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- [发明专利]用于起动光学介质的方法和装置-CN200480024231.0无效
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保罗·阿特金森
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克斯特无线电公司
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2004-06-23
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2007-05-30
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G07C9/00
- 提出了一种用于起动具有条件访问机构的光学介质设备的方法和装置。所述光学介质设备配置有诸如光闸组件的条件访问系统,所述装置被配置为容纳此种光学介质设备,并且与所述光学介质设备建立通信。所述装置可以包括一个或多个电极,所述一个或多个电极被放置为使得它们与所述光学介质设备上的相应电极物理或接近物理地接触。所述装置还用于发送和接收声音信号,以与所述光学介质设备建立声音通信通路。还可以在所述光学介质设备和所述装置之间建立数据通信通路。在与所述光学介质设备建立通信后,所述装置可以向所述光学介质设备发送起动信号,以起动所述条件访问系统。所述装置可以经由数据通信网络或公共交换电话网络与所述起动中心通信。
- 用于起动光学介质方法装置
- [发明专利]一种光学相干断层扫描检测系统-CN201911167543.1在审
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蒋正英;蒋振刚;任峰
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长春理工大学;长春师范大学
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2019-11-25
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2020-04-03
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G01B11/24
- 本发明提供的一种光学相干断层扫描检测系统,包括光源、光纤、光纤耦合器、光学扫描镜组一、反射镜组、反射镜组扫描驱动装置、光学扫描镜组二、光学扫描镜组二驱动装置、CCD探测器、图像处理装置;光源发出的光经过光纤耦合器分光后,一束光经光学扫描镜组一准直成平行光入射到反射镜组上,经反射镜组反射后沿原路返回耦合进光纤耦合器,另外一束光经光学扫描镜组二准直后入射到待测样品上,并经待测样品的后向散射后沿原路返回耦合进光纤耦合器;两束光经过光纤耦合器发生干涉,并输出聚焦到CCD探测器上,CCD探测器连接图像处理装置。本发明可以对激光焊缝熔深、焊缝轮廓进行实时测量,可以提供微米级精度与过程监控和质量保障。
- 一种光学相干断层扫描检测系统
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