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[发明专利]光发射器组件、深度相机和电子装置-CN201811234390.3在审
发明人：张学勇 -专利权人： OPPO广东移动通信有限公司
申请日： 2018-10-23 - 公布日： 2019-01-11 - 主分类号： G02B27/42 文献下载
摘要：本发明的光发射器组件包括光发射器及光检测模组，光发射器包括镜筒、光源及光学元件，光源及光学元件均设置在镜筒内，光源用于向光学元件发射激光并将激光投射至镜筒外；光检测模组设置在光学元件的远离光源的一侧，光检测模组与光发射器能够发生相对移动以使光检测模组选择性地设置在光源的光路上或设置在光路外光发射器组件中的光检测模组与光发射器能够发生相对移动以使光检测模组选择性地设置在光源的光路上或设置在光路外，从而当光检测模组检测到光学元件损坏时，光发射器中的光源停止向镜筒外发射激光以避免激光照射至用户的眼睛并灼伤用户的眼睛本发明还公开了电子装置及深度相机。
光检测模组光源光发射器光学元件镜筒光发射器组件电子装置深度相机相对移动光路激光激光投射激光照射发射检测

[实用新型]一种检测装置-CN202320639999.9有效
发明人：向萌;刘召俊;黎子刚;陈鲁 -专利权人：深圳中科飞测科技股份有限公司
申请日： 2023-03-28 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：一种检测装置，包括承载件、检测件、第一光源和第二光源；其中，检测件设置于承载件，用于检测被测物并获取检测信息；第一光源设置于检测件，且第一光源的光路与检测件的光路至少部分保持重合，用于向被测物提供第一检测光；第二光源设置于承载件，用于向被测物提供第二检测光；所述第二光源向被测物提供的第二检测光的光轴与检测件采集的信号光的光轴之间具有预设夹角。利用第一光源和第二光源提供的检测光，使得装置具备执行不同检测作业的能力，例如明场检测、暗场检测等；同时，通过对光源的光路与检测件的光路之间的相对关系的选择配置，将光源和检测件组合装配为一体，可有效简化装置整体的结构，使得装置能够方便灵活地应用于检测场景中。
一种检测装置

[实用新型]光电化学太阳电池测试仪-CN201220233996.7有效
发明人：杨良 -专利权人：北京赛凡光电仪器有限公司
申请日： 2012-05-23 - 公布日： 2013-01-02 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光电化学太阳电池测试仪，包括提供测试所需光辐射的光源、光路选择器、单色器、太阳模拟器光路、光功率测试器件、光电化学样品池和电化学工作站，其中，光路选择器将所述光源的光辐射分为两路，第一路光进入单色器转换成单色光、第二路光进入太阳模拟器光路转换成标准AM太阳模拟光源，光电化学样品池内盛放有液性样品，光功率测试器件和光电化学样品池交互分别与所述单色光、标准AM太阳模拟光源对准，接收其光辐射并测量设定参数，光功率测试器件和光电化学样品池均与电化学工作站连接
光电化学太阳电池测试仪

[发明专利]基于微流控芯片的荧光检测装置及微流控芯片检测系统-CN202010108140.6有效
发明人：张东旭;戴皓正;黄绍磊;张剑滨;张雅;王进;翁祖星;宋浏伟;张师音;葛胜祥;张军;夏宁邵 -专利权人：厦门大学;厦门万泰凯瑞生物技术有限公司
申请日： 2020-02-21 - 公布日： 2020-09-29 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于微流控芯片的荧光检测装置及微流控芯片检测系统，其中，荧光检测装置包括：底座；至少两个光路组件，固定设于底座，至少两个光路组件中的每个光路组件包括激发光路模块和收集光路模块；第一支架，可移动地设于底座第一端穿设且固定于第一支架，第二端用于贴近芯片且向芯片传输光线；以及第二光纤，第一端穿设且固定于第一支架，第二端用于贴近芯片且回收芯片中的光线；其中，第一光纤的第一端和第二光纤的第一端被配置为随第一支架移动，且可选择地与至少两个光路组件中的一个光路组件中的激发光路模块和收集光路模块分别对应连接
基于微流控芯片荧光检测装置系统

[发明专利]一种光纤与自由空间混合的偏振编码装置及方法-CN202310775491.6在审
发明人：崔豆;孙晓洁;江淮;刘爽;阚宝玺;王学锋 -专利权人：北京航天控制仪器研究所
申请日： 2023-06-28 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： H04B10/079 文献下载
摘要：本发明涉及一种光纤与自由空间混合的偏振编码装置及方法，包括保偏激光器、四个强度调制器、随机信号源、两个保偏偏振耦合器、两个光纤准直器、半波片、分光棱镜；通过控制强度调制器，随机选择四路光中某一路发出光脉冲，通过之后的保偏偏振耦合器与其相正交的一路信号进行合束，两合束光分别经光纤准直器进入自由空间，之后通过自由空间光路实现两路光非正交合束，从而获得四种非正交的偏振状态，其中根据随机信号对强度调制器随机选择
一种光纤自由空间混合偏振编码装置方法

