专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]为低VCC读取提升位线电压的方法及装置-CN01816763.2有效
  • M·A·万布斯科;陈伯苓 - 先进微装置公司
  • 2001-12-12 - 2004-01-14 - G11C16/24
  • 本发明揭示一种存储器装置,该存储器装置具有与节点(A)电连通的存储单元(202),而当应用一第一电压于该存储单元(202)时,可操作以指示于读取操作期间与储存于存储单元(202)的数据相关联的二进制值。该存储器件包括连接于节点和供应电压之间的电压升压器(220),该供应电压于读取操作期间,为节点提供提升电压,其中该提升电压大于该供应电压。本发明也揭示一种用于读取储存于存储单元(202)中数据的方法(300),包括施加(306)升压电压于与该存储单元(202)电连接的节点(A),其中该提升电压大于该供应电压,以及感测(310)与存储单元(202)相关联的电流,以为了指示于读取操作期间,与储存于存储单元(202)的数据关联的二进制值。
  • vcc读取提升电压方法装置
  • [发明专利]闪速存储器件及其操作方法-CN200610163536.0无效
  • 李真烨 - 三星电子株式会社
  • 2006-11-29 - 2008-04-23 - G11C16/02
  • 一种存储单元阵列包括由在串选择晶体管和接地选择晶体管之间串联连接的多个存储单元组成的与非串。在读取操作中,串选择晶体管基于串选择电压,控制与非串与位线之间的电连接。行选择电路通过串选择线、接地选择线、以及多个字线与存储单元阵列相连。在读取操作中,行选择电路基于行地址信号和读取电压,在多个字线中选择与读取存储单元相连的字线。电压产生电路产生串选择电压和读取电压。
  • 存储器件及其操作方法
  • [发明专利]存储装置-CN201510750357.6有效
  • 李智 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2015-11-06 - 2019-04-26 - G11C7/10
  • 一种存储装置,包括:位线、参考电路、参考位线、充电单元、双端灵敏放大器和呈阵列排布的存储单元。本发明在存储装置中设置负载电容大于任一存储单元电容负载的参考电路。在读取操作时,与待读取存储单元连接的位线以及参考位线均被充电单元充电至第一预设电压。待读取存储单元在位线充电至第一预设电压后,根据其存储的数据下拉位线的电压;参考电路在满足下拉条件时下拉参考位线上的电压。双端灵敏放大器根据与待读取存储单元连接的位线上电压和参考位线上电压的相对大小输出数据信号。本发明中的双端灵敏放大器直接比较电压变化的大小实现数据的读取,无需在布局中设置电流源以提供参考电流,得以简化布局设计。
  • 存储装置
  • [发明专利]电脑装置及其省电方法-CN201310149571.7有效
  • 殷志杰 - 宏碁股份有限公司
  • 2013-04-26 - 2017-12-22 - G06F1/32
  • 一种电脑装置及其省电方法,此电脑装置包括存储单元、嵌入式控制器,以及开关单元存储单元存储固件程序代码。嵌入式控制器耦接存储单元。开关单元的输入端接收第二电源,开关单元的输出端耦接存储单元的电源供应端,且开关单元的控制端耦接嵌入式控制器。当嵌入式控制器接收第一电源时,嵌入式控制器在程序代码读取期间控制开关单元将第二电源从其输入端导引到其输出端,从而使嵌入式控制器从存储单元读取固件程序代码,且在经过程序代码读取期间之后,停止将第二电源输出至存储单元
  • 电脑装置及其方法
  • [发明专利]存储器的检测方法和存储器的检测装置-CN202110785259.1在审
  • 刘星;骆晓东 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2021-07-12 - 2023-01-17 - G11C7/12
  • 本发明实施例提供一种存储器的检测方法及其检测装置,检测方法包括:存储器包括第一存储单元、第二存储单元、位线、互补位线以及字线;存储器还包括多个感测放大器,每一感测放大器与一位线以及一互补位线电耦合;向每一第一存储单元和第二存储单元写入存储数据,其中,每条位线连接的第一存储单元与其对应的互补位线连接的第二存储单元内的存储数据相同;读取操作包括:依次选通所有字线进行读取,以通过位线、互补位线以及感测放大器读取每一第一存储单元和第二存储单元内的真实数据;基于真实数据与存储数据的差异,获取测试结果;基于测试结果获取位线或互补位线与字线的漏电位置。
  • 存储器检测方法装置
  • [发明专利]半导体结构的测试方法及测试装置-CN202210152844.2在审
  • 李想;顾彦辉 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2022-02-18 - 2022-05-17 - G11C29/12
  • 所述半导体结构的测试方法包括如下步骤:提供存储阵列;选定目标存储单元,并对所述目标存储单元执行测试操作,所述测试操作包括如下步骤:向与所述目标存储单元连接的所述位线施加第一电压;选定与所述目标存储单元相邻的至少一存储单元作为干扰存储单元,并向与所述干扰存储单元连接的所述位线施加第二电压,且所述第二电压与所述第一电压之间的差值的绝对值大于1V;读取所述目标存储单元;判断所述目标存储单元读取值是否为第一写入值,若否,则确认所述目标存储单元漏电本公开减少了存储单元漏电检测过程中的漏检问题。
  • 半导体结构测试方法装置
  • [发明专利]一种检测存储单元漏电流的方法及系统-CN201110391548.X有效
  • 龙爽;陈岚;陈巍巍;杨诗洋 - 中国科学院微电子研究所
  • 2011-11-30 - 2012-04-25 - G11C29/02
  • 一种检测存储单元漏电流的方法,应用于至少包括依次相邻的且位于存储列阵同一列的第一、二、第三存储单元,上述存储单元共用同一组字线;包括:同时选通上述存储单元之间的位线以及第一存储单元的源极对应的位线;测试电路测量得到第二电压值;通过仿真获得所述第一、第二存储单元的沟道电阻;通过仿真获得读取位线的电平对应的第一电压值;通过第一电压值与第二电压值的电压差以及第二存储单元的沟道电阻计算得到流经所述第二存储单元的漏电流即第一存储单元读取时的漏电流本发明提供一种检测存储单元漏电流的方法和系统,可以实现存储单元漏电流的有效检测。
  • 一种检测存储单元漏电方法系统
  • [发明专利]绑定单元声明文件-CN200980119991.2有效
  • 高岛芳和;服部忍;萨拉瓦纳·帕拉胡·安巴纳撒 - 索尼公司;索尼美国公司;索尼电影娱乐公司
  • 2009-03-31 - 2011-05-18 - G06F9/06
  • 一种信息处理设备,包括:存储单元,该存储单元用于存储包括可读取内容的数据文件和包括与该数据文件相对应的控制信息的控制文件;和数据处理单元,该数据处理单元被配置用于使用存储了文件名转换信息的文件名转换表来将被存储存储单元中的文件的文件名转换成虚拟文件系统(VFS)名称,来构建包括光盘的存储数据和存储单元存储数据的VFS,以及来执行数据读取处理;其中,该数据处理单元:比较被存储在控制文件中的控制信息和被存储存储单元中的数据,并且读取和/或更新文件名转换表来使被存储在控制文件中的控制信息和存储单元中所存储的数据一致
  • 绑定单元声明文件

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