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[发明专利]失效检测方法以及失效检测装置-CN200910194791.5有效
发明人：龚斌;郭强 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2009-08-28 - 公布日： 2011-04-06 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：一种失效检测方法以及失效检测装置，用于检测两个待测导电体之间的桥接缺陷，所述方法包括：在两个待测导电体上各设置一个输出端，且所述两个输出端电势位相等；向任一所述待测导电体上沿预定路径排列的检测点依次输入恒定的检测电流
失效检测方法以及装置

[发明专利]车辆失效分析系统、车辆失效分析设备及车辆失效分析方法-CN200910135295.2有效
发明人：石川智康 -专利权人：丰田自动车株式会社
申请日： 2009-05-20 - 公布日： 2009-11-25 - 主分类号： G01M17/00 文献下载
摘要：本发明涉及车辆失效分析系统、车辆失效分析设备及车辆失效分析方法。一种车辆失效分析系统(1)，用于装有多个控制系统的车辆，每个控制系统由一个或多个部件形成，所述车辆失效分析系统包括：故障系统识别单元(2d)，其从多个控制系统中识别故障控制系统；故障部件识别单元(3b)
车辆失效分析系统设备方法

[发明专利]材料失效分析方法-CN201610398677.4有效
发明人：刘鹏鹏;王彩梅;臧雨晨 -专利权人：上汽通用汽车有限公司;泛亚汽车技术中心有限公司
申请日： 2016-06-07 - 公布日： 2019-03-29 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种材料失效分析方法，其中，包括以下步骤：获取失效零件的失效背景；对失效零件进行外观检查，得到失效零件的失效信息；在材料失效分析数据库中查找与所述失效背景和/或所述失效信息匹配的材料失效数据，得到所述失效零件的预估失效原因；根据预估失效原因，对所述失效零件进行断口观察，得到所述失效零件的失效形式；采用材料分析法对所述失效零件与未失效零件进行对比分析，得到对比结果；根据所述失效形式和所述对比结果，确定所述失效零件的失效原因。利用本发明可提高材料失效分析人员的效率和水平。
材料失效分析方法

[发明专利]芯片失效模式的确定方法、终端-CN202111005924.7在审
发明人：不公告发明人 -专利权人：全芯智造技术有限公司
申请日： 2021-08-30 - 公布日： 2021-12-21 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：一种芯片失效模式的确定方法、终端，所述方法包括：获取芯片在多个测试电压下的失效比特；对所获取到的失效比特进行失效模式运算，获得至少一个失效比特组以及每一个失效比特组的失效模式，其中，所述失效比特组包括至少一个测试电压下的失效比特；基于所述失效比特组的失效模式，确定所述失效比特组中失效比特的失效模式。通过本发明方案能够提高芯片失效分析的准确度。
芯片失效模式确定方法终端

[发明专利]功率器件的失效分析方法-CN202010210630.7在审
发明人：芮志贤 -专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请日： 2020-03-24 - 公布日： 2020-07-03 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本申请公开了一种功率器件的失效分析方法，包括：去除集成有功率器件的晶圆的正面的第一金属层；通过失效点定位机台对正面失效区域进行定位后，对正面失效区域进行标记，得到正面失效标记；通过失效点定位机台在背面查找到正面失效标记，对背面失效区域进行定位，背面失效区域是正面失效区域在背面的对应区域；通过失效点定位机台对背面失效区域进行标记，得到背面失效标记；根据背面失效标记对背面失效区域进行失效分析。本申请实现了对晶圆的背面进行失效分析，提高了失效分析的准确度。
功率器件失效分析方法

[发明专利]元器件失效分析专家系统中失效分析流程构建方法及系统-CN201310464433.8有效
发明人：林晓玲;肖庆中 -专利权人：工业和信息化部电子第五研究所
申请日： 2013-10-08 - 公布日： 2014-01-15 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明提供一种元器件失效分析专家系统中失效分析流程构建方法及系统，所述方法包括以下步骤：采集各门类电子元器件的失效信息；所述失效信息包括：失效分析方法、失效现象、失效模式、失效机理、失效环境；构建各失效信息之间的关联关系；以所述失效模式为触发点，根据各失效信息之间的关联关系构建元器件失效分析专家系统中的失效分析流程。本发明的元器件失效分析专家系统中失效分析流程构建方法及系统，满足了在元器件失效分析专家系统中构建不同门类电子元器件失效分析流程的需求，使失效分析专家系统成为一种具有逻辑判断功能、可辅助完成实际失效分析的电子手段
元器件失效分析专家系统流程构建方法系统

