专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]便携式手持测试治具-CN202320908207.3有效
  • 李智德;胡紫阳;程子鹏 - 深圳市业展电子有限公司
  • 2023-04-21 - 2023-09-22 - G01R1/04
  • 本实用新型涉及电阻元件测试技术领域,涉及一种便携式手持测试治具。本实用新型通过定位侧板对合金电阻进行定位,按压手柄带动定位侧板对合金电阻压紧的同时伸缩模块朝向探针部件方向运动,伸缩模块顶出探针部件使其与定位侧板上的合金电阻连接,快速实现合金电阻的整个测试过程,只需利用定位侧板定位后即可测试,操作灵活性更强,提高测试效率;其体积小,便于存放和携带;在测试过程中探针的受力,缓冲部件可有效减缓同类测试在探针部件易受损折弯的问题,增加探针部件的使用寿命。
  • 便携式手持测试
  • [发明专利]探针间距校准方法、接触电阻率和界面电阻率的测试方法-CN202010216545.1有效
  • 胡晓凯 - 桂林电子科技大学
  • 2020-03-25 - 2022-08-26 - G01R27/02
  • 本发明提供了一种探针间距的校准方法、一种接触电阻率的测试方法和一种界面电阻率的测试方法,探针间距的校准方法包括将探针之间的间距调整为多个不同的预设间距,获取任一预设间距下测试第一样品所得的第一电阻;根据多个预设间距以及相对应的预设间距下所测得的第一电阻确定第一电阻与预设间距之间的第一线性关系;根据第一预设公式推导出第一电阻与预设间距之间的第一数学关系式,根据第一线性关系与第一数学关系式之间的对应关系,确定探针的间距误差;根据预设间距与间距误差确定探针的实际间距。本发明提供的探针间距的校准方法,消除了测量时由于探针形变或针尖面积而导致的探针实际间距与预设间距之间存在的误差,提高了仪器的测量精度。
  • 探针间距校准方法接触电阻率界面测试
  • [发明专利]一种双电阻结构温度补偿式腐蚀电阻探针及其制作方法-CN202010829541.0在审
  • 付冬梅;王高远 - 北京科技大学
  • 2020-08-18 - 2020-11-17 - G01N17/00
  • 本发明公开了一种双电阻结构温度补偿式腐蚀电阻探针及其制作方法,所述腐蚀电阻探针包括三层限位式保护夹板,三层限位式保护夹板包括防水上层、防水下层与限位层,限位层位于防水上层和防水下层之间,三层限位式保护夹板作为外壳保护整体结构;限位层设置有不对称双腐蚀电阻探针、识别码芯片和连接部分,不对称双腐蚀电阻探针和识别码芯片通过连接部分与导线的一端相连,导线的另一端与防水接头相连;不对称双腐蚀电阻探针包括外圈电阻和内圈电阻;外圈电阻不接触待测介质,其阻值与温度相关;内圈电阻暴露于待测介质中,其阻值与温度和腐蚀速率相关。
  • 一种电阻结构温度补偿腐蚀探针及其制作方法
  • [实用新型]超级电容单体的复合检测电极结构及检测装置-CN201520248079.X有效
  • 马永超;亢亚盟 - 北京天诚同创电气有限公司
  • 2015-04-22 - 2015-07-29 - G01R1/04
  • 该复合检测电极结构包括电容检测电极和电阻检测探针,所述电阻检测探针内嵌于所述电容检测电极中,并能够从所述电容检测电极中伸出,所述电容检测电极和所述电阻检测探针之间设置有绝缘层。本实用新型提供的超级电容单体的复合检测电极结构及检测装置,通过电容检测电极对超级电容单体的容值进行检测,通过电阻检测探针对超级电容单体的电阻进行检测,且在电容检测电极与电阻检测探针之间设置绝缘层,实现了对超级电容单体的电阻和容值的同时检测,提高了对超级电容单体的检测效率,且减小了检测电极本身的电阻对超级电容单体的电阻的干扰,提高了对超级电容单体的电阻的检测精度。
  • 超级电容单体复合检测电极结构装置
  • [实用新型]游泳池水质的pH和余氯检测装置-CN201020531529.3有效
  • 彭钢;黄锦通 - 深圳市凯利博实业有限公司
  • 2010-09-16 - 2011-05-11 - G01N27/06
  • 本实用新型涉及一种游泳池水质的pH和余氯检测装置,其中,包括用于与待测池水接触的一对探针、电源、可调电阻以及第一电阻;电源、可调电阻形成第一回路,电源、第一电阻以及探针串联形成第二回路;本检测装置还包括测量表头以及电源开关,测量表头一端连接在可调电阻的可调端上,另一端连接在第一电阻探针的连接端上。当测量pH值时,电源开关打开,测量表头两端分别耦接在一对探针的其中一个。当测量余氯时,电源开关闭合,探针之间的等效电阻、第一电阻、可调电阻的两端电阻构成电桥的四个桥臂。
  • 游泳池水质ph余氯检测装置
