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[发明专利]电路健壮性验证装置及验证方法-CN202211350769.7在审
发明人：秦祎繁;茆文艺 -专利权人：海宁奕斯伟集成电路设计有限公司;北京奕斯伟计算技术股份有限公司
申请日： 2022-10-31 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G06F30/33 文献下载
摘要：健壮性测试方法包括：对于待验证电路，将至少部分测试数据输入到待验证电路中，得到至少部分测试数据中每条测试数据的测试结果；基于待验证电路的标准数据、标准结果和至少部分测试数据中每条测试数据的测试结果，得到至少部分测试数据中每条测试数据对应的比对结果，每一比对结果为匹配或不匹配；统计比对结果为匹配的测试数据的数量，得到统计结果，若统计结果满足测试通过条件，则对待验证电路的健壮性测试成功，输出验证成功信号；其中：测试通过条件包括比对结果为匹配的测试数据的数量大于预设数量
电路健壮性验证装置方法

[发明专利]一种测试机匹配检测系统及其方法-CN202011533224.0有效
发明人：傅郁晓;吴庆;骈文胜;闻国涛;杨恭乾 -专利权人：上海伟测半导体科技股份有限公司
申请日： 2020-12-23 - 公布日： 2021-03-26 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种测试机匹配检测系统及其方法，其中所述测试机匹配检测方法包括：（S1）分别被设置能够采集测试机的配置信息和待测晶圆的测试项有关信息；（S2）自动地接收经由采集而获取的所述测试机的配置信息，并将所述配置信息转录于晶圆生产厂商记载晶圆测试项有关的模板所定义的一比对模板；（S3）比对所述待测晶圆的测试项有关信息和转录于所述比对模板中的信息；和（S4）输出所述比对结果；通过上述测试机匹配检测系统，操作人员能够及时地使用对应推荐的测试机检测待测晶圆。
一种测试匹配检测系统及其方法

[发明专利]程序测试方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202211474573.9在审
发明人：赵龙 -专利权人：中国工商银行股份有限公司
申请日： 2022-11-23 - 公布日： 2023-02-28 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请涉及一种程序测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品，涉及人工智能技术领域。可用于金融科技领域或其他相关领域。所述方法包括：获取待测程序和待测程序对应的程序语言种类替换前的原程序；根据预设的代码比对规则，对待测程序中的第一逻辑代码和原程序中的第二逻辑代码进行代码比对，得到逻辑代码比对结果；在逻辑代码比对结果满足预设的第一匹配条件的情况下，根据预设的语义比对规则，对待测程序中的第一语义关系代码和原程序中的第二语义关系代码进行语义关系比对，得到语义关系比对结果；根据语义关系比对结果和预设的程序测试规则，确定待测程序的程序测试结果。采用本方法能够提高程序测试效率。
程序测试方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]指静脉识别的快速比对方法及计算机可读取的存储介质-CN201910040065.1有效
发明人：刘永松 -专利权人：智慧眼科技股份有限公司
申请日： 2019-01-16 - 公布日： 2021-01-26 - 主分类号： G06K9/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种指静脉识别的快速比对方法，包括以下步骤：步骤S1：建立Gabor滤波模板；步骤S2：利用Gabor滤波模板提取测试目标的原始Gabor特征；步骤S3：对提取的原始Gabor特征进行特征降维处理以得到测试目标的详细特征向量和粗略特征向量；及步骤S4：将测试目标的粗略特征向量与比对库中所有目标模板的粗略特征向量进行相似度比对以筛选出一期候选目标，再依次采用中等精度匹配策略和高精度匹配策略将测试目标详细特征向量与一期候选目标的详细特征向量进行相似度比对本发明的指静脉识别的快速比对方法，采用多级串联比对方法，具有比对速度快、比对准确度高的优点。
静脉识别速比方法计算机读取存储介质

[发明专利]用于联锁自动化测试的测试系统及测试方法-CN201711092690.8在审
发明人：陈庆瑞;刘波 -专利权人：交控科技股份有限公司
申请日： 2017-11-08 - 公布日： 2018-02-16 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：本发明提供一种用于联锁自动化测试的测试系统及测试方法，所述系统包括测试工具和联锁设备，所述测试工具，用于向所述联锁设备发送办理进路的控制命令；所述联锁设备，用于执行所述控制命令，并发出状态参数；所述测试工具，还用于接收并解析所述状态参数，并对所述控制命令与所述状态参数进行比对，获得比对结果，并将所述控制命令、所述状态参数和所述比对结果进行显示。能够将测试工具与联锁设备进行连接，通过测试工具向联锁设备下发控制命令，并接收联锁设备执行命令后反馈的状态参数，对控制命令和状态参数进行自动比对，达到对联锁进行自动化测试，节省测试人员的劳动，提高工作效率
用于联锁自动化测试系统方法

