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[发明专利]功率器件损耗测试方法、系统和装置-CN201611252584.7在审
发明人：侯晓军;张彩霞;雷云;冷丽英;张成民 -专利权人：西安中车永电捷通电气有限公司
申请日： 2016-12-30 - 公布日： 2017-05-31 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明提供了一种功率器件损耗测试方法、系统和装置，其中，功率器件损耗测试方法，包括获取功率器件处于工作状态时，将功率器件设置于水冷基板上，功率器件对应的水冷基板两端的第一温度差；水冷基板冷却后，发热模块取代功率器件设置于水冷基板上，调节发热模块通过的电流，使得水冷基板两端的温度差为第一温度差；根据通过发热模块的电流，确定功率器件的损耗。本发明提供的功率器件损耗测试方法在功率器件实际的工作状态下测得，避免了现有的功率器件损耗测试中，由于计算机软件模拟功率器件的工作状况与实际工况具有差别，而带来的误差。从而，本发明提供的功率器件损耗测试方法提高了功率器件损耗测试的准确率。
功率器件损耗测试方法系统装置

[实用新型]功率器件损耗测试系统-CN201621473162.8有效
发明人：侯晓军;张彩霞;雷云;冷丽英;张成民 -专利权人：西安中车永电捷通电气有限公司
申请日： 2016-12-30 - 公布日： 2017-07-14 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种功率器件损耗测试系统，其中，功率器件损耗测试系统，包括获取功率器件处于工作状态时，将功率器件设置于水冷基板上，功率器件对应的水冷基板两端的第一温度差；水冷基板冷却后，发热模块取代功率器件设置于水冷基板上，调节发热模块通过的电流，使得水冷基板两端的温度差为第一温度差；根据通过发热模块的电流，确定功率器件的损耗。本实用新型提供的功率器件损耗测试系统在功率器件实际的工作状态下测试，避免了现有的功率器件损耗仿真过程中，由于计算机软件模拟功率器件的工作状况与实际工况具有差别，而带来的误差。从而，本实用新型提供的功率器件损耗测试系统提高了功率器件损耗测试的准确率。
功率器件损耗测试系统

[发明专利]电视机板卡功率损耗检测系统、检测方法以及主控装置-CN202010152127.0在审
发明人：陈江海;蒋利;翁武强;林宇坤 -专利权人：东莞市金锐显数码科技有限公司
申请日： 2020-03-06 - 公布日： 2020-06-12 - 主分类号： G01R21/06 文献下载
摘要：本申请适用于设备检测技术领域，提供了一种电视机板卡功率损耗检测系统、检测方法、检测装置、功率处理装置、主控装置以及计算机可读存储介质，该系统包括：功率采集装置、功率处理装置以及主控装置，功率采集装置用于根据采集待检测电视机板卡的初始功率损耗值得到寄存器数据；功率处理装置用于根据获取的寄存器数据计算功率损耗值；主控装置用于获取功率损耗值，根据功率损耗值得到功率损耗检测结果。可见，本申请实施例可以自动对电视机板卡进行功率损耗检测，避免了现有技术中人工通过功率计设备对电视机板卡进行功率损耗检测过程中存在的测试不准确以及测试效率较低等问题，达到提高测试准确率以及测试效率的效果。
电视机板卡功率损耗检测系统方法以及主控装置

[发明专利]射频前端模块测试机校准方法和装置-CN202010904048.0有效
发明人：胡信伟;侯林;张宇;冯勖;顾军;李翔;张熙瑞 -专利权人：南京派格测控科技有限公司
申请日： 2020-09-01 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： H04B17/00 文献下载
摘要：本发明提供了射频前端模块测试机校准方法和装置，该方法包括：确定信号源和信号源射频线的第一功率损耗值、辅衰减器的第二功率损耗值、耦合器和芯片输入端射频线的第三功率损耗值以及芯片输出端射频线和衰减器的第四功率损耗值；确定在不同频率和功率组合的射频信号下功放器、耦合器、耦合端射频线和耦合端的第五功率损耗值、分析仪和分析仪射频线的第六功率损耗值以及反射端和反射端射频线的第七功率损耗值；根据第一功率损耗值至第七功率损耗值，对射频前端模块测试机的测试结果进行修正。本方案能够提高射频前端模块测试机测试结果的准确性。
射频前端模块测试校准方法装置

[发明专利]一种基于Saber的逆变器仿真方法及装置-CN202211159474.1在审
发明人：王哲钰;李敏;刘佳男;潘彦全;刘志强 -专利权人：中国第一汽车股份有限公司
申请日： 2022-09-22 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本申请提供了一种基于Saber的逆变器仿真方法，所述基于Saber的逆变器仿真方法包括：生成初始仿真测试电路；根据所述初始仿真测试电路进行时域仿真，获取所述功率器件模型的总损耗、开关损耗及导通损耗；对所述初始仿真测试电路进行变换，从而获取替换仿真测试电路，并根据功率器件模型的总损耗、开关损耗及导通损耗对获取的替换仿真测试电路进行被替换的初始曲线信息的灵敏度测试，从而获取每个初始曲线信息的灵敏度；根据获取的功率器件模型的总损耗、开关损耗、导通损耗以及各个原始曲线信息的灵敏度对功率器件进行设计调整。本方法可以指导功率器件和电路中其他参数设计，有效提升研发效率，可以快速的达到提高逆变器效率、降低损耗、满足系统效率要求的目标。
一种基于 saber 逆变器仿真方法装置

