专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]-CN201110091244.1有效
  • 林田秀二;藤川勇二 - 株式会社三丰
  • 2011-04-08 - 2011-11-23 - G01B3/18
  • 本发明提供一种,包括:固定套筒(20),被固定在主体上;杆(10),与固定套筒螺纹配合;套筒(30),能旋转地嵌合在固定套筒的外周,并且外端与杆连结;操作套筒(40),被嵌合在从套筒的外周直到杆的外端的部位上,相对于套筒能旋转;定压机构(50),被配置在操作套筒和杆之间,向杆传递操作套筒的旋转,并且对杆施加规定以上的载荷时使操作套筒相对于杆空转,该套筒和操作套筒之间配置有滚珠轴承(61
  • 测微仪
  • [实用新型]一种基于双的厚度测量装置-CN201620083916.2有效
  • 张迪;祝小威;王战 - 郑州磨料磨具磨削研究所有限公司
  • 2016-01-28 - 2016-08-17 - G01B7/06
  • 本实用新型公开了一种基于双的厚度测量装置,包括XYZ三轴运动平台,Z轴上下两端连接横梁,横梁上同轴设置第一仪和第二,XYZ三轴运动平台相对Z轴设置工件支架,工件支架上固定装卡平台,第一仪和第二连接放大器利用进行测量,可实现快速读数,精度远远优于千分表,稳定性好;采用双同时进行测量,且两个上下相对放置,避免了测量精度受被工件变形的影响;被工件的测量点位置可通过X和Y轴运动而实现变动,从而可对应多个不同的测量位置,而无需重新安装更改硬件,测量方便灵活;利用进行测量,不受工件材质和表面粗糙度的限制。
  • 一种基于双测微仪厚度测量装置
  • [实用新型]一种基于的高精度螺纹塞规测量装置-CN201120441967.5有效
  • 刘芳芳 - 上海市计量测试技术研究院
  • 2011-11-09 - 2012-07-11 - G01B3/26
  • 一种基于的高精度螺纹塞规测量装置,包括工作台,所述具有三维坐标示值,工作台采用具有水平和垂直上下运动及绕运动轴线偏转功能的工作台,其特征在于还包括杆,所述杆设置在工作台一侧,侧面上安装有内测钩,内测钩前端安装双旁向电感或轴向电感,双旁向电感尖端安装有球头,在工作台上设置有固定待螺纹塞规的测试夹具,在内测钩对面设置有固定架,固定架上安装有导轨误差补偿轴向电感,所述导轨误差补偿轴向电感头下方设置有四方棱体,所述四方棱体安装在二维偏转调节架上。
  • 一种基于测长仪高精度螺纹塞规测量装置
  • [实用新型]一种电池尺寸测量装置-CN202022215598.X有效
  • 敖晓东;郝尚书 - 珠海冠宇电源有限公司
  • 2020-09-30 - 2021-06-29 - G01B21/00
  • 本实用新型公开一种电池尺寸测量装置,包括机架及设置在机架上的产品载台、测量控制组件、长度恒力、宽度恒力、厚度恒力,所述产品载台具有承载被电池的电池放置位,电池放置位在长度方向的一侧、宽度方向的一侧均设置有限制被电池位移的限位机构;所述长度恒力、宽度恒力、厚度恒力在所述测量控制组件的控制下,分别从电池放置位的长度方向的另一侧、宽度方向的另一侧及电池放置位的上侧对所述被电池进行尺寸测量
  • 一种电池尺寸测量装置
  • [发明专利]一种基于的高精度螺纹塞规测量装置及测量方法-CN201110353162.X有效
  • 刘芳芳 - 上海市计量测试技术研究院
  • 2011-11-09 - 2012-06-20 - G01B7/12
  • 本发明涉及一种基于的高精度螺纹塞规及精密螺纹件的测量装置及测量方法,属于螺纹塞规精密测量领域。该装置基于,包括工作台,其特征在于还包括杆,设置在工作台一侧,主杆侧面上安装有内测钩,内测钩前端安装双旁向电感或轴向电感,双旁向电感尖端安装有球头,在工作台上设置有固定的测试夹具,在内测钩对面设置有固定架,固定架上安装有导轨误差补偿轴向电感,下方设置有四方棱体,四方棱体安装在二维偏转调节架上;本发明还提供了一种导轨误差补偿装置的调节方法,并在此基础上,分别提出了基于电感法的螺纹塞规螺距和中径的测量方法
  • 一种基于测长仪高精度螺纹塞规测量装置测量方法
