专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种电阻测试装置-CN202120472933.6有效
  • 应远超;丁哲兰;李泽文 - 深圳市信维通信股份有限公司
  • 2021-03-04 - 2021-12-21 - G01R27/02
  • 本实用新型公开一种电阻测试装置,包括上模固定板、上模探针、基台和侧面探针;上模固定板可升降地设置在所述基台的顶部;上模探针和侧面探针设置在所述上模固定板朝向所述基台的一侧;所述侧面探针在其所在的平面可移动;通过将上模探针和侧面探针设置在上模固定板朝向基台的一侧,当上模固定板上下运动时,上模探针和侧面探针一同进行上下运动,当上模探针和侧面探针同时移动到达待测试机壳的底部后,再将侧面探针沿其所在的平面移动到机壳侧面待电阻测试的点位上,从而使得在对机壳进行电阻测试的过程中,上模探针和侧面探针能够同时对底面内侧和侧面的电阻测试点进行测试,实现多测试面测试的一体化电阻测试治具,大大提高了电阻的测试效率。
  • 一种电阻测试装置
  • [发明专利]探针卡的检测方法-CN201310199768.1有效
  • 唐莉 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2013-05-24 - 2017-02-08 - G01R35/00
  • 一种探针卡的检测方法,包括提供晶圆,在所述晶圆上分布多个导电区,至少两个导电区电连接且任意一个导电区只与一个导电区电连接;将所述探针卡上的探针与晶圆上的导电区对位;测得与电连接的两个导电区对位的两个探针之间的接触电阻;若所述接触电阻位于预期电阻范围内,则判定对应所述接触电阻的两个探针合格;若所述接触电阻超出预期电阻范围,则判定对应所述接触电阻的两个探针不合格。使用本发明的检测方法,可以精确测得每个探针是否出现问题,使得后续工艺可以针对出现问题进行进一步检查,进而作出适时更换或修理探针卡。另外,可以及早发现问题探针,并排除问题探针对后续晶圆测试的影响,进而提高晶圆测试的准确性。
  • 探针检测方法
  • [实用新型]自动报警体温计-CN201320857093.0有效
  • 刘理 - 刘理
  • 2013-12-24 - 2014-06-04 - G01K5/22
  • 本实用新型公开了一种自动报警体温计,包括体温计本体、水银头、刻度条以及报警装置,刻度条上间隔设有第一探针、第二探针、第三探针和第四探针,所述报警装置包括电源、开关、语音芯片、第一电阻、第二电阻以及第三电阻,第一探针位于体温计本体外的一端与开关相连,开关、电源、语音芯片、第一电阻依次串接,第一电阻与第二探针相连,第三电阻的一端分别与语音芯片、第一电阻相连,另一端与第三探针相连,第三电阻的一端分别与语音芯片、第二电阻相连,另一端与第四探针相连。
  • 自动报警体温计
  • [实用新型]晶体硅太阳电池正面电极接触电阻测量装置-CN201420576267.0有效
  • 王雪松;李嘉亮;杨振英;崇锋;吕欣 - 黄河水电光伏产业技术有限公司
  • 2014-09-30 - 2015-01-07 - G01R27/02
  • 本实用新型公开了一种晶体硅太阳电池正面电极接触电阻测量装置,包括:样品台,用于放置样品;立柱,位于样品台的一侧;探针进给装置,安装于立柱上,位于样品台的上方;探针安装板,与探针进给装置连接,安装有若干用于检测样品接触电阻探针,其中,探针进给装置内部设置有用于控制探针安装板上下移动的探针压力控制系统。本实用新型提供的晶体硅太阳电池正面电极接触电阻测量装置,具有结构简单、操作便捷、功能齐全的特点,通过探针压力控制系统的调节与控制,保证了在测量时探针下压深度的一致性,提高了测量接触电阻的稳定性和准确性,同时,采用开尔文探针连接方法,消除测试引线电阻对被测电阻的影响,有效地减小了测量误差。
  • 晶体太阳电池正面电极接触电阻测量装置
  • [发明专利]微波电路用薄膜电阻调节装置及其调节方法-CN201510464264.7在审
  • 王斌;胡莹璐;宋振国;曹乾涛 - 中国电子科技集团公司第四十一研究所
  • 2015-07-23 - 2016-06-29 - H01C17/22
  • 本发明涉及一种微波电路用薄膜电阻调节装置及调节方法。本发明涉及半导体加工技术领域。该装置包括电源、与电源并联的电压表、电流表、电阻表、第一平衡电阻、第二平衡电阻、第一探针、第二探针和第三探针;电流表分别与电源负极和第一探针串联;电阻表与待调节薄膜电阻并联;第一平衡电阻分别与电源正极和第二探针串联;第二平衡电阻分别与电源正极和第三探针串联;两平衡电阻阻值相同且大于待调节薄膜电阻设计值的1000倍。该方法采用阳极氧化法对薄膜电阻的调整过程进行闭环控制调节。本发明可准确、高效地调整微波模块用薄膜电阻的阻值,在提高良品率的同时,提高了制作效率,且使用方便灵活、操作简单。
