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- [发明专利]缺陷识别方法和装置-CN202210355821.1在审
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韩赞东;欧正宇;张瑛
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清华大学;仓信无损检测设备苏州有限公司
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2022-04-06
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2022-07-05
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G01N27/83
- 本申请涉及一种缺陷识别方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括:计算设备接收漏磁传感器发送的待测试件的漏磁信号,其中,漏磁信号是待测试件的缺陷产生的漏磁场所对应的信号,并且,计算设备接收磁扰动传感器发送的待测试件的磁扰动信号,其中,磁扰动信号是待测试件的缺陷产生的扰动磁场所对应的信号,进而计算设备根据漏磁信号,确定待测试件是否存在缺陷,若待测试件存在缺陷,则计算设备根据磁扰动信号确定待测试件的缺陷类型,其中,缺陷类型包括表面缺陷和背面缺陷。采用本方法能够识别待测试件是否存在缺陷,并且确定待测试件的缺陷类型。
- 缺陷识别方法装置
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