[实用新型]一种应用于现场的变压器常用试验仪器比对装置-CN201720446811.3有效
发明人：甘强;邵新苍;张正东;秦延山;郁鸿儒;王飞;赵文翰;陈萧霖;孙进;单政;张鹏飞 -专利权人：国网江苏省电力公司检修分公司
申请日： 2017-04-26 - 公布日： 2018-01-09 - 主分类号： G01R35/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种应用于现场的变压器常用试验仪器比对装置，包括用于集成比对模块的箱体，其特征是，所述比对模块包括介质损耗测量仪比对模块、绝缘电阻测试仪比对模块和变压器直流电阻测试仪比对模块。优点1）该比对装置将标准电容、电阻元件进行集成，一台装置可完成介质损耗测量仪、绝缘电阻测试仪以及变压器直流电阻测试仪的准确度的比对；2）该比对装置的核心元件为纯电容、电阻电路，可靠性高，装置整体重量轻，
一种应用于现场变压器常用试验仪器装置

[发明专利]用于测试屏幕异常的检测方法-CN202010454101.1在审
发明人：孙俊杰 -专利权人： TCL华星光电技术有限公司
申请日： 2020-05-26 - 公布日： 2020-09-15 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明公开一种用于测试屏幕异常的检测方法，包括一测试步骤、一录制步骤、一标准图像选取步骤、一比对图像提取步骤、一比对步骤及一判断步骤；在所述比对步骤中，通过所述计算机将所述标准图像选取步骤中获得的标准图像与所述比对图像提取步骤中获得的比对图像进行比对，以获得一比对结果；在所述判断步骤中，通过所述计算机根据所述比对结果判断所述比对图像是否异常，若是，则记录所述比对图像在所述基准视频出现的时间，若否，则重复所述比对步骤。
用于测试屏幕异常检测方法

[发明专利]一种实现XML-JSON的批量比对测试方法和装置-CN202010724393.6在审
发明人：贾莎莎 -专利权人：北京思特奇信息技术股份有限公司
申请日： 2020-07-24 - 公布日： 2020-10-27 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种实现XML‑JSON的批量比对测试方法和装置，涉及软件测试领域。该方法：调用C程序生成XML数据文件，调用JAVA程序获取JSON数据文件，通过比对程序将XML数据文件与JSON数据文件进行逐条对比，批量获取比对结果。实现了XML‑JSON的批量比对测试，提前获知数据文件因转换出现的问题，及时修改调整，降低项目实施的风险。
一种实现 xml json 批量测试方法装置

[发明专利]一种代码测试方法，节点及系统-CN202110583278.6在审
发明人：黄艳晖;王伟权;郭锡超;滕丽燕 -专利权人：中国工商银行股份有限公司
申请日： 2021-05-27 - 公布日： 2021-07-30 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种代码测试方法，节点及系统，可用于测试安全技术领域，包括：分布式系统中的每个节点获取各自配置的所有测试案例对应所需的测试数据；所述每个节点在测试环境中将所述测试数据配置至对应的测试案例中，生成测试结果文件；所述每个节点将所述测试结果文件与预设的标准文件进行比对，若比对一致，则将该比对结果记录上传至公共服务器；所述公共服务器根据各节点上传的所述比对结果记录，知晓未通过测试的测试案例。本申请符合批量业务集中处理的要求，实现了批量业务的自动化测试，降低了业务风险；无需人工编写断言，减轻了测试人员的工作量；为开发人员检查判断出错交易场景和出错业务逻辑单元提供了有利条件。
一种代码测试方法节点系统

[发明专利]一种基于接口数据比对的图形芯片SLT方法-CN202210073046.0在审
发明人：王炜;陈攀;丁振青 -专利权人：中国船舶重工集团公司第七0九研究所
申请日： 2022-01-21 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明涉及计算机技术领域，特别是涉及一种基于接口数据比对的图形芯片SLT方法和系统，方法包括以下步骤：一种基于接口数据比对的图形芯片SLT方法，其特征在于，包括如下步骤：将待测试的图形芯片接入集成测试系统；对图形芯片进行电测试；初始化图形芯片，使其输出HDMI和VGA信号，并将信号转化为RGB数字信号，并与预期结果进行比对，将图形芯片分选移动至存放位置；系统包括：核心测试板、测试机台、测试主机和机械臂。本发明将图形芯片的通断性测试和板级功能测试融合在一起，能够更加全面地完成图形芯片的测试，然后通过接口数据比对，降低了芯片板级测试难度，缩短了测试时间，此外测试时不需要挂接硬盘进入操作系统，提高了测试速度
一种基于接口数据图形芯片 slt 方法