[发明专利]激光光源装置、具备其的图像显示装置以及监视器装置-CN200710161625.6无效
发明人：熊谷惠子;今村峰宏 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2007-09-27 - 公布日： 2008-04-02 - 主分类号： H01S3/00 文献下载
摘要：本发明提供高效率地抑制输出光的功率下降，光利用效率高，输出光的偏振方向一致，且输出稳定的激光光源装置及具备其的图像显示装置以及监视器装置。激光光源装置(31)，具备：光源(311)，波长变换元件(312)，外部谐振器(313)和光路变换元件(314)。波长变换元件(312)设置于谐振结构中，第2激光(LS2)，通过光路变换元件(314)按第二光路(O2)取出，朝向与第1激光(LS1)的行进方向大致相同的方向，与第1激光(LS1)一同作为输出光被利用。用于取出第2激光(LS2)的选择反射膜(317)与反射面(316A)，通过棱镜(315、316)所一体化。
激光光源装置具备图像显示装置以及监视器

[发明专利]一种基于量子弱测量的原子磁力仪探测光路系统-CN202011118583.X有效
发明人：李东梅;郑文强;林强;苏圣然;毕欣;刘泽华 -专利权人：浙江工业大学
申请日： 2020-10-19 - 公布日： 2023-04-14 - 主分类号： G01R33/032 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于量子弱测量的原子磁力仪探测光路系统，所述原子磁力仪探测光路系统依次包括激光光源、第一偏振片、二分之一波片、相位补偿器、原子气室、第二偏振片和电荷藕合器件；其中，激光光源经过第一偏振片进行偏振预选择和二分之一波片的偏振调节，实现系统的前选择偏振态；前选择偏振态通过相位补偿器实现两个正交偏振分量在光传播横截面上的空间分离，原子气室产生的旋光和第二个偏振片共同实现系统的后选择偏振态。本发明提供的原子磁力仪探测光路系统可以对磁致旋光角进行高灵敏度检测，以实现磁场的高灵敏度传感。
一种基于量子测量原子磁力探测系统

[发明专利]光量子编码装置、方法、量子通信系统及诱骗态光源-CN201911370290.8有效
发明人：陶俊;李东东;唐世彪;刘仁德 -专利权人：科大国盾量子技术股份有限公司
申请日： 2019-12-26 - 公布日： 2021-02-09 - 主分类号： H04B10/70 文献下载
摘要：本发明涉及一种新型的光量子编码装置、方法、量子通信系统及可用于诱骗态编码的光源结构。其中，光量子编码装置包括光源、保偏分束单元、合束单元、时间选通单元、延迟补偿单元及多个具有不同光程的第一光路。保偏分束单元将线偏振脉冲光分束成多个分量，并使这些分量分别沿某个第一光路朝合束单元传播。合束单元将这些分量合束，其中这些分量具有彼此不同的偏振态。时间选通单元随机选择合束光中的一个分量通过。延迟补偿单元为选择通过的分量提供时间延迟补偿，以使这些分量在系统周期内时序对准。
光量子编码装置方法量子通信系统诱骗光源

[发明专利]一种非磁性材料光致磁化及超快退磁的检测方法及其装置和应用-CN202011599752.6在审
发明人：王晓莉;王菲;唐智勇 -专利权人：国家纳米科学中心
申请日： 2020-12-29 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： G01R33/12 文献下载
摘要：本发明提供了一种非磁性材料光致磁化及超快退磁的检测方法及其装置和应用，将线偏振激光脉冲分为泵浦光路和探测光路两路，然后将所述泵浦光路的线偏振激光脉冲处理得到单一波长的圆偏振泵浦光，将非磁性材料实现带内激发，并将所述探测光路的线偏振激光脉冲处理得到延迟后的具有波谱的圆偏振探测光，用于探测被激发与未被激发的非磁性材料的瞬态光谱，利用自旋选择定则，通过检测具有不同偏振态的圆偏振探测光的瞬态吸收差异反映光致磁化强度，进一步调节所述圆偏振探测光对应的延迟时间Δt，利用所述光致磁化强度的变化情况拟合得到超快退磁弛豫时间，为非磁性材料用于超快光磁开关或超快光控存储提供可能。
一种磁性材料磁化退磁检测方法及其装置应用

[发明专利]数据通信设备中光接口的流量保护方法及其装置-CN02126615.8有效
发明人：王重阳;张志淳;董书友 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2002-07-18 - 公布日： 2004-01-21 - 主分类号： H04L12/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种数据通信设备中光接口的流量保护方法及其装置，属数据通信技术领域。本方法首先从周边设备接收光信号，将光信号复制，其中一路送二选一器件，另一路经中间通信设备处理后再次复制，再次复制后的光信号中的一路送二选一器件，二选一器件根据中间通信设备的工作状态，从上述两路复制的光信号中选择其中一路光信号发往对端设备本发明的装置包括两个分光器和一个光开关，分光器用于复制光信号，光开关作为而选一器件。本发明提出的流量保护方法及其装置，可以不依赖于网络拓扑结构，可靠实现流量保护；而且流量中断时间短，可应用于对中断时间比较敏感的数据通信设备中，并满足对路由有严格限制的场合，使数据安全得到保证。
数据通信设备接口流量保护方法及其装置

