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[发明专利]一种用于新型光伏逆变器涉网运行性能的工程测试系统-CN202111372950.3在审
发明人：刘志军;苏小玲;陈来军;刘海军;王帅;司杨;戈斌;李家玮;刘思伟 -专利权人：国网冀北电力有限公司张家口供电公司;青海大学;全球能源互联网研究院有限公司
申请日： 2021-11-19 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种新型光伏逆变器涉网运行性能的工程测试系统，其工程测试流程如下，（1）光伏逆变器安装方案：（a）光伏逆变器参数；（b）光伏电站测试环境；（c）光伏逆变器安装；（d）安全措施；（2）测试项目：（a）安全性能测试；（b）发电效率测试；（c）出力特性测试；（d）电能质量测试；（e）经济效益评估；本发明提出了新型光伏逆变器涉网运行性能的工程测试系统，解决了现有光伏逆变器检测方法和测试系统难以全面评估基于宽禁带半导体电力电子器件的光伏逆变器工程运行综合能效的问题
一种用于新型逆变器运行性能工程测试系统

[发明专利]监测传输线脉冲静电放电测试响应的方法和系统-CN201510121166.3有效
发明人：赖灿雄;肖庆中;尧彬;路国光;曾畅;郝立超 -专利权人：工业和信息化部电子第五研究所
申请日： 2015-03-19 - 公布日： 2017-06-16 - 主分类号： G01R31/12 文献下载
摘要：本发明涉及一种监测传输线脉冲静电放电测试响应的方法及系统，在TLP测试系统将不同脉冲电压的传输线脉冲施加到电子元器件的同时，光发射显微镜采集各传输线脉冲放电过程的光发射图像，从而在测试结束时，将各光发射图像与光学反射像叠加，精确定位电子元器件的静电放电通道和损伤点。本发明实现了传输线脉冲静电放电测试过程中电致发光现象的实时监测，便于在静电放电测试过程中明确电子元器件内部的静电放电通道，及时发现并准确定位静电放电的损伤点，从而确定产品抗静电薄弱环节。另外，本发明试验信息利用充分，试验步骤简单，可为电子元器件的静电损伤研究和ESD设计改进提供良好的技术支撑，具有良好的工程应用价值。
监测传输线脉冲静电放电测试响应方法系统

[发明专利]光电转换器件的光电测试系统-CN201310359282.X在审
发明人：叶红波;王勇 -专利权人：上海集成电路研发中心有限公司
申请日： 2013-08-16 - 公布日： 2013-11-20 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种光电转换器件的光电测试系统，其包括球壁上设有出光口的积分球；光源；转轮组，包括多个转轮，每个转轮设有多个通光孔，每一转轮旋转使其中一个通光孔对准出光口；通光孔中固定滤波片或衰减片；位置调整机构，其包括：导轨，安装于导轨上且沿导轨移动的升降台，可旋转地安装于升降台上的旋转盘，其中光电转换器件固定连接于旋转盘且相对于旋转盘表面垂直；驱动机构，用于驱动升降台在垂直方向升降、在水平方向沿导轨移动，以及驱动旋转盘旋转；以及数据采集模块，与光电转换器件电性相连，用于采集光电转换器件产生的电信号。本发明的光电测试系统可在不同条件下对光电转换器件的性能进行测试。
光电转换器件测试系统

[发明专利]一种光发射器调试装置及其调试方法-CN201711374048.9在审
发明人：杨国民;王亚丽;袁航空 -专利权人：武汉恒泰通技术有限公司
申请日： 2017-12-19 - 公布日： 2018-06-15 - 主分类号： G05B19/418 文献下载
摘要：本发明涉及一种光发射器调试装置及其调试方法，包括上位机、参数检测模块、物料数据库、ERP系统、测试板和眼图仪，参数检测模块用于光模块产品所用光器件入库时的参数检测；物料数据库用于保存光模块产品所用光器件的参数信息，ERP系统用于保存企业数据管理信息；测试板用于对光发射器进行调试测试，眼图仪用于读取测试板的测试值；上位机用于根据光模块产品的制造单号查询所述ERP系统内对应的BOM清单，并从所述BOM清单中获取光发射器的批号本发明的有益效果是：通过在光发射器内写入其真实测试值的方式进行调试，无需循环或只需少量的循环，即可完成光发射器的调试工序，从而缩短了生产工时。 1
光发射器调试光模块参数检测模块物料数据库调试装置测试板光器件上位机测试图仪企业数据管理发射器参数检测参数信息读取测试保存写入入库查询制造生产

