专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种密封型XRD检测工装-CN202022081880.3有效
  • 尹伟民 - 宜兴德恩科技有限公司
  • 2020-09-21 - 2021-07-20 - G01N23/20025
  • 本实用新型涉及X光衍射仪用XRD固体、粉末检测技术领域,具体涉及一种密封型XRD检测工装,包括底板,底板包括夹持部和检测部,检测部包括两块对称设置的挡板,检测部还包括开设于底板上的平底槽,平底槽位于两块挡板之间本实用新型是一种密封型XRD检测工装,设计了一种密封性能良好,密封操作简便的用于检测固体、粉末XRD密封工装,其结构设计合理,使用简便。
  • 一种密封xrd检测工装
  • [发明专利]高硅沸石硅铝摩尔比的测定方法-CN202010995366.2有效
  • 龙英才;濮鹏翔;沈飞;沈威;张含新 - 复榆(张家港)新材料科技有限公司
  • 2020-09-21 - 2023-04-25 - G01N23/207
  • 本发明涉及一种高硅沸石硅铝摩尔比的测定方法,该方法包括:获取各结构类型高硅沸石的SAR‑2θ关系线;利用X射线粉末衍射仪对待测高硅沸石进行扫描,得到预设衍射角度范围的待测高硅沸石的XRD衍射谱,待测沸石包含不同硅铝摩尔比的同一结构类型高硅沸石;根据XRD衍射谱确定待测高硅沸石的衍射峰值对应的角度值;根据SAR‑2θ关系线以及衍射峰值对应的角度值确定待测高硅沸石的硅铝摩尔比。通过X射线粉末衍射仪获取XRD衍射谱,从XRD衍射谱得到待测沸石的衍射峰值对应的角度值,然后根据预先知道的高硅沸石的SAR‑2θ关系线,得到待测沸石的硅铝摩尔比,相比于已有的化学分析方法和XRF方法而言
  • 高硅沸石硅铝摩尔测定方法
  • [实用新型]一种XRD粉末样品制样装置-CN202222099907.0有效
  • 刘强;程慧静 - 北京科技大学
  • 2022-08-10 - 2023-03-24 - G01N23/2005
  • 本实用新型涉及XRD测试技术领域,提供了一种XRD粉末样品制样装置,包括样品架、布粉组件、传动组件、压杆和底桨刮片;布粉组件连接于样品架上端,包括挡边、承接块、中心端块和连接槽,挡边上端设置有承接块,承接块内部上端设置中心端块传动组件包括承接齿轮、传动齿轮和外行星齿轮;该XRD粉末样品制样装置设置有底桨刮片,在承接齿轮的转动下带动传动齿轮相齿合传动,使得传动齿轮顺应行星外齿轮内壁面进行齿合转动,进而对传动齿轮下侧设置的底桨刮片进行驱动,进而使得勒洛三角形状的底桨刮片转动形成一个圆角方形构造,对底端的方形样品架均匀接触,进而提高对样品架内部放置的粉末样品的处理均匀性。
  • 一种xrd粉末样品装置

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