专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果5484687个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]电路基板制造加工精密滤膜-CN201680045540.9有效
  • 小椋友佳;真野英里 - 日本戈尔合同会社
  • 2016-08-04 - 2021-07-06 - B01D71/36
  • 本发明的目的是提供对强酸性洗涤剂和强碱性洗涤剂两者的耐性以及极微细的异物的除去能力都极为优异的、适合于电路基板制造的加工的过滤的电路基板制造加工精密滤膜,包括该精密滤膜的电路基板制造加工精密滤筒,以及使用经该电路基板制造加工精密滤膜或电路基板制造加工精密滤筒过滤的加工来制造电路基板的方法。本发明的电路基板制造加工精密滤膜的特征在于,包含侧链中具有氨基的四氟乙烯共聚物(I)。
  • 路基制造加工精密滤膜
  • [发明专利]玻璃基板研磨组合物-CN200610169045.7有效
  • 西本和彦;米田康洋;代田真美 - 花王株式会社
  • 2006-12-19 - 2007-06-27 - C08J5/14
  • 本发明提供了玻璃基板研磨组合物以及使用该研磨组合物的玻璃基板的制造方法,其中所述玻璃基板研磨组合物含有一次粒子的平均粒径为5~50nm的二氧化硅和重均分子量为1000~5000的丙烯酸/磺酸共聚物,该研磨组合物的pH为0.5~5。玻璃基板研磨组合物适用于例如玻璃硬盘、强化玻璃基板的铝硅酸盐玻璃以及玻璃陶瓷基板(晶化玻璃基板)、合成石英玻璃基板(光掩模基板)等的制造。
  • 玻璃基板用研磨组合
  • [发明专利]半导体装置基板的洗涤及洗涤方法-CN200580004481.2有效
  • 池本慎;森永均 - 三菱化学株式会社
  • 2005-02-02 - 2007-02-21 - H01L21/304
  • 本发明提供半导体装置基板的洗涤及洗涤方法,所述半导体装置基板的洗涤能够同时去除微粒污染、有机物污染及金属污染而不腐蚀基板表面,并且水冲洗性良好,可以在短时间内高度清洁基板表面。所述半导体装置基板洗涤含有:成分(a)有机酸、成分(b)有机碱成分、成分(c)表面活性剂及成分(d)水,该洗涤的pH大于等于1.5而小于6.5。所述半导体装置基板的洗涤方法使用该半导体装置基板洗涤对表面具有铜膜和低介电常数绝缘膜并且经CMP处理的半导体装置基板进行洗涤。
  • 半导体装置用基板洗涤液洗涤方法
  • [发明专利]研磨组合物-CN02118591.3有效
  • 大岛良晓 - 花王株式会社
  • 2002-04-26 - 2002-12-11 - C09K3/14
  • 含有磨料、氧化剂、作为研磨促进剂的有机膦酸及水的研磨组合物,包括该研磨组合物研磨被研磨基板的步骤的基板制造方法,用上述研磨组合物研磨被研磨基板的方法,包括用上述研磨组合物研磨被研磨基板的步骤的减少被研磨基板微小擦伤的方法,以及用上述研磨组合物促进磁盘基板的研磨的方法。上述研磨组合物适合研磨记忆硬盘驱动器所用的要求有高表面质量的磁盘基板
  • 研磨组合
  • [发明专利]玻璃硬盘基板的制造方法-CN201010226178.X无效
  • 西本和彦 - 花王株式会社
  • 2005-12-09 - 2010-11-24 - C09K3/14
  • 本发明提供一种玻璃基板研磨组合物,其含有一次粒子的平均粒径为1~100nm的氧化硅、具有磺酸基的聚合物和水;并提供使用该玻璃基板研磨组合物的玻璃基板的制造方法以及玻璃基板的表面污染的减少方法。本发明的玻璃基板研磨组合物,例如适用于玻璃硬盘、强化玻璃基板铝硅酸盐玻璃、玻璃陶瓷基板(晶化玻璃基板)等的制造。
  • 玻璃硬盘制造方法
  • [发明专利]玻璃基板研磨组合物-CN200510129495.9无效
  • 西本和彦 - 花王株式会社
  • 2005-12-09 - 2006-06-21 - C09K3/14
  • 本发明提供一种玻璃基板研磨组合物,其含有一次粒子的平均粒径为1~100nm的氧化硅、具有磺酸基的聚合物和水;并提供使用该玻璃基板研磨组合物的玻璃基板的制造方法以及玻璃基板的表面污染的减少方法。本发明的玻璃基板研磨组合物,例如适用于玻璃硬盘、强化玻璃基板铝硅酸盐玻璃、玻璃陶瓷基板(晶化玻璃基板)等的制造。
  • 玻璃基板用研磨组合
  • [发明专利]基板的分析方法-CN201980024689.2有效
  • 吴佳红;川端克彦;池内满政;李晟在 - 铠侠股份有限公司;埃耶士株式会社
  • 2019-04-08 - 2023-08-15 - G01N27/626
  • 本发明提供一种硅基板的分析方法,可以ICP‑MS高精度地分析形成有膜厚较厚的氮化膜的硅基板中的微量金属等杂质。本发明的分析方法使用硅基板分析装置,该硅基板分析装置具备:分析扫描端口、分析采取机构及进行感应偶合等离子体分析的分析机构;前述分析扫描端口具有:载入端口、基板搬送机器人、对准器、干燥室、气相分解腔室、分析台及基板分析喷嘴,其中,将形成有氮化膜的硅基板通过基板分析喷嘴以氢氟酸与过氧化氢水的混合的回收扫掠硅基板表面并回收,之后将回收吐出至硅基板表面并加热干燥,吐出强酸溶液或强碱溶液并加热干燥,以分析扫掠硅基板表面并回收,且将分析以ICP‑MS进行分析。
