专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]剥离-CN201980094569.X在审
  • 渊上真一郎;鬼头佑典;小池至人 - 松下知识产权经营株式会社
  • 2019-03-25 - 2021-11-05 - G03F7/42
  • 因此,为了在元件形成时不发生失败,光致的烧成温度上升,光致变得难以剥离。另外,由于使用大量的剥离,因此为了降低其成本,需要再生率高的剥离。提供一种剥离,其能够使经硬烘焙的剥离,还能够进行蒸馏再生,所述剥离的特征在于,包含2级环状胺化合物和3级多胺化合物,且包含0.0001~0.05质量%的金属表面保护
  • 抗蚀剂剥离
  • [发明专利]剥离-CN201980094538.4在审
  • 渊上真一郎;鬼头佑典;小池至人 - 松下知识产权经营株式会社
  • 2019-03-25 - 2021-11-05 - G03F7/42
  • 因此,为了在元件形成时不发生失败,光致的烧成温度上升,光致变得难以剥离。另外,由于使用大量的剥离,因此为了降低其成本,需要再生率高的剥离。提供一种剥离,其能够将经硬烘焙的剥离,还能够进行蒸馏再生,所述剥离的特征在于,包含:2级环状胺化合物;极性溶剂,所述极性溶剂包含作为直链酰胺的选自N‑甲基甲酰胺、N,N‑二甲基甲酰胺、N,N‑二乙基甲酰胺、N,N‑二甲基乙酰胺、N,N‑二乙基乙酰胺中的至少一种、2‑吡咯烷酮及水;以及0.0001~0.01质量%的金属表面保护,前述直链酰胺的含量比前述2‑吡咯烷酮的含量多。
  • 抗蚀剂剥离
  • [发明专利]剥离-CN201980094596.7在审
  • 渊上真一郎;鬼头佑典 - 松下知识产权经营株式会社
  • 2019-03-25 - 2021-11-05 - G03F7/42
  • 因此,为了在元件形成时不发生失败,光致的烧成温度上升,光致变得难以剥离。另外,由于使用大量的剥离,因此为了降低其成本,需要再生率高的剥离。提供一种剥离,其能够将经硬烘焙的剥离,还能够进行蒸馏再生,所述剥离的特征在于,包含:3级多胺化合物;极性溶剂,所述极性溶剂包含作为直链酰胺的选自N‑甲基甲酰胺、N,N‑二甲基甲酰胺、N,N‑二乙基甲酰胺、N,N‑二甲基乙酰胺、N,N‑二乙基乙酰胺中的至少一种、2‑吡咯烷酮及水;以及0.0001~0.01质量%的金属表面保护,前述直链酰胺的含量比前述2‑吡咯烷酮的含量多。
  • 抗蚀剂剥离
  • [发明专利]剥离-CN201680033788.3有效
  • 渊上真一郎;鬼头佑典;铃木靖纪 - 松下知识产权经营株式会社
  • 2016-09-30 - 2019-10-18 - G03F7/42
  • 半导体装置等的制造工艺中,一直以来在高温度下进行固化,避免了的固化不良。因此,需要比以往剥离力强的剥离。一种剥离,其特征在于,包含:仲胺;作为极性溶剂的、丙二醇(PG)、和N,N‑二甲基甲酰胺(DMF)、和2‑吡咯烷酮(2P)或1‑甲基‑2‑吡咯烷酮(NMP)中的至少一者、和水;以及肼,前述水为10质量%以上且低于31质量%,该剥离能够剥离经高温烘焙的,也不会发生膜表面、截面的腐蚀。
  • 抗蚀剂剥离
  • [发明专利]剥离-CN201680043525.0有效
  • 渊上真一郎;鬼头佑典;铃木靖纪 - 松下知识产权经营株式会社
  • 2016-11-29 - 2019-10-18 - G03F7/42
  • 在半导体装置等的制造工艺中,避免在比以往高的温度下进行固化的的固化不良。因此,需要比以往剥离力强的剥离。一种剥离,其能够剥离经高温烘烤的膜、也不引起对金属膜表面、截面的腐蚀,该剥离为:作为胺类,包含伯胺或仲胺中的至少一者;作为极性溶剂,包含2‑吡咯烷酮(2P)和1‑甲基‑2‑吡咯烷酮(NMP)中的至少一者、丙二醇(PG)、及水;作为添加,包含肼,所述胺类多于3质量%且为40质量%以下,所述丙二醇多于10质量%且不足40质量%,所述水多于5.0质量%且不足30.0质量%。
  • 抗蚀剂剥离
  • [发明专利]剥离-CN201680034620.4有效
  • 渊上真一郎;鬼头佑典 - 松下知识产权经营株式会社
  • 2016-09-30 - 2019-03-12 - G03F7/42
  • 半导体装置等的制造工艺中,一直以来在高温度下进行固化,避免了的固化不良。因此,需要比以往剥离力强的剥离。一种剥离,其特征在于,包含:仲胺;作为极性溶剂包含1,3‑二甲基‑2‑咪唑啉酮(DMI)和水;作为添加的肼,前述水为10.0质量%以上且低于31.0质量%,能够剥离经高温烘焙的,也不会发生膜表面
  • 抗蚀剂剥离
  • [发明专利]采用纳米过滤的剥离连续使用系统-CN200880020488.7无效
  • 住田正直;林秀生 - 东亚合成株式会社
  • 2008-06-27 - 2010-03-31 - H01L21/027
  • 本发明要解决的课题是提供:不进行剥离交换、即使进行长时间剥离,用于剥离剥离中的成分的浓度处于一定浓度范围内的系统。采用剥离进行正型剥离时,剥离中溶解的成分,采用特定的陶瓷过滤器(5)进行错流过滤使其减少。而且,剥离工序生成的含成分的剥离,在过滤工序进行处理,副产的成分浓度被浓缩的浓缩剥离适当排至体系外,向被除去成分的处理剥离中适当添加新剥离后的剥离,再度于剥离工序中使用,从而完成剥离系统
  • 采用纳米过滤抗蚀剂剥离连续使用系统

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