[发明专利]关联失效影响下的页岩气压裂管柱风险排序方法及装置-CN201610051176.9有效
发明人：胡瑾秋;张来斌;王倩琳;田斯赟 -专利权人：中国石油大学(北京)
申请日： 2016-01-26 - 公布日： 2019-11-19 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本发明涉及一种关联失效影响下的页岩气压裂管柱风险排序方法及装置，其中，方法包括：根据页岩气压裂管柱系统特性及失效特点，对管柱系统进行失效模式与影响分析，得到各部件的失效模式及失效原因；根据失效特点，建立系统部件的各失效模式与每个失效原因之间的关联准则；根据系统部件的各失效模式与每个失效原因之间关联准则获得各个失效模式之间的综合关联度；利用各个失效模式之间的综合关联度建立失效模式关联矩阵；利用所述失效模式关联矩阵获得系统部件各失效模式的失效影响权重；根据各失效模式的失效影响权重的大小对各失效模式进行风险排序。
关联失效影响页岩气压管柱风险排序方法装置

[发明专利]失效地址处理方法、装置及电子设备-CN202310225514.6有效
发明人：杨杰 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2023-03-10 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G06F12/0891 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种失效地址处理方法、装置及电子设备，该失效地址处理方法包括：读取失效存储器中存储的失效地址；获取用户配置的失效模式对应的失效条件；根据所述失效条件，判断所述失效地址与失效模式是否匹配；若否，则生成所述失效地址的擦除指令，以从所述失效存储器中擦除所述失效地址。通过擦除存储的与失效模式不匹配的失效地址，减少了需存储的失效地址的数据量，缓存了存储压力，降低了存储成本。
失效地址处理方法装置电子设备

[发明专利]电学失效分析方法及相关装置-CN202111470371.2在审
发明人：林健 -专利权人：成都海光微电子技术有限公司
申请日： 2021-12-03 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G06F11/07 文献下载
摘要：本申请提供一种电学失效分析方法，包括：获取晶圆的各个失效晶粒的失效日志；根据失效晶粒的失效日志中高频测试结果和低频测试结果，确定各个高频主导失效晶粒和各个低频主导失效晶粒；获取当前高频主导失效权重值；根据各个高频主导失效晶粒的各个结构层的高频失效尺寸、各个低频主导失效晶粒的各个结构层的低频失效尺寸、当前高频主导失效权重值和晶圆的各个结构层的设计尺寸，获取各个结构层的失效偏差值，根据失效偏差值和预定偏差阈值，调整当前高频主导失效权重值，直至至少一个结构层的失效偏差值满足预定偏差阈值，获取与最大的失效偏差值相对应的最大失效影响层。本申请实施例所提供的电学失效分析方法，可以提高电学失效分析的准确性。
电学失效分析方法相关装置

[发明专利]产品失效知识库建立方法与失效分析方法、装置、介质-CN201811376387.5有效
发明人：萧礼明;杨志勇 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2018-11-19 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G06F16/28 文献下载
摘要：本公开提供了一种产品失效知识库建立方法与产品失效分析方法、装置、设备、介质，属于计算机技术领域。该产品失效知识库建立方法包括：获取多组失效产品数据，包括设计数据、工艺数据与缺陷数据；根据设计数据和/或工艺数据对失效产品数据进行聚类，得到多个失效类别；分别对各失效类别的缺陷数据进行随机性检验，以确定失效类别为随机失效模式或非随机失效模式；对各非随机失效模式的失效产品数据进行关联规则挖掘，得到各非随机失效模式的失效根因数据；根据各失效类别的随机失效模式/非随机失效模式分类结果与各非随机失效模式的失效根因数据，建立产品失效知识库。本公开可以实现对未知失效模式的分析，并提高分析效率。
产品失效知识库建立方法分析装置介质

[发明专利]基于失效机理的元器件FMEA分析方法与系统-CN201410401825.4在审
发明人：来萍;陈媛;黄云;何小琦 -专利权人：工业和信息化部电子第五研究所
申请日： 2014-08-11 - 公布日： 2014-11-26 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：本发明提供一种基于失效机理的元器件FMEA分析方法与系统，对元器件进行FMEA结构划分，将元器件分解为功能单元，功能单元具有独立的失效机理，分析功能单元的失效机理和分析导致失效机理的失效模式，分析失效机理和失效模式对元器件的影响，根据功能单元的失效机理，构建失效物理模型，根据失效物理模型，分析引起失效机理的失效原因，整合元器件失效影响分析结果和引起失效机理的失效原因，获得FMEA分析结果，以提高元器件可靠性。整个元器件FMEA分析的起点是失效机理，在识别失效机理的基础上，对其失效物理模型进行分析，分析失效机理的加速因子，从深层次上对元器件进行准确的可靠性分析，准确反映元器件可靠性状况。
基于失效机理元器件 fmea 分析方法系统

