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[实用新型]测试元件-CN03266303.X无效
发明人：王俊峰 -专利权人：王俊峰
申请日： 2003-06-26 - 公布日： 2004-08-18 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测试元件，为一种长直线形的金属测试针。使用时配合测试仪，从而实现了插入式测试集成电路板的线路的方法。因此本实用新型相对现有技术不仅结构简单，大大降低了生产成本和工艺的复杂性，同时延长了测试元件的使用寿命，增强了测试的稳定性，另外也减小了测试的最小点间距，扩大了测试范围，而且还可以实现多块集成电路板同时测试
测试元件

[发明专利]晶圆结构及其制造方法-CN202111100978.1有效
发明人：李静 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-09-18 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： H01L23/544 文献下载
摘要：本申请实施例公开一种晶圆结构及制造方法，晶圆结构包括：基底、晶粒、切割道、测试元件组和第三测试元件，晶粒形成在基底中，切割道形成在基底中，并环绕晶粒；测试元件组设置在切割道中；测试元件组包括邻接的第一测试元件和第二测试元件，第一测试元件和/或第二测试元件上具有孔洞；第三测试元件设置在切割道中，且至少部分的第三测试元件设置在孔洞内。通过将第三测试元件设置在第一测试元件和/或第二测试元件上的孔洞内，在保证第一测试元件和第二测试元件邻接设置的基础上，还能够确保在测试元件组的区域内设置第三测试元件，这样相邻的第三测试元件之间的距离能够满足小于等于设定值，实现第三测试元件的均匀布置。
结构及其制造方法

[实用新型]一种双脉冲测试平台-CN201820473176.2有效
发明人：曾祥幼;张杰;胡舜涛 -专利权人：上海陆芯电子科技有限公司
申请日： 2018-03-30 - 公布日： 2018-11-20 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种双脉冲测试平台。本实用新型的双脉冲测试平台，包括：检测模块，检测模块包括元件测试电路和脉冲测试电路，元件测试电路和脉冲测试电路分别与待测试元件连接，元件测试电路用于对待测试元件进行失效测试，脉冲测试电路用于对待测试元件进行双脉冲测试；驱动模块，驱动模块与待测试元件连接，为待测试元件提供双脉冲测试信号；和控制模块，控制模块的信号输出端分别与元件测试电路、脉冲测试电路和驱动模块通信连接；控制模块的信号输入端与待测试元件连接，以获取待测试元件的测试结果本实用新型的双脉冲测试平台，能够解决现有技术中由于待测试元件失效，导致双脉冲测试平台损坏的问题。
双脉冲待测试元件测试平台脉冲测试电路元件测试本实用新型控制模块驱动模块电路测试元件检测模块信号输出端信号输入端测试信号失效测试通信连接测试

[发明专利]用于测试至少一个插接元件的装置-CN202211141511.6在审
发明人： R·布克;D·柯尼克;P·达德勒;M·吉格 -专利权人：基斯特勒控股公司
申请日： 2022-09-20 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： G01M13/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于测试至少一个插接元件的装置，具有：可插入到插接元件中进行测试的测试元件；插接元件容纳部，用于布置插接元件(2)；测试元件容纳部，用于布置测试元件；其中插接元件容纳部和测试元件容纳部沿着测试轴可移动以进行插接；力传感器，其被设计为在沿着测试轴插接时确定力并将其作为力信号提供；装置具有补偿元件，用于补偿插接元件与测试元件之间的偏移；补偿元件沿至少一个空间轴线被构造为至少部分弹性的；测试元件容纳部与补偿元件以有效连接的方式被布置为，使测试元件沿着空间轴线可弹性地移动。本发明还涉及一种用于测试至少一个插接元件的方法以及制造用于测试至少一个插接元件的装置中的补偿元件的方法。
用于测试至少一个插接元件装置

[发明专利]SMT首件测试方法、装置、计算机设备-CN202111595289.2在审
发明人：李秋明 -专利权人：赣州深奥科技有限公司
申请日： 2021-12-24 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本发明实施例公开了SMT首件测试方法、装置、计算机设备及计算机存储介质，在元件数据文档中区分出待测试元件，确定所述待测试元件的测量合格范围，其中所述待测试元件为测量类元件或目视类元件，然后，在元件数据文档中获取所述待测试元件的坐标，根据所述待测试元件的坐标，确定所述待测试元件的测试路径，之后，根据所述待测试元件的测试路径，依次对所述待测试元件进行测试；采用计算机设备对测试路径进行规划并对工作人员的测试提供路径指示，使得工作人员使用LCR仪器测试SMT首件上的元件时不容易出错，而且工作人员的测试在计算机设备的辅助下，提高了工作人员的测试效率。
smt 测试方法装置计算机设备

