专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]非制冷红外焦平面阵列-CN201810969064.0有效
  • 谭果;李煜;翁博元;李中伟;马丽丽;郭健海 - 北方广微科技有限公司
  • 2018-08-23 - 2020-06-09 - G01J5/02
  • 本申请提供一种非制冷红外焦平面阵列,包括:探测阵列,包括阵列排列的单元电路,每一行所述单元电路至少与上一行和下一行中的一行所述单元电路连接;读出电路,用于读取所述单元电路的数据;其中,每列所述单元电路中的至少一半行数的所述单元电路连接到第一读出电路,其余行数的所述单元电路连接到第二读出电路;当读取所述单元电路的数据时,分别连接到所述第一读出电路的其中一行所述单元电路与连接到所述第二读出电路的其中一行所述单元电路的数据被同时读取本申请提供的非制冷红外焦平面阵列,巧妙的设计了选择开关,保证两行单元电路可以同时被选中并且独立工作,不互相干扰,能够同时读取两行单元电路的数据,将积分时间和行时间加倍,显著降低探测的NETD,
  • 制冷红外平面阵列
  • [实用新型]非制冷红外探测的自热补偿电路及非制冷红外探测-CN202022032162.7有效
  • 魏斌;翟光杰;潘辉;武佩 - 北京北方高业科技有限公司
  • 2020-09-16 - 2021-04-20 - G01D5/14
  • 本公开涉及一种非制冷红外探测的自热补偿电路及非制冷红外探测,自热补偿电路包括偏压电路,第一偏压电路根据第一设定电源信号生成第一偏压信号,第二偏压电路包括偏压控制子电路和多个选通驱动子电路,偏压控制子电路根据行控制信号控制选通驱动子电路分别产生对应的第二偏压信号;列控制电路,包括多个列控制子电路,列控制子电路与选通驱动子电路对应设置;列控制子电路包括有效和盲,镜像与有效在相同环境温度下的温度漂移量相同。通过本公开的技术方案,有效补偿了镜像与有效元由于自热效应而发生的阻值变化,提高了偏压电路的驱动能力。
  • 制冷红外探测器补偿电路
  • [发明专利]一种红外探测及其制备方法-CN201910812542.1有效
  • 康晓旭 - 上海集成电路研发中心有限公司
  • 2019-08-30 - 2021-04-30 - G01J5/00
  • 一种红外探测及其制备方法,该红外探测包括由阵列组合而成的传感单元,包括微桥谐振腔、位于每个微桥谐振腔下方的反射层模块、以及微桥支撑和电连接孔模块;其中,微桥支撑和电连接孔模块用于实现所在电阻电连接的接触区域;阵列中的每个反射层模块连成一起,微桥支撑和电连接孔模块与所述反射层模块是隔开的;根据共享模式,阵列中相邻行且同一列或相邻列且相邻行的共享一个微桥支撑和电连接孔模块,其中,交叉共享模式为相邻两行的电阻交叉共享一个所述微桥支撑和电连接孔模块,平行共享模式为相邻两行的电阻平行共享一个所述微桥支撑和电连接孔模块;相邻行且同一列的电阻共享端接电源端或接地端,以实现像阵列输出数据的读取。
  • 一种红外探测器及其制备方法
  • [实用新型]一种可测温电子设备-CN202020470133.6有效
  • 黄立;高健飞;彭朵清;文逢员;孙阳;段宗胜 - 武汉高芯科技有限公司
  • 2020-04-02 - 2020-12-29 - G01J5/22
  • 本实用新型涉及一种可测温电子设备,包括机体,机体内配置有红外测温模块,红外测温模块包括红外光学镜头、红外探测和A/D电路,红外探测包括、衬底以及设于衬底上的信号读出电路,包括朝向红外光学镜头的红外吸收桥面以及被支撑于衬底上的桥腿,其中,红外吸收桥面为红外热敏材料层,信号读出电路与A/D电路连接,A/D电路与机体的处理芯片电连接。本实用新型提供的可测温电子设备,采用红外光学镜头和式红外探测组合,并在电子设备内集成相应的A/D电路,在适配现有电子设备体积的情况下以及满足测温精度和测温速度的前提下,在电子设备中集成测温功能,易于便携式非接触测温
  • 一种测温电子设备
  • [发明专利]一种成像光学系统-CN201711251541.1有效
  • 何锋赟;赵楠;王延杰 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2017-12-01 - 2019-10-15 - G02B17/08
  • 本发明涉及光学成像技术领域,公开一种成像光学系统,包括第一离轴反射镜、第一透镜组、DMD微镜阵列、第二离轴反射镜、成像镜组和探测,目标物体发出的光经所述第一离轴反射镜会聚,进入所述第一透镜组,成像于所述DMD微镜阵列上,成像光束由所述DMD微镜阵列反射后再次经过所述第一透镜组,然后经所述第二离轴反射镜准直后,进入所述成像镜组,然后成像于所述探测上。上述系统利用DMD作中间面及部分对称的光学结构设计,巧妙地实现了DMD微镜阵列与探测在空间上一一对应的关系,从而达到对成像系统入场光线的处理。利用DMD器件与探测的对应成像关系,可以调整探测靶面的灰度,从而扩大光电成像系统的动态范围。
  • 一种成像光学系统

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