[发明专利]功率器件损耗测试方法-CN201710475446.3有效
发明人：张兴;冯之健;王佳宁;许明明;韦武 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2017-06-21 - 公布日： 2019-08-09 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明公开的一种功率器件损耗测试方法。该方法包括如；(1)损耗校正实验，用来绘制实际工作环境下待测功率器件随温差变化的损耗曲线；(2)实际电路测试，令待测功率器件正常工作，根据实际测得的温差值对应损耗校正实验得到的曲线，得到待测功率器件的功率值该方法在实际工况下获得损耗值，能够满足和适应任何工况下的测试需求，且不存在由于电气测量设备(如示波器)精度和延迟造成的测量误差，且测试结果去除了环境温度和起始温度变化不稳定的影响，可以得到准确的功率器件损耗数据
功率器件损耗测试校正测试需求电气测量实际电路实际工况损耗数据温差变化示波器延迟测量绘制测试

[发明专利]一种基于节点负荷及电压的功率损耗溯源方法及系统-CN202310527214.3在审
发明人：王华佳;张岩;曹文君;于丹文;李付存;王庆玉;张青青;张高峰;孙萌萌;秦佳峰;张用;苏永智;郭富胜;杨波;黄振宁 -专利权人：国网山东省电力公司电力科学研究院
申请日： 2023-05-08 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明属于配电网技术领域，提供了一种基于节点负荷及电压的功率损耗溯源方法及系统。该方法包括，构建测试配电系统；根据径向配电网的节点模型，计算每个节点的净功率；根据每个节点的净功率注入，计算每个节点的等效电流；根据后续每个节点的等效电流，计算支路电流；根据支路电流，计算支路视在功率损耗；根据支路视在功率损耗，计算支路的无功功率损耗；根据支路的无功功率损耗，计算单个负载点总有功功率损耗；根据单个负载点总有功功率损耗，计算测试配电系统的总有功功率损耗。
一种基于节点负荷电压功率损耗溯源方法系统

[发明专利]一种磁芯损耗测量的定标方法-CN201410417495.8在审
发明人：陈为;叶建盈;汪晶慧 -专利权人：福州大学
申请日： 2014-08-23 - 公布日： 2014-11-05 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明涉及一种磁性元件损耗测量的定标方法，采用一DC/AC逆变电路作为测试电路以及励磁激励源，以一已知损耗的定标电感作为所述测试电路的被测件，测量励磁下所述测试电路的直流输入功率，将所述直流输入功率扣除所述定标电感的已知损耗，获得所述测试电路本身的固有损耗，针对所述测试电路的固有损耗特性建立所述固有损耗的公式，根据所述测试电路的固有损耗拟合出所述公式中的各项系数，形成所述测试电路的固有损耗定标模型，再进一步根据测量实际被测件时的所述测试电路的输入直流功率，扣除所述测试电路本身的固有损耗，获得所述实际被测件的损耗。该方法不仅提高了磁性元件损耗的测量精度，而且测量方便简单，成本低。
一种损耗测量定标方法

[发明专利]一种用于宽禁带半导体功率器件的测试方法-CN201711004816.1在审
发明人：王文博 -专利权人：北京国联万众半导体科技有限公司
申请日： 2017-10-25 - 公布日： 2018-03-30 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种宽禁带半导体功率器件测试方法，该测试方法包括以下步骤开通过程性能测试；关断过程性能测试；导通过程性能测试；判断开通过程宽禁带半导体功率器件的损耗和关断过程宽禁带半导体功率器件的损耗的大小，当开通损耗大于关断损耗时，该器件适合用于软开通，当开通损耗小于于关断损耗时，该器件适合用于软关断。本发明可以寄生参数的影响，测量结果更准确，同时也保留了电学法自身测试设备常见、测试速度快的优点。
一种用于宽禁带半导体功率器件测试方法

[发明专利]光纤故障定位系统及方法-CN201110066960.4有效
发明人：付勇;王伟 -专利权人：北京锐锋钝石科技有限公司
申请日： 2011-03-18 - 公布日： 2011-06-08 - 主分类号： H04B10/08 文献下载
摘要：该光纤故障定位方法包括：以预设脉冲宽度和脉冲时间间隔发出测试光以在待测光纤中传输；检测测试光的功率损耗；根据测试光的功率损耗初步确定光纤的故障位置；根据测试光的功率损耗确定测试光的动态范围；根据初步确定的光纤的故障位置预估对待测光纤进行二次监测时所需的二次测试光的动态范围；根据测试光的动态范围、脉冲宽度和脉冲时间间隔之间的关系重新确定脉冲宽度和脉冲时间间隔；以重新确定的脉冲宽度和脉冲时间间隔发出二次测试光以在待测光纤中传输；检测二次测试光的功率损耗；以及根据二次测试光的功率损耗对待测光纤进行二次故障定位
光纤故障定位系统方法