  • 硅基板分析方法
  • [发明专利]HDD玻璃基板的制造方法、HDD玻璃基板以及HDD磁记录介质-CN201280042051.X有效
  • 福本直之 - HOYA株式会社
  • 2012-06-27 - 2016-11-30 - G11B5/84
  • 本发明提供一种即使用于搭载在具备DFH头机构的HDD的HDD磁记录介质,也能够抑制头碰撞发生的HDD玻璃基板的制造方法、HDD玻璃基板以及HDD磁记录介质。HDD玻璃基板的制造方法包括将玻璃基板浸渍于化学强化处理以便对玻璃基板实施化学强化处理的化学强化工序,在化学强化工序中,改变浸渍于化学强化处理的玻璃基板在化学强化处理中的姿势、使化学强化处理的温度分布均匀化、以及/或者搅拌化学强化处理,以使化学强化工序前后的玻璃基板的周向的TIR的增加量为0.5μm以下。
  • hdd玻璃制造方法以及记录介质
  • [发明专利]基板分析方法及基板分析装置-CN201980086331.2在审
  • 川端克彦;李晟在;林匠马 - 埃耶士株式会社
  • 2019-11-06 - 2021-08-20 - H01L21/66
  • 本发明提供一种可更简易且迅速地分析基板端部的分析技术。本发明的基板分析方法,是利用基板分析的喷嘴的基板分析方法,该基板分析的喷嘴从前端送出分析,并且以所送出的分析扫描基板表面之后利用抽吸分析,该基板分析方法在与喷嘴的前端相对向的位置,配置用以承接被送出的分析承接板,且将从前端送出的分析保持在喷嘴的前端与承接板之间,且在喷嘴的前端与承接板之间,以可插入基板端部的方式对基板进行位置调整,并且使基板端部接触于保持在喷嘴的前端与承接板之间的分析,且在基板端部接触于分析的状态下,使喷嘴及承接板沿着基板的周缘同时地移动,以分析基板端部。
  • 分析方法装置
  • [发明专利]基板分析装置-CN201680044341.6有效
  • 川端克彦;一之濑达也;林匠马 - 埃耶士株式会社
  • 2016-08-16 - 2019-02-19 - G01N27/62
  • 本发明提供一种能够借由ICP‑MS将在成膜形成有膜厚较厚的氮化膜或氧化膜的硅基板中的微量金属等的杂质高精确度地分析的硅基板分析装置。本发明的硅基板分析装置具备承载端口、基板搬运机器人、对准器、干燥室、气相分解处理室、具有分析载物台及基板分析喷嘴的分析扫描端口、分析采集装置、进行感应耦合等离子分析的分析装置,其中,对于成膜形成有氮化膜或氧化膜的硅基板,借由基板分析喷嘴以高浓度回收扫净硅基板表面而回收,将回收后的高浓度回收吐出至硅基板表面后,进行加热干燥,以分析扫净硅基板表面而回收,借由ICP‑MS对分析进行分析。
  • 硅基板用分析装置
  • [发明专利]浸显微镜装置-CN200680039343.2无效
  • 柴田浩匡;小松学;内川敏男 - 株式会社尼康
  • 2006-10-18 - 2008-10-22 - G02B21/00
  • 本发明的目的是提供一种能够不损害基板的品质而非破坏地进行基板浸观察的浸显微镜装置。因此,本发明的浸显微镜装置具备:支承机构(11~13),支承作为观察对象的基板(10A);浸类的物镜(14);第1供给机构(15、16),将超纯水作为观察的液体供给到物镜的前端与基板之间;第1除去机构(20~22),在基板的观察后,将观察的液体除去;第2供给机构(17~19),将与由第1除去机构(20~22)除去的观察的液体不同的清洗的液体供给到基板中的与观察的液体接触的区域中;和第2除去机构(20~22),在基板的清洗后,将清洗的液体除去。
  • 显微镜装置
  • [发明专利]研磨组合物-CN200410004018.5有效
  • 末永宪一;大岛良晓;萩原敏也 - 花王株式会社
  • 2004-02-05 - 2004-08-11 - C09K3/14
  • 一种记忆硬盘基板的研磨组合物,包含在水基介质中的硅石微粒,其中所述硅石微粒满足用透射型电子显微镜(TEM)观察测定得到的该硅石微粒的数基平均粒径与数基标准偏差之间的特定关系,且其中在该硅石微粒的粒径60~120nm范围内累积体积频度与粒径之间满足一种特定关系;一种记忆硬盘基板的微小起伏降低方法,包含该研磨组合物对记忆硬盘基板进行研磨的步骤;一种记忆硬盘基板的制造方法,包含该研磨组合物对镀Ni-P的记忆硬盘基板进行研磨的步骤;该方法适合用于记忆硬盘基板等精密部件基板的制造。
  • 研磨组合
  • [发明专利]能够测量滴的喷墨打印设备-CN202211074826.3在审
  • 李奉文 - 细美事有限公司
  • 2022-09-02 - 2023-06-23 - B41J2/165
  • 本发明的实施例提供一种可以检查滴的喷出状态并提前判断头单元的异常的能够测量滴的喷墨打印设备。根据本发明的能够测量滴的喷墨打印设备包括:工艺台,提供工艺基板的处理空间;头单元,向所述工艺基板喷出滴;第一夹具,夹持所述工艺基板的侧部;第二夹具,夹持被喷出用于检查所述头单元的滴的测量基板;以及滴检查部,检查喷出到所述测量基板的所述滴的喷出状态。
  • 能够测量喷墨打印设备

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top