专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]磁记录介质基板用玻璃、磁记录介质基板、磁记录介质和它们的制造方法-CN200980109840.9有效
  • 蜂谷洋一;越阪部基延 - HOYA株式会社
  • 2009-03-18 - 2011-02-16 - C03C3/083
  •  0~1.2%,且Sb含量为0~0.1%、不含有As和F;所述玻璃II以氧化为基准进行换算,以摩尔%表示,含有SiO2 60~75%、Al2O3 1~15%、Li2O 0.1~20%、Na2O 0.1~15%、K2O 0~5%(其中,Li2O、Na2O和K2O的含量为25%以下),基于玻璃成分总量,进一步添加有0.01~0.7质量%的Sn氧化、0~1.4质量%的Ce氧化,并且Sb氧化的含量为0~0.1质量%,且不含有As和F;所述玻璃III以氧化为基准进行换算,以摩尔%表示,含有SiO2 60~75%、Al2O3 1~15%、Li2O 0.1~20%、Na2O 0.1~15%、K2O 0~5%(其中,Li2O、Na2O和K2O的含量为25%以下),所述玻璃III还含有Sn氧化和Ce氧化,基于玻璃成分总量,Sn氧化和Ce氧化含量为0.1~3.5质量%,Sn氧化的含量相对于Sn氧化和Ce氧化含量之比(Sn氧化的含量/(Sn氧化的含量+Ce氧化的含量))为0.01~0.99,Sb氧化的含量为0~0.1%,并且不含有As和F。
  • 记录介质基板用玻璃它们制造方法
  • [发明专利]锂钴氧化中二价钴含量的测定方法-CN200810216570.9无效
  • 刘玉梅 - 深圳市比克电池有限公司
  • 2008-09-27 - 2010-03-31 - G01N21/79
  • 本发明属于金属离子定量检测领域中的一种锂钴氧化中二价钴含量的测定方法,其特征在于分别测定锂钴氧化钴含量和三价钴离子含量,然后用钴含量减去三价钴离子含量得到锂钴氧化中二价钴含量;其中,锂钴氧化钴含量的测定方法采用乙胺四乙酸(EDTA)络合滴定容量法、碘量法或铁氰化钾氧化还原滴定法;锂钴氧化中三价钴离子含量的测定方法采用硫酸亚铁铵氧化还原滴定法。本发明弥补了现有技术没有锂钴氧化中二价钴含量的测定方法的不足,提供了一种操作简单,终点易判断,测定结果准确的锂钴氧化中二价钴含量的测定方法,对判断锂钴氧化产品的纯度提供了有力依据,保证了锂钴氧化产品具有良好的电化学性能
  • 氧化物二价含量测定方法

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