专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光路双频外差显微测量装置-CN200410003475.2有效
  • 孟永钢;柳忠尧;阎聚群;张蕊;林德教;殷纯永 - 清华大学
  • 2004-03-30 - 2005-01-12 - G01B9/04
  • 光路双频外差显微测量装置,属于表面形貌测量技术领域。为了在提高分辨率和量程的同时保证系统有高的稳定性,本发明公开了一种光路双频外差显微测量装置,包括横向塞曼双频激光器,依次设置在激光器发射端轴线上的分光镜、第一会聚透镜、第一针孔、第一胶合透镜、第一半透半反镜、双折射透镜组和显微物镜,以及设置在分光镜反射光路上的第一光电探测器;还包括设置在第一半透半反镜的反射光路上的第二半透半反镜,以及分别设置在第二半透半反镜反射光路上的格兰棱镜、第二胶合透镜、第二针孔、第二光电探测器
  • 共光路双频外差显微测量装置
  • [发明专利]双波长光纤线阵列色散显微探测方法与装置-CN202111264608.1在审
  • 陈成;杨佳苗;沈阳 - 绍兴钜光光电科技有限公司
  • 2021-10-28 - 2022-01-21 - G01B11/25
  • 双波长光纤线阵列色散显微探测方法与装置。本发明属于光学成像与检测领域,可用于微纳精密样品表面形貌的快速测量。本发明结合光纤线阵列和物镜的轴向色散,通过公共光纤端线阵列作为狭缝提供狭缝照明并过滤经样品反射的测量光束,使用波长分光装置分离测量光束中不同波长的光,得到双照明波长下光纤线阵列色散响应强度值,进而获取样品表面沿测量光束光轴方向的位移信息采用公共端光纤线阵列当作照明狭缝和探测狭缝,降低光路调整难度;利用线色散曲线斜率较大线性区域来替代传统线色散中斜率为零顶点区域,显著提升探测灵敏度和精度。
  • 波长光纤阵列色散显微探测方法装置
  • [发明专利]拉曼光谱仪及其激光光路的处理方法-CN201210040336.1有效
  • 江洋;沈斌;刘志丰;潘瑞丰;杨志强 - 江阴极光仪器科技有限公司
  • 2012-02-22 - 2012-07-25 - G01N21/65
  • 一种拉曼光谱仪及拉曼光谱仪中激光光路的处理方法,具体是选择其中一个激光器发出激光,进入激光传输装置;再选择激光传输装置的激光切换装置中与激光器对应的一组反光镜将激光传输至连续可调激光衰减装置,对激光的强度作衰减处理;将经连续可调激光衰减装置处理后的激光反射至边缘滤光片切换装置,由边缘滤光片切换装置将激光反射并经过显微装置的物镜照射到显微装置载物台上的被测物质,被测物质被激光激发后产生的拉曼信号、瑞利散射光及激光经显微装置的物镜收集并返回至所述边缘滤光片切换装置,由边缘滤光片滤除瑞利散射光和激光后仅留下拉曼信号,该拉曼信号经信号装置及光谱检测装置最终形成拉曼光谱。
  • 共焦拉曼光谱仪及其激光处理方法
  • [实用新型]一种荧光显微成像系统-CN201420211625.8有效
  • 邵永红;金春平 - 江苏天宁光子科技有限公司
  • 2014-04-28 - 2014-12-10 - G01N21/64
  • 本实用新型属于三维显微成像领域,提供了一种荧光显微成像系统。该系统是在现有可获取样品三维层析图像的激光光源和成像光路的基础上,另外增加可得到宽场图像的宽场成像光路、宽场照明激光光源、以及面阵探测器,并增加成像光路与宽场成像光路配合使用的光学器件,以实现宽场图像与三维层析图像的同时显示相对于现有技术,解决了样品逐点扫描所带来的扫描时间长的问题,同时结构简单,降低了系统成本,有利于系统的产业化应用。
  • 一种荧光显微成像系统
  • [实用新型]一种焦距测量仪-CN201520125766.2有效
  • 陶沙;陶源;黄荻 - 陶沙;陶源;黄荻
  • 2015-03-04 - 2015-07-15 - G01M11/02
  • 本实用新型涉及一种焦距测量仪,包括依次设置在主光轴上的照明系统、玻罗板、准直物镜和接收器;玻罗板设置于准直物镜的面上,形成平行光管;该测量仪还包括镜,设置于准直物镜和接收器之间的主光轴上,镜的横向放大倍率为与物距无关的定值,测量时被测光学系统位于准直物镜和镜之间。本实用新型不需要加显微镜,正负透镜均能测量,结构简单,能简化测量和调试过程,操作方便,同时测量精度高。
  • 一种焦距测量仪

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