  • 微波电路薄膜电阻调节装置及其方法
  • [实用新型]液晶显示面板的检测装置-CN202222192982.1有效
  • 金新民 - 昆山龙腾光电股份有限公司
  • 2022-08-19 - 2022-11-15 - G02F1/13
  • 本实用新型公开了一种液晶显示面板的检测装置,用于检测液晶显示面板中的彩膜基板表面的导电膜的电阻,包括:立柱、可沿所述立柱在竖直方向上运动的基座与电阻探针,所述电阻探针安装在所述基座上,所述基座控制所述电阻探针接触所述导电膜上的电阻测试点,用于探测所述导电膜的电阻。进一步地,还设有画面测试探针,用于液晶显示面板的画面检测。本实用新型的检测装置通过设置电阻探针和画面测试探针,不仅能实现对每个液晶显示面板中的彩膜基板的电阻测量,而且将彩膜基板的电阻测量与画面检测同时进行,在未提高生产成本的同时提高了产品质量。
  • 液晶显示面板检测装置
  • [实用新型]一种探针框架-CN201020681670.1有效
  • 白国晓;蔡金沐;赵海生 - 北京京东方光电科技有限公司
  • 2010-12-16 - 2011-06-29 - G02F1/13
  • 本实用新型公开了一种探针框架,涉及液晶显示器领域,为有效减小测试误差,提高测试结果的准确性而设计。所述探针框架,包括框架,所述框架上设置有至少一个探针,所述探针中的至少一个探针连接有用于调节输入电阻电阻补偿装置,使用时,连接有所述电阻补偿装置的探针通过所述电阻补偿装置与信号源相连接。本实用新型的探针框架可用于对TFT阵列基板进行测试。
  • 一种探针框架
  • [实用新型]一种接地电阻测试仪点检装置-CN202120967885.8有效
  • 黄海能;王吴玲 - 安徽众联电力建设有限公司
  • 2021-05-08 - 2021-12-21 - G01R27/20
  • 本实用新型公开了一种接地电阻测试仪点检装置,包括装置箱和设置在装置箱底部的支撑架,本实用新型涉及接地电阻检测技术领域。该接地电阻测试仪点检装置,闭合闸刀开关,将电流表的指针调零,断开闸刀开关,将导电棒取出,将接地探针插入检测环内,闭合闸刀开关,观察电流表指针,判断接地探针电阻是否正常,从而判断接地探针表面是否有杂质,如果接地探针电阻不正常,将接地探针插入清洁水箱,启动电动机带动清洁杆清洁接地探针的表面,然后将清洁探针取出擦干,再一次进行电阻测试,如果电阻不正常可能,可能是长时间的使用使接地探针损坏,从而可以及时进行更换,进而使接地电阻测试仪可以正常使用。
  • 一种接地电阻测试仪点检装置
  • [发明专利]一种非破坏性评估纳米尺度玻璃微探针性能的工作方法-CN200810154023.2无效
  • 张彦军 - 国家纳米技术与工程研究院
  • 2008-12-12 - 2009-05-13 - G01N33/48
  • 一种非破坏性评估纳米尺度玻璃微探针性能的工作方法,其特征在于它包括以下步骤:(1)利用扫描电镜对玻璃微探针进行观测获得扫描电镜照片;(2)通过玻璃微探针电阻计算公式估算出该玻璃微探针在充灌电极内电解液后的电阻值;(3)通过传统膜片钳技术来测量玻璃微探针电阻;(4)将由步骤(3)所说的膜片钳测得的玻璃微探针电阻与步骤(2)中通过扫描电镜观测再经计算公式估算的玻璃微探针电阻进行比较。其优越性在于:用传统的膜片钳电阻测量方法与扫描电镜技术相结合共同分析玻璃微探针性状的方法相比现有技术更加简便快捷,可直观、可靠、非破坏地判定纳米尺度玻璃微探针的性能及其拉制质量。
  • 一种破坏性评估纳米尺度玻璃探针性能工作方法
  • [发明专利]一种探针卡识别装置和方法-CN201310216932.5有效
  • 周波;莫保章;席与凌 - 上海华力微电子有限公司
  • 2013-06-03 - 2013-10-02 - G06K7/00
  • 本发明提供一种探针卡识别装置和方法,所述探针卡识别装置包括RFID识别系统和识别电阻识别系统,分别用于对探针卡进行RFID识别和进行识别电阻的识别;该探针卡识别方法包括:先对探针卡进行RFID识别;若RFID识别成功,则识别结束;若RFID识别失败,则进行识别电阻识别;若识别电阻识别成功,则识别结束;若识别电阻识别失败,则识别过程失败,识别结束。使得探针卡在不同部门间流动使用时不需要额外的改装步骤,提高了效率。
  • 一种探针识别装置方法

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