[发明专利]光收发器、使用其的光收发器模块及光收发器的测试方法-CN201911004796.7有效
发明人：杉山昌树 -专利权人：富士通光器件株式会社
申请日： 2019-10-22 - 公布日： 2021-08-13 - 主分类号： G02B6/42 文献下载
摘要：一种光收发器具有：第一光波导，该第一光波导连接到用于信号光的输入/输出端口；第二光波导，该第二光波导被配置成输入和输出测试光；光电路，该光电路被配置成执行光电转换或电光转换；以及光开关，该光开关设置在光电路与第一光波导和第二光波导之间，并且该光开关被配置成在第一路径与第二路径之间进行切换，其中，该第一路径将光电路连接至第一光波导，并且该第二路径将光电路连接至第二光波导，其中，该光开关被配置成在将电压施加到该光开关的接通状态下选择第二路径，并且在未将电压施加到该光开关的断开状态下选择第一路径。
收发使用模块测试方法

[发明专利]一种用于样品组分定量分析的装置及方法-CN201410707332.3有效
发明人：沈嘉祺;孙文剑 -专利权人：岛津分析技术研发(上海)有限公司
申请日： 2014-11-27 - 公布日： 2019-11-19 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：本发明提供用于获取喇曼散射光谱的装置及方法，装置包括：产生激发光束的激发光源；激发光光路，将激发光束导向待分析样品以产生喇曼散射光；收集喇曼散射光的散射光收集光路；检测装置，用于接收对应各检测频率或子频段的喇曼散射光信号并转换成电信号以分析；连接散射光收集光路和检测装置的一个或多个色散装置，用于导入散射光收集光路收集的喇曼散射光形成喇曼散射光谱；至少一个色散装置配有空间光调制器，空间光调制器在所在色散装置形成的喇曼散射光谱中选择对应不同的检测频率或子频段的空间部分并逐次导向检测装置检测
一种用于获取散射光谱装置方法

[实用新型]一种LED焊线设备用远心测量镜头-CN201120350671.2有效
发明人：姜鹤鸣;李孟健;高云峰 -专利权人：深圳市大族激光科技股份有限公司;深圳市大族光电设备有限公司
申请日： 2011-09-19 - 公布日： 2012-05-30 - 主分类号： G02B13/22 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种LED焊线设备用远心测量镜头，镜头光路系统包括远心成像光路，同轴临界照明光路及侧光辅助照明光路等。其中成像部分光路设计为可调，以弥补镜头镜片加工误差或者镜头在机器中的装配误差引起的像面偏离；同轴照明为嵌入式临界照明，照明中的镜片既用于照明光路，也用于成像光路。侧光选用多角度及红蓝两种颜色的LED来照明。这样可以通过灯光的选择调试来满足各种不同表面属性的LED芯片测试需求。
一种 led 焊线设备用测量镜头

[发明专利]接收设备及光交换网装置-CN201380000846.9有效
发明人：操时宜 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2013-05-13 - 公布日： 2014-02-26 - 主分类号： H04L12/931 文献下载
摘要：本发明提供一种接收设备及光交换网装置，接收设备包括：多个选择模块、连接每一选择模块的快速光开关、连接所有的快速光开关的输出模块和连接输出模块的接收机；其中，选择模块用于接收多波光信号，并在多波光信号中选择滤出设定时间片段的一段第一光信号，将第一光信号发送至快速光开关；快速光开关用于将选择模块滤出的第一光信号中选择出第二光信号，将第二光信号发送输出模块；输出模块用于将所有快速光开关分别选择的光信号合并成一路光突发信号，将光突发信号发送至接收机包含上述接收设备的光交换网装置可解决现有技术中光交换矩阵的容量小或切换速度无法满足需求的问题。
接收设备交换装置

[发明专利]基于Mach-Zehnder和Michelson干涉仪的保偏光纤Verdet常数测量装置及方法-CN201610911055.7有效
发明人：宋凝芳;王晓阳;蔡伟;高福宇;金靖;徐小斌 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2016-10-19 - 公布日： 2018-09-28 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于Mach‑Zehnder和Michelson干涉仪的保偏光纤Verdet常数测量装置及方法，属于光纤应用技术领域。所述测量装置包括马赫曾德干涉仪以及由迈克尔逊干涉仪组成的波列分析模块。所述测量方法首先选择延时环的长度；然后等长度逐次减小延时环长度；直至参考光路的光与信号光路的光发生干涉，并记录下干涉条纹；施加磁场，再次使参考光路的光与信号光路的光发生干涉，并记录下干涉条纹；计算Verdet
基于 mach zehnder michelson 干涉仪偏光 verdet 常数测量装置