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[发明专利]一种激光雷达探测装置及方法-CN202111444205.5在审
发明人：王映宇 -专利权人：杭州海康威视数字技术股份有限公司
申请日： 2021-11-30 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：本申请提供一种激光雷达探测装置及方法，涉及激光雷达领域，在低成本高效率的前提下，提高单光子激光雷达探测的准确度，以降低背景光的干扰。具体方案为：激光雷达探测装置包括光发射单元、光探测单元以及处理单元。处理单元控制光发射单元的发射偏振态、光探测单元的接收偏振态，以及控制其相同；光发射单元根据处理单元的控制，发送第一偏振态的光脉冲；光探测单元根据处理单元的控制，采用第一偏振态探测返回光脉冲，对其进行光子计数；处理单元获取光探测单元探测到的返回光脉冲的光子计数统计特征，按照统计特征确定探测目标。
一种激光雷达探测装置方法

[发明专利]光探测电路、光探测方法、激光雷达及存储介质-CN202110693340.7在审
发明人：陈峥涛;朱雪洲;向少卿 -专利权人：上海禾赛科技有限公司
申请日： 2021-06-22 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： G01S7/4863 文献下载
摘要：本申请提供光探测电路、光探测方法、激光雷达及存储介质。光探测电路包括：光探测单元阵列，包括：多个光探测单元，用于接收到光信号而产生相应的电信号；开关阵列，包括多个第一开关单元；每个第一开关单元分别对应耦接至一光探测单元；每个第一开关单元被配置为控制所耦接的光探测单元的工作状态，以使所耦接的光探测单元的信号输出端输出所述电信号；选择单元，用于选择处于工作状态的光探测单元以输出电信号。通过分别对各第一开关单元开关状态的设置，选择将需要工作的光探测单元激活工作，并将无需工作的光探测单元设置成不能被激活，避免激光雷达的测量通道受到由外部干扰光造成的串扰影响，提升探测准确度，亦避免不必要能耗
探测电路方法激光雷达存储介质

[发明专利]光学系统透过率检测装置及光学系统透过率检测方法-CN202010368203.1有效
发明人：李天鹏;侯宝路;杨若霁 -专利权人：上海微电子装备（集团）股份有限公司
申请日： 2020-04-30 - 公布日： 2022-11-04 - 主分类号： G01N21/59 文献下载
摘要：本发明提供了一种光学系统透过率检测装置及光学系统透过率检测方法，光学系统透过率检测装置包括光路调整单元、探测光测量单元和参考光测量单元，光路调整单元包括分光镜和反射器，分光镜用于将入射光分为透射的初次探测光和反射的参考光，反射器用于对初次经过待测物镜组件的初次探测光进行反射形成反射探测光，且反射探测光能再次经过待测物镜组件后到达探测光测量单元；探测光测量单元用于检测反射探测光；参考光测量单元用于检测参考光；探测光测量单元和参考光测量单元位于待测物镜组件的同一侧本发明的技术方案能够集中关键探测部件，优化探测布局，便于实现电气一体化设计，并提高装置的通用性和适用性，以及进一步提高测量精度。
光学系统透过检测装置方法

[发明专利]使用图形光投影的乘客保护装置及其方法-CN201210150884.X有效
发明人：车东垠 -专利权人：现代自动车株式会社
申请日： 2012-05-15 - 公布日： 2017-03-01 - 主分类号： B60Q1/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种使用图形光投影的乘客保护装置及其方法。其中，一种安装在车辆上的装置，以使用图形光投影保护乘客，所述装置包括第一探测单元，该第一探测单元配置成探测车门的打开；第二探测单元，该第二探测单元配置成探测上车乘客的上车或探测下车乘客的下车；侧台阶驱动单元，该侧台阶驱动单元配置成驱动智能侧台阶；光投影单元，该光投影单元配置成投影出上车保护光或下车保护光；以及控制单元，该控制单元配置成控制所述侧台阶驱动单元，以在所述第一探测单元探测到车门打开时拉出设置在车辆内的智能侧台阶，并且配置成控制所述光投影单元，以在所述第二探测单元探测到下车乘客下车时投影出下车保护光。
使用图形投影乘客保护装置及其方法

