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[发明专利]具有质量测量的换算的GNSS信号处理方法和装置-CN200980131463.9有效
发明人： U·沃尔拉特 -专利权人：天宝导航有限公司
申请日： 2009-08-05 - 公布日： 2011-07-13 - 主分类号： G01S5/14 文献下载
摘要：确定每个候选集的质量测量。确定候选集的最佳质量测量。确定具有最佳质量测量的候选集的期望值(1170)。确定作为最佳质量测量与期望值之比的误差测量。根据误差测量来调整候选集的质量测量(1180)。基于所调整的质量测量形成候选集的子组的加权平均，其中，以下中的至少一个是基于所调整的质量测量(1200)：选择所述候选集的子组以及在所述加权平均中对每个候选集进行加权。在后续操作中可以使用所述加权平均的模糊度，以便辅助确定接收机的位置，或者可以使用所述加权平均的模糊度以便例如在可用于扩增漫游器的位置信息的网络处理器中准备数据。
具有质量测量换算 gnss 信号处理方法装置

[发明专利]一种大型零部件最佳装配位姿匹配的方法-CN201110053699.4无效
发明人：郑联语;刘仁伟;邵健 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2011-03-07 - 公布日： 2011-09-14 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于大型零部件数字化装配中位姿测量及调整中的测量数据处理方法，依据实测数据对比数字化理论模型匹配装配零部件的当前位姿，并据此计算实际最佳目标装配位姿。利用激光跟踪仪测量零部件上的各关键特征的位置，以及各装配检测项的相应的检测点。测量数据通过本方法进行处理后能为大型部件数字化柔性装配系统提供精确的装配体位姿数据及定位调整参数，并配合实时测量实现部件的最佳装配效果。
一种大型零部件最佳装配匹配方法

[发明专利]光盘装置,光记录方法,光记录程序及存储介质-CN03124362.2有效
发明人：铃木晴之 -专利权人：株式会社理光
申请日： 2003-02-21 - 公布日： 2003-10-22 - 主分类号： G11B7/004 文献下载
摘要：第一最佳记录功率获取部分，在光盘被驱动器旋转和光发射元件的输出功率改变时，对光盘上执行测试记录，以基于测试记录区域中的重现信号获取最佳记录功率。温度测量部分测量光发射元件附近的温度。存储器存储由第一最佳记录功率获取部分获取的最佳记录功率和在获取最佳记录功率时由温度测量部分测量的温度。与温度相关的记录功率获取部分参照记录在存储器中的最佳记录功率和与最佳记录功率相关联的温度，以根据温度测量部分在实际记录中测量的温度获取最佳记录功率。目标记录功率设置部分把与温度相关的记录功率获取部分获取的最佳记录功率设置为实际记录中的目标记录功率。
光盘装置记录方法程序存储介质

[发明专利]展成法渐开线齿廓测量仪测量点精确定位方法-CN200910303302.5无效
发明人：王立鼎;娄志峰;马勇;王晓东 -专利权人：大连理工大学
申请日： 2009-06-16 - 公布日： 2009-12-30 - 主分类号： G01M13/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种展成法渐开线齿廓测量仪测量点精确定位方法，属于测试计量技术精密齿轮测量领域。齿形角比较法是通过比较测头处于不同位置时测量的齿廓偏差曲线，齿形角最大的测量曲线对应的测量点位置即为最佳位置。测量点偏差试值补偿法是指通过分析测量点偏差对齿廓偏差测量的影响，对测量点位置偏差进行逐个试值，对测量点处于高度差已知的两个位置时测量的渐开线齿廓偏差进行补偿，使补偿后的齿廓偏差值相同的数值即为初始位置时测量点的偏移量上述测量点精确定位方法的精度高，可以广泛应用于其它高精度展成法渐开线测量仪中测量点位置的精确调整。
成法渐开线测量仪测量精确定位方法

[发明专利]确定最小侵入性手术中最佳牵引长度的系统和方法-CN200580025156.4无效
发明人： A·J·麦尔肯特;K·T·福雷 -专利权人：华沙整形外科股份有限公司
申请日： 2005-07-21 - 公布日： 2007-08-01 - 主分类号： A61B17/34 文献下载
摘要：一种测量装置(60，80)，它具有沿其延伸的标识(68，92)。测量装置标识(68，92)对应于参比装置的指示物。当参比装置位于入口(18)中时，测量装置(60，80)可在入口(18)进入位置附近定位。参比装置的指示物与患者中的目标位置有关，指示物沿标识(68，92)的位置显示了位于入口(18)中的牵引器的最佳长度。
确定最小侵入手术最佳牵引长度系统方法

