专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]激光加工装置-CN201810807564.4有效
  • 远入尚亮 - 住友重机械工业株式会社
  • 2018-07-18 - 2021-03-12 - B23K26/067
  • 本发明提供一种用2束激光束进行加工并且针对2束激光束能够分别测量反射的强度的激光加工装置。分支合流光学系统将沿入射路径入射的激光束根据偏振方向分支为第1加工路径及第2加工路径。分支合流光学系统将分别沿第1加工路径及第2加工路径入射于分支合流光学系统的第1反射及第2反射合流到与入射路径不同的测量路径。分支元件将合流到测量路径的第1反射及第2反射分别分支为不同的路径。第1检测器测量被分支元件分支后的第1反射的强度,第2检测器测量被分支元件分支后的第2反射的强度。
  • 激光加工装置
  • [发明专利]一种检测方法以及网络设备-CN202010692073.7在审
  • 龙运;常志文;陈飞 - 华为技术有限公司
  • 2020-07-17 - 2022-01-18 - H04B10/071
  • 本发明实施例公开了一种检测方法以及网络设备,用于对连接在源交换装置和宿交换装置之间的目标光纤是否处于导通状态进行检测,且有效地提高了检测的准确性以及效率。本发明实施例方法包括:向目标路径发送探测信号,所述目标路径包括源交换装置和宿交换装置,所述目标路径还包括连接在所述源交换装置和所述宿交换装置之间的目标光纤;接收来自所述目标路径的多个反射信号,所述多个反射信号为所述目标路径对所述探测信号进行反射以形成;若确定所述多个反射信号中存在目标反射信号,则确定所述目标光纤处于导通状态,所述目标反射信号为被所述目标光纤反射反射信号。
  • 一种检测方法以及网络设备
  • [发明专利]折叠成像路径相机-CN201210086628.9有效
  • D·D·博恩;F·皮尔斯 - 微软技术许可有限责任公司
  • 2012-03-28 - 2018-01-30 - H04N5/225
  • 本发明涉及折叠成像路径相机。在折叠成像路径相机的各实施例中,设备包括聚焦作为反射来接收的图像的相机透镜模块。图像传感器从被引导朝向图像传感器的反射中捕捉图像。设备还包括一个或多个光学器件,该光学器件沿着被引导穿过相机透镜模块并被引导朝向图像传感器的成像路径来折叠图像的反射。被引导穿过相机透镜模块的成像路径可以与经由设备中的光圈沿其接收图像的反射的轴大致垂直。或者,被引导穿过相机透镜模块的成像路径与经由设备中的光圈沿其接收图像的反射的轴大致平行。
  • 折叠成像路径相机
  • [实用新型]一种抬头显示装置和载具-CN202320935571.9有效
  • 金康;王云帆;管晋 - 浙江炽云科技有限公司
  • 2023-04-19 - 2023-07-25 - G02B27/01
  • 本实用新型实施例公开了一种抬头显示装置和载具,其中包括:像源,出射图像光束;第一平面反射镜,位于所述图像光束的出路径上,所述图像光束经所述第一平面反射反射形成第一反射束;曲面反射镜,位于所述第一反射束的出路径上,所述第一反射束经所述曲面反射反射后形成第二反射束;第二平面反射镜,位于所述第二反射束的出路径上,所述第二反射束经所述第二平面反射反射后形成成像光束并出射。本实用新型实施例可以解决现有抬头显示系统占用空间过大的问题,能够进行路折叠实现体积的缩小,从而能够装配在空间较小的车辆中,满足车内空间较小的车辆的需求。
  • 一种抬头显示装置
  • [发明专利]一种具有校准功能的一维晶格产生装置及产生方法-CN202210263967.3在审
  • 武寄洲;蹇君;刘文良;李玉清;马杰 - 山西大学
  • 2022-03-17 - 2023-09-22 - G02B27/30
