专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种调节发光器件性能的方法和装置-CN201810958889.2有效
  • 刘超博;王洪波;卫庆军 - 苏州欧普照明有限公司;欧普照明股份有限公司
  • 2018-08-22 - 2021-12-31 - F21V5/04
  • 本申请涉及照明技术领域,尤其涉及一种调节发光器件性能的方法和装置,用以缓解现有技术中发光器件不符合目标发光性能要求的问题。本申请方法包括:根据透镜和发光源对至少一种发光性能进行仿真,得到多组候选发光性能参数;基于目标发光性能筛选多组候选发光性能参数,得到目标发光性能参数;根据目标发光性能参数调整透镜和发光源的相对位置,得到经过调节的发光器件本申请通过对现有的透镜以及发光源进行仿真,根据仿真结果对发光源与透镜进行调整,使发光源与透镜的相对位置符合最优参数,保证发光性能符合目标发光效果。另外,本方案能基于现有透镜,根据目标发光效果有针对性地筛选最优参数,通过调整相对位置的方式调整发光性能参数。
  • 一种调节发光器件性能方法装置
  • [发明专利]一种TADF发光分子发光性能的高通量预测方法-CN202011181452.6有效
  • 谭筝;史卫梅;杨仕清 - 成都职业技术学院
  • 2020-10-29 - 2022-05-31 - G16C20/20
  • 本发明公开了一种TADF发光分子发光性能的高通量预测方法,该方法对满足预设光电性能条件的分子给体、分子受体以及分子连接体进行虚拟合成得到TADF发光分子,将部分TADF发光分子作为样本分子,将样本分子的分子结构转换成ECFP分子指纹,使用基于深度神经网络的回归模型对样本分子的分子特征和发光性能进行训练,并使用训练好的回归模型对所有TADF发光分子发光性能进行预测,最后选择预设发光性能阀值,对TADF发光分子进行筛选,筛选出的TADF发光分子作为实验合成对象。本发明能够很大程度的减少TADF发光分子设计的周期和成本。
  • 一种tadf发光分子性能通量预测方法
  • [发明专利]OLED显示面板-CN201911412384.7在审
  • 史婷;刘扬 - 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
  • 2019-12-31 - 2020-05-08 - H01L51/50
  • 本发明提供一种OLED显示面板,该OLED显示面板的发光功能层包括像素定义层、像素电极、公共电极、发光材料层、电子注入层和电子传输层,所述像素定义层定义第一发光颜色区域、第二发光颜色区域、第三发光颜色区域,在所述第一发光颜色区域、第二发光颜色区域、第三发光颜色区域中的至少两个区域内,所述电子注入层或所述电子传输层的电子转移性能不同;在发光功能层工作时,第一发光颜色区域、第二发光颜色区域、第三发光颜色区域电子注入层和电子传输层的电子转移性能不同,使得不同区域的电子转移性能发光性能达到最佳,解决了现有OLED显示面板存在部分发光颜色区域的电子传输层和电子注入层的电子转移性能不佳的技术问题。
  • oled显示面板
  • [发明专利]一种自发光材料性能测试系统及测试方法-CN202210948635.9在审
  • 李政;冯小伟;史万旭;张好杰;马宝君;马涵泊;杨丹;彭飞 - 甘肃省交通科学研究院集团有限公司
  • 2022-08-09 - 2022-12-13 - G01N17/00
  • 本发明公开了一种自发光材料性能测试系统及测试方法,属于新材料领域,以解决自发光材料缺乏考虑不同环境因子的综合测试评价体系,无法对材料的研发应用做出定向性能调整的问题。测试系统包括控制系统、实验箱和设在其中的环境因子模拟系统;实验箱中间设有放置自发光材料的实验台;环境因子模拟系统包括光照系统、下雨模拟系统、扬尘模拟系统、温度变化模拟系统、湿度变化模拟系统。测试方法包括提出自发光材料性能综合评价指标参数、对自发光材料性能评价指标进行单一环境因素测试、对自发光材料性能评价指标进行综合环境因素测试、建立自发光材料性能综合评价体系。本发明测试系统与测试方法的结合,能对未来自发光材料的性能提升进行指导。
  • 一种发光材料性能测试系统方法
  • [发明专利]一种发光二极管的在轨性能退化预测方法-CN201810139234.2有效
  • 李兴冀;杨剑群;刘超铭;刘勇 - 哈尔滨工业大学
  • 2018-02-09 - 2021-06-15 - G06F30/20
  • 一种发光二极管的在轨性能退化预测方法,属于器件在轨性能退化预测领域,解决了现有发光二极管的在轨性能退化预测方法不具备普适性的问题。所述方法包括通过对发光二极管进行地面辐照试验,获得具有普适性的发光二极管的性能退化数据随位移吸收剂量的变化曲线的步骤、根据预定航天器轨道和航天器设计在轨寿命,确定发光二极管的在轨位移吸收剂量的步骤和根据具有普适性的发光二极管的性能退化数据随位移吸收剂量的变化曲线以及发光二极管的在轨位移吸收剂量,获得发光二极管的在轨性能退化数据的步骤。本发明所述发光二极管的在轨性能退化预测方法特别适用于对发光二极管进行在轨性能退化预测。
  • 一种发光二极管性能退化预测方法
  • [发明专利]一种应用在仪表盘上的发光塑料-CN201711290270.0在审
  • 廖彩礼 - 马鞍山合力仪表有限责任公司
  • 2017-12-08 - 2018-05-11 - C08L23/12
  • 本发明涉及仪表制造技术领域,公开了一种应用在仪表盘上的发光塑料,将发光材料经过处理与塑料基体共同制备成母料,不仅可以提高发光材料在塑料基体中的整体分散程度,还可以减少因发光材料的加入造成的塑料力学性能下降问题,制备的发光材料能够承受发光塑料在加工过程中要经过的高温处理,且其发光性能不受机械设备的金属表面对发光材料的挤压、磨擦的影响,发光材料的发光性能在塑料中很好的展现。
  • 一种应用仪表盘发光塑料

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