[发明专利]一种液体流量传感器智能控制系统-CN201610587620.9在审
发明人：闫游洋 -专利权人：蚌埠大洋传感系统工程有限公司
申请日： 2016-07-22 - 公布日： 2017-01-04 - 主分类号： G01F7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种液体流量传感器智能控制系统，包括：测试管道；测试单元，包括五个测试元件，分别为第一测试元件、第二测试元件、第三测试元件、第四测试元件、第五测试元件；且上述五个测试元件均安装于测试管道上，用于检测通过测试管道的测试液体的流量大小；控制单元，与测试单元通信连接；控制单元通过测试单元获取五个测试元件的检测结果，并对上述检测结果进行分析计算，得出通过测试管道的测试液体的流量大小。
一种液体流量传感器智能控制系统

[发明专利]元件测试系统及其方法-CN200910158929.6无效
发明人：骆文彬;刘钊平;施云严 -专利权人：宝定科技股份有限公司
申请日： 2009-07-07 - 公布日： 2011-01-12 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明是有关于一种元件测试系统及其方法。其中，一第一测试设备侦测一第一元件被装载时测试第一元件；一第二测试设备侦测一第二元件被装载时测试第二元件；一仪器驱动模块控制一装卸模块装卸第一元件于第一测试设备，于第一测试设备测试第一元件时控制装卸模块装载第二元件于第二测试设备，藉由控制装卸模块错开装载或卸除元件于第一测试设备与第二测试设备的时间，使第一测试设备与第二测试设备达成并行执行第一元件与第二元件的元件测试作业。
元件测试系统及其方法

[发明专利]一种测试元件组及其制作方法、阵列基板及显示装置-CN201510824468.7在审
发明人：詹裕程;张帅 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2015-11-24 - 公布日： 2016-01-20 - 主分类号： G02F1/1362 文献下载
摘要：本发明提供一种测试元件组及其制作方法、阵列基板及显示装置，该测试元件组包括多个待测试元件以及多个用于对所述待测试元件进行测试的测试电极，每一所述待测试元件与至少两个所述测试电极连接，其中，所述多个测试电极中包括至少一个测试电极，由至少两个待测试元件共用。本发明可减少测试电极的个数，降低测试成本以及测试元件组占用的空间，同时，对共用测试电极的不同待测试元件进行测试时，无需移动测试装置与共用测试电极的连接，降低了测试时间，提高了测试的时效性。
一种测试元件及其制作方法阵列显示装置

[实用新型]一种测试元件组、阵列基板及显示装置-CN201520944861.5有效
发明人：詹裕程;张帅 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2015-11-24 - 公布日： 2016-03-30 - 主分类号： G02F1/1362 文献下载
摘要：本实用新型提供一种测试元件组、阵列基板及显示装置，该测试元件组包括多个待测试元件以及多个用于对所述待测试元件进行测试的测试电极，每一所述待测试元件与至少两个所述测试电极连接，其中，所述多个测试电极中包括至少一个测试电极，由至少两个待测试元件共用。本实用新型可减少测试电极的个数，降低测试成本以及测试元件组占用的空间，同时，对共用测试电极的不同待测试元件进行测试时，无需移动测试装置与共用测试电极的连接，降低了测试时间，提高了测试的时效性。
一种测试元件阵列显示装置

[发明专利]一种测试装置-CN201910508009.6在审
发明人：程振;钟衍徽;任楚建 -专利权人：深圳市江波龙电子股份有限公司
申请日： 2019-06-12 - 公布日： 2019-09-20 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种测试装置，其中，该测试装置包括：承载容器，用于放置待测试元件；压块，用于在待测试元件进行测试时，按压固定待测试元件；导热组件，连接压块和外部热源设备，用于在待测试元件进行测试时，为待测试元件提供设定温度通过上述方式，能够在不同温度环境下对待测试元件进行测试，并且只改变待测试元件的温度，避免了高温环境对测试装置的性能的影响。
待测试元件测试装置测试按压外部热源设备测试元件承载容器导热组件高温环境连接压块温度环境压块申请

