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[发明专利]一种混凝土厚度检测装置-CN201711355895.0在审
发明人：黄玉琰 -专利权人：钦州矿务局中学
申请日： 2017-12-16 - 公布日： 2018-02-27 - 主分类号： G01B5/06 文献下载
摘要：本发明一种混凝土厚度检测装置包括手柄、测量杆、定位横杆、测量条带、吊线锤，在测量条带上连接有吊线锤，可使混凝土厚度检测装置在检测厚度时保持垂直状态，使测量结果更准确；拉动测量条带时可带动定位横杆上下移动，操作简单方便；混凝土厚度检测装置测量混凝土厚度时测量杆和测量条带同时工作，一次测量即可得出两个测量结果，便于判断测定结果的准确性，同时大大提高了测量的效率。
一种混凝土厚度检测装置

[实用新型]一种混凝土厚度检测装置-CN201721759228.4有效
发明人：黄玉琰 -专利权人：广西恒旭工程质量检测有限公司
申请日： 2017-12-16 - 公布日： 2018-08-31 - 主分类号： G01B5/06 文献下载
摘要：本实用新型一种混凝土厚度检测装置包括手柄、测量杆、定位横杆、测量条带、吊线锤，在测量条带上连接有吊线锤，可使混凝土厚度检测装置在检测厚度时保持垂直状态，使测量结果更准确；拉动测量条带时可带动定位横杆上下移动，操作简单方便；混凝土厚度检测装置测量混凝土厚度时测量杆和测量条带同时工作，一次测量即可得出两个测量结果，便于判断测定结果的准确性，同时大大提高了测量的效率。
厚度检测装置测量条混凝土定位横杆测量杆吊线锤本实用新型测量混凝土垂直状态上下移动一次测量手柄测量检测

[发明专利]采用钢筋保护层厚度结构标准样品的保护层厚度测量方法及系统-CN202210090335.1有效
发明人：孟扬;马捷 -专利权人：建研院检测中心有限公司
申请日： 2022-01-26 - 公布日： 2022-05-20 - 主分类号： G01B5/06 文献下载
摘要：本申请提供的采用钢筋保护层厚度结构标准样品的保护层厚度测量方法及系统，先对钢筋探测仪进行校正，校正中使用的标准样品上开有测量孔，通过深度尺伸入测量孔获得钢筋保护层的厚度真值；在校正之后的步骤2中钢筋探测仪获得标准样品中钢筋保护层的测量厚度后，通过钢筋保护层的厚度真值和钢筋探测仪获得的测量厚度评测测量厚度的测量精度。当同一操作人员在工程实际中测量混凝土中钢筋的保护层厚度时，测量结果的测量精度即为已知，用钢筋探测仪测量钢筋保护层厚度后加入由测量人员的测量精度水平确定的测量精度水平因子，得到最终的测量结果。该结果中既包含仪器误差也包含人为操作误差，因此最终的测量结果的精度相比于现有技术有显著提高。
采用钢筋保护层厚度结构标准样品测量方法系统

[实用新型]薄膜厚度的测量装置-CN201920991578.6有效
发明人：李政 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2019-06-26 - 公布日： 2020-01-24 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本实用新型提供一种薄膜厚度的测量装置，其包括：样品承载台，参考样品及待测样品能够放置在所述样品承载台上；第一测量组件，能够实现第一测量方法；第二测量组件，能够实现第二测量方法；比较模块，用于将所述第一测量组件的测量结果与第二测量组件的测量结果进行比较，以得到校准参数；校准模块，利用所述校准参数对所述第一测量组件的测量结果进行校准。本实用新型薄膜厚度的测量装置能够对超薄单层薄膜的厚度及多层薄膜层交叠设置的结构的薄膜层的厚度进行准确测量，提高测量精度。
第一测量第二测量本实用新型测量装置校准参数薄膜样品承载台比较模块参考样品待测样品单层薄膜多层薄膜交叠设置校准模块样品承载准确测量校准薄膜层测量