[发明专利]硅锗集成光探测器及其制备方法-CN201711050293.4在审
发明人：祝晓昆 -专利权人：深圳市中新硅光科技有限公司
申请日： 2017-10-31 - 公布日： 2019-05-07 - 主分类号： H01L31/18 文献下载
摘要：本发明涉及一种硅锗集成光探测器及其制备方法，在硅衬底的同一侧分别生长单晶硅和生长单晶锗，得到对应的硅光探测单元和锗光探测单元，在硅衬底生长有单晶硅和单晶锗的一侧，对应于硅光探测单元和锗光探测单元的位置进行与硅衬底相反的掺杂，在硅衬底形成掺杂的一侧形成与硅光探测单元和锗光探测单元电连接的电连接通路单元，在硅衬底形成有电连接通路单元的一侧沉积金属层，对金属层进行干法刻蚀处理后形成导电图案，导电图案覆盖电连接通路单元、硅光探测单元和锗光探测单元锗与硅同属一族，锗材料可以很好地外延生长在硅衬底上，将硅锗集成在同一硅衬底上，增强了探测器的性能，扩大了探测器探测光的范围。
硅衬底光探测单元探测单元硅光电连接通路硅锗集成光探测器单晶硅导电图案单晶锗探测器生长制备沉积金属层干法刻蚀外延生长掺杂的电连接金属层探测光锗材料掺杂覆盖

[发明专利]CMOS量子点成像芯片及其制备方法和驱动方法-CN202211425533.5在审
发明人：郝群;唐鑫;陈梦璐;罗宇宁 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2022-11-14 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： H10K39/32 文献下载
摘要：本公开实施例涉及一种CMOS量子点成像芯片及其制备方法和驱动方法，该CMOS量子点成像芯片包括基底；探测单元，设置在基底的一侧，且阵列排布；探测单元包括紫外光‑可见光探测子单元和红外光探测子单元；紫外光‑可见光探测子单元在基底上的垂直投影与红外光探测子单元在基底上的垂直投影间错开；紫外光‑可见光探测子单元用于响应入射的紫外光和入射的可见光输出对应的电信号；红外光探测子单元用于响应红外光输出对应的电信号由此，在现有的探测可见光CMOS成像芯片的基础上，将紫外光‑可见光探测子单元和红外光探测子单元结合至同一芯片，扩展了紫外光和红外光探测波段，实现了基于同一CMOS量子点成像芯片的紫外光‑可见光‑红外光宽光谱的成像探测
cmos 量子成像芯片及其制备方法驱动

[发明专利]光学系统透过率检测装置及其透过率和反射率检测方法-CN202010368195.0有效
发明人：李天鹏;侯宝路 -专利权人：上海微电子装备（集团）股份有限公司
申请日： 2020-04-30 - 公布日： 2022-11-04 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明提供了一种光学系统透过率检测装置及其透过率和反射率检测方法，光学系统透过率检测装置包括光路调整单元、探测光测量单元和参考光测量单元，光路调整单元包括分光镜、小孔光阑和反射器，分光镜用于将入射光分为透射的初次探测光和反射的参考光，小孔光阑和反射器相配合用于根据需要对初次探测光进行反射形成反射探测光；探测光测量单元用于对反射探测光进行检测；参考光测量单元用于对参考光进行检测；探测光测量单元、参考光测量单元、分光镜和小孔光阑位于待测光学元件的同一侧本发明的技术方案能够集中关键探测部件，优化探测布局，便于实现电气一体化设计，且能够提高测量精度。
光学系统透过检测装置及其反射率方法

