专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光盘设备-CN200580032297.9无效
  • 近藤健二;山田真一;日野泰守 - 松下电器产业株式会社
  • 2005-07-21 - 2007-08-29 - G11B7/095
  • 根据本发明的光盘装置包括倾斜检测器件、彗形像差校正器件和球面像差校正器件。根据倾斜检测结果,确定由彗形像差校正器件进行的校正的量,使得在整个光盘的圆周上该校正的量恒定,并且然后由球面像差校正器件校正所述球面像差。因此,在保证倾斜差额的同时,可以校正由彗形像差校正器件所引起的球面像差。由此改善了所述光盘装置的再现和记录的可靠性。此外,在该装置的启动过程中出现冲击倾斜的情况下,根据本发明的光盘装置被构造为等待直到冲击倾斜停止为止。因此,可以在避免了冲击倾斜的影响的同时执行启动,由此改善了光盘装置的记录和再现操作的可靠性。
  • 光盘设备
  • [发明专利]透射式非制冷被动消差长波红外光学系统-CN201410255839.X有效
  • 邓键;郭立新;李华;秦忠洋;吴晔 - 西南技术物理研究所
  • 2014-06-10 - 2014-08-20 - G02B13/14
  • 本发明提出的一种透射式非制冷被动消差长波红外光学系统,旨在提供一种硫系玻璃口径较小,能够在8μm~12μm长波红外波段,用于非制冷长波红外探测器的具有光学被动消差性能的光学系统。本发明通过以下述技术方案予以实现:无穷远平行光从物面经球罩进入口径最大的一片弯月正透镜(3)形成汇聚光,汇聚光进入弯月负透镜(4)降低汇聚角度并校正部分色差、差和单色像差,通过纯球面的第二弯月正透镜(5)增加汇聚角,由其后凹面负透镜(6)平衡差和减小像差并减小光线汇聚角,进入匹兹万结构的后组即双凸正透镜(7)进一步平衡系统残余的差、色差和单色像差,并成像在探测器焦面(8),完成成像的全过程。
  • 透射制冷被动消热差长波红外光学系统
  • [发明专利]镜面波像差计算方法及激光系统-CN202311115843.1在审
  • 罗先刚;刘洋;蒲明博;王茂宇;雷健 - 天府兴隆湖实验室
  • 2023-08-31 - 2023-10-20 - G01M11/02
  • 本申请提供一种镜面波像差计算方法及激光系统,涉及激光技术领域。所述镜面波像差计算方法包括:获取入射激光的参数及光学元件的参数;基于入射激光的参数及光学元件的参数,计算入射激光的光子点集数据及反射镜镜面变形数据;基于光子点集数据,计算入射激光与反射镜镜面的虚拟交点;基于虚拟交点,计算入射激光的入射角;根据反射镜镜面变形数据及入射角,计算镜面波像差数据;通过镜面波像差数据,计算全激光系统输出端的光强、光程差和相位分布,并根据计算得到的远场光束质量因子、斯特列尔比以及桶中功率比确定光束质量的评价结果
  • 镜面波像差计算方法激光系统
  • [发明专利]精密加工激光切割机-CN200510086252.1无效
  • 胡诗杰;许冰;王海英 - 中国科学院光电技术研究所
  • 2005-08-19 - 2006-02-08 - B23K26/06
  • 精密加工激光切割机,利用待切割物与聚焦激光相互作用产生的弧光作为波前探测器的信标波前,或者同时利用少部分激光经后向反射器的反射回光作为激光自身像差信标,并由波前控制器把波前探测器得到的信号经过控制算法形成控制信号或者经数据融合形成控制信号,驱动电控系统使变形反射镜产生相应形变,补偿聚焦光斑与待切割物相互作用产生的热量引起的致扰动,或者同时补偿激光自身的波前像差和分光镜的变形像差,最终使到达待切割物的高能激光具有良好的聚焦光斑质量。这种精密加工激光切割机避免了直接使用会聚透镜导致的吸热变形,并避免了激光自身像差产生的焦斑质量恶化和位置漂移,可以将焦点精确定位,从而提高激光切割机的加工精度。
  • 精密加工激光切割机
  • [发明专利]基于电压解耦控制多波前校正器的自适应光学系统-CN201310231058.2有效
  • 沈锋;叶红卫;周睿;甘永东 - 中国科学院光电技术研究所
  • 2013-06-12 - 2013-09-11 - G02B26/06
  • 一种基于电压解耦控制多波前校正器的自适应光学系统,包括多个波前校正器、分光镜、一个波前传感器和一个波前处理机;多个波前校正器在光路中随意串联排布,波前传感器在空间上与最高精度波前校正器满足共轭关系,最高精度波前校正器对波像差进行高精度直接斜率法校正,其他各波前校正器根据高精度波前校正器的校正电压解耦算法对低阶波前像差进行电压解耦分离,对特定像差进行模式法校正,也可以对全部像差进行直接斜率法校正,最终各个波前校正器校正像差叠加,完成对总体像差的高精度校正本发明用于强激光领域的光束净化自适应光学系统,大气湍流校正、晕校正等相差变化剧烈,需要多套自适应光学系统联合校正的光学领域。
  • 基于电压控制多波前校正自适应光学系统

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