[发明专利]根据基于机器学习的基板图像处理进行膜厚度估计-CN202180014115.4在审
发明人： S·德汉达帕尼;A·阿拉赫霍利普罗姆拉尼;D·J·本韦格努;钱隽;K·L·什里斯塔 -专利权人：应用材料公司
申请日： 2021-06-25 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：通过在多个位置获得校准基板的顶层的地表实况厚度测量结果来训练神经网络以用于基板厚度测量系统，每一位置为在基板上制造的管芯的定义位置。训练神经网络以将来自直列式基板成像器的管芯区域的彩色图像转化为管芯区域中顶层的厚度测量结果。使用训练数据执行训练，训练数据包括多个彩色图像及地表实况厚度测量结果，每一相应的彩色图像与和该相应彩色图像相关联的管芯区域的地表实况厚度测量结果配对。
根据基于机器学习图像处理进行厚度估计

[实用新型]一种半自动电芯测厚机-CN201420139326.8有效
发明人：宋才喜;杨高光 -专利权人：深圳市美拜电子有限公司
申请日： 2014-03-25 - 公布日： 2014-09-24 - 主分类号： G01B21/08 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种半自动电芯测厚机，该半自动测厚机用于电芯制造行业，其包括底座，底座上设有检测装置和检测结果输出装置，所述检测装置包括支架、测量压板、驱动装置和尺寸感应机构；所述测量压板设于支架下方，该测量压板下方设有电芯底座；所述驱动装置与测量压板联接，该驱动装置用于驱动测量压板进行升降；所述尺寸感应机构根据测量压板的移动距离产生厚度信号，并将厚度信号送至检测结果输出装置；所述检测结果输出装置根据厚度信号输出电芯的厚度信息本实用新型通过一次测量便能够得出电芯的具体厚度，从而得知电芯的厚度符合哪些档位的要求，效率远高于现有技术的多次测量。
一种半自动电芯测厚机

[发明专利]一种基于光谱反射率特征的水面油膜厚度测量系统及方法-CN201611097256.4有效
发明人：李颖;侯永超;刘丙新;刘瑀 -专利权人：大连海事大学
申请日： 2016-12-02 - 公布日： 2018-11-20 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于光谱反射率特征的水面油膜厚度测量系统及方法，包括：预先采集光谱样本数据并实时采集光谱测量数据的光谱数据获取单元；对光谱样本数据或光谱测量数据进行预处理的光谱数据预处理单元；基于光谱特征阈值对光谱样本数据、光谱测量数据进行反射光谱特征提取的光谱特征提取单元；创建第一油膜厚度测量数据样本曲线，并基于所述曲线确定出第一油膜厚度测量结果的反射高度曲线拟合单元；创建第二油膜厚度测量数据样本曲线，并基于所述曲线确定出第二油膜厚度测量结果的吸收深度曲线拟合单元；能够计算油膜厚度并显示的联合运算与结果显示单元。本发明能够准确获得溢油的油膜厚度的信息，为海洋溢油事故中评估溢油量提供技术支撑。
油膜光谱测量数据光谱样本厚度测量结果厚度测量数据厚度测量系统光谱反射率拟合单元曲线确定水面油膜样本曲线光谱数据预处理预处理反射光谱特征光谱特征提取结果显示单元高度曲线光谱数据光谱特征海洋溢油获取单元技术支撑深度曲线实时采集溢油量反射创建运算采集评估吸收联合