[发明专利]一种BOX TOSA产品全工序应力释放方法-CN202111645127.5在审
发明人：李志超;李杨;黄芙蓉;李浩凡 -专利权人：辽宁优迅科技有限公司
申请日： 2021-12-29 - 公布日： 2022-03-29 - 主分类号： B23K26/21 文献下载
摘要：本发明提供一种BOX TOSA产品全工序应力释放方法，包括：1)进行控温激光耦合焊后进行控温测试光功率，将受力严重掉光超出设定值X变化范围的光器件挑出进行返修；2)将合格产品进行高低温循环做应力释放，然后进行控温光率测试与上一次光功率比较，光功率变化超出设定值Y的产品，进行返修重新耦合；3)将合格产品进行平行缝焊，封焊后进行高低温循环做应力释放然后进行控温光功率测试与上一次光功率比较；光功率变化超出设定值Z的产品，进行返修重新耦合；从而将良品通过2次应力释放来释放耦合激光焊接应力和平行封焊焊接应力，保证光器件光功率的稳定性，从而保证光器件性能稳定，从而避免不良产品流入市场。
一种 box tosa 产品工序应力释放方法

[发明专利]在线自检及实时校正系统、方法及光波元件分析仪-CN201910355327.3在审
发明人：张爱国;韩顺利;金辉;鞠军委;曲天阳;张志辉 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2019-04-29 - 公布日： 2019-07-30 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：其中，一种在线自检及实时校正系统，包括：控制器、第一光开关、第二光开关和标准光器件；所述控制器，被配置为：控制第一光开关和第二光开关均连接至标准光器件，形成光波元件分析仪内部光发射机、第一光开关、标准光器、第二光开关和光波元件分析仪内部光接收机依次相连的直通校准电路，实现光波元件分析仪的自检；当自检完成后，控制第一光开关和第二光开关均与标准光器件断开，切换连接至被测件，形成外部测试通路，实现光波元件分析仪的自检与外部测试的在线无插拔自动切换
光开关光波标准光分析仪实时校正系统在线自检自检元件分析控制器测试通路光发射机光接收机校准电路依次相连自动切换被测件外部插拔断开测试配置

[发明专利]光伏太阳能电池瞬态光电压全自动测试系统及测试方法-CN201711306789.3在审
发明人：艾希成;王豪毅;秦玉军 -专利权人：中国人民大学
申请日： 2017-12-11 - 公布日： 2018-05-18 - 主分类号： H02S50/15 文献下载
摘要：本发明涉及一种光伏太阳能电池瞬态光电压全自动测试系统及测试方法，其特征在于，该全自动测试系统包括：用于固定待测光伏电池器件的光伏电池夹具；用于使待测光伏电池器件内部产生稳态光电压信号的稳态光源；用于使待测光伏电池器件内部产生瞬态光电压信号的瞬态脉冲光源；用于切断或连通瞬态脉冲光辐照的光路控制开关；用于调节瞬态脉冲光源光强的光强调节单元；用于实时采集稳态光电压变化信号和瞬态光电压变化信号的瞬态信号采集记录单元；用于根据稳态光电压变化信号和瞬态光电压变化信号实时调节稳态光源和瞬态脉冲光源的光强以及记录完整的瞬态光电压信号衰减曲线，实现全自动数据获取的计算机，本发明可广泛用于光伏半导体技术领域中。
太阳能电池瞬态电压全自动测试系统方法

