专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]工件自动对准装置-CN201120255639.6有效
  • 王泽;陈浩权;王万雷 - 大连民族学院
  • 2011-07-19 - 2012-03-14 - B65G47/24
  • 本实用新型公开了一种工件自动对准装置,其特征在于包括:导轨导轮部分包括:导向导轮和主架;工件纵向推动部分包括:连接杆和连接杆复位弹簧;所述导轮固定在推动导轮架上,推动导轮架固定在主架上,导向导轮固定在主架的侧面该装置省去了操作工人的,大量的将工件推入轨道后发现未对准又拉出重新摆正推入的重复性操作,并且周向导动部分可减小工件在未加此装置时摩擦轨道壁所带来的摩擦力,进而提高生产线工作效率,减少工件加工所需要的时间
  • 工件自动对准装置
  • [发明专利]基于相对位置测量的对准系统、双工件台系统及测量系统-CN201510551168.6有效
  • 李运峰 - 上海微电子装备(集团)股份有限公司
  • 2015-08-31 - 2018-03-30 - G03F9/00
  • 本发明提供了一种基于相对位置测量的对准系统、双工件台系统及测量系统,其中,基于相对位置测量的对准系统包括主框架、对准传感器、光强信号采集处理模块、反射镜、工件台、位于工件台上的硅片上的对准标记、位置采集模块、及对准操作与管理模块。位置采集模块同时采集从工件台及反射镜获取的位置数据,而所述反射镜位于所述对准传感器上,即,同时采集所述对准传感器与所述工件台的位置数据,通过处理可得到所述工件台相对于所述对准传感器无振动时的相对位置。即,可得到所述对准传感器相对振幅为零时对准标记的对准位置,从而避免了所述对准传感器的震动的影响,提高了对准重复精度。
  • 基于相对位置测量对准系统双工
  • [实用新型]刚度检测设备及其安装组件-CN202222409920.1有效
  • 杨鹏;万伟 - 上海创率复合材料有限公司
  • 2022-09-09 - 2023-03-28 - G01N3/08
  • 本实用新型公开刚度检测设备及其安装组件,刚度检测设备具有可移动的一压头,安装组件包括一安装座和一对准座。安装座内形成一安装空间,用于容纳待测工件,所述安装座形成与所述安装空间连通的安装口。对准座与安装座可拆卸相连,对准座内形成一对准通道,对准通道通过安装口与安装空间连通,并与待测工件对准,且对准通道适于压头移动穿入,以使所述压头可与所述待测工件对准并接触,以对所述待测工件对准施压。本实用新型公开的刚度检测设备及其安装组件,使得待测工件检测时易于拆装,且能保证检测时,压头能够对待测工件对准施压,有利于压头施压过程的顺利进行。
  • 刚度检测设备及其安装组件
  • [发明专利]具有位置对准功能的工件传输装置-CN201310204167.5有效
  • 周启舟;韩微微;李恺;唐亮 - 北京中电科电子装备有限公司
  • 2013-05-28 - 2017-07-25 - H01L21/677
  • 本发明提供一种具有位置对准功能的工件传输装置,涉及半导体加工制造技术领域。该工件传输装置,用于连接工件提供装置和工件处理装置。其中,所述工件传输装置包括设置在所述工件提供装置和工件处理装置之间的支撑组件;设置在所述支撑组件上,用于接受工件提供装置提供的工件,并将所述工件传送到所述工件处理装置的传动组件;设置在所述支撑组件上、用于为所述传动组件提供传送动力的动力组件;设置在所述传动组件侧,用于对所述工件进行位置对准处理的位置对准组件。本发明的技术方案对工件采用传送的方式,另外在传送过程中还可以对工件进行位置对准处理,能够减少工件传递和位置对准处理的时间消耗,提高工件处理效率。
  • 具有位置对准功能工件传输装置
  • [发明专利]曝光装置-CN201110130113.X无效
  • 榎本芳幸;皆川弘英 - 株式会社拓普康
  • 2011-05-19 - 2011-12-07 - G03F7/20
  • 本发明提供一种曝光装置,结构简单且可以获得极高的对准精度。该曝光装置是一种使既定的掩模(18a)图形曝光于目标工件(23)上的曝光装置(10)。具备:对准照明组件(30),能够将采用了曝光光的对准光照射在掩模(18a)的掩模侧对准标记(51)上;对准照相机组件(40),用来使从对准照明组件(30)出射的、经过掩模(18a)以及投影透镜(20)的对准光入射对准照相机组件(40)具有:成像光学系统,将掩模侧对准标记像(53)形成在虚设工件区域(42a),该虚设工件区域(42a)相对于被入射的对准光照射下的掩模(18a),位于不同于目标工件(23)的位置而与该目标工件(23)在光学上的位置关系同等;摄像光学系统,目标工件(23)和虚设工件区域相对于摄像装置的光学上位置关系同等。
  • 曝光装置
  • [发明专利]曝光装置-CN201480046673.9有效
  • 渡边智也;松冈尚弥;山根茂树 - 株式会社村田制作所
  • 2014-08-18 - 2017-10-10 - G03F9/00
  • 提供一种曝光装置,即便是设于工件的背面的对准标记,也能可靠地使其与掩模对准标记对位,并能高精度地将掩模图案曝光于工件上。本发明的曝光装置包括掩模(13),该掩模(13)设有掩模对准标记(131);掩模保持件(12),该掩模保持件(12)对掩模(13)进行保持;平台(15),该平台(15)对工件(14)进行装设并加以固定,该工件(14)在面(145)上具有工件对准标记(141),该面(145)是设有掩模对准标记(131)的面(135)所面对的面的相反一侧的面。平台(15)包括光学零件,当对装设的工件(14)的工件对准标记(141)进行摄像时,该光学零件使光在内部奇数次反射,以在比工件(14)的尺寸靠外侧的位置形成像,平台驱动装置根据通过该光学零件形成的像将掩模对准标记(131)和工件对准标记(141)对位。
  • 曝光装置
  • [发明专利]对准的方法、处理工具以及用于晶片级对准的方法-CN201910433405.7有效
  • 王景宏;刘丙寅;林勇志;杜友伦 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2019-05-23 - 2022-01-04 - H01L21/02
  • 本申请的各种实施例指向一种以低对准误差及高生产量进行工件对准的方法。在一些实施例中,所述方法包括:基于来自成像装置的反馈将第一工件上的第一对准标记对准所述成像装置的视场(FOV),并进一步基于来自所述成像装置的反馈将第二工件上的第二对准标记对准所述第一对准标记。在所述第一对准标记的所述对准期间,所述第二工件处于所述视场外。所述第二对准标记的所述对准是在不将所述第一对准标记移动出所述视场的情况下执行。此外,在所述第二对准标记的所述对准期间,所述成像装置观察所述第二对准标记,且进一步穿过所述第二工件观察所述第一对准标记。所述成像装置可例如利用反射红外辐射执行成像。
  • 对准方法处理工具以及用于晶片

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