专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种大直径上引出线两段式绝缘瓷体喷射熔断器-CN201610715859.X在审
  • 刘晓强;宋雅男;由仁宽;吴昊 - 辽宁华隆电力科技股份有限公司
  • 2016-08-24 - 2016-11-16 - H01H85/08
  • 本发明公开一种大直径上引出线两段式绝缘瓷体喷射熔断器,绝缘瓷体的顶部设置有锁紧装置;与下部管的接线柱固定并穿过上部管由所述锁紧装置固定在绝缘瓷体的上端;所述在中部管的部分具有直径较小的熔断部,所述熔断部的两端设有防火帽,所述防火帽与上部管及下部管间的的外部套有热缩绝缘层;所述上部管、下部管间的轴向内腔内设置弹簧;下部管的底部固定有冲击头;所述绝缘瓷体的轴向内腔的底部设置封堵本发明可保证熔断后的呈绝缘状态,避免了熔断位置不好造成的放电现象;此外,本发明利用管直接压缩弹簧,并且采用了冲击头破坏绝缘瓷体的底部密封堵,因此,可保证下部管弹出可靠。
  • 一种直径引出段式绝缘喷射熔断器
  • [发明专利]一种U型导电环且上锁紧喷射熔断器-CN201610715890.3在审
  • 高伟;林天源;修明巍;宋学真 - 辽宁华隆电力科技股份有限公司
  • 2016-08-24 - 2016-11-09 - H01H85/05
  • 本发明公开一种U型导电环且上锁紧喷射熔断器,绝缘瓷体的顶部设置有锁紧装置;与下部管的接线柱固定并穿过上部管由所述锁紧装置固定在绝缘瓷体的上端;所述在中部管的部分具有直径较小的熔断部,所述熔断部的两端设有防火帽,所述防火帽与上部管及下部管间的的外部套有热缩绝缘层;所述上部管、下部管间的轴向内腔内设置弹簧;下部管的底部固定有冲击头;所述绝缘瓷体的轴向内腔的底部设置封堵本发明可保证熔断后的呈绝缘状态,避免了熔断位置不好造成的放电现象;此外,本发明利用管直接压缩弹簧,并且采用了冲击头破坏绝缘瓷体的底部密封堵,因此,可保证下部管弹出可靠。
  • 一种导电上锁喷射熔断器
  • [发明专利]一种高可靠性的逻辑运算电路-CN201911154081.X在审
  • 张怀东 - 无锡十顶电子科技有限公司
  • 2019-11-22 - 2020-02-18 - H03K19/20
  • 本发明提供一种高可靠性的逻辑运算电路,包括多于一个的单个电路、逻辑运算电路。其中,多于一个的单个电路中,单个电路是指与上拉器件或者下拉器件的串联,每个单个电路的输出连接到逻辑运算电路的输入,逻辑运算电路的输出为本电路的输出,逻辑运算电路的功能为,只要有一个单个电路中的被烧断,逻辑运算电路的输出与没有被烧断相比发生逻辑电平翻转。因为被烧断后有重新被连接的可能性,所以当多于一个被烧断时,少于被烧断个数的被重新连接时,逻辑运算电路的输出电平不会翻转,所以本发明逻辑运算电路的输出具有可靠性高的优点,本电路实现简单
  • 一种可靠性逻辑运算电路
  • [发明专利]安装单元及具有该安装单元的盒模块-CN201610149741.5有效
  • 谭均;吴安祥 - 阳光电源股份有限公司
  • 2016-03-16 - 2018-02-06 - H01H85/20
  • 本发明公开了安装单元及具有该安装单元的盒模块。安装单元能安装两个,整体呈片状结构,且包括壳体、两个夹组件、两个接线端子。壳体的相对两侧分别设置一个能收容的收容槽,壳体的顶部设置有凹槽,凹槽的底部设置有供插拔连接的两个导电连接座。两个导电连接座分别与两个收容槽内的电性连接。壳体的底部与两个收容槽相对应的位置分别固定两个夹组件,两个接线端子分别固定在两个夹组件上且分别通过两个夹组件与相应的电性连接;两个接线端子位于壳体的同一侧,可以全部从一端接入和接出线缆。本发明还公开了具有该安装单元的盒模块。
  • 安装单元具有熔丝盒模块
  • [发明专利]可模拟熔断的电路-CN201310646521.X有效
  • 刘玉芳;罗先才;徐栋;严淼;沈天平;孙静;徐宵隽 - 无锡华润矽科微电子有限公司
  • 2013-12-04 - 2014-04-02 - G11C17/16
  • 本发明提供一种可模拟熔断的电路,其包括、第一置位电路、第二置位电路和锁存器。第一置位电路的输出端与所述的第一连接端相连;第二置位电路的输出端与电路的输出端相连;锁存器的输入端与所述的第二连接端相连,锁存器的输出端与电路的输出端相连。当熔断时,由第二置位电路使得电路的输出端输出熔断信号;当未熔断且需要模拟熔断时,将第一连接端置位于熔断置位电平,该熔断置位电平使得电路的输出端输出熔断信号。与现有技术相比,本发明中的可模拟熔断的电路可以模拟熔断效果,以在晶圆测试时,先通过所述电路模拟熔断来测试芯片的电路性能,从而增加芯片的成品率。