  • 本发明公开一种具有校准功能的一维晶格产生装置及产生方法,包括:激光入射单元、科学腔、反射单元以及可拆卸设置的路重合校准单元,路重合校准单元包括第四偏振分光棱镜、第四半波片、第五半波片以及功率探头,第四半波片、第四偏振分光棱镜以及第五半波片依次设置在激光入射单元的激光路径上,功率探头设置在第四偏振分光棱镜的反射路径上;调节第四半波片以及第五半波片,反射在经过第四偏振分光棱镜时进行反射功率探头能够接收反射,通过调整反射单元使反射角度发生变化,反射角度的变化会直接影响功率探头接收的反射的强度,当功率探头检测光强度最强时,则入射光和反射的重合度最高。
  • 一种具有校准功能一维光晶格产生装置方法
  • [实用新型]硅光子芯片功率测量装置及设备-CN202020002646.4有效
  • 田桂霞;洪小刚;陈奔;沈笑寒;郭倩 - 亨通洛克利科技有限公司
  • 2020-01-02 - 2020-08-11 - G02B6/42
  • 本实用新型公开了一种硅光子芯片功率测量装置及设备,硅光子芯片上设有硅光波导,硅光子芯片功率测量装置包括光反射部件,其配置于硅光波导出射的传输路径上,硅光波导的出射经光反射部件反射产生反射传导部件,其配置于反射的传输路径上,用于轴向传输反射至其端部输出;功率探测器,其用于接收传导部件端部输出的反射,并测量反射功率,本实用新型在不损伤硅光子芯片结构的前提下,精确有效地测量出硅光子芯片的出功率,实现硅光子芯片晶圆级出性能测试。
  • 光子芯片功率测量装置设备
  • [发明专利]硅光子芯片功率测量装置、设备、系统及测量方法-CN202010002907.7在审
  • 田桂霞;洪小刚;陈奔;王洁;冯振阳 - 亨通洛克利科技有限公司
  • 2020-01-02 - 2020-04-03 - G02B6/42
  • 本发明公开了一种硅光子芯片功率测量装置、设备、系统及测量方法,硅光子芯片上设有硅光波导,测量装置包括光反射部件,配置于硅光波导出射的传输路径上,硅光波导的出射经光反射部件反射后产生反射整形部件,配置于反射的传输路径上,用于将发散的反射集束后输出;功率探测器,用于接收整形部件输出的反射光束,并测量反射光束的功率。本发明通过光反射部件将硅光波导的出射光反射进入空气,再通过整形部件将发散的反射调整为光束后输出,然后通过功率探测器接收并测量出反射光束的功率,以此,在不损伤硅光子芯片结构的前提下,精确有效地测量出硅光子芯片的出功率,实现硅光子芯片晶圆级出性能测试。
  • 光子芯片功率测量装置设备系统测量方法
  • [实用新型]硅光子芯片功率测量装置、设备及系统-CN202020004357.8有效
  • 田桂霞;洪小刚;陈奔;王洁;冯振阳 - 亨通洛克利科技有限公司
  • 2020-01-02 - 2020-08-11 - G02B6/42
  • 本实用新型公开了一种硅光子芯片功率测量装置、设备及系统,硅光子芯片上设有硅光波导,测量装置包括光反射部件,配置于硅光波导出射的传输路径上,硅光波导的出射经光反射部件反射后产生反射整形部件,配置于反射的传输路径上,用于将发散的反射集束后输出;功率探测器,用于接收整形部件输出的反射光束,并测量反射光束的功率。本实用新型通过光反射部件将硅光波导的出射光反射进入空气,再通过整形部件将发散的反射调整为光束后输出,然后通过功率探测器接收并测量出反射光束的功率,以此,在不损伤硅光子芯片结构的前提下,精确有效地测量出硅光子芯片的出功率,实现硅光子芯片晶圆级出性能测试。
  • 光子芯片功率测量装置设备系统
  • [发明专利]用于检查光纤通信路径的方法和系统-CN202280012446.9在审
  • 蒋志平 - 华为技术有限公司
  • 2022-01-20 - 2023-09-15 - G01M11/00
  • 本发明提供了一种用于检查光纤通信路径的方法。该方法包括:使光纤路径附近的声信号发生器产生声信号;使激光器在发射时间向至少一个光纤路径中发射至少一个脉冲;检测多个反射信号,每个反射信号具有到达时间;确定所述多个反射信号中的每一个反射信号所行进的距离,其中,至少部分根据给定的反射信号的到达时间和至少一个脉冲的发射时间,确定给定的反射信号所行进的距离;以及针对给定的反射信号所行进的至少一个距离,检测至少部分地由声信号引起的相位振荡。
  • 用于检查光纤通信路径方法系统

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