专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果2155564个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]石墨类材料及工件抗氧化处理技术和应用-CN202011299151.3在审
  • 周曦东;刘兰英 - 北京纳斯特克纳米科技有限责任公司
  • 2020-11-19 - 2022-04-19 - C04B41/87
  • 本发明提供了一种在石墨基体材料及表面制备抗氧化硅陶瓷涂层的方法,采用超真空浸渗及阶梯式裂解烧结技术,选用特殊的有机材料、无机纳米材料在石墨类材料及工件内部和表面形成纳米陶瓷涂层,从而解决石墨材料及工件在高温条件下被氧化腐蚀问题该制备方法所得抗氧化硅陶瓷涂层的致密性和均匀性好,具有抗热冲击性和良好的高温抗氧化性能;通过调整有机材料分子结构组成,渗透镀膜技术工艺参数、真空热处理温度及时间,可以方便控制抗氧化硅陶瓷涂层表面平整度和厚度;且该制备工艺可实现规模化制备石墨陶瓷抗氧化涂层,工艺过程相对简单,成本低、重复性好,可以广泛应用于各种石墨材料及工件抗氧化保护领域。
  • 石墨材料工件氧化处理技术应用
  • [发明专利]一种SOI晶圆的刻蚀方法-CN202211512234.5在审
  • 刘冲;陈宏;刘张李 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2022-11-29 - 2023-03-07 - H01L21/311
  • 晶圆包括依次层叠的基底层、埋氧化层和半导体顶层;在半导体顶层上形成光刻胶层,并对光刻胶层进行边缘去胶处理;以光刻胶层为掩膜,依次对半导体顶层和所述埋氧化层进行刻蚀,暴露出基底层表面的边缘区域;进行第一次灰化工艺,去除光刻胶层,此时SOI晶圆的表面形成有聚合物副产物;进行第二次灰化工艺,去除聚合物副产物。本发明提供的SOI晶圆的刻蚀方法,在进行常规的第一次灰化工艺去除光刻胶层后,接着进行第二次灰化工艺去除SOI晶圆表面形成的聚合物副产物,解决了现有工艺中在SOI晶圆表面形成聚合物副产物进而影响后续制程良率的问题,提高了刻蚀工艺的品质。
  • 一种soi刻蚀方法
  • [发明专利]一种新的微纳结构的修饰方法-CN202110769121.2在审
  • 郑德印;王玮 - 北京大学
  • 2021-07-07 - 2021-11-16 - B81C1/00
  • 本发明涉及一种微纳结构的修饰方法,包括:提供具有微纳结构的重度掺杂衬底;对所述重度掺杂衬底进行电化学腐蚀,从而在所述微纳结构上形成多孔层;以及用碱性溶液进行清洗,从而去除所述多孔层。本发明方法只需通过一步电化学腐蚀工艺和一步碱性溶液清洗工艺即可完成。本发明方法通过精确控制电化学腐蚀工艺的过程参数,可以对已经成型的微纳结构进行灵活修饰,弥补了常规微纳加工技术无法对微纳结构进行有效修饰的不足。本发明方法为功能表面的制备提供了新的思路,即通过对已经成型的微纳结构进行灵活修饰来制备具有更优性能或者特殊性能的功能表面。
  • 一种硅基微纳结构修饰方法
  • [发明专利]环状二磺酸酯及其制备方法-CN201710882493.X有效
  • 傅人俊;范伟贞 - 常熟市常吉化工有限公司;广州天赐高新材料股份有限公司
  • 2017-09-26 - 2020-06-02 - C07F7/08
  • 本发明公开了一种环状二磺酸酯,包括如下结构式:所述制备方法包括如下步骤:将亚甲基二磺酸或通式(Ⅰ)的亚甲基二磺酸盐与通式(Ⅱ)的二烃二活性官能团硅烷、通式(Ⅲ)的二烃氧烷或通式(Ⅳ)的二烃氮烷在溶剂中按一定的摩尔比反应,控制反应的温度和时间,反应结束后,分离去除溶剂和副产物,得到所述环状二磺酸酯。本发明通过特殊的原料选择及合成工艺设计,开创性制备得到具有不同取代的环状二磺酸酯,能够有效提高锂二次电池的常温、高温循环性能和高温存储性能,降低电池在高温存储过程中的厚度膨胀;其制备方法工艺步骤简单
  • 环状二磺酸硅基酯及其制备方法
  • [发明专利]一种集成电路元器件的工艺方法-CN201710628361.4有效
  • 陈大鹏;焦斌斌;孔延梅;刘瑞文;云世昌 - 中国科学院微电子研究所
  • 2017-07-28 - 2020-07-17 - H01L21/768
  • 本发明提供了一种集成电路元器件的工艺方法,包括:利用第一晶圆制作第一掺杂类型金属氧化物半导体场效应MOS器件,利用第二晶圆制作第二掺杂类型MOS器件;引出第一掺杂类型MOS器件的源极、漏极及栅极的引线;利用2M工艺纵向引出第二掺杂类型MOS器件各层的源极、漏极、栅极的引线及转接引线;基于所述转接引线,在引线界面利用键合工艺将第一引线及第二引线进行电连接,形成CMOS器件;对引线界面所在的进行背面减薄,并对减薄后的进行深刻蚀及金属填充,将CMOS器件的电接口引出至背面,制作引线焊盘。
  • 一种集成电路元器件工艺方法

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top