专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种紫外CCD花样的平矫正方法-CN201410397693.2有效
  • 吴潮;魏建彦;曹莉;裘予雷 - 中国科学院国家天文台
  • 2014-08-13 - 2017-06-06 - G06T5/50
  • 一种紫外CCD花样的平矫正方法(1)至少采集5‑10窄波平图像;(2)对采集的窄波平图像进行处理,去除图像中的本底信号,并将图像合并为一图像;(3)从平图像中进行成份分离,分离出平图像的大尺度成份和小尺度成份;(4)根据上述确定的大尺度成份及小尺度成份,合成不同比率R下的修正平图像;(5)利用上述修正平图像对任选一真实的观测图像进行定标处理,根据定标后得到的观测图像信号确定最优的修正平图像及对应的比率R;(6)利用上述确定的最优修正平图像对紫外CCD相机的观测图像进行平定标处理,完成其花样的矫正处理。
  • 一种紫外ccd花样矫正方法
  • [发明专利]图像配准-CN201480018301.5有效
  • S·卡布斯 - 皇家飞利浦有限公司
  • 2014-03-28 - 2019-11-01 - G06T5/00
  • 一种方法包括:基于强度映射来增大至少两图像的第一子范围(410、510)的像素强度值的动态范围,由此创建至少两经修改的图像;确定所述至少两经修改的图像之间的变形向量,并且基于所述变形向量来对所述至少两图像进行配准所述处理器运行所述至少一个图像配准指令,所述至少一个图像配准指令使所述处理器:基于强度映射来增大至少两图像的第一子范围的像素强度值的动态范围,由此创建至少两经修改的图像;确定所述两经修改的图像之间的变形向量,并且基于所述变形向量来对所述至少两图像进行配准。
  • 图像
  • [发明专利]一种测量粒子粒径的方法-CN200710040310.6无效
  • 吴志军;田志松;黄成杰;李治龙;李理光 - 同济大学
  • 2007-04-29 - 2008-10-29 - G01T5/00
  • 利用双目视觉匹配与粒子图像灰度差异测量粒径的方法,属于粒径光学测量技术领域,本方法根据不同前向角散射具有光强差异的特点,利用配备双相机的粒子图像速度仪成像系统获得流经单次曝光形成的两具有灰度差异的粒子图像,经图像处理技术预处理后,根据双目视觉匹配原理,实现同一粒子在两粒子图像上对应两粒子像点的配对,由两粒子像点的灰度值总和经粒径求解公式得到粒子粒径大小,从而获得整个流的粒度信息,本方法对激光光强和稳定性要求降低
  • 一种测量粒子粒径方法
  • [发明专利]一种基于超像素的水平集轮廓跟踪方法-CN201710145524.3有效
  • 周雪;邹见效;徐红兵;冯媛媛 - 电子科技大学
  • 2017-03-13 - 2019-05-28 - G06T7/207
  • 本发明公开了一种基于超像素的水平集轮廓跟踪方法,以超像素作为图像处理的基本单元,计算每个超像素内的局部流方向直方图得到每个超像素的主运动方向和值,再根据运动目标的在方向上的一致性和较大幅值的特点,统计所有超像素的全局流方向直方图,通过选取大部分能量集中的超像素形成Mask模板,利用该模板区分光流灰度图中的目标和背景区域,再通过灰度分割阈值动态调整流灰度值,最后基于改变的流灰度图引导水平集轮廓进化这样将流特征引入水平集轮廓跟踪框架中,提高跟踪的准确性和鲁棒性,同时提高了抗噪性和抗干扰性,且简单有效,具有很好的应用前景。
  • 一种基于像素光流场水平轮廓跟踪方法
  • [发明专利]联合仿真方法、装置、电子设备及存储介质-CN202210297834.8有效
  • 尹雪彤;李烨;郑海荣 - 中国科学院深圳先进技术研究院
  • 2022-03-25 - 2022-07-12 - G06F30/20
  • 本发明实施例公开了一种匀联合仿真方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:获取仿真软件基于初始配置数据执行电磁仿真操作生成的初始仿真数据,对初始仿真数据进行匀分析得到目标相数据,将目标相数据发送至仿真软件;获取仿真软件确定的目标相数据对应的功率损耗密度分布数据,确定功率损耗密度分布数据对应的特定吸收率数据;如果特定吸收率数据大于或等于预设阈值,以目标相数据为起点,基于预设迭代间隔生成当前相数据,控制仿真软件基于当前相数据再次执行电磁仿真操作以得到当前的初始仿真数据,返回对初始仿真数据进行匀分析的步骤。解决了现有方法存在无法在保证射频安全的前提下实现射频匀仿真自动化的问题。
  • 联合仿真方法装置电子设备存储介质
  • [发明专利]一种高速光学三维切片显微系统及方法-CN202010397633.6有效
  • 雷铭;千佳 - 西安交通大学
  • 2020-05-12 - 2023-08-01 - G02B21/00
  • 本发明涉及一种高速光学三维切片显微系统及方法,针对目前结构光照明显微系统环境适应性差、图像质量低、有效光能利用率低的技术问题,本发明只需要采集一副初相位任意的带条纹原始图像和一不带条纹的普通宽图像运算就能计算出某一纵向位置z处的宽切片图,完全避免了条纹相移控制,因此完全不存在相移误差导致的残余噪声影响切片图像质量。由于不需要相移控制,本发明可以使用朗奇光栅或正弦光栅替代数字微镜器件DMD或者液晶空间调制器作为结构产生器。系统透过率提升一个数量级且硬件成本大大降低。
  • 一种高速光学三维切片显微系统方法

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