[发明专利]一种以电性能为目标的双反射面天线副面位置调整方法-CN201610365843.0有效
发明人：项斌斌;王从思;连培园;张树新;保宏;王伟;王娜;陈卯蒸;许谦;刘志勇;王凯 -专利权人：中国科学院新疆天文台
申请日： 2016-05-27 - 公布日： 2018-11-27 - 主分类号： H01Q3/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种以电性能为目标的双反射面天线副面位置调整方法，该方法从天线电性能角度出发，确定了副反射面位置调整参数与远场电性能的关系式，并以副面调整后天线远场电性能最优为目标，建立了以副面调整参数为变量的优化模型，采用合适的优化算法，在可行域内获得了副面位置的最佳调整参数。依据该最佳调整参数驱动副面运动，实现副面位置偏差补偿。本发明主要用于解决现有双反射面天线因结构变形无法快速测量，进而难以快速确定副面最佳位置的问题，可用于指导大型双反射面天线进行副面最佳位置调整，以减小因天线结构变形引起的副面位置偏差影响，使其电性能达到最优
一种性能目标反射天线位置调整方法

[发明专利]一种测温取样的智能视觉定位方法-CN201811031681.2有效
发明人：庞殊杨;刘向东;贾鸿盛 -专利权人：中冶赛迪技术研究中心有限公司;中冶赛迪重庆信息技术有限公司
申请日： 2018-09-05 - 公布日： 2020-02-14 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本发明提供一种测温取样的智能视觉定位方法，包括：采集测量目标区域的图像信息；去除所述图像信息中的无效区域，获取感兴趣区域；对所述感兴趣区域进行预处理，获取顶渣位置信息；根据顶渣位置信息计算测温取样探头的可达区域，并将所述可达区域分割为若干子区域；计算每个子区域内的顶渣面积占比；根据所述顶渣面积占比，获取测温取样的最佳测量点；本发明中可以通过对图像的ROI区域进行图像处理与图像识别，提取出钢水或铁水表面顶渣的准确位置信息，并计算规划出测温取样探头运动的最佳轨迹与最佳测温取样点，能够明显提升自动化测温取样的准确性与可靠性，同时减少测温取样探头的移动，具有易于实现，计算量小，稳定性强的优点。
测温顶渣取样取样探头感兴趣区域图像信息智能视觉子区域预处理位置信息计算准确位置信息采集测量目标区域区域分割铁水表面图像处理图像识别稳定性强无效区域钢水测量点计算量取样点去除自动化图像移动规划

[发明专利]光刻装置和校准方法-CN200480041978.7有效
发明人： L·M·勒法斯尔;A·J·A·布鲁恩斯马;J·F·F·克林克哈默;G·J·尼梅杰;P·A·M·德克斯－罗格 -专利权人： ASML荷兰有限公司
申请日： 2004-12-28 - 公布日： 2007-02-21 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：然后通过高度传感器来测量高度剖线图。然后，将校准板旋转达大致180度并重复这两个操作。该程序产生了两个测量的高度剖线图，将它们进行比较以找到最佳拟合。用于找到最佳拟合的移位量被用来确定对准标记与高度传感器测量点的X，Y位置之间的距离。
光刻装置校准方法

[发明专利]一种确定光源最佳位置的装置、方法及光学系统-CN201010521515.8有效
发明人：周明杰;李爱丽 -专利权人：海洋王照明科技股份有限公司;深圳市海洋王照明工程有限公司
申请日： 2010-10-27 - 公布日： 2012-05-16 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明适用于光电检测领域，提供了一种确定光源最佳位置的装置、方法及光学系统，所述装置包括一套筒、用于将光源置于所述套筒的一端的固定座、用于将透镜置于所述套筒的另一端的压圈以及用于检测所述光源发出的光经所述透镜透射后的能量的光检测器，所述光源和透镜的光轴与所述套筒的中轴线重合；测量所述能量时，使所述光检测器的探头与所述套筒同轴，并同轴移动所述光源或/和所述透镜直至所述光检测器测量的能量最大，以确定光源和透镜之间的最佳距离，相应装置的结构简单，容易操作，该测试方法步骤少，能够快速、准确地确定光源的最佳位置。
一种确定光源最佳位置装置方法光学系统

[实用新型]中长导管最佳置管区域测量尺-CN202120997064.9有效
发明人：杨静 -专利权人：北京医院
申请日： 2021-05-11 - 公布日： 2022-01-04 - 主分类号： A61B5/107 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种中长导管最佳置管区域测量尺，包括七种测量尺和连接环，七种测量尺通过连接环可拆卸连接，第一测量尺、第二测量尺、第三测量尺、第四测量尺、第五测量尺、第六测量尺和第七测量尺的正面均设置有患者信息标识部通过设置的不同长度的第一测量尺、第二测量尺、第三测量尺、第四测量尺、第五测量尺、第六测量尺和第七测量尺，方便不同上臂长度的患者使用，通过测量提供中长导管最佳置管区域位置，减少置管区域不良引起的并发症，同时七种测量尺均为一次性材质，成本低，专人专用，减少交叉感染，通过设置的患者信息标识部，在七种测量尺的下方标出患者的床号、姓名、病历号，使用时方便医务人员填写患者信息，并留存。
中长导管最佳区域测量