  • [实用新型]一种数显式电感-CN201320840034.2有效
  • 李连骏;孙文华;张瑞红 - 三门峡中原量仪股份有限公司
  • 2013-12-19 - 2014-06-11 - G01B7/02
  • 本实用新型公开了一种数显式电感,包括电感头和立方体壳体,壳体正面设有显示窗口、量程切换按键、拨动开关,壳体背面设有第一路电感头接口和第二路电感头接口、信号输出口、电源开关;壳体内部设有振荡电路、两路调零电路、开关选择和差演算电路、信号放大、转换电路、直流输出电路、模数、采样电路、微处理器、量程选择按键电路、显示面板,电源为整个装置供电,本装置用于静态测量和动态测量,
  • 种数电感测微仪
  • [发明专利]标准硅片厚度测量装置-CN201310639653.X在审
  • 曹毅 - 成都博智维讯信息技术有限公司
  • 2013-12-02 - 2015-06-03 - G01B7/06
  • 标准硅片厚度测量装置,由高精度电感、花岗岩框架结构、可升降宝石球面工作台组成,花岗岩框架结构为双层工作台,上层工作平台为硅片承载台承载被标准硅片,下层工作台为底座,底座上有五个可调支撑脚与硅片承载台连接,底座上固定承载可升降宝石球面工作台和电感定位框架,电感定位框架侧面螺接高精度电感,在电感下方的硅片承载台中央设置带红宝石头的直径为60mm带筋可升降宝石球面工作台,其头正对下方可升降宝石球面工作台的中心,在测量硅片厚度时,硅片在红宝石头与电感之间。
  • 标准硅片厚度测量装置
  • [实用新型]标准硅片厚度测量装置-CN201320778874.0有效
  • 曹毅 - 成都博智维讯信息技术有限公司
  • 2013-12-02 - 2014-06-11 - G01B7/06
  • 标准硅片厚度测量装置,由高精度电感、花岗岩框架结构、可升降宝石球面工作台组成,花岗岩框架结构为双层工作台,上层工作平台为硅片承载台承载被标准硅片,下层工作台为底座,底座上有五个可调支撑脚与硅片承载台连接,底座上固定承载可升降宝石球面工作台和电感定位框架,电感定位框架侧面螺接高精度电感,在电感下方的硅片承载台中央设置带红宝石头的直径为60mm带筋可升降宝石球面工作台,其头正对下方可升降宝石球面工作台的中心,在测量硅片厚度时,硅片在红宝石头与电感之间。
  • 标准硅片厚度测量装置
  • [实用新型]一种校准装置支架及校准机构-CN202221807907.5有效
  • 水清波;周涵瀛 - 工业和信息化部电子第五研究所华东分所
  • 2022-07-13 - 2023-01-13 - G01B3/02
  • 本实用新型属于塑料面差尺校准技术领域,公开了一种校准装置支架及校准机构,该校准装置支架被配置为固定,包括横梁组件、支腿组件以及卡块;横梁组件包括测量面梁,测量面梁的上端面被配置为放置待物,测量面梁开设探测孔,探测孔被配置为供的探头通过;支腿组件连接于横梁组件,与横梁组件围设形成仪容置空间,仪容置于仪容置空间;卡块连接于横梁组件的一部分,被配置为固定杆,探头位于杆的头部。该校准装置支架既能满足的安装和塑料面差尺校准的精度要求,又能方便携带,实现检测现场进行塑料面差尺校准的功能,提高校准效率。
  • 一种校准装置支架机构
  • [发明专利]一种基于双导轨零件外径检测方法-CN201510642460.9有效
  • 林长青;曹学东;胡琦;杨胜;杨文志 - 中国科学院光电技术研究所
  • 2015-09-30 - 2017-12-26 - G01B21/10
  • 本发明公开了一种基于双导轨零件外径检测方法,该方法气浮导轨分别固定在大理石平台两边,调整使两气浮导轨平行;两分别运用辅助装置固定在气浮导轨上,被零件放置在两气浮导轨中间,两量块组分别放置在零件两旁边且垂直于导轨运动方向;移动气浮导轨滑块,使两分别接触量块工作面中间,分别读取两示值a1、b1,然后移动气浮导轨,分别使与被大型零件外圆接触并分别读取极值a0、b0,然后再次移动气浮导,使两分别接触另一侧量块工作面中间,分别读取两示值a2、b2,然后计算零件外径。
  • 一种基于导轨零件外径检测方法

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