[发明专利]具有电磁波探测功能的防眩装置-CN200580001550.4无效
发明人：许文宁 -专利权人：欧拓斯技术株式会社
申请日： 2005-01-04 - 公布日： 2007-01-31 - 主分类号： A61F9/06 文献下载
摘要：本发明涉及一种具有电磁波探测功能的防眩装置。该装置包括光探测单元，电磁波传感器单元，电磁波探测单元，控制单元以及光传输控制单元。所述光探测单元探测由焊炬或割炬所产生的光。所述电磁波传感器单元探测电磁波。所述电磁波探测单元将通过电磁波传感器单元输入并谐振的信号与可变设置的参考值进行比较。所述控制单元将电磁波探测单元驱动信号施加到所述电磁波探测单元中并使用电磁波探测单元的输出监测电磁信号的变化。所述光传输控制单元通过响应来自控制单元的输出信号来控制防眩板的光透过率的变化。
具有电磁波探测功能装置

[发明专利]一种防护探测器时移攻击的偏振系统解码装置及方法-CN202010131173.2有效
发明人：李东东;汤艳琳;马家骏;许穆岚;王立伟 -专利权人：科大国盾量子技术股份有限公司;上海国盾量子信息技术有限公司
申请日： 2020-02-29 - 公布日： 2022-04-19 - 主分类号： H04B10/516 文献下载
摘要：本发明涉及防护探测器时移攻击的偏振系统解码装置及方法。解码装置可以包括分束单元、第一和第二偏振控制单元、偏振分束单元、探测器单元及控制单元。其中，分束单元用于对信号光进行分束。第一和第二偏振控制单元分别连接分束单元的两个输出端，用于对信号光提供偏振控制。偏振分束单元用于对经偏振控制的信号光进行分束。探测器单元中的光探测器用于对信号光进行探测。控制单元随机地改变相同光探测器在系统周期内所能探测的偏振态，从而避免不同光探测器差异造成偏振态探测效率不一致的问题。
一种防护探测器攻击偏振系统解码装置方法

[发明专利]一种光信号计算装置及光信号计算方法-CN202110446839.8在审
发明人：梁静秋;樊凯莉;王惟彪;陶金;吕金光;秦余欣 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2021-04-25 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： H01L25/16 文献下载
摘要：本发明涉及一种光信号计算装置及光信号计算方法，包括半导体衬底、发射单元、分光单元、探测单元；发射单元、分光单元、光电探测单元依次制备于半导体衬底上；发射单元，用于发射光信号，发射单元包括一个或多个第一光信号；分光单元，用于对第一光信号进行分光产生多路第二光信号；光电探测单元，光电探测单元包括一个或多个光电探测器，用于接收多路第二光信号组，实现光电转换。利用衍射效应进行分光，并用多路光电探测器进行光电信号转换，获得多个电信号数据，与传统单路探测方案相比可大幅提高光电信号处理效率，利用该技术方案可以将发射单元、分光单元、光电探测单元三个模块进行集成，获得高集成度的光信号计算装置
一种信号计算装置计算方法

[发明专利]探测装置及探测方法-CN202010194806.4在审
发明人：雷述宇 -专利权人：宁波飞芯电子科技有限公司
申请日： 2020-03-18 - 公布日： 2020-06-19 - 主分类号： G01D5/26 文献下载
摘要：本发明提供一种探测装置及探测方法，涉及探测技术领域。该装置包括：像素阵列，像素阵列用于感光；控制单元，与像素阵列连接，用于控制像素阵列进行感光；发光单元，用于发射探测光；驱动单元，连接控制单元与发光单元，根据接收控制单元的控制信号确定驱动信号，驱动信号用于驱动发光单元发射探测光；检测校正单元，用于检测探测光经反射后的反射光，根据反射光确定校正后的驱动信号；检测校正单元与驱动单元连接，使得驱动单元根据校正后的驱动信号驱动发光单元发射探测光。通过设置检测校正模块，提高了生产效率，也使得测量的信息更加精确，检测校正模块产生的基准信号，对驱动信号校正，实现了按照基准发射探测光，实现了最优的测量结果。
探测装置方法