[发明专利]一种测量光刻机垂向测量系统反射镜面形的方法-CN201410011377.7有效
发明人：孙朋 -专利权人：上海微电子装备有限公司
申请日： 2014-01-10 - 公布日： 2017-03-29 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明提出一种测量光刻机垂向测量系统反射镜面形的方法，其特征在于包括如下步骤1）上载基底至工件台，上载具有可确定最佳焦面标记的掩模至掩模台；2）保持工件台Y向位置不变，利用干涉仪控制工件台在Z向上步进n向同样步进一个步距，将掩模上所述标记曝光至基底上；3）n个高度曝光完毕后，工件台Y向步进一个步距，重复步骤2），直到曝光完整个基底，共曝光m组标记；4）将基底显影、烘干，再次上载到工件台上，读取n×m个标记的对准位置；5）根据所述对准位置计算标记的对准偏移量，根据对准偏移量与离焦量的关系计算得出每个Y向位置处yi的最佳焦点位置BF，则最佳焦点位置的变化量，其中，F‑T为工件台位置；6）根据m个位置yi和对应的镜面实际位置距离名义位置距离
一种测量光刻系统反射镜面形方法

[发明专利]一种小电流接地系统单相接地故障区段定位的方法-CN202010058290.0在审
发明人：肖冬萍;何滔;赵文晗 -专利权人：重庆大学
申请日： 2020-01-19 - 公布日： 2020-06-02 - 主分类号： G01R31/08 文献下载
摘要：本发明请求保护一种小电流接地系统单相接地故障区段定位的方法，属于供配电线路故障定位技术领域，具体包括以下步骤：建立配电线路空间电场计算模型，推导线下电场与线路电压的数学关系，确定沿线各测量点的最佳测量位置，使得最佳测量点处的垂直电场与线路零序电压成正比；获取沿线各测量点的故障电场，并对电场数据进行预处理，截取故障暂态数据并剔除其中的奇异值，形成新的时域电场波形；采用动态时间规整算法(DTW)计算每相邻测量点的时域电场波形相似度，通过确定电场波形相似度最低的测量点，实现故障区段定位。
一种电流接地系统单相接地故障区段定位方法

[发明专利]一种光刻机投影物镜像面在线测量标记及测量方法-CN201010131943.X有效
发明人：李术新;毛方林 -专利权人：上海微电子装备有限公司
申请日： 2010-03-25 - 公布日： 2011-09-28 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：一种光刻机投影物镜像面在线测量标记及利用该标记的测量方法。所述测量标记为连续型标尺型标记。利用此标记通过曝光方法，获取光刻机成像视场中各位置的最佳成像高度，最终拟合出光刻机投影物镜的像面、场曲、高阶场曲等参数。
一种光刻投影物镜在线测量标记测量方法

[发明专利]用于非接触测量表面的方法和设备-CN201180071004.3有效
发明人： F·拉古尔塔·伯特兰;A·皮恩托·维拉;R·阿蒂加斯·珀萨尔斯;C·卡德瓦尔·阿蒂古埃斯 -专利权人：加泰罗尼亚理工大学
申请日： 2011-05-20 - 公布日： 2017-06-13 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本公开涉及用于非接触测量表面的方法和设备。缝隙（m）被投射到物体表面上，其中基准点（X1）在水平轴线（x）中最接近焦点位置中的最佳位置（P）。物体（300）在竖直轴线（z）中的位置（Z1）被确定。在反射了具有基准点(X2,X3…Xn)的光之后，通过同时沿轴线（z）移动物体（300）以维持基准点(X2,X3…Xn)最接近焦点位置中的最佳位置（P），相应视场区域（F）的图像被获取。确定获取图像的位置(Z2,Z3…Zn)。对于每个图像确定沿水平轴线（x）的焦点位置中的最佳位置（P）。在焦点位置中的最佳位置（P）和基准点(X1,X2..Xn)之间的校正差分(Δ1,Δ2...Δn)被计算。
用于接触测量表面方法设备

[发明专利]一种接触线磨耗检测方法及系统-CN202011509398.3在审
发明人：杨杰;刘好文;黄森;肖发勇;曾俊清 -专利权人：成都弓网科技有限责任公司
申请日： 2020-12-18 - 公布日： 2021-01-29 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：分析，找到导线区域，并将图片像素坐标转换为3D坐标，得到接触线光切图片的3D数据；提取接触线3D图片和光切图片的3D数据，并等间距插值；基于等间距插值后的3D数据，计算距离接触线底面磨耗高度0.5mm位置处的接触线宽度；若宽度大于0.25倍导线直径，则磨耗值等于磨耗高度减去0.5mm；若宽度小于0.25倍导线直径，计算接触线的最佳匹配位置；并通过标准模型，得到接触线的最佳匹配位置中高度方向的最大差值，则磨耗值等于最佳匹配位置的最大差值本发明通过图像采集、检测，解决了刚性接触线、柔性接触线的磨耗测量问题，效率高，误差小，能进行多点连续测量。
一种接触磨耗检测方法系统