专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]可见光定位中基于标记的伪光源鉴别方法-CN202110946175.1有效
  • 王晴;邹德岳;赵楠 - 大连理工大学
  • 2021-08-18 - 2022-09-20 - H04W4/33
  • 本发明提供一种可见光定位中基于标记的伪光源鉴别方法,该方法在光源周边标记两个不同形状或不同颜色的辅助点,并记录标记点的位置信息,接收时通过分析标记点相对光源的位置来辨别真伪光源,若成像的光源与不同形状标记点间的手性关系与安装时的手性相符,则将其列为可信光源,否则认为该光源为反射成像的伪光源,不带入定位过程。本发明光源改装简单,只需添加任意两个标记点能够有效完成鉴伪;在光源较少的情况下也可有效定位、鉴伪,适用于光源稀疏的场景。
  • 可见光定位基于标记光源鉴别方法
  • [实用新型]显示设备及其显示模组-CN201320658363.5有效
  • 黄俊锋 - TCL显示科技(惠州)有限公司;惠州泰科立集团股份有限公司
  • 2013-10-23 - 2014-04-09 - G02F1/13357
  • 一种显示模组,包括液晶屏及背光源,液晶屏上设有位置标记,背光源与液晶屏贴合。同时还提供一种包括显示模组的显示设备。背光源上与液晶屏贴合的表面开设凹槽,凹槽的开口面积大于或等于位置标记的面积。其中,凹槽与位置标记对应,液晶屏上的位置标记在背光源上的垂直投影落于凹槽内。通过在背光源上开设凹槽,或在开设的凹槽的底部增设凸起,以形成与液晶屏上的位置标记一一对应的对位标记。通过机器对位置标记和对位标记的捕捉,使液晶屏及背光源贴合。最后通过目测的方法即可判断液晶屏及背光源贴附是否合格,提高了液晶屏及背光源的装配效率。
  • 显示设备及其模组
  • [实用新型]外科临床手术智能照明装置-CN201520062362.3有效
  • 许志坚 - 吴江市锦亿嘉纺织品有限公司
  • 2015-01-28 - 2015-07-08 - F21L2/00
  • 本实用新型公开了外科临床手术智能照明装置,包括底座、上支撑臂、下支撑臂、反光锥、传感器、光源和活性光源标记物,本实用新型结构简单,开关激活活性光源标记物后,传感器组感应识别活性光源标记物的位置,信息传输至控制器中,当活性光源标记物不在光源下方时,控制器驱动马达带动底座的移动或是上支撑臂和下支撑臂的转动,调节光源于活性光源标记物的上方,为手术特定需要照明的位置上;不需要人工移动,便于手术操作,照明效果好。
  • 外科临床手术智能照明装置
  • [实用新型]浮法玻璃缺陷检测装置-CN202120310791.3有效
  • 林嘉宏 - 台玻安徽玻璃有限公司
  • 2021-02-02 - 2021-12-14 - G01N21/958
  • 本实用新型提供了浮法玻璃缺陷检测装置,包括多根运输辊、设置在两根相邻运输辊之间的光源、观察板以及标记机构;所述光源设置在玻璃的下方且向上方照射,所述观察板设置在玻璃远离光源一侧;所述标记机构包括标记杆、指示块、标记块以及驱动标记杆运动的驱动杆;所述指示块与标记块与标记杆连接,所述指示块位于观察板的下方,所述标记块位于玻璃的下方,所述指示块与观察板之间的距离等于标记块与玻璃之间的距离,所述光源标记块以及指示块位于同一直线上
  • 玻璃缺陷检测装置
  • [发明专利]晶片对准标记选取方法-CN202210935088.0在审
  • 郭超;费志平;李玉华;姜冒泉;吴友根;魏育航 - 华虹半导体(无锡)有限公司
  • 2022-08-05 - 2022-11-22 - G03F9/00
  • 本申请涉及半导体集成电路制造技术领域,具体涉及一种晶片对准标记选取方法。晶片对准标记选取方法包括以下步骤:选取与晶片各个前层对应的前层对准标记集合,每个所述前层对准标记集合中包括多种前层对准标记;遍历检测光源集合中的所有检测光源,使得每个所述检测光源分别对所有前层对准标记集合中的各前层对准标记进行检测,确定对应不同前层的最佳对准组合;一对所述最佳对准组合包括一种最佳对准标记和一种检测光源的组合;整合对应同一检测光源的最佳对准组合形成最佳对准集合,各个所述最佳对准集合中包括位于不同前层中的最佳对准标记;基于目标对准标记数量,在各个最佳对准集合中设定各种最佳对准标记的最佳分配数量。
  • 晶片对准标记选取方法
  • [发明专利]一种利用可调光滤波器产生光谱幅度码标记的装置和方法-CN201510235824.1在审
  • 曹永盛;张思越;陈福深;孙豹 - 电子科技大学
  • 2015-05-11 - 2015-09-02 - H04Q11/00
  • 本发明公开了一种利用可调光滤波器产生光谱幅度码标记的装置和方法,属于光通信技术领域。本发明的装置包括:扫频激光光源生成装置:产生功率恒定、工作频率随时间线性变化的扫频激光光源并输入可调光滤波器,其扫频速度与电标记信号速率一致;可调光滤波器:根据预设频率间隔对扫频激光光源进行频率选择,得到SAC初始光源并输入电光调制器;电光调制器:对SAC初始光源经电标记信号调制后,生成SAC光标记信号。本发明的方法为:基于电标记信号生成功率恒定、工作频率随时间线性变化的扫频激光光源;根据预设频率间隔对扫频激光光源进行频率选择,得到SAC初始光源,再基于此生成SAC光标记信号。本发明用于光标记交换系统,其复杂度低、传输速率高。
  • 一种利用调光滤波器产生光谱幅度标记装置方法
  • [发明专利]套刻精度量测准确性的判定方法-CN202211165247.X在审
  • 苗洁玉;孙长琪;陈建;张其学;居碧玉 - 华虹半导体(无锡)有限公司
  • 2022-09-23 - 2022-12-20 - G03F7/20
  • 本发明提供一种套刻精度量测准确性的判定方法,包括:设计一组套刻对准标记;将所述套刻对准标记插入晶圆的曝光区域外围的划片槽中;利用不同测试光源曝光所述套刻对准标记;获取所述套刻对准标记在不同测试光源下的套刻精度量测结果;根据套刻精度量测结果,建立线性模型;分析线性模型中的拟合结果;选取拟合结果最佳的套刻精度量测结果所对应的测试光源作为待用光源。本申请通过不同测试光源曝光设计好的一组套刻对准标记,利用所有光源下的套刻对准标记的套刻精度量测结果,建立线性模型,最后选取拟合结果最佳的测试光源作为待用光源,这样可以给特殊层次选取合适的光源,当套刻工艺异常时可以防止特殊层次套刻精度量测不准确的情况的发生
  • 精度准确性判定方法

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