[发明专利]高速轧制界面润滑油膜厚度测量装置及方法-CN201410245055.9有效
发明人：王桥医;王乾坤;张泽 -专利权人：杭州电子科技大学
申请日： 2014-06-03 - 公布日： 2014-09-10 - 主分类号： B21B38/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种高速轧制界面润滑油膜厚度测量装置及方法。本发明包括动态辊心测距装置、板材厚度测量装置及数据处理模块及显示装置。动态辊心测距装置能准确测量上下工作辊辊心的距离，板材厚度测量装置能测得板材纵向和横向上的厚度变化。得到上下工作辊辊心距离和板材厚度后，经数据处理模块处理，即得到轧制界面润滑油膜厚度变化。本发明能实现高速轧制界面润滑油膜厚度的测量，结构简单，维修方便，消除了轧机垂直振动对测量结果的影响，还考虑了工作辊弹性压扁和板材横断面厚度差，使结果更精确。
高速轧制界面润滑油膜厚度测量装置方法

[实用新型]高速轧制界面润滑油膜厚度测量装置-CN201420292261.0有效
发明人：王桥医;王乾坤;张泽 -专利权人：杭州电子科技大学
申请日： 2014-06-03 - 公布日： 2014-11-05 - 主分类号： B21B38/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种高速轧制界面润滑油膜厚度测量装置。本实用新型包括动态辊心测距装置、板材厚度测量装置及数据处理模块及显示装置。动态辊心测距装置能准确测量上下工作辊辊心的距离，板材厚度测量装置能测得板材纵向和横向上的厚度变化。得到上下工作辊辊心距离和板材厚度后，经数据处理模块处理，即得到轧制界面润滑油膜厚度变化。本实用新型能实现高速轧制界面润滑油膜厚度的测量，结构简单，维修方便，消除了轧机垂直振动对测量结果的影响，还考虑了工作辊弹性压扁和板材横断面厚度差，使结果更精确。
高速轧制界面润滑油膜厚度测量装置

[发明专利]一种金属漆涂层厚度评估方法-CN202310341173.9有效
发明人：陈代鑫;朱绪胜;缑建杰;秦琪;周力;蔡怀阳;刘清华;陈俊佑;王志刚 -专利权人：成都飞机工业（集团）有限责任公司
申请日： 2023-04-03 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G01B7/06 文献下载
摘要：本申请公开了一种金属漆涂层厚度评估方法，包括以下步骤：确定产品表面待测金属漆涂层允许的厚度值区间，记为；根据所述厚度值区间，制作多个测量试板；其中，多个测量试板用于喷涂不同厚度的金属漆涂层；在所述测量试板上划分网格，在每个所述网格中分别测量所述待测金属漆涂层的厚度值及明度值；收集测量结果数据；对所述测量结果数据进行函数拟合，以建立所述厚度值与所述明度值之间的数学关系模型；在产品实际喷涂表面选取测量部位，根据所述明度值以及所述数学关系模型，以获得所述测量部位的实际厚度值，本申请具有可适用于金属漆涂层厚度的原位评估、且测量准确高效的优点。
一种金属漆涂层厚度评估方法

[发明专利]基于电涡流传感器的导电膜厚度测量系统及方法-CN201410412326.5在审
发明人：冯志华;王洪波;李伟;琚斌 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2014-08-20 - 公布日： 2014-11-19 - 主分类号： G01B7/06 文献下载
摘要：一种基于电涡流传感器的导电膜厚度测量系统及对应测量方法，利用涡流传感器探测线圈的阻抗在电阻-电感平面中的对应点在不同探测距离下形成的提离线的斜率与被测导电膜厚度的关系来实现厚度测量。所述导电膜厚度测量系统包括：带有探测线圈的电涡流传感器探头、阻抗测量电路、实现探头上下移动的微型致动器以及控制测量过程和厚度结果输出的控制器。本发明方法简单高效，可以非接触地准确测量出导电膜的厚度，测量结果几乎不受探测距离的影响，厚度测量范围从几十nm到几mm，可以广泛地用于半导体金属膜检测、工业生产线上的金属膜在线测量系统以及各种镀膜工艺的质量监控或检测等应用中
基于涡流传感器导电厚度测量系统方法