[实用新型]一种光器件测试组件-CN202021638551.8有效
发明人：吴英帅 -专利权人：吴英帅
申请日： 2020-08-07 - 公布日： 2021-02-02 - 主分类号： G01M11/04 文献下载
摘要：本实用新型公开一种光器件测试组件。该光器件测试组件包括具有多个笼子的测试平台、多个光模块以及集成拆卸解锁工具，所述集成拆卸解锁工具包括多个解锁部件、用于安装所述多个解锁部件的安装板以及设置在所述安装板上的手持部，所述多个解锁部件的各解锁部件具有卡钩以及用于设置所述卡钩的连接部，多个光模块的各光模块具有与所述卡钩相配合的沟槽，所述沟槽位于所述光模块的后部的顶侧。根据本实用新型的光模块拆卸解锁构件，通过集成拆卸解锁工具，一次批量地拆卸多个光模块，从而快速地将光模块进行拆卸。
一种器件测试组件

[发明专利]眼科仪器测试设备及眼科仪器测试方法-CN202211423859.4在审
发明人：李益芳;匡仁军 -专利权人：执鼎医疗科技(杭州)有限公司
申请日： 2022-11-14 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种眼科仪器测试设备及眼科仪器测试方法，涉及眼科仪器测试技术领域，本发明提供的眼科仪器测试设备，包括：聚焦检测部、成像检测部和主机部；聚焦检测部和成像检测部分别与主机部连接；主机部内部安装有分光器件，且主机部具有测试接口，通过测试接口对接被测眼科仪器；测试接口、分光器件和聚焦检测部组成共焦检测光路，成像检测部、分光器件和测试接口组成成像测试光路。通过聚焦检测部进行光束聚焦测试，并通过成像检测部进行眼底成像测试，在聚焦检测部完成共焦调试后，可通过成像检测部进行成像调试，能够取代人眼进行调试，缓解了人眼调试耗时、耗力，且调试一致性较差的技术问题。
眼科仪器测试设备方法

[发明专利]光器件的暗电流检测电路和暗电流检测方法-CN202310609406.9有效
发明人：姚娜;刘伟;熊伟霖 -专利权人：成都光创联科技有限公司
申请日： 2023-05-29 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种光器件的暗电流检测电路和暗电流检测方法。一种光器件的暗电流检测电路，包括：测试电路板、采样模块、调控模块以及控制模块，采样模块，与调控模块信号连接，用于将待测光器件产生的电流信号采用任意第一增益系数，转化为模拟电压信号；调控模块，与控制模块信号连接，用于将模拟电压信号转化为数字电压信号；控制模块，与采样模块信号连接，用于将数字电压信号和第一增益系数转化为待测试光器件暗电流的大小；控制模块根据测量得到的暗电流大小调整采样模块的第一增益系数。本申请的有益效果在于，提供了一种能够根据暗电流的大小，提供相应量程的光器件的暗电流检测电路和暗电流检测方法。
器件电流检测电路方法

[实用新型]一种温控装置-CN202122942711.9有效
发明人：马洪鑫 -专利权人：青岛海信宽带多媒体技术有限公司
申请日： 2021-11-26 - 公布日： 2022-04-08 - 主分类号： G05D23/19 文献下载
摘要：本申请提供的一种温控装置，用于光器件测试时的温度控制，包括：柜体；水循环机构，设置在所述柜体内；控温机构，设置在所述柜体的顶部；其中，所述控温机构包括：底座，设置在所述柜体的顶部；水冷块，设置在所述底座上，连通所述水循环机构；TEC，设置在所述水冷块上；光器件固定部件，设置在所述TEC上用于支撑光器件。本申请提供的温控装置，通过结合水冷块、TEC和水循环机构等，TEC作为光器件控制温度变化核心，独立的循环水散热结构设计作为辅助实现了接触导热和控温的技术突破，不依赖压缩空气制造单独的高低温环境，同时还降低了循环水路连接的复杂程度，便于实现光器件测试时温度的精准控制。
一种温控装置