  • 模拟熔断电路
  • [实用新型]一种高可靠性的逻辑运算电路-CN201922031038.6有效
  • 张怀东 - 无锡十顶电子科技有限公司
  • 2019-11-22 - 2020-09-22 - H03K19/003
  • 本实用新型提供一种高可靠性的逻辑运算电路,包括多于一个的单个电路、逻辑运算电路。其中,多于一个的单个电路中,单个电路是指与上拉器件或者下拉器件的串联,每个单个电路的输出连接到逻辑运算电路的输入,逻辑运算电路的输出为本电路的输出,逻辑运算电路的功能为,只要有一个单个电路中的被烧断,逻辑运算电路的输出与没有被烧断相比发生逻辑电平翻转。因为被烧断后有重新被连接的可能性,所以当多于一个被烧断时,少于被烧断个数的被重新连接时,逻辑运算电路的输出电平不会翻转,所以本实用新型逻辑运算电路的输出具有可靠性高的优点,本电路实现简单
  • 一种可靠性逻辑运算电路
  • [实用新型]管组件及包括其的限流熔断器-CN202020168049.9有效
  • 张会民;顾奕晟;沈小益;姚鹏;祝海涛;张琴 - 上海库柏电力电容器有限公司
  • 2020-02-13 - 2020-07-14 - H01H85/165
  • 本实用新型提供了一种管组件及包括其的限流熔断器,所述管组件包括:管本体,其具有相对设置的第一端口和第二端口;第一导电密封件和第二导电密封件,其分别与所述第一端口和第二端口密封连接;以及位于所述管本体中的组件,所述组件包括第一、第二和第三,所述第一的一端和第二的一端分别连接至所述第一导电密封件和第二导电密封件,所述第三的两端分别连接至所述第一的另一端和第二的另一端,且所述第一和第二的直径都大于所述第三的直径本实用新型的管组件的安全性能高,密封性能好,且具有牢固的机械连接和良好的电连接。
  • 组件包括限流熔断器
  • [发明专利]电路保护装置-CN202011055159.5在审
  • 姜斗园;申雅岚 - 斯玛特电子公司
  • 2020-09-29 - 2021-04-09 - H01H85/00
  • 公开了一种电路保护装置,包括:壳体;负温度系数热敏电阻器,其容纳在所述壳体中并包括电阻加热元件、安装在所述电阻加热元件的两侧上的一对电极、以及分别从所述一对电极抽出的第一热敏电阻器引线和第二热敏电阻器引线;以及,其容纳在所述壳体中并且包括主体、以及分别连接到所述主体的两端的第一引线和第二引线。这里,所述主体包括其上形成有镀层的杆和耦接到所述杆的两端并具有导电性的一对盖帽,并且所述第一引线和所述第二引线分别接合到所述一对盖帽。
  • 电路保护装置
  • [发明专利]用于封装半导体装置的-CN202210322485.0在审
  • E·顿切尔 - 德克萨斯仪器股份有限公司
  • 2022-03-30 - 2022-10-04 - H01L23/62
  • 本申请公开用于封装半导体装置的。一种设备(图3,300)包括:封装衬底(204),其具有被配置用于安装半导体管芯(203)的管芯焊盘(201),以及与管芯焊盘(201)隔开的引线(110);半导体管芯(203),其安装在管芯焊盘上;(306),其安装到引线(110),该具有耦合在帽(311)和引线之间的元件(309),该具有主体(307),其具有围绕元件的开口,帽附接到主体;电连接件(208),其将半导体管芯耦合到;和模制化合物(207),其覆盖半导体管芯、、电连接件以及封装衬底的一部分,其中引线的一部分从模制化合物中暴露以形成端子。
  • 用于封装半导体装置
  • [发明专利]测试方法-CN202310586906.5在审
  • 覃煜 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2023-05-19 - 2023-07-21 - G11C17/16
  • 本公开提供一种测试方法,测试方法包括:设置反模型为未熔断状态;配置反模型的熔断条件;将反模型被配置为,当反模型满足熔断条件时,将反模型的未熔断状态调整为熔断状态;其中,熔断条件包括反模型的编程电压大于或等于预设熔断电压且反模型的编程时间大于或等于预设熔断时间在本公开中,通过使反模型在编程电压和编程时间满足熔断条件后熔断,降低了反模型与实际的反晶体管的物理特性的差异,从而提高了存储器电路仿真结果的可靠性。同时,通过在反模型满足熔断条件后,自动地调整反模型的状态,从而提高了存储器电路仿真的效率。
  • 测试方法

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