[发明专利]一种埋点测试方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202310380716.8在审
发明人：刘小桐;李满菊 -专利权人：北京商银微芯科技有限公司
申请日： 2023-04-11 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种埋点测试方法、装置、计算机设备和存储介质，该方法包括：响应于待测埋点的埋点测试操作的触发，在日志中截取所述埋点测试操作对应的埋点测试属性数据，所述日志为埋点测试终端生成的日志；响应于所述待测埋点的埋点测试操作的触发，在埋点测试平台上获取所述埋点测试操作对应的埋点测试平台数据；将所述埋点测试平台数据与所述埋点测试属性数据进行比对，若所述比对结果为比对一致，则所述待测埋点的埋点测试通过。可见，本申请实施例通过自动地截取埋点测试属性数据，与自动获取的埋点测试平台数据进行比对，无需测试人员手动进行查询和校验即可完成埋点测试，从而实现埋点测试的自动化，减少了测试资源的消耗。
一种测试方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]一种测试环境校验方法及系统-CN202010127588.2在审
发明人：万光平 -专利权人：中国平安人寿保险股份有限公司
申请日： 2020-02-28 - 公布日： 2020-06-30 - 主分类号： G06F16/27 文献下载
摘要：本申请适用于软件开发技术领域，提供了一种测试环境校验方法及系统，包括：连接第一测试环境数据库和第二测试环境数据库；根据校验指令从所述第一测试环境数据库中获取第一校验对象，并从所述第二测试环境数据库中获取第二校验对象；调用比对工具对所述第一校验对象和所述第二校验对象进行比对，输出比对结果。通过将不同测试环境对应的数据库进行连接，并基于对比工具自动对需要校验的对象进行比对，以此判断不同版本的测试环境的数据库是否同步成功，能够提升测试的效率，提升代码质量，从而保证生产环境的稳定运行。
一种测试环境校验方法系统

[发明专利]报文比对方法及装置、存储介质及电子设备-CN202111338685.7在审
发明人：谢朝杰;陈晓旋;许国鹏;王雁龙;刘昱均;岳倩彧 -专利权人：中国银行股份有限公司
申请日： 2021-11-12 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请提供了一种报文比对方法及装置、存储介质及电子设备，可应用于移动互联网领域或其他领域，通过预设多组配置参数，每组配置参数包括预设场景下的预设交易类型对应的多个要素，生成每组配置参数对应的测试报文，实现所生成的测试报文覆盖所有的测试场景和交易类型，将每个测试报文分别发送至新系统和旧系统，获取新系统和旧系统对每个测试报文进行业务处理后的第一结果报文和第二结果报文，确定每个第一结果报文对应的第二结果报文，将每个第一结果报文和每个第一结果报文对应的第二结果报文进行比对，得到每个第一结果报文对应的报文比对结果，从而基于各个报文比对结果，得到总比对结果，而无需人工比对，从而提高了报文比对的效率。
报文方法装置存储介质电子设备

[发明专利]一种93K测试机与待测产品的匹配性检测系统及其检测方法-CN202110234625.4在审
发明人：傅郁晓;杨恭亁;骈文胜;路峰;关姜维 -专利权人：上海伟测半导体科技股份有限公司
申请日： 2021-03-03 - 公布日： 2021-07-06 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种93K测试机与待测产品的匹配性检测系统及其检测方法，其中所述检测方法包括：(S1)分别被设置能够采集93K测试机的配制信息和待测晶圆的测试项有关信息；(S2)自动地接收经由采集而获取的所述93K测试机的配制信息，并将所述配制信息转录于晶圆生产厂商记载晶圆测试项有关的模板所定义的一比对模板；(S3)比对所述待测晶圆的测试项有关信息和转录于所述比对模板中的信息；和(S4)输出所述比对结果。
一种 93 测试产品匹配检测系统及其方法

[发明专利]一种OLED显示器件的测试方法及测试系统-CN201410127150.9在审
发明人：李延钊;王刚;方金钢;赵会;查奇君 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2014-03-31 - 公布日： 2014-07-16 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明提供一种OLED显示器件的测试方法及测试系统，该方法包括：对待测试的OLED显示器件施加测试信号；获取施加所述测试信号的所述OLED显示器件的测试区域的实测分布图像；将所述实测分布图像与对应的校准分布图像进行对比，得到一比对结果；根据所述比对结果确定所述测试区域是否存在背板异常点，当所述比对结果表示所述测试区域存在背板异常点时，确定所述背板异常点在所述OLED显示器件上的位置。本发明能够提高OLED显示器件的测试效率和测试直观度，降低测试成本。
一种 oled 显示器件测试方法系统