专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种投影结构及投影广告灯-CN202310321455.2在审
  • 王振鹏;胡洋 - 广州市小萤成像技术有限公司
  • 2023-03-29 - 2023-06-23 - G03B21/64
  • 本申请涉及一种投影结构及投影广告灯,包括依次排列的照明模块、折射模块以及反射模块,照明模块包括依次设置于发射路上的光源、光源保护玻璃、具有正光度的第一透镜、具有正光度的第二透镜以及玻璃菲林片,光源用于发射影像光束的;折射模块包括依次设置于折射路上具有正光度的第三透镜、具有正光度的第四透镜、具有负度的第五透镜、具有正光度的第六透镜、具有正光度的第七透镜、具有正光度的第八透镜以及具有负度的第九透镜,折射模块还包括孔径光阑,孔径光阑设置于折射路上。
  • 一种投影结构广告
  • [发明专利]焦距测量系统和方法、调焦系统和方法以及光刻装置-CN201810698987.7有效
  • 许翱鹏;周钰颖 - 上海微电子装备(集团)股份有限公司
  • 2018-06-29 - 2022-02-18 - G01M11/02
  • 此焦距测量系统包括:沿传播方向依次排列的光源单元、物镜单元、承载台和检测单元;光源单元用于发出入射到物镜单元的探测;探测的能量分布沿探测光光轴轴对称分布,且探测的能量在对称轴的一侧单调分布;检测单元用于接收待测物体反射的信号;检测单元包括第一检测位置和第二检测位置,两检测位置对称设置于待测物体的离量为0时,经待测物体反射得到的光斑的峰值的两侧;还包括测控制单元;测控制单元的输入端与检测单元电连接,测控制单元用于根据检测单元接收的信号判断待测物体的离状态此系统简单,可适用于大NA的显微物镜的散射测量设备。
  • 焦距测量系统方法调焦以及光刻装置
  • [发明专利]一种全息瞄具-CN201210010507.6无效
  • 孙建华;李雯;张团;罗茉莉 - 西安华科光电有限公司
  • 2012-01-14 - 2012-06-27 - G02B23/14
  • 本发明提供了一种全息瞄具,包括激光二极管,对该激光二极管发射的激光进行扩束和折的全息透镜,该系统还包括用于对所述全息透镜的出射进行准直、滤波和折的带有全息分化图像的全息组合元件,该全息组合元件是兼具透镜性质和成像全息图性质的组合全息元件该全息瞄具元件少、样式多、缩短了系统的长度,也使得该系统的产品结构更为紧凑灵活多样,克服了现有瞄具中所存在的系统长度大、元件多、复杂和样式单一的缺陷。
  • 一种全息瞄具光路
  • [发明专利]高层析、抗散射激光差动共层析定方法与装置-CN201910315826.X有效
  • 赵维谦;邱丽荣;王允 - 北京理工大学
  • 2019-04-19 - 2020-10-02 - G01M11/02
  • 本发明涉及高层析、抗散射激光差动共层析定方法与装置,属于光学测量技术领域。其针对光学元件尺寸参数测量中元件内、外表面高精度、抗散射定的共性瓶颈问题,提出在共测量系统中,通过大、小虚拟针孔横向相减探测来锐化离探测系统的共特性曲线,通过双探测前和后锐化共特性曲线的差动相减处理来实现被测表面的差动共双极性定测量,通过差动共曲线的线性拟合来提升焦点位置捕获精度,通过光线追迹模型补偿来减少各定表面间的相互干扰,进而实现被测光学元/部件内外表面的高精度层析定和精磨散射表面的高精度定,以期解决光学元件参数测量中高精度层析定这一共性瓶颈问题
  • 层析散射激光差动方法装置
  • [发明专利]一种差动双区域共轴向测量装置-CN201310229370.8有效
  • 黄向东;谭久彬;尹可 - 哈尔滨工业大学
  • 2013-06-09 - 2013-09-04 - G01B11/00
  • 一种差动双区域共轴向测量装置属于三维共显微测量领域;该差动双区域共轴向测量装置包括设置在直射路上的激光器,扩束准直镜,偏正分光棱镜、1/4玻片,探测物镜和样品,从激光器发射的激光束,经扩束准直镜扩束准直后,平行穿过偏正分光棱镜,再经过1/4玻片,由探测物镜会聚到样品上;还包括设置在反射路上的差动双区域共探测,从样品反射的光束,再依次经过探测物镜、1/4玻片,由偏正分光棱镜反射,入射到差动双区域共探测;这种设计,不仅具备更高的轴向探测灵敏度,而且能够抑制共系统中乘性噪声的影响;同时获得单调变化的平面附近轴向曲线,通过一次测量即可获得样品轴向位置。
  • 一种差动区域轴向测量装置
  • [发明专利]一种基于DMD的快照式光谱成像系统及方法-CN202310225150.1在审
  • 虞益挺;张路明;董雪;石颖超 - 西北工业大学深圳研究院;西北工业大学
  • 2023-03-10 - 2023-07-04 - G01J3/28
  • 本发明涉及光谱成像技术领域,主要涉及一种基于DMD的快照式光谱成像系统及方法,包括目标、成像、DMD、第一通道以及第二通道;成像包括成像本体、物面和像面,目标位于物面处,DMD位于像面处;DMD包括工作面,成像、第一通道以及第二通道的光轴均经过工作面的中心;工作面上设有具有正状态和反状态的微镜单元;第一通道位于成像的一侧,用于获取各正状态的微镜单元反射过来的目标像;第二通道位于成像的另一侧,用于获取各反状态的微镜单元反射过来的目标像;整个系统仅需DMD的所有微镜单元进行一次偏转以及各探测器的一次曝光即可完成,因此数据量大幅度减少,数据处理量也随之减少,加快了数据处理速度。