[发明专利]非对称共因失效条件下系统可靠性建模方法及装置-CN202310252028.3在审
发明人：刘征;涂亮;何振锋;刘昊东;李永杰 -专利权人：广州大学
申请日： 2023-03-15 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本说明书实施例提供了一种非对称共因失效条件下系统可靠性建模方法及装置，其中，方法包括：对失效原因进行定义，建立失效事件与失效原因之间的关联；针对共因失效对称性确定非对称类型；根据同一个失效原因引发多个元件发生失效，确定共因失效单元组；确定所述共因失效单元组之间耦合强度系数；对失效原因条件概率、失效原因存在时单元发生失效的概率和耦合强度系数进行参数评估；根据失效事件与失效原因之间的关联、非对称类型、共因失效单元组、失效原因条件概率、失效原因存在时单元发生失效的概率和耦合强度系数建立非对称共因失效条件下系统可靠性模型。
对称失效条件下系统可靠性建模方法装置

[发明专利]一种海水管路的裂纹失效分析方法-CN202310497453.9在审
发明人：李毛毛;禹文娟;王潇岚;王娟;牛建民;秦秀敏;王永光;刘涛;刘景榕 -专利权人：上海船舶工艺研究所（中国船舶集团有限公司第十一研究所）
申请日： 2023-05-05 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本申请涉及一种海水管路的裂纹失效分析方法，包括：记录现场中关于失效海水管路的环境信息，同时收集失效海水管路的服役资料与生产时的背景资料，对管路的失效形式进行初步的定性分析；初步判断管路失效形式，初步定位大型裂纹区域；比对失效海水管路与历史失效记录；渗透检测判断失效海水管路是否存在特殊宏观失效形式信息；无损探伤失效海水管路内部结构失效信息；对照海水管路设计工艺，进行一系列理化测试与微观组织观察，形成初步失效分析报告；判断初步失效分析报告是否足以解释海水管路失效原因；提取初步分析报告中与管路裂纹失效相关的信息，总结得出失效原因、失效性质与失效机理，若失效形式普遍存在则结合失效原因提出改进措施。
一种海水管路裂纹失效分析方法

[实用新型]一种镜像失效判断电路及应用其的电器设备-CN202022837654.3有效
发明人：李耀聪;潘叶江 -专利权人：华帝股份有限公司
申请日： 2020-12-01 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种镜像失效判断电路及应用其的电器设备，其中，镜像失效判断电路包括用于检测第一芯片失效情况的第一失效检测模块和用于检测第二芯片失效情况的第二失效检测模块，所述第一失效检测模块电连接第二失效检测模块进而相互感知芯片失效情况本实用新型的一种镜像失效判断电路，通过第一失效检测模块检测第一芯片失效情况，通过第二失效检测模块检测第二芯片失效情况，同时第一失效检测模块电连接第二失效检测模块，从而使第一失效检测模块和第二失效检测模块彼此之间可以相互感知失效情况，即采用镜像电路，提高失效芯片信号之间的关联性，摒弃门电路芯片，降低生产成本。
一种失效判断电路应用电器设备

[发明专利]一种芯片的失效分析方法及系统-CN202211194766.9有效
发明人：俞佩佩;王丽雅;胡明辉 -专利权人：合肥晶合集成电路股份有限公司
申请日： 2022-09-29 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片的失效分析方法及系统，其中所述芯片的失效分析方法至少包括：提供一失效芯片，在失效芯片上标记出失效点的位置；根据失效点到失效芯片的侧边的距离，在失效芯片上设置取样图形，使失效点的投影位于取样图形的中央；沿着取样图形的边线，分裂失效芯片，获得失效图形芯片和多个辅助图形芯片；拼接失效图形芯片和辅助图形芯片，获得组合图形芯片；以及研磨组合图形芯片，至失效点露出，并通过探针测试失效芯片的失效区域。本发明提供了一种芯片的失效分析方法及系统，能够提升芯片失效分析的准确性和分析效率。
一种芯片失效分析方法系统

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