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- [发明专利]地层厚度的确定方法-CN201611130807.2有效
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杨彤远;吴海生;何文军;郑孟林;杨翼波
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中国石油天然气股份有限公司
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2016-12-09
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2019-09-03
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G01V1/30
- 本发明提供了一种地层厚度的确定方法，包括以下步骤：将原始数据点进行平面拟合得到地层拟合平面。通过插值拟合将地层拟合平面进行网格化得到地层网格拟合平面。通过原始数据点与地层网格拟合平面确定原始数据点对应的第一插值的绝对差值，对于绝对差值处于置信区间以外的原始数据点进行处理并重新进行插值计算。通过双三次拟合差分方法，确定地层网格拟合平面上的并位于网格线交点处的点的切面的法向量；根据法向量获得地层的顶界面与底界面之间的时间域值。根据时间域值与弹性波在地层内传播的速度确定地层的真实厚度。采用该方法，能够直接运用地震资料精准的确定出地层的真实厚度，有助于对地层沉积进行更精确地定性并且定量分析。
- 地层厚度确定方法
- [发明专利]膜层厚度的确定方法-CN201910147257.2在审
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朱伟;张继凯;程晓龙;赵阳
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汉能移动能源控股集团有限公司
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2019-02-27
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2020-09-04
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G01B11/06
- 本发明涉及光学镀膜技术领域，具体涉及膜层厚度的确定方法，该方法包括提供至少一个平面标准件；所述平面标准件包括至少一层镀膜层，各所述镀膜层与待测试件对应的镀膜层采用相同的镀膜工艺形成；根据所述平面标准件的参数确定所述待测试件的每层镀膜层的厚度，所述参数包括所述镀膜层厚度及光学参数中一个。利用平面标准件作为待测试件每层镀膜层的厚度的确定基准，由于平面标准件与待测试件对应的镀膜层采用相同的镀膜工艺且平面标准件的镀膜层厚度或光学参数可以测定得到，通过平面标准件的镀膜层厚度或光学参数就可以确定出待测试件的每层镀膜层的厚度即利用平面标准件的膜层厚度来反推待测试件的膜层厚度，达到质量管控、品质管理的目的。
- 厚度确定方法
- [发明专利]剥蚀厚度的确定方法及装置-CN201911010562.3有效
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丁汝鑫
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上海同继地质科技有限公司
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2019-10-23
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2022-01-25
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G09B29/00
- 本申请提出一种剥蚀厚度的确定方法及装置，其中，该方法包括：结合用户为研究区域设置的地质历史，然后，结合研究区域的地形剖面图上每个样本点在地质历史下对应的第一温度值，以及根据每个样本点的经纬度坐标和海拔高度，确定研究区域在地质历史下对应的古地形，并根据古地形，确定研究区域在地质历史下的剥蚀厚度。由此，结合研究区域中样本点在对应地质历史下对应的温度值，确定出研究区域在对应地质历史下的古地形，并结合所确定出的古地形，准确确定出该研究区域在对应地质历史下对应的剥蚀厚度，为后期结合剥蚀厚度进行后续研究提供了非常重要的数据
- 剥蚀厚度确定方法装置
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