  • 一种基于dmd快照光谱成像系统方法
  • [发明专利]相位调制偏振编解码装置和量子密钥分发系统-CN201910955868.X在审
  • 许华醒 - 中国电子科技集团公司电子科学研究院
  • 2019-10-09 - 2020-11-06 - H04B10/25
  • 一种相位调制偏振编解码装置和量子密钥分发系统,所述装置包括:传输装置、相位调制器和反射装置,传输装置包括第一、第二和第三端口,第一端口接收输入脉冲,第二端口将脉冲通过第一保传输光传输至反射装置,接收传输回的脉冲并传输至第三端口;反射装置中的偏振分束器的输入端口耦合至第一保传输光,其两个输出端口经第二保传输光耦合,第二保传输光路由扭转90度、包含奇数个90度熔接点或者包含半波片的保偏光纤形成;相位调制器设置在第一或第二保传输光路上并具有两个端口,仅对两个端口之一输入的脉冲调制,或对两个端口输入的脉冲进行不同相位调制。能够通过相位调制更快地调制脉冲偏振态。
  • 相位调制偏振解码装置量子密钥分发系统
  • [实用新型]相位调制偏振编解码装置和量子密钥分发系统-CN201921680316.4有效
  • 许华醒 - 中国电子科技集团公司电子科学研究院
  • 2019-10-09 - 2020-05-15 - H04B10/70
  • 一种相位调制偏振编解码装置和量子密钥分发系统,所述装置包括:传输装置、相位调制器和反射装置,传输装置包括第一、第二和第三端口,第一端口接收输入脉冲,第二端口将脉冲通过第一保传输光传输至反射装置,接收传输回的脉冲并传输至第三端口;反射装置中的偏振分束器的输入端口耦合至第一保传输光,其两个输出端口经第二保传输光耦合,第二保传输光路由扭转90度、包含奇数个90度熔接点或者包含半波片的保偏光纤形成;相位调制器设置在第一或第二保传输光路上并具有两个端口,仅对两个端口之一输入的脉冲调制,或对两个端口输入的脉冲进行不同相位调制。能够通过相位调制更快地调制脉冲偏振态。
  • 相位调制偏振解码装置量子密钥分发系统
  • [发明专利]一种实现相位对焦的方法-CN201210509256.6有效
  • 李平立;袁梦尤;王建华;薛涛 - 北京大学;方正国际软件(北京)有限公司
  • 2012-12-03 - 2017-11-07 - G03B13/36
  • 本发明公开了一种实现相位对焦的方法,该方法首先由图像传感器采集原始图像信号和在成像中设置遮挡装置后的遮挡图像信号,并将图像信号发送到对焦处理单元,然后由对焦处理单元对接收到将图像信号(原始图像信号与遮挡图像信号或者不同的遮挡图像信号)进行处理,得到图像传感器和成像平面的相对位置关系,最后根据图像传感器和成像平面的相对位置来确定图像是否对焦,并通过移动透镜组对的图像进行对焦。通过该方法只需要在成像中增加简单的遮挡装置就能够实现全图像任意位置的快速相位对焦,且不需要增加额外的相位检测装置,节约成本。
  • 一种实现相位对焦方法
  • [发明专利]光斑自动跟装置及其方法-CN202310513844.5在审
  • 张良;匡翠方;杨臻垚;丁晨良;樊吴申;孙秋媛;刘旭;周国尊 - 之江实验室;浙江大学
  • 2023-05-09 - 2023-06-06 - H04N23/67
  • 本申请提供一种光斑自动跟装置及其方法。该光斑自动跟装置包括光源、光学系统、物镜、物镜压电位移器、四象限光电探测器及控制系统,光源发出的入射光束经由光学系统和物镜通过入射入射到样品表面,其中,四象限光电探测器用于接收经样品表面反射并经由物镜和光学系统通过反射出射的反射光束,并将反射光束的信号转换为四电信号;控制系统用于基于四电信号来确定入射到样品表面的入射光斑的离量,并基于入射光斑的离量来生成补偿控制信号给物镜压电位移器;物镜压电位移器用于基于补偿控制信号来控制物镜沿轴向移动以使入射光斑能够始终聚焦于样品表面本申请能够自动控制物镜轴向运动以达到自动跟目标。
  • 光斑自动装置及其方法
  • [发明专利]变焦透镜、以及使用这种变焦透镜的成像装置-CN200410085656.4无效
  • 末吉正史 - 索尼株式会社
  • 2004-05-28 - 2005-03-09 - G02B15/00
  • 本发明涉及变焦透镜、以及使用这种变焦透镜的成像装置,其中的变焦透镜从物侧开始依次包括具有正拆射度的第一透镜组,具有负折射度的第二透镜组,具有正折射度的第三透镜组,具有正折射度的第四透镜组,以及具有负折射度的第五透镜组,其中通过移动第二和第四透镜组进行变焦操作,其中第一透镜组从物侧开始包括,具有负折射度的前透镜组,用于折叠的光学元件,以及具有正折射度的后透镜组,满足条件1.0
  • 变焦透镜以及使用这种成像装置

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