[发明专利]狭缝式涂布机膜厚的控制方法及膜厚控制系统-CN201210148008.3有效
发明人：杨志明 -专利权人：深圳市信宇人科技有限公司
申请日： 2012-05-15 - 公布日： 2012-08-15 - 主分类号： B05C11/02 文献下载
摘要：一种狭缝式涂布机膜厚的控制方法及膜厚控制系统，其中系统包括湿料厚度测量仪，用于测量湿料厚度；干料厚度测量仪，用于测量干料厚度；比较器，用于将干料厚度测量仪所测量的结果与预定的允许的干料厚度范围进行比较，并将比较结果输送给数字信息处理器；计算器，用于根据干料厚度测量仪和湿料厚度测量仪在线测试值计算出干湿料比值；第一存储器，用于存储干湿料标准比值；第二存储器，用于存储临时干湿料比值；数字信息处理器，协调湿料厚度测量仪、干料厚度测量仪、比较器、第一存储器、第二存储器和执行机构按程序工作；执行机构，调整涂布机的涂布间隙。
狭缝式涂布机膜厚控制方法控制系统

[发明专利]一种斜交胎胎圈偏歪检验方法、系统、存储介质以及设备-CN202211669861.X在审
发明人：朱红伟;金帅;褚红星 -专利权人：赛轮集团股份有限公司
申请日： 2022-12-25 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： G01B17/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种斜交胎胎圈偏歪检验方法、系统、存储介质以及设备，属于斜交胎成品检测技术领域，基于斜交胎胎圈的钢丝圈所在圆周，通过超声波探头获取位于该圆周上的若干测量点的厚度值，所述厚度值为位于测量点与胎圈表面之间区域的材料厚度值，取该圆周上相隔180°的测量点的厚度值做差得到若干个厚度差值，将所述若干个厚度差值逐一与预设的标准阈值进行比较，当比较结果为厚度差值大于预设的标准阈值时，输出钢丝圈发生偏歪的检验结果，当比较结果为全部的厚度差值均不大于预设的标准阈值时，输出钢丝圈未发生偏歪的检验结果，本发明具有简单便捷、效率以及检验准确率高的特点。
一种斜交胎胎圈偏歪检验方法系统存储介质以及设备

[发明专利]一种板材厚度检测装置-CN202210838450.2在审
发明人：胡晓飞 -专利权人：徐州秋爽木业有限公司
申请日： 2022-07-18 - 公布日： 2022-08-16 - 主分类号： G01B5/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种板材厚度检测装置，包括自纠错式双向动态反馈机构、主体支撑机构、顶部滚动感应机构和底部滚动感应机构。本发明属于厚度测量技术领域，具体是指一种板材厚度检测装置；本发明为了克服弯曲因素对厚度测量结果产生的影响，本发明基于对冲消除的特性，创造性地提出了自纠错式双向动态反馈机构，使顶部感应活塞和底部感应活塞相向运动或相反运动的部分消除、抵消，只留下剩余的单方向的偏移量作为厚度变化的反馈依据，在没有任何电控模块及传感单元的情况下，仅仅通过巧妙的机械结构，就能将九种测量工况归为三种结果类型，并且不需转化就能直观反映厚度测量的结果。
一种板材厚度检测装置

[发明专利]测量装置与测量薄膜的厚度的方法-CN201110428943.0有效
发明人：刘金元 -专利权人：旺宏电子股份有限公司
申请日： 2011-12-20 - 公布日： 2013-06-26 - 主分类号： G01B5/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种测量装置与测量薄膜的厚度的方法。测量装置是用以测量测试结构的厚度。测量装置包括测量元件。测量元件是用以在与测试结构的上表面碰触的同时，测量测试结构的厚度。利用本发明，靶材在测量厚度之后可以继续利用在工艺中，而厚度的结果也帮助操作者了解靶材的消耗情况、工艺稳定性，并判断工艺是否发生变异，以实时监控工艺。此外，本发明测量薄膜的厚度的方法简单、不具破坏性、成本低。
测量装置薄膜厚度方法

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