[发明专利]一种光电子器件的光学参数检测装置与方法-CN201310302142.9有效
发明人：阳波;李彦文;唐文胜;王胜春;尹丹;杨林 -专利权人：湖南师范大学
申请日： 2013-07-18 - 公布日： 2013-10-23 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种光电子器件的光学参数检测装置和方法，该检测装置的两台2×N光开关布置在试验箱旁，并通过光纤与放置在试验箱中的光电子器件样品相联，另外一侧光路通过2×2光开关与偏振控制器相联和光功率计相联；1×N光开关通波分复用器与宽带光源，再通过光耦合器与偏振控制器、回损仪相联。本发明采用多波长光源，提高了该装置多波长光学参数测试的能力，降低了测试设备的成本；采用2×N光开关和光纤终止器构造回损测试光路，实现样品回损的在线测量；实现光电子器件双向光学参数的自动化检测，提高了光学参数测试效率和一致性；计算机实时记录试验箱、光功率计、回损仪的数据，实现光学参数测量的自动化。
一种光电子器件光学参数检测装置方法

[发明专利]一种在线偏振对准的光矢量分析装置与方法-CN202310231137.7在审
发明人：喻张俊;黄明阳;吴雷明;杨军;温坤华;王云才;秦玉文 -专利权人：广东工业大学
申请日： 2023-03-10 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种在线偏振对准光矢量分析装置与方法，属于光纤器件测试技术领域，包括可调谐激光源、正交偏振发生模块、正交偏振干涉条纹反馈模块、测试干涉仪模块、偏振分集探测模块、测试干涉信息反馈模块和待测器件信息获取模块，其特征是：连接器件后，先通过正交偏振发生模块的干涉信号最小化实现正交偏振对准，构造正交偏振问询光，然后利用探测器第一个闲置峰的幅值最大化实现偏振分集系统最大化偏振对准。实现偏振对准的反馈控制模块基于贝叶斯优化算法，偏振对准后使用偏振分集探测模块进行相干检波，然后获得器件的传输矩阵，解调获得器件的光学参数。该测试装置在接入器件后仍能有效抑制偏振失准带来的测量误差，提高系统测试的可靠性。
一种在线偏振对准矢量分析装置方法

[实用新型]一种检测光耦性能的测试夹具-CN202320218379.8有效
发明人：陈晨 -专利权人：太仓市同维电子有限公司
申请日： 2023-02-15 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及电子元器件检测技术领域，具体涉及一种检测光耦性能的测试夹具，包括示波器、数据连接线、外部保护壳组件、光耦器件和检测电路，所述检测电路安装在外部保护壳组件的腔内用于检测光耦器件，所述光耦器件安插在外部保护壳组件的顶部且与检测电路电气连接，所述数据连接线的一端安插在外部保护壳组件的顶部且与检测电路电气连接，另一端连接在示波器的接线口上，所述示波器放置在外部保护壳组件的外部用于验证光耦器件发出的电信号是否正常，本实用新型的一种检测光耦性能的测试夹具，通过设计检测电路和示波器的配和能够解决现有技术中部分性能存在问题的光耦器件使用到电路中造成电路故障，从而需要耗时耗力检修电路的问题。
一种检测性能测试夹具

[发明专利]基于高速示波器的闪烁探测器测试平台及方法-CN202010727659.2在审
发明人：邓贞宙;唐庆 -专利权人：南昌大学
申请日： 2020-07-23 - 公布日： 2020-11-17 - 主分类号： G01T1/167 文献下载
摘要：本发明为辐射探测领域的实验技术，提供一种基于高速示波器的闪烁探测器测试平台及方法，可以进行闪烁晶体、光电器件和读出电子学模块的性能测试。基于高速示波器的闪烁探测器测试平台包括高压电源、光电探测器模块、读出电子学模块、高速示波器；基于高速示波器的闪烁探测器测试方法，包括步骤：通过组装闪烁晶体、光传输器件、光电器件，探测γ光子，并将光信号转换为电信号，读出电子学模块对电压进行分压和信号复用，高速示波器对电子学模块输出的信号进行数据采集和脉冲捕捉；本发明提供的基于高速示波器的闪烁探测器测试平台及方法，可以更换闪烁晶体、光电器件和读出电子学模块，可以对不同闪烁晶体，光电器件和读出电子学模块进行测试。
基于高速示波器闪烁探测器测试平台方法