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- [实用新型]晶圆测试装置-CN201220193369.5有效
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王钊;田文博;尹航
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无锡中星微电子有限公司
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2012-04-28
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2012-12-19
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G01R1/073
- 本实用新型公开了一种晶圆测试装置,所述晶圆测试装置包括一套复合探针卡,所述复合探针卡包括:至少一组测量探针卡,所述测量探针卡中包括用于测量对应晶片的电信号的测量探针,至少一组熔断探针卡,所述熔断探针卡中包括用于对对应晶片进行修调或者编程的熔断探针这样就可以在晶圆测试时,使同一晶片的测量过程和熔断过程分开进行,提高了测量精度,而且由于不同晶片的测量过程和熔断过程可以同时进行,从而未过多延长测试机台的占用时间,而测试成本正比于测试时间,所述本实用新型在提高测量精确度的同时
- 测试装置
- [实用新型]三相SOC智能电表-CN201020523223.3有效
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任智仁;周宣;唐振中;张小景
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珠海中慧微电子有限公司
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2010-09-08
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2011-12-14
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G01R21/133
- 本实用新型公开一种三相SOC智能电表,包括MCF51EM256芯片及与该芯片配合的电池供电电路、电源管理单元、电流电压模拟信号采样回路、通讯电路、电池及掉电检测电路、外部数据存储器、晶振电路、显示电路、MCF51EM256芯片,通讯电路实现用户与电表以及电表内部芯片间各种数据的交换,电池及掉电检测电路检测电池电压并将检测信号提供给MCF51EM256芯片供模式选择,外部数据存储器用于存储电能计量数据,晶振电路为MCF51EM256芯片提供晶振信号,显示电路、按键电路、报警电路及输入输出电路用于实现电表信息的输入输出功能。
- 三相soc智能电表
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