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- [发明专利]一种ECU下线测试装置及方法-CN202110911422.4在审
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吴长水;陈思涛;龚元明;夏真新
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上海工程技术大学
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2021-08-10
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2021-11-19
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G05B23/02
- 本发明涉及一种ECU下线测试装置及方法，上位机通过USB‑CAN与测试设备通信连接，上位机通过USB‑CAN与待测试ECU通信连接，上位机发送测试指令并接收测试设备和待测试ECU返回的信息；测试设备通过线束与待测试ECU通信连接，测试设备将测试指令转换为指令信号并发送至待测试ECU；当上位机发送采集信号指令至待测试ECU时，待测试ECU输出信息至上位机；当上位机发送采集信号指令至测试设备时，测试设备接收待测试ECU的信息并上传至上位机。与现有技术相比，本发明中上位机与待测试ECU和测试设备连接，测试设备与待测试ECU连接，通过功能卡底层驱动待测试ECU，对待测试ECU的信号输入端和输出端进行测试，具有信号精确度高、可靠性高、测试准确的优点
- 一种ecu下线测试装置方法
- [实用新型]半导体器件模组测试系统-CN202123109631.1有效
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陈杰;周德祥;孙志强;杨建;杜韦慷
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天芯互联科技有限公司
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2021-12-10
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2022-08-02
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G01R31/28
- 本申请公开了一种半导体器件模组测试系统，其特征在于，半导体器件模组测试系统包括：上位机；数据处理装置，数据处理装置与上位机耦接；电源，电源与上位机耦接；测试终端，测试终端分别与数据处理装置和电源耦接；其中，上位机发送测试指令至数据处理装置和电源，数据处理装置发送测试指令至测试终端，电源根据测试指令为测试终端提供电流和电压，测试终端用于连接多个待测元件，并将检测信息反馈至上位机，测试指令由上位机根据待测元件的测试需求来制定本技术方案能同时测试多个待测元件，并且测试速度快，测试效率高；同时本技术方案通过上位机直接获取电源的电流电压测试值，因此测试精度更高。
- 半导体器件模组测试系统
- [实用新型]BMS测试系统-CN202122309533.6有效
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陈燕海
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深圳市赛美达电子有限公司
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2021-09-23
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2022-04-15
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G01R31/36
- 本实用新型涉及一种BMS测试系统，用于对待测BMS执行测试操作。该BMS测试系统可以包括一上位机和一功能测试板；所述上位机与所述功能测试板通讯连接；其中，所述待测BMS分别所述功能测试板和所述上位机通讯连接；所述功能测试板被配置为对所述待测BMS提供不同的功能测试，并将测试结果发送给所述上位机；所述上位机被配置为对所述测试结果进行判断，并对判断结果和所述测试结果进行存储记录；所述上位机还被配置为控制所述功能测试板启动对所述待测BMS的功能测试。本申请的BMS测试系统，通过引入上位机，可实现自动化测试，减少人为操作及干预，还可以提高测试效率和测试精度，经验证，测试效率可较之前提升十倍以上，同时做到了测试数据的全程可追溯。
- bms测试系统
- [发明专利]测试设备及其测试方法-CN201210437653.7无效
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张京涛;管银
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惠州TCL移动通信有限公司
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2012-11-05
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2013-02-27
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G01R31/44
- 本发明公开了一种测试设备，用于测试LED灯矩阵，该测试设备包括上位机、信号转换装置以及信号反馈装置。上位机用于产生系统控制信号；信号转换装置与上位机连接，用于从上位机接收系统控制信号，并根据系统控制信号输出多路TTL电平信号，多路TTL电平信号用于对LED灯矩阵进行测试；信号反馈装置与上位机连接，用于测量LED灯矩阵中的电流值，并将测量结果反馈至上位机，上位机根据测量结果判断LED灯矩阵测试是否通过。本发明还公开了一种测试设备的测试方法。通过上述方式，本发明的测试设备及其测试方法能够提高测试的可靠度和准确度，提高测试效率。
- 测试设备及其方法
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