布日： 2021-03-26 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：本发明属于表面粗糙度测量技术领域，具体涉及一种非接触平面粗糙度测量系统及方法。其技术方案为：一种非接触平面粗糙度测量系统，包括基座、二维运动轴系、运动控制器、光学测量传感器、光纤、光电信号处理器、计算机。一种非接触平面粗糙度测量方法，包括如下步骤：S1：将被测件置于基座上，二维运动轴系中竖直轴系向下移动；S2：光学测量传感器到达量程中点，停止竖直轴系运动；S3：水平轴系进行单向匀速运动，光学测量传感器进行工件表面粗糙度原始信息采集；S4：计算机通过处理光电信号返回的工件表面的粗糙度原始信息与水平轴系运动信息，得出工件表面粗糙度数值。本发明提供了一种根据光波长和位移变换原理进行非接触平面粗糙度测量系统及方法。
一种接触平面粗糙测量系统方法

[实用新型]一种电机导条与端环的焊接结构-CN201220605295.1有效
发明人：李俊毅 -专利权人：西安盾安电气有限公司
申请日： 2012-11-15 - 公布日： 2013-06-05 - 主分类号： B23K33/00 文献下载
摘要：该电机导条与端环的焊接结构包括导条，导条的外端面上焊接有端环，所述导条的外端面和/或端环的焊接端面为粗糙平面；根据不同银铜焊料的流动性，所述粗糙平面的粗糙度为Ra12.5－Ra25；通过把电机导条和/或端环的连接面改为粗糙平面，简化加工工艺；焊接时，通过毛细效应将银铜焊料吸入电机导条与端环连接的粗糙平面上，使导条与端环的焊接面间的银铜焊料填充更加充分，加强焊接的牢固度，并且能减少银铜焊料的用量，降低成本。
一种电机焊接结构

[发明专利]航空液压扩口管接头接触磨损的分析方法及装置-CN201910016983.0有效
发明人：刘伟;张雅玫;岳珠峰;侯振国;李昊阳;赵玉杰;李树琪;张显涛;李钱;张展 -专利权人：西北工业大学
申请日： 2019-01-08 - 公布日： 2022-07-22 - 主分类号： G06F30/23 文献下载
摘要：本公开提供一种航空液压扩口管接头接触磨损的分析方法，包括：确定一航空液压扩口管接头的接触面的均方根粗糙度；根据所述均方根粗糙度模拟一符合高斯分布的随机粗糙表面；建立所述随机粗糙表面与一刚性平面接触的有限元模型；根据所述有限元模型确定所述随机粗糙表面与所述刚性平面之间的接触载荷；根据所述接触载荷确定所述随机粗糙表面的磨损量。
航空液压管接头接触磨损分析方法装置

[发明专利]一种计算充分发展风电场的等效粗糙度的方法-CN201910589284.5有效
发明人：葛铭纬;张欢;刘永前 -专利权人：华北电力大学
申请日： 2019-07-02 - 公布日： 2021-03-16 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明提出一种计算充分发展风电场的等效粗糙度的方法，包括：考虑轮毂高度风速不均匀性修正了top dowm模型，引入修正系数α来表示实际风轮来流速度与平面平均速度的差异；修正后的top down模型同Jensen尾流模型相结合，利用Jensen尾流模型计算风电场叠加速度得到修正系数，根据top down模型计算等效粗糙度以及轮毂平面平均速度，通过耦合top down模型和Jensen模型的轮毂平面平均速度得到最终的等效粗糙度本发明所得到的新粗糙度模型，可以快速、简单、方便、较准确地计算出大型风电场的等效粗糙度，为大型风电场的微观选址考虑粗糙度的影响提供参考。
一种计算充分发展电场等效粗糙方法

[实用新型]具粗糙化平面的发光二极管-CN200520003008.X无效
发明人：汪秉龙;庄峰辉;李恒彦 -专利权人：宏齐科技股份有限公司
申请日： 2005-01-25 - 公布日： 2006-10-18 - 主分类号： H01L33/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种具粗糙化平面的发光二极管，包括：基板、设置于该基板上的至少一发光二极管芯片、以及包覆该发光二极管芯片并于其上方呈平面状模注成型的封装体；其中，该封装体具有经预定步骤处理的模具成型的粗糙化外表面，该粗糙化外表面具有一预定的表面粗糙度，该发光二极管芯片发射的光线经由该粗糙化外表面漫射出光。本实用新型具粗糙化平面的发光二极管可有效控制光线损耗，进一步提高发光效率与降低成本；以及可提高自体混光效率。
粗糙平面发光二极管

[发明专利]粗糙度长度、零平面位移高度和冠层高度耦合估算方法-CN202310447090.8在审
发明人：唐荣林;彭中;刘萌;姜亚珍;李召良 -专利权人：中国科学院地理科学与资源研究所
申请日： 2023-04-24 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G06F30/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种粗糙度长度、零平面位移高度和冠层高度耦合估算方法，首先获取数据并进行预处理，并根据预处理后的数据构建数据库；利用观测数据库，联合空气动力学粗糙度长度优化方案、风廓线方程和成本函数估算站点尺度每日空气动力学粗糙度长度、零平面位移高度和冠层高度；构建全球高分辨率的每日冠层高度遥感反演模型；将每日冠层高度遥感反演模型估算的全球冠层高度产品代入至空气动力学粗糙度长度优化方案中，以实现对每日空气动力学粗糙度长度、零平面位移高度和冠层高度的耦合估算本发明可以获得全球尺度的每日空气动力学粗糙度长度、零平面位移高度和冠层高度鲁棒性产品，对发展更高精度的陆面模型、蒸散发模型等具有重要意义。
粗糙长度平面位移高度耦合估算方法

[发明专利]一种表面形貌精确控制的高温承烧板-CN201810110839.9在审
发明人：王立平;王理达 -专利权人：江苏三恒高技术窑具有限公司
申请日： 2018-02-05 - 公布日： 2018-05-29 - 主分类号： F27D5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种表面形貌精确控制的高温承烧板，包括长方体板体，板体由长度和宽度组成的表面为粗糙面，所述粗糙面的表面粗糙度为2~10μm、平面翘曲度≤5um/100mm。本发明与传统技术相比，通过表面糙化处理工艺的优化及高温抚平工艺的优化，对表面粗糙度及平面翘曲度进行更加有效的精确控制，对于提高电子元件的电子特性有明显的效果。
表面粗糙度表面形貌翘曲度表面糙化处理长方体板体电子特性承烧板粗糙面板体优化粗糙

[发明专利]硬脆性光学材料亚表面损伤层厚度的测量方法-CN200910024280.9无效
发明人：王海容;陈灿;任军强;孙国良;苑国英;蒋庄德 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2009-10-13 - 公布日： 2010-03-17 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明公开了硬脆性光学材料亚表面损伤层厚度的测量方法，首先使用磁流变加工工艺在样品表面加工出一特定剖切平面，剖切亚表面损伤层，并将亚表面损伤反映到剖切平面上；使用腐蚀性化学试剂对剖切平面进行处理，将剖切平面上的亚表面裂纹暴露放大；使用粗糙度测量工具测量剖切平面上不同位置处的粗糙度值，得到粗糙度值变化曲线；由粗糙度曲线上取得数据开始趋向平稳的临界点或极点，及测量过程中记录下的起始点，求得这两点之间的高度差或投影在原有表面两点的高度差
脆性光学材料表面损伤厚度测量方法

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