  • [实用新型]一种电阻框架测试夹具以及电阻框架测试系统-CN201720483820.X有效
  • 史书刚;韩玉成;杨成;陈天磊;朱威禹;黄伟训 - 中国振华集团云科电子有限公司
  • 2017-05-03 - 2017-11-24 - G01R27/02
  • 本实用新型提供一种电阻框架测试夹具以及电阻框架测试系统,涉及电阻测试设备领域,该电阻框架测试系统包括基板、电阻分析仪以及电阻框架测试夹具,该电阻框架测试夹具包括放置组件、容置柱、电阻测试装置,容置柱的一端与放置组件固定连接,电阻测试装置包括探针机构和限位组件,容置柱的侧面设置有第一条形孔,探针机构的一端穿过第一条形孔并可沿第一条形孔滑动,探针机构的另一端悬置于放置组件的一侧并可选择性地抵持于放置组件的一侧,限位组件设置在容置柱上并与探针机构连接,用以控制探针机构的滑动。相较于现有技术,本实用新型提供的电阻框架测试夹具夹持稳定,提高了测量精度,总体使得测试数据准确,重复测量效果好。
  • 一种电阻框架测试夹具以及系统
  • [发明专利]电接触连接方法及系统-CN202210587177.0在审
  • 张辉;刘尧;张福;金贤胜 - 合肥本源量子计算科技有限责任公司
  • 2022-05-27 - 2023-06-23 - G01R27/08
  • 该电接触连接方法包括:将第一探针与第一膜层接触;将第二探针向第一膜层移动,并实时监测第一探针与第二探针之间的电阻值;监测所述电阻值的第一次突变,并继续移动所述第二探针;监测所述电阻值的第二次突变,并在第二次突变发生时停止所述第二探针的移动,此时所述第二探针与第二膜层相接触。在本发明提供的电接触连接方法及系统中,通过实时监测第一探针与第二探针之间电阻值的变化情况,使第二探针能够精准下探至第一膜层和第二膜层的分界面处,使得第二探针与第二膜层实现良好的电学连接而又不损伤第二膜层
  • 接触连接方法系统
  • [发明专利]半导体参数测量系统的检测方法-CN201010535257.9有效
  • 冯程程 - 上海集成电路研发中心有限公司
  • 2010-11-08 - 2011-05-18 - G01R35/00
  • 本发明提供一种半导体参数测量系统的检测方法,包括:将探针台中所有探针共同扎在一个压焊点上,且每个探针之间相互不接触;检测模块选择任意两个探针,使被选的两个探针与所述半导体参数测量系统构成回路;通过所述半导体参数测试仪检测电压或电流;利用所述检测模块获取半导体参数测量系统与被选的两个探针的串联电阻值;若所述串联电阻值大于标准值,则判断被选的两个探针中至少有一个异常;若所述串联电阻值小于或等于标准值,则判断所述被选的两个探针均正常。通过检测半导体参数测量系统与两个探针电阻判定探针有无异常,能快速有效地完成对探针的检测,从而有效缩减了检测整个半导体参数测量系统的时间并且节约了劳动成本。
  • 半导体参数测量系统检测方法
  • [发明专利]一种人体电阻检测装置-CN201510347465.9在审
  • 李青峰;李家琪 - 河南山之峰信息科技股份有限公司
  • 2015-06-19 - 2015-09-02 - A61B5/053
  • 本申请公开了一种人体电阻检测装置,包括:中央控制部件;与所述中央控制部件连接的人体电阻检测部件;与所述人体电阻检测部件连接的探针;其中,所述探针的尖端设置有压力保持部件,用于控制所述探针与人体之间的压力保持在预设范围内本发明提供的上述人体电阻检测装置,由于所述探针的尖端设置有压力保持部件,能够控制所述探针与人体之间的压力保持在预设范围内,当压力在该预设范围内时,能够保证检测结果的准确性。
  • 一种人体电阻检测装置
  • [发明专利]超导量子比特结电阻测量方法及系统-CN202210590067.X在审
  • 张辉;张福;刘尧;金贤胜 - 合肥本源量子计算科技有限责任公司
  • 2022-05-27 - 2023-06-16 - G01R27/08
  • 本发明公开了超导量子比特结电阻测量方法及系统。包括将第一探针和第二探针中的一者与第一电极表面的第一氧化层接触,基于压力监测将另一者恰好扎入第一氧化层并与第一电极接触;通过第一探针和第二探针将第一氧化层电击穿;将第三探针和第四探针中的一者与第二电极表面的第二氧化层接触,基于压力监测另一者恰好扎入第二氧化层并与第二电极接触;通过第三探针和第四探针将所述第二氧化层电击穿;在第一探针和第二探针中的另一者与第三探针和第四探针中的另一者之间测量电阻。通过上述方式,探针到位更为精确,再借助于对氧化层实施电击穿,可以更好的降低氧化层对结电阻的干扰,结电阻的测量更为精准。
  • 超导量子比特电阻测量方法系统

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