[发明专利]热元件的电阻测试设备及其测试方法-CN202211614861.X在审
发明人：周旭森;金火;蒋群舰;杨高扬 -专利权人：浙江正泰电器股份有限公司
申请日： 2022-12-14 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本发明属于热元件测试技术领域，公开了热元件的电阻测试设备及其测试方法。该设备包括上料模块、移栽模块、电阻测试模块、摆盘模块、良品码垛模块和不良品收集模块，上料模块包括上料输送带，用于对热元件进行输送。移栽模块从上料输送带上抓取热元件并对热元件进行转移。移栽模块抓取的热元件转移至电阻测试模块，电阻测试模块对热元件定位并对热元件进行电阻测试。摆盘模块从电阻测试模块抓取测试后的热元件并对热元件进行转移。良品码垛模块包括料盘，摆盘模块将测试合格的热元件转移至料盘上。不良品收集模块包括收集箱，摆盘模块将测试不合格的热元件转移至收集箱内。该设备能够对热元件进行自动化测试，提高了测试精度和测试工作效率。
元件电阻测试设备及其方法

[发明专利]一种测试芯片及集成方法-CN201911245978.3在审
发明人：王媛 -专利权人：苏州容启传感器科技有限公司
申请日： 2019-12-07 - 公布日： 2020-04-14 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种测试芯片，包括测试单元，测试单元单个或呈阵列分布在芯片中，测试单元包括若干呈阵列分布的基本单元，若干基本单元具有串联、并联或既串联又并联的连接关系；每一基本单元均包括热测试模块、应力测试模块和电迁移测试模块；其中，热测试模块包括加热元件和测温元件；应力测试模块包括应力测试元件；电迁移测试模块包括电迁移测试元件；加热元件、测温元件、应力测试元件和电迁移测试元件均分别外接驱动电源和信号读出电路。本发明还提供一种测试芯片的集成方法。
一种测试芯片集成方法

[实用新型]热元件的电阻测试设备-CN202223352299.6有效
发明人：周旭森;金火;蒋群舰;杨高扬 -专利权人：浙江正泰电器股份有限公司
申请日： 2022-12-14 - 公布日： 2023-06-16 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本实用新型属于热元件测试技术领域，公开了热元件的电阻测试设备。包括上料模块、移栽模块、电阻测试模块、摆盘模块、良品码垛模块和不良品收集模块，上料模块包括上料输送带，用于对热元件进行输送。移栽模块从上料输送带上抓取热元件并对热元件进行转移。移栽模块抓取的热元件转移至电阻测试模块，电阻测试模块对热元件定位并对热元件进行电阻测试。摆盘模块从电阻测试模块抓取测试后的热元件并对热元件进行转移。良品码垛模块包括料盘，摆盘模块将测试合格的热元件转移至料盘上。不良品收集模块包括收集箱，摆盘模块将测试不合格的热元件转移至收集箱内。该设备能够对热元件进行自动化测试，提高了测试精度和测试工作效率。
元件电阻测试设备

[发明专利]一种转印装置、转印装置的制作方法和转印方法-CN201910319730.0有效
发明人：田文亚;郭恩卿;郭双 -专利权人：成都辰显光电有限公司
申请日： 2019-04-19 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： B41F16/00 文献下载
摘要：转印装置包括测试电极、测试电路和吸附单元。测试电极与测试电路电连接，测试电路用于对测试电极接触的微元件进行测试，吸附单元用于吸附测试合格的微元件。在转印过程中，控制测试电极与微元件接触电连接，为微元件提供测试信号。微元件在测试信号的作用下进行测试。当微元件测试合格后，吸附单元吸附测试合格的微元件进行转印，从而实现了在转印之前进行测试，并在转印过程中选择测试合格的微元件进行转印，提高了转印后的微元件的良率，并且在一次转印周期内可以完成巨量的转印，提高转印效率
一种装置制作方法方法

[实用新型]测试机柜-CN202320612007.3有效
发明人：陈智;王伟 -专利权人：阳光电源股份有限公司
申请日： 2023-03-23 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种测试机柜。测试机柜包括：柜体，限定出容纳空间；第一测试元件和第二测试元件，位于容纳空间内，并且第一测试元件与第二测试元件在水平方向上依次设置；以及电源模块，位于容纳空间内，并且电源模块被构造为具有分别与第一测试元件和第二测试元件电连接的第一状态，以及分别与第一测试元件和第二测试元件断开电连接的第二状态。本实用新型的技术方案能够集成多个测试元件，形成一个独立的测试机柜，适用于不同产品的老化测试。
测试机柜

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