[发明专利]测试光缆损耗的方法和系统-CN201710209442.0在审
发明人：张玮;周文婷;尼加提;王晓磊;崔力民;何伟;张海波;高阳;李德高;尹蕊;王鑫;张振杰;邵海涛 -专利权人：国网新疆电力公司信息通信公司;国家电网公司
申请日： 2017-03-31 - 公布日： 2017-08-29 - 主分类号： H04B10/07 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试光缆损耗的方法和系统。其中，该方法包括将光缆发送端的光功率损耗值调为零；使用前置放大器或后向拉曼代替光缆接收端的测试仪表，通过前置放大器或后向拉曼测量光缆接收端的光功率损耗值；根据光缆接收端的光功率损耗值与光缆发送端的光功率损耗值的差值得到光缆的损耗通过本发明解决了现有技术中无法准确完成超长距衰耗测试的问题，改善了超长距衰耗测试的效果。
测试光缆损耗方法系统

[发明专利]电机性能测试方法、装置、设备及存储介质-CN202210689206.4有效
发明人：黄杰辉;黎东荣 -专利权人：深圳硅山技术有限公司
申请日： 2022-06-17 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： G06K9/62 文献下载
摘要：本发明涉及电机技术领域，公开了一种电机性能测试方法、装置、设备及存储介质，用于提高电机性能测试的效率。所述电机性能测试方法包括：采集目标电机的电机电流数据、电机转矩数据以及电机温度数据；根据电机电流数据和预设测试电压数据计算输入功率数据，并根据功率计算函数和电机转矩数据生成目标电机对应的输出功率数据；根据输入功率数据和输出功率数据计算损耗功率数据，并对损耗功率数据和电机温度数据进行数据融合，得到融合数据集；根据融合数据集生成目标输入向量，并将目标输入向量输入电机性能分析模型进行损耗异常分析，得到损耗异常分析结果；根据损耗异常分析结果对目标电机进行损耗异常根因分析
电机性能测试方法装置设备存储介质

[发明专利]磁共振成像系统的射频线圈功率损耗的确定方法和装置-CN201410123909.6有效
发明人：林厚全;唐煜 -专利权人：西门子(深圳)磁共振有限公司
申请日： 2014-03-28 - 公布日： 2019-08-02 - 主分类号： G01R21/06 文献下载
摘要：本发明实施方式公开了一种磁共振成像系统的射频线圈功率损耗的确定方法和装置。方法包括：执行一负载全反射测试；检测所述负载全反射测试的一负载全反射功率损耗；基于所述负载全反射功率损耗和一特定参数确定所述射频线圈功率损耗。无需额外设置用于检测射频线圈射频电压的耦合线圈，而是基于负载全反射功率损耗和一特定参数确定射频线圈功率损耗，因此本发明实施方式可以在不使用耦合线圈的条件下计算射频线圈功率损耗，节省了硬件投入。
磁共振成像系统射频线圈功率损耗确定方法装置

[发明专利]一种上行功率控制方法、基站及用户设备-CN201180001897.4有效
发明人：梁永明;倪威;陈继明;任晓涛 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2011-08-03 - 公布日： 2017-02-01 - 主分类号： H04W52/14 文献下载
摘要：一种上行功率控制方法、基站及用户设备，其中，一种本发明实施例方法包括用户设备向用于为用户设备服务的收发器发送上行测试信令，以使收发器通过测试上行测试信令计算出上行测试信令接收功率；用户设备接收收发器发送的上行测试信令接收功率和公共参考信号发送功率；用户设备接收并测试收发器发送的CRS，得到参考信号接收功率；用户设备根据上行测试信令接收功率、公共参考信号发送功率和参考信号接收功率，计算用户设备与收发器之间的每一条路径上的上行路径损耗；用户设备根据用户设备与收发器之间的每一条路径上的上行路径损耗，计算合并的路径损耗；用户设备根据合并的路径损耗进行上行发送功率计算。
一种上行功率控制方法基站用户设备

[发明专利]利用黄金抽样的测试器和测试板的校准-CN200480023112.3无效
发明人： H·维塞;S·斯帕恩 -专利权人：皇家飞利浦电子股份有限公司
申请日： 2004-08-14 - 公布日： 2006-09-20 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：在自动测试设备(ATE)上执行测试中，精确地产生和测量RF(射频)功率是一个挑战。在示例的实施例中，在被用来测量放大器(140)的输入和输出特性的测试设备(100)中，具有用于确定测试程序参数的方法。该方法(200)包括计算从测试设备电源到放大器(220)的输入的输入损耗，定义输入损耗校正因子。计算从放大器输出(220)到测试设备的功率计的输出损耗，定义输出损耗校正因子。使用输入损耗校正因子(230)，确定实际的输入功率电平，并且使用输出损耗校正因子(230)，确定实际的输出电平。
利用黄金抽样测试校准

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