[发明专利]一种阵列基板及电子设备-CN202210977492.4在审
发明人：王林志;郭友斌;贾振宇;卢浩天;席克瑞;林柏全 -专利权人：上海天马微电子有限公司
申请日： 2022-08-15 - 公布日： 2022-11-04 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：本发明公开了一种阵列基板及电子设备，阵列基板包括衬底、光探测单元、第一膜层和薄膜晶体管；光探测单元位于衬底的一侧；第一膜层位于半导体层与衬底之间；第一膜层包括至少一层第一子膜层，第一子膜层为透光膜层；薄膜晶体管位于光探测单元远离衬底的一侧；薄膜晶体管与光探测单元电连接；光探测单元包括光探测子部，光探测子部在衬底上的正投影与薄膜晶体在衬底上的正投影不交叠；光线自衬底远离光探测单元的一侧射入阵列基板。本发明实施例的技术方案可以避免光探测单元的制备过程影响薄膜晶体管的性能。
一种阵列电子设备

[发明专利]非线性性质测试系统和非线性性质测试方法-CN201810541799.3在审
发明人：黄进;文继斌;耿锋;邓青华;王凤蕊 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2018-05-30 - 公布日： 2018-09-28 - 主分类号： G01N21/59 文献下载
摘要：系统包括：用于输出泵浦光和探测光的激光输出单元；第一光处理单元，用于对泵浦光进行处理并输出至待测试样品；第二光处理单元，用于对探测光进行处理并得到第一探测光和第二探测光，第一探测光输出至待测试样品；能量探测单元，包括第一能量探测器和第二能量探测器，第一能量探测器获取从待测试样品透射出的第一探测光的第一能量值，第二能量探测器获取从第二光处理单元输出的第二探测光的第二能量值；计算处理单元，该计算处理单元根据第一能量值和第二能量值得到待测试样品的光学非线性性质通过上述设置，可以实现泵浦光加载条件下的非线性测试。
探测光非线性性质能量探测器测试样品光处理单元计算处理单元测试系统泵浦光输出光学性质测试激光输出单元能量探测单元非线性测试光学非线性测试加载条件输出泵浦透射

[发明专利]视场光阑位置测量装置及测量方法-CN202110178846.4有效
发明人：李天鹏;王彩红 -专利权人：上海微电子装备（集团）股份有限公司
申请日： 2021-02-09 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种视场光阑位置测量装置及测量方法，视场光阑位置测量装置包括：反射光探测单元，包括探测光源和成像探测器，探测光源用于从反射光探测单元的探测面发出探测光，成像探测器用于探测成像于探测面内的被测视场光阑的边界轮廓像以及测量不同高度下边界轮廓像的边界锐利度；第一移动单元，用于带动反射光探测单元移动；第一成像单元，设置于反射光探测单元和被测视场光阑之间；以及，探测光反射单元，设置于被测视场光阑的远离第一成像单元的一侧，用于反射探测光，以使得将被测视场光阑的边界轮廓成像于探测面内
视场光阑位置测量装置测量方法

[发明专利]CMOS量子点成像芯片及其制备方法和驱动方法-CN202211424868.5在审
发明人：郝群;唐鑫;陈梦璐;罗宇宁 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2022-11-14 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： H10K39/32 文献下载
摘要：本公开实施例涉及一种CMOS量子点成像芯片及其制备方法和驱动方法，该成像芯片包括基底；探测单元，设置在基底的一侧，且阵列排布；探测单元包括可见光探测子单元和红外光探测子单元；可见光探测子单元在基底上的垂直投影与红外光探测子单元在基底上的垂直投影间错开；可见光探测子单元用于响应可见光输出对应的第一电信号；红外光探测子单元用于响应红外光输出对应的第二电信号；金属布线层，红外光探测子单元连接于金属布线层背离基底的一侧。由此，在现有的探测可见光CMOS成像芯片的基础上，将可见光探测子单元与红外光探测子单元结合至同一芯片，扩展了红外光探测波段，实现红外‑可见光宽光谱的成像探测。
cmos 